RU99122593A - Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля - Google Patents

Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля

Info

Publication number
RU99122593A
RU99122593A RU99122593/28A RU99122593A RU99122593A RU 99122593 A RU99122593 A RU 99122593A RU 99122593/28 A RU99122593/28 A RU 99122593/28A RU 99122593 A RU99122593 A RU 99122593A RU 99122593 A RU99122593 A RU 99122593A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
light
sensor unit
flux
deflecting element
light flux
Prior art date
Application number
RU99122593/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2186372C2 (ru
Inventor
Христиан ВОЛЛМАНН
Лутц ВЕНЕРТ
Иоахим ИХЛЕФЕЛЬД
Ральф ГРИЕСЕР
Original Assignee
Баумер Оптроник Гмбх
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE19717488A external-priority patent/DE19717488C2/de
Application filed by Баумер Оптроник Гмбх filed Critical Баумер Оптроник Гмбх
Publication of RU99122593A publication Critical patent/RU99122593A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2186372C2 publication Critical patent/RU2186372C2/ru

Links

Claims (26)

1. Блок датчика для контроля поверхности (10', 10'') объекта (10) для определения характеристик поверхности, в состав которого входят устройство сканирования (60) и блок оптического датчика (50) для излучения светового потока (53) на устройство сканирования (60) и для приема светового потока (54), поступающего из устройства сканирования (60), со светоизлучающим модулем (51), излучающим световой поток (53), светопринимающим модулем (52), принимающем световой поток (54) и оптическим светоотклоняющим элементом (9), с помощью которого световой луч, поступающий из устройства сканирования (60), может быть разделен на два отличных друг от друга луча, проходящих по разным траекториям, из которых траектория первого луча (53) определяется первым пространственно ограниченным участком (55) падающего светового потока, а траектория второго луча (54) определяется вторым пространственно ограниченным участком (56) падающего светового потока, при этом площадь поперечного сечения первого пространственно ограниченного участка (55) меньше площадь поперечного сечения второго пространственно ограниченного участка (56); светоиспускающий модуль (51) расположен на траектории второго луча (54), при этом в состав устройства сканирования (60) входит светоотклоняющий элемент (2) с динамически изменяемым углом отклонения, который является зоной облучения блока датчика (50), отличающийся тем, что в состав устройства сканирования (60) входит вогнутое зеркало (1), в фокусе которого светоотклоняющий элемент (2) расположен таким образом, что световой поток, излучаемый блоком датчика (50) может направляться в блок датчика (50) под постоянным углом к оси симметрии (7) вогнутого зеркала (1) по линии сканирования (23, 24) объекта (10), а также световой поток, испускаемый устройством сканирования (60) и диффузно отраженный от объекта (10) может направляться в блок датчика (50) по той же траектории, что и поступающий световой поток, и тем, что вогнутое зеркало (1) расположено таким образом по отношению к поверхности (10', 10'') и светопринимающему модулю (52), что поверхность (10', 10''), может быть телецентрически спроецирована на светопринимающий модуль (52), при этом светоотклоняющий элемент (2) выполняет роль апертурной диафрагмы.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что светоотклоняющий элемент (9) выполнен в виде зеркала с апертурой (25) и расположен таким образом, что большая часть светового потока (53), идущего от светоизлучающего модуля (51) к светоотклоняющему элементу (9), проходит сквозь апертуру (15) на устройство сканирования (60).
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что светоотклоняющий элемент (9) выполнен в виде зеркала и расположен таким образом, что большая часть светового потока (53), идущего от светоизлучающего модуля (51) к светоотклоняющему элементу (9), отражается на устройство сканирования (60) зеркалом (9).
4. Устройство по одному из пп.1 - 3, отличающееся тем, что в состав светоизлучающего модуля (51) входят несколько источников света (3, 4), световое излучение которых имеет разную длину волны.
