SU1064347A1 - Коллектор светового излучени - Google Patents

Коллектор светового излучени Download PDF

Info

Publication number
SU1064347A1
SU1064347A1 SU823493293A SU3493293A SU1064347A1 SU 1064347 A1 SU1064347 A1 SU 1064347A1 SU 823493293 A SU823493293 A SU 823493293A SU 3493293 A SU3493293 A SU 3493293A SU 1064347 A1 SU1064347 A1 SU 1064347A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
collector
electron
mirror
optical axis
light emission
Prior art date
Application number
SU823493293A
Other languages
English (en)
Inventor
Геннадий Васильевич Сапарин
Сергей Константинович Обыден
Сергей Иванович Попов
Original Assignee
Московский государственный университет им.М.В.Ломоносова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский государственный университет им.М.В.Ломоносова filed Critical Московский государственный университет им.М.В.Ломоносова
Priority to SU823493293A priority Critical patent/SU1064347A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1064347A1 publication Critical patent/SU1064347A1/ru

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

КОЛЛЕКТОР СВЕТОВОГО ЙЗЛУЧЕЙИЯ дл  растровогоэлектронного микроскопа , содержащий°Ьобиракцее зеркаJiOt в одном из фокусов которого расположен обКектодержатель, а в другом - входной торец фотоприолиика , о тли ч а ю ц и и с   тем, что, с целью повьшени  точности анализа и чувствительности коллектора, зеркало образовано усеченными фофокусными полуэллипсоидами, большие оси которых лежат в одной плоскости, :Проход цей через общий фокус и пер пендикул рной электронно-оптической оси, а углы между секущими полуплоскост ми , ограниченны ш лини ми, 9 совпадахщими с электронно-оптической осью, обратно пропорционгшьнн величинам чувствителькостей фотОприемников .

Description

at)
4iik
со
4 Изобретение относитс  к растрово электронной микроскопии и предназначено дл  разделени  светового потока катсдолюминесцентного излучени  на произвольное число частей с целью проведени  последующего колориметрического и спектрального анализа . Известен коллектор-дл  растровог электронного микроскопа (РЭМ), соде жащий собиракщее зеркало и фотоприемник . В данном коллекторе дл  разделени  светового потока использ ван несимметричный световс , вхсдно торец которого расположен в одном и фокусов зеркала . Недостатками указанного устройст ва  вл ютс  неопределенность соотношени  световых потоков на выходе коллектора и нерациональное использование фотоприемникрв с различными спектральньми чуствитель ност ми. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етд  ко лектор светового излучени  , содержащий собиракщее зеркало, в сднс н из фокусов которого располо жен объектсдаержатель, а в другом входной торец фотоприемника. Фото-приемник снабжен световодом, который разветвл етс  на три части и обеспечивает разделение светового потока 2. Недостатком данного коллектора  вл етс  то, что, поскольку на выхо |де коллектора излучение имеет сложное пространственно-угловое распределение , практически невозможно определить долю светового потока, достигакадую каждого фотоумножител  (ФЭУ) после прохождени  световода. Это не позвол ет добитьс  максималь ной точности колорюлетрического анализа объектов и высокой чувствительности . Цель изобретени  - повыиение точности анализа и чувствительности коллектора. Указанна  цель достигаетс  тем, что в коллекторе светового излучени дл  РЭМ, содержащем собирающее зеркало , в одном из фокусов которого расположен объектсдержатель, а з другом - входной торец фотоприемника , зеркало образовано усеченными софокусньми полуэллипсоидами, большие оси которых лежат в одной плоскости , проход щей через фокус и перпендикул рной электронно-оптической оси, а углы между секущими полуплоскост ми, ограниченными лини  ми , совпадакщими с электроннот-опти ческой осью, обратно пропоктиональ  ны величинам чувствнтельностей фотоприемников . На фиг. 1 приведен вид зеркала со стороны отражающих поверхностей; на фиг. 2 - сечение одной из секций коллектора и един из фотоприемников. Электронно-оптическа  ось 1 РЭМ пересекает поверхность объекта 2 и  вл етс  осью отверсти  3 дл  прохождени  электронного луча. Точка падени  луча совпадает с общим фокуссм 4 полуэллипсоидов 5. Световое излучение б взаимсдействует с отражагацими эллиптическими поверхност ми 7, имегацими вторые фокусы 8, в которых расположены фотоприемники 9. Устройство работает следующим образом. Тонкий электронный луч попадает на объект 2 через отверстие 3 и вызьюает световое катодолкииинесцентное излучение. Размер области высвечивани  в образце очень мал (дес тки микрон) , поэтс 1у источник можно считать точечным по отношению к размерам всей системы. Объект расположен таким-образе, чтобы точка падени  электронного луча на него совпала с общим фокусом 4полуэллиптических отражающих поверхностей 7. Поток свеТОВ9ГО излучени  6 отражаетс  от поверхностей 7 и собираетс  во вторых фокусах 8 полуэллипсоидов 5. Вблизи вторых фокусов 8 расположены фотоприемники 9, торцы которых перпендикул рны направлению светового луча с максимальной интенсивностью на выходе. Это направление Определ етс  лучом, выход щим из объекта нормально к поверхности. Конструктивно коллектор выполнен в виде секций , которые представл ют из себ  параллелепипеды с плоскост ми в форме полуэллипсоидов 5 и усеченные полуплоскост ми Р -О , Q -О, R -О .Углы между этими плоскост ми равны d, {Ь и ри составл ют в сумме 360°. Эти полуплоскости ограничены, одной и той же пр мой, котора  совпадает с электронно-оптической осью 1. Поскольку угловое распределение интенсивности излучени  из объекта осесимметрично относительно этой оси, на каткдую секцию будет попадать световой поток, пропорциональный углу мезвду секущими ее плоскост ми. В данна  случае представлен коллектор, ссдержащи-й секции и дел щий световой поток на три части в пропорции, определ емой значени ми углов oi , и у . Аналогичные образом можно раздел ть поток на произвольное число частей в заданной пропорции. Применение коллектора дл  получени  цветных катодолкининесцентных изображений в РЭМ предусматривает следующий пор док выбора соотношений углов между секущ 1ми плоскост ми. .. Пусть имеютс  три фотоприемника.

