SU1091251A1 - Способ микроанализа гетерофазных объектов - Google Patents

Способ микроанализа гетерофазных объектов Download PDF

Info

Publication number
SU1091251A1
SU1091251A1 SU833544669A SU3544669A SU1091251A1 SU 1091251 A1 SU1091251 A1 SU 1091251A1 SU 833544669 A SU833544669 A SU 833544669A SU 3544669 A SU3544669 A SU 3544669A SU 1091251 A1 SU1091251 A1 SU 1091251A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
probe
area
shape
image
dimensions
Prior art date
Application number
SU833544669A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Витальевич Рыбалко
Александр Сергеевич Савкин
Александр Николаевич Тихонов
Original Assignee
Московский Институт Электронного Машиностроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Институт Электронного Машиностроения filed Critical Московский Институт Электронного Машиностроения
Priority to SU833544669A priority Critical patent/SU1091251A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1091251A1 publication Critical patent/SU1091251A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

СПОСОБ ЩКРОАНАЛИЗА ГЕТЕРОФАЗНЫХ ОБЪЕКТОВ а включакщий облучение исследуемого участка электронным зондом, формирование его изображени , регистрацию и измерение характеристического излуче1ш  , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности анализа, после формировани  изображени  исследуемого участка изме11 ют форму и размеры поперечного сечени  электронного зонда по форме и размерам исследуемого участка и поворачивают зонд BOKpyi электронно-оптической оси до совмеще-: ни  его .проекции на объект с этим и участком. СО ю --4ZH4 I

Description

1 Изобретение относитс  к микрозондовой технике и может быть использов но в в1икроан;шизаторах. Известен способ микроанализа гете рофазных объектовJ включающий облуче ние исследуемого участка электронным зондом и регистрацию и измерение характеристического излучени  С 1 , Недостатком данного способа  вл етс , то, что локальность анализа определ етс  точностью меха1шческого позиционировани  объекта. Наиболее близким к предлагаемоьгу по технической сущности  вл етс  спо соб микроанализа гетерофазных объектов , включакш:р1Й облучение исследуемого участка электронным зондом, фор мирование его изображени , регистра ,цию и измерение характеристического излучени  С2}. Недостатком известного способа  вл етс  низка  точность количественной оценки присутстви  в объекте той или иной фазы. Это св зано с тем, что интенсивность линии в харак теристическом спектре излучени  пропорционаЛьна объему фазы, который был облучен зондом, В случае если площадь 5ф исследуемой фазы больше площади $3 зонда,то погрешность опре делени  количества исследуемой фазы бу дет пропорциональна отношеник Зф/Зл, В то же врем  значительное увеличени диаметра зонда резко снижает локальность анализа. Цель изобретени  - повьшение точности анализа. Указанна  цель достигаетс  тем что согласно способу микроанализа гетерофазных объектов, включающему о лучение исследуемого участка электронным зондом, формирование его изображени , регистрацию и измерение характеристического излучени ,после формировани  изображени  исследуемого участка измен ют форму и размеры поперечного сечени  электронного зонда по форме и размерам исследуемо го участка и поворачивают зонд вокруг электронно-оптической оси до сов мещени  его проекции на объект с этим участком. Сущность изобретени  заключаетс  следующем. Исследуемый объект, сост  щий из набора фаз, помещают в микро зондовый прибор и формируют его изоб- ; ражение. Затем на изображении выдел  ют необходимый микроучасток, аппроксимируют форму участка геометрическо 12 фигурой, например эллипсом или пр моугольником с заданными размерами, формируют зонд с такой же формой и геометрическими размерами, равными размерам аппроксимирующей фигуры, затем совмещают сформированный зонд с исследуемым микроучастком и ориентируют относительно него по азимуту дл  полного перекрыти  зондом поверхности исследуемого участка. После этого регистрируют характеристическое излучение с микроучастка и измер ют его интенсивность. При такой последовательности операций обеспечивают значительное повышение точности проведени  микроканализа за счет того, что практически вс  площадь исследуемой фазы (или соответствующего ей микроучастка ) облучаетс  зондом, так как форма зонда и его размеры с точностью аппроксимации совпадают с формой и размерами микроучастка, т.е, в генерации характеристического излучени  принимает участие весь объем микроучастка, а следовательно, интенсивность излучени  будет соответствовать действительному процентному содержанию исследуемой фазы,Кроме того , точность измерени  интенсивности излучени  будет повышена, так как шум, обусловленный частью зонда, облучающей граничные с исследуемой фазой участки, снижен практически до нул  за счет того, что формируют зонд требуемой формы и ориентации. На чертеже приведена схема электронно-зондового микроанализатора. Микроанализатор состоит из после- довательно расположенных источника 1 электронов, корректирующего элемента 2, фокусирующей линзы 3 и системы 4 сканировани . Кроме того, микроанализатор содержит преобразователь 5, усилители 6, выходы которых соединен с входом индикаторного блока 7, задакщий генератор 8, выход которого св зан с системой 4, устройство 9 ввода информации, специализированного вычислительного устройства (СВУ) 10, детектора 1) характеристического излучени . Электронный пучок, генерируемый источником электронов, фокусируют на объекте и сканируют с помощью систем1л 4 сканировани , С помощью преобразовател  5, усилител  6 и индикаторного блока 7 на экране последнего формируют растровое изображение объекта. При этом скакирова31 ние луча кинескопа блока 7 и электро ного пучка микроанализатора синхрони зировано СВУ 10, первый вход которого и первый выход электрически св заны , соответственно, с- выходом бло- ка 7 и входом задающего генератора 8. На сформированном изображении с помощью устройства 9 ввода информации , выполненного в виде светового пера, выдел ют интересующий исследр вател  микроучасток. Параметры микро участка (его форма и размеры) поступают в СВУ 10, с помощью которого форму выделенного участка аппроксими руют геометрической фигурой, например пр моугольником. С выхода СВУ 10 подаетс  соответствующий сигнал на задающий генератор 8, который с помощью системы 4 совмещает зонд с микроучастком. Со второго выхода 14 СВУ 10 подают сигнал на корректирующий элемент 2 выполненный в виде набора отклон ющих катушек и угловых диафрагм, котосый Лормирует зонд требуемой фоомы. С тоетьего выхода СВУ подают корректирующий сигнал на фокусирующую линзу 3, котора  обеспечивает требуемые линейные размеры зонда. Затем с помощью детектора 11 характеристического излучени  его регистрируют , измер ют интенсивность и через усилитель видеосигнал подают в индикаторный блок 7. Таким образом, предлагаемый способ может быть легко реализован на современных электронно-зондовых приборах , а его применегше при исследовани х гетерофазных объектов позволит , повысить точность микроанализа.