5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что первый источник света (3), излучает свет длиной волны 620 - 770 нм, а второй источник света (4) излучает свет длиной волны больше 770 нм.
6. Устройство по одному из пп.1 - 5, отличающееся тем, что в состав светопринимающего модуля (52) входит по крайней мере один светоприемник (15, 16, 20) и оптическая система (13), при этом оптическая система (13) расположена между светоотклоняющим элементом (9) и по крайней мере одним светоприемником (15, 16, 20) таким образом, что по крайней мере один светоприемник (15, 16, 20) расположен в фокальной плоскости оптической системы (13).
7. Устройство по п.6, отличающееся тем, что в состав светопринимающего модуля (52) входят несколько светоприемников (15, 16, 20) и по крайней мере один светоделитель (14, 26), при этом с помощью хотя бы одного светоделителя (14, 26) световой поток (54), поступающий на светопринимающий модуль (52) может быть разделен между светоприемниками (15, 16, 20).
8. Устройство по п.7, отличающееся тем, что отношение коэффициента отражения к коэффициенту пропускания по крайней мере одного свтоделителя (14, 26) зависит от длины волны.
9. Устройство по одному из пп. 6 - 8, отличающееся тем, что в его состав входит светоприемник (15), перед которым установлен пространственный фильтр (30), служащий для гашения диффузно отраженной точки прямого света, или пятна и/или светоприемник (16), перед которым установлена диафрагма для гашения световых конусов рассеяния.
10. Устройство по п. 9, отличающееся тем, что в его состав входят два светоприемника (15), перед каждым из которых установлен один пространственный фильтр (30), при этом пространственные фильтры (30) расположены под прямым углом друг к другу для того, чтобы измерять зависимость рассеянного светового потока Трэчеда от направления.
11. Устройство по одному из пп.1 - 10, отличающееся тем, что в состав светопринимающего модуля (52) входит по крайней мере одна телекамера с приборами с зарядовой связью и/или один позиционно-чувствительный светопринимающий элемент (позиционно-зависимый детектор).
12. Устройство по одному из пп.1 - 11, отличающееся тем, что светоотклоняющий элемент (2) выполнен в виде вращающегося многогранного зеркала.
13. Устройство по одному из пп.1 - 12, отличающееся тем, что вогнутое зеркало (1) является сегментом, в частности полоской, с параллельными краями, вырезанным из параболоида.
14. Устройство по одному из пп.1 - 3, отличающееся тем, что для получения трехмерного профиля с помощью триангуляции по крайней мере один световой луч, испущенный блоком датчика (50) может быть направлен на объект (10), а световой поток диффузно отраженный от объекта (10) под постоянным углом (θ) к падающему лучу может быть направлен назад на блок датчика таким образом, что траектории падающего и направленного назад лучей совпадают в плоскости, параллельной поверхности объекта (10').
15. Устройство по п.14, отличающееся тем, что для получения трехмерного телецентрического профиля с помощью триангуляции в состав блока датчика (50) входит высокоскоростной позиционно-чувствительный светопринимающий элемент (позиционно-чувствительный датчик) (20) для измерения профиля поверхности (10', 10'') путем освещения поверхности объекта (10') диффузно отраженным световым потоком, направленным по нормали к данной поверхности, с помощью телецентрического проецирования.
16. Устройство по одному из пп.1 - 15, отличающееся тем, что объект (10) может передвигаться относительно блока датчика (50).
17. Способ контроля поверхности (10', 10'') объекта (10) для определения характеристик поверхности, посредством которого световой поток от блока датчика (50) передается на сканирующее устройство (60), а излучаемый световой поток (6) направляется на светоотклоняющий элемент (2) с динамически изменяемым углом отклонения и отклоняется на нем, отличающийся тем, что световой поток, отклоненный на светоотклоняющем элементе (2) фокусируется на объекте с помощью вогнутого зеркала (1), в фокусе которого размещается светоотклоняющий элемент (2), направляется под постоянным углом к оси симметрии (7) вогнутого зеркала (1) по линии сканирования (23, 24) объекта, а световой поток диффузно отраженный от объекта (10) направляется обратно на блок датчика (50) по той же траектории, что и излученный световой поток и тем, что поверхность объекта (10', 10'') телецентрически проецируется на блок датчика (50) с помощью вогнутого зеркала (1), при этом светоотклоняющий элемент (2) работает как апертурная диафрагма.