Claims (1)

  1. 4 КОЛЛЕКТОР СВЕТОВОГО ЙЗЛУЧЕЙИЯ для растрового электронного микроскопа, содержащий’ёобирамцее зеркало, в одном иэ фокусов которого расположен обХектодержатель, а в другом - входной торецфотоприемника, о т л ичающийся тем, что, с целью повыпения точности анализа и чувствительности коллектора, зеркало образовано усеченными Фофокусними полуэллипсоидами, большие оси которых лежат в одной плоскости, проходяцей через общий фокус и πβρή певдикулярной электронно-оптической' оси, а углы между секущими полуплоскостями, ограниченными линиями, совпадающими с электронно-оптической осью, обратно пропорциональны величинам чувствительностей фотоприемников.
SU823493293A 1982-09-23 1982-09-23 Коллектор светового излучени SU1064347A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823493293A SU1064347A1 (ru) 1982-09-23 1982-09-23 Коллектор светового излучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823493293A SU1064347A1 (ru) 1982-09-23 1982-09-23 Коллектор светового излучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1064347A1 true SU1064347A1 (ru) 1983-12-30

Family

ID=21029763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823493293A SU1064347A1 (ru) 1982-09-23 1982-09-23 Коллектор светового излучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1064347A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Saparih G.V., Spivak G.V. Dereeopnent of Methods in the SEM and Its applications. BEDO, viSV 1975,. p.245.254. 2. Патент Англии I 1402700, КЛ. H 4 F , опублик. 1975 (прототип). j *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11002659B2 (en) Optical detector for a particle sorting system
US8610892B2 (en) Analyzation instrument
EP0880690B1 (en) Fluorescence imaging system compatible with macro and micro scanning objectives
EP0994342A2 (en) Compact system for optical analysis
US7787197B2 (en) Beam-adjusting optics
CN101726461A (zh) 光学测量设备
CN110887450A (zh) 一种基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统及方法
CN211012871U (zh) 一种基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统
JPH038686B2 (ru)
JP4645176B2 (ja) 分光顕微鏡装置
US5028135A (en) Combined high spatial resolution and high total intensity selection optical train for laser spectroscopy
SU1064347A1 (ru) Коллектор светового излучени
JPS5919305B2 (ja) 螢光分光光度計
SU982117A1 (ru) Коллектор светового излучени
JPH1090181A (ja) 試料分析装置
JPH10267846A (ja) レーザ照射/取り込み光学装置
JPS6326545A (ja) 光半導体素子の特性検査光学装置
JPS62174607A (ja) 計測機光学系
CN113176231A (zh) 一种微区分析用光谱仪
JPH08240481A (ja) 多芯テープファイバ用光パワー測定装置
JPH06138022A (ja) 光源及びそれを用いた分光分析装置
JPH04130247A (ja) 反射率測定装置
JPS6247536A (ja) けい光分析セル
JPH05107109A (ja) 複光束測光器の光電子増倍管を照明する照明装置
JPH1062634A (ja) 光軸に対して傾斜した物体面をもつ結像光学系