Claims (1)

  1. 'СПОСОБ МИКРОАНАЛИЗА ГЕТЕРОФАЗНЫХ ОБЪЕКТОВо включающий облучение исследуемого участка электронным зондом, формирование его изображения, регистрацию и измерение характеристического излучения , отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, после формирования изображения исследуемого участка изменяют форму и размеры поперечного сечения электронного зонда по форме и размерам исследуемого участка и поворачивают зонд вокруг электронно-оптической оси до совмещет ния его .проекции на объект с этим участком.
    SU .„,1091251 >
    1 109
SU833544669A 1983-01-21 1983-01-21 Способ микроанализа гетерофазных объектов SU1091251A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833544669A SU1091251A1 (ru) 1983-01-21 1983-01-21 Способ микроанализа гетерофазных объектов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833544669A SU1091251A1 (ru) 1983-01-21 1983-01-21 Способ микроанализа гетерофазных объектов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1091251A1 true SU1091251A1 (ru) 1984-05-07

Family

ID=21046996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833544669A SU1091251A1 (ru) 1983-01-21 1983-01-21 Способ микроанализа гетерофазных объектов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1091251A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1.ГЛУДКИН О.П., Черн ев В.Н. Технологи испытани микроэлементов РЭАиИС. М., Энерги , 1980, сЛ07. 2. Аппаратура и методы рентгенов- . ского анализа. Вьш. X, М,, ЦНИИ Электроника, 1972, с. 179г187 (прототип) . . *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05101800A (ja) 電子ミクロ分析方式における標的領域をサンプル表面上に求める方式
US4567369A (en) Correction of astigmatism in electron beam instruments
KR960012331B1 (ko) 시료표면 분석에 있어서 백그라운드 보정을 위한 방법 및 장치
CA1048163A (en) Process and apparatus for the elementary and chemical analysis of a sample by spectrum analysis of the energy of the secondary electrons
JP3454052B2 (ja) 電子線分析装置
JPH0626106B2 (ja) 走査透過顕微鏡
GB1594597A (en) Electron probe testing analysis and fault diagnosis in electronic circuits
SU1091251A1 (ru) Способ микроанализа гетерофазных объектов
US4833323A (en) Determining the composition of a solid body
US5231287A (en) Method and apparatus for obtaining two-dimensional energy image, using charged-particle beam
JP3094199B2 (ja) 微小部分析方法
JPH03200100A (ja) X線顕微鏡
JPH0119804Y2 (ru)
JPH07128259A (ja) X線マッピング分析方法
JPH1167138A (ja) 微小領域観察装置
JPH10213556A (ja) 表面元素分析装置及び分析方法
JPS6378443A (ja) 電子ビ−ム焦点合せ装置
GB2123582A (en) Correction of astigmatism in electron beam instruments
JP2002148215A (ja) 電子線分析方法
SU130207A1 (ru) Электроннолучевой спектрограф
JPH08261959A (ja) 電子顕微鏡及びこれを用いた原子種同定方法
JPH0417250A (ja) 電子ビーム装置
JPS62226049A (ja) オ−ジエ電子分析装置
JPH01274050A (ja) X線光電子分析装置
JPS60117637A (ja) 集積回路テスタ