18. Способ по п.17, отличающийся тем, что для получения трехмерного профиля с помощью триангуляции по крайней мере один луч света, посылаемый блоком датчика (50) направляется на объект (10), а световой луч диффузно отраженный от объекта (10) под постоянным углом (9) к падающему лучу направляется обратно на блок датчика (50) таким образом, что траектории падающего и обратного лучей совпадают в плоскости, параллельной поверхности объекта (10').
19. Способ по п.17 или 18, отличающийся тем, что с помощью специальных пространственных фильтров (30) прямо отраженная световая точка, или пятно, гасится и оценивается только изображение оставшегося светового конуса.
20. Способ по одному из пп.17 - 19, отличающийся тем, что различные характеристики поверхности измеряются в реальном масштабе времени, в предпочтительном варианте с использованием компьютера.
21. Способ по одному из пп.17 - 20, отличающийся тем, что световой поток, падающий на блок датчика (50), разделяется между несколькими каналами, каждый из которых оценивается отдельно от других.
22. Способ по п.21, отличающийся тем, что части светового потока разной длины волны, попадающие на блок датчика, отделяются друг от друга, при этом по этим частям светового потока с высокой частотой следования осуществляется мгновенная регистрация различных характеристик поверхности, к которым относятся профиль поверхности в трехмерном канале (20), отражательная способность в канале света красного спектра (16), а также эффект Трэчеда в рассеивающем канале (15).
23. Способ по п.21 или 22, отличающийся тем, что световой поток, падающий на блок датчика (50) (в предпочтительном варианте изобретения - красная часть спектра), разделяется на первую и вторую части и эти две части светового потока направляются на два светоприемника (15, 16) и тем, что в случае первой части светового потока прямого излучения изображение световых конусов, полученное от эффекта рассеяния, гасится, оценивается изображение диффузно отраженной световой точки прямого излучения, или светового пятна, и/или тем, что в случае второй части светового потока с помощью специальных пространственных фильтров (30) диффузно отраженная световая точка прямого излучения, или световое пятно, гасится и оценивается только изображение оставшихся световых конусов.
24. Способ по п.22 или 23, отличающийся тем, что части светового потока разной длины волны, падающие на блок датчика (50), отделяются друг от друга, при этом с помощью позиционно-чувствительного светопринимающего элемента (позиционно-чувствительный детектор) (20) по данным первой части светового потока с помощью триангуляции измеряется трехмерная информация, а с помощью электрооптических чувствительных элементов (16, 17) (предпочтительно в реальном масштабе времени) по данным второй части светового потока измеряется интенсивность его распределения по объекту (10), а также поверхностные характеристики (эффект рассеяния).
25. Способ по одному из пп.17 - 24, отличающийся тем, что световой поток, падающий на блок датчика (50), используется для визуализации зависимых от плотности поверхностных аномалий, и с помощью четырехсекторного процесса как функция положения регистрируется в реальном масштабе времени в виде (Sx + Sy)/S и в виде арктангенса направления (Sx/Sy), и если необходимо также в виде функции высоты профиля в сочетании с процессом триангуляции в трехмерном канале, пространственное разрешение которого ограничено только фокусирующей способностью лазерного излучения.
26. Способ по одному из пп.17 - 25, отличающийся тем, что объект (10) передвигается относительно блока датчика (50).
RU99122593/28A 1997-04-25 1998-04-23 Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля RU2186372C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19717488.4 1997-04-25
DE19717488A DE19717488C2 (de) 1997-04-25 1997-04-25 Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche von Objekten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU99122593A true RU99122593A (ru) 2001-08-20
RU2186372C2 RU2186372C2 (ru) 2002-07-27

Family

ID=7827728

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99122593/28A RU2186372C2 (ru) 1997-04-25 1998-04-23 Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6449036B1 (ru)
EP (1) EP0977982B1 (ru)
AT (1) ATE227843T1 (ru)
AU (1) AU6848798A (ru)
CA (1) CA2287242C (ru)
DE (2) DE19717488C2 (ru)
RU (1) RU2186372C2 (ru)
WO (1) WO1998049545A1 (ru)

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6661506B2 (en) * 2000-08-24 2003-12-09 Og Technologies, Inc. Engine bearing inspection system
US6624883B1 (en) * 2000-09-28 2003-09-23 National Research Council Of Canada Method of and apparatus for determining wood grain orientation
JP2003029201A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Canon Inc 画像投射装置及び画像補正方法
EP1345024A1 (en) * 2002-03-11 2003-09-17 Centre National De La Recherche Scientifique Method and device for polarimetric measurement of the Mueller matrix coefficients of a sample in the far ultraviolet to visible spectral range
US6795175B2 (en) * 2002-05-21 2004-09-21 The Boeing Company System and method for imaging contamination on a surface
AT413452B (de) * 2003-11-18 2006-03-15 Riegl Laser Measurement Sys Einrichtung zur aufnahme eines objektraumes
WO2006091762A1 (en) * 2005-02-24 2006-08-31 Dermisonics, Inc. Method for enhancing attenuation characteristic of absorbent materials useful with dermal and transdermal substance delivery systems
WO2006091913A1 (en) * 2005-02-25 2006-08-31 Nanometrics Incorporated Apparatus and method for enhanced critical dimension scatterometry
DE102005025009A1 (de) 2005-05-29 2006-11-30 Massen Machine Vision Systems Gmbh Charakterisierung und Qualitätskontrolle von zumindestens teilweise optisch transluzenten und intern optisch streuenden Produkten
US7628495B2 (en) * 2005-06-06 2009-12-08 Infocus Corporation Mirror-based light path combination for light sources
US7397553B1 (en) * 2005-10-24 2008-07-08 Kla-Tencor Technologies Corporation Surface scanning
JPWO2007072794A1 (ja) 2005-12-19 2009-05-28 国際先端技術総合研究所株式会社 ホログラムチップにより真贋判別可能なカード
ES2302599B1 (es) * 2006-01-28 2009-05-08 Universidade De Vigo Metodo para la identificacion de marisco.
US7545502B2 (en) * 2006-09-27 2009-06-09 Weyerhaeuser Nr Company Methods for detecting compression wood in lumber
US20080224041A1 (en) * 2007-03-16 2008-09-18 Cannamela John J Method and apparatus for subsurface anomaly detection and image projection
DE102008012635A1 (de) * 2008-03-05 2009-09-10 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur zeitaufgelösten Spektroskopie
CA2738396C (en) * 2011-04-28 2013-12-24 Denis Lessard Optical inspection apparatus and method
NO336441B1 (no) 2012-01-24 2015-08-17 Tomra Sorting As Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie
JP5906115B2 (ja) * 2012-03-29 2016-04-20 川崎重工業株式会社 光走査装置及びレーザ加工装置
KR102093108B1 (ko) * 2012-05-09 2020-03-25 시게이트 테크놀로지 엘엘씨 표면 피처들 맵핑
US9212900B2 (en) 2012-08-11 2015-12-15 Seagate Technology Llc Surface features characterization
US9297751B2 (en) 2012-10-05 2016-03-29 Seagate Technology Llc Chemical characterization of surface features
US9297759B2 (en) 2012-10-05 2016-03-29 Seagate Technology Llc Classification of surface features using fluorescence
US9377394B2 (en) 2012-10-16 2016-06-28 Seagate Technology Llc Distinguishing foreign surface features from native surface features
US9217714B2 (en) 2012-12-06 2015-12-22 Seagate Technology Llc Reflective surfaces for surface features of an article
DE102013003744B4 (de) * 2013-03-06 2021-02-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichteverteilung in einer Holzwerkstoffplatte
US9274064B2 (en) 2013-05-30 2016-03-01 Seagate Technology Llc Surface feature manager
US9513215B2 (en) 2013-05-30 2016-12-06 Seagate Technology Llc Surface features by azimuthal angle
US9217715B2 (en) 2013-05-30 2015-12-22 Seagate Technology Llc Apparatuses and methods for magnetic features of articles
US9201019B2 (en) 2013-05-30 2015-12-01 Seagate Technology Llc Article edge inspection
UA121305C2 (uk) * 2013-11-04 2020-05-12 Томра Сортінґ Нв Пристрій для контролю
RU2579817C1 (ru) * 2014-10-16 2016-04-10 Открытое Акционерное общество "Ростовский оптико-механический завод" Оптическая система дальномера
RU2621469C1 (ru) * 2015-12-11 2017-06-06 Акционерное общество "Концерн радиостроения "Вега" Способ контроля поверхности
CN107270813A (zh) * 2017-06-27 2017-10-20 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 一种扫描镜装置
US20190017878A1 (en) * 2017-07-12 2019-01-17 Radiant Innovation Inc. Non-contact temperature measuring device
DE102017214715A1 (de) * 2017-08-23 2019-02-28 Robert Bosch Gmbh Optische Anordnung für ein LiDAR-System, LiDAR-System und Arbeitsvorrichtung
WO2019117301A1 (ja) * 2017-12-15 2019-06-20 株式会社堀場製作所 表面特性検査装置及び表面特性検査プログラム
RU182588U1 (ru) * 2017-12-27 2018-08-23 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство контроля геометрических параметров поверхности изделия
RU182109U1 (ru) * 2017-12-27 2018-08-03 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Оптоэлектронный датчик
EA035636B1 (ru) * 2017-12-27 2020-07-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство контроля геометрических параметров поверхности изделия
US20210025986A1 (en) * 2018-03-15 2021-01-28 Pioneer Corporation Scanning device and measuring device
FR3089642A1 (fr) * 2018-12-11 2020-06-12 Safran Electronics & Defense Dispositif d’harmonisation multi-spectral destine a aligner les voies optiques d’un systeme optronique
WO2020177076A1 (zh) * 2019-03-05 2020-09-10 深圳市大疆创新科技有限公司 一种探测装置初始状态标定方法及装置
EP3745081B1 (de) * 2019-05-28 2023-03-22 Tecan Trading Ag Positionsdetektor und verfahren zur 3d-positionsbestimmung
CN110068288A (zh) * 2019-05-28 2019-07-30 西南科技大学 一种激光扫描复合编码条纹整场投射与采集装置
CN110230988B (zh) * 2019-07-15 2021-08-03 河北科技大学 轮毂检测装置
DE102020003850A1 (de) * 2020-06-26 2021-12-30 Baumer Inspection Gmbh Vorrichtung zum Bestimmen eines Höhenprofils eines Objekts
EP3985455A1 (fr) * 2020-10-16 2022-04-20 The Swatch Group Research and Development Ltd Ensemble de mesure du degré d'humidité relative à l'intérieur d'un boîtier de montre
CN113358070B (zh) * 2021-07-07 2023-03-28 苏州鑫睿益荣信息技术有限公司 一种汽车刹车片平整度及销钉高度检测系统及其检测方法
CN115145020A (zh) * 2022-06-16 2022-10-04 北京遥感设备研究所 一种激光传播方向与光学平台平行的光学调节系统及方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1488841A (en) * 1974-01-18 1977-10-12 Plessey Co Ltd Optical detection apparatus
JPS6010284B2 (ja) * 1976-09-03 1985-03-16 キヤノン株式会社 走査光学系
US4286880A (en) * 1979-07-30 1981-09-01 The Bendix Corporation Scanning light beam lumber defect position system and method of using same
JPS5940149A (ja) * 1982-08-31 1984-03-05 Matsushita Electric Works Ltd 生節検出装置
JPS6019117A (ja) * 1983-07-13 1985-01-31 Nec Corp 平面走査機構
DE3408106A1 (de) * 1984-03-05 1985-09-12 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optischer rauheits-scanner
US4606645A (en) * 1984-10-29 1986-08-19 Weyerhaeuser Company Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material
US4744663A (en) * 1984-12-14 1988-05-17 Nippon Kogaku K.K. Pattern position detection apparatus using laser beam
US5177511A (en) * 1986-11-08 1993-01-05 G. Rodenstock Instruments Gmbh Apparatus for producing images of an object and in particular for observing the rear portions of the eye
EP0387521A3 (de) * 1989-02-28 1991-02-06 Siemens Aktiengesellschaft Optischer Abstandssensor
DE3920669A1 (de) * 1989-06-23 1991-01-10 Sick Optik Elektronik Erwin Optische abtastvorrichtung
DE3923788C1 (ru) * 1989-07-18 1991-01-10 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 8000 Muenchen, De
JP2511391B2 (ja) * 1991-12-04 1996-06-26 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 光学式間隔センサ
JP3214944B2 (ja) * 1992-03-17 2001-10-02 株式会社リコー 光走査装置
SE9400849L (sv) * 1994-03-08 1995-04-03 Soliton Elektronik Ab Anordning och förfarande för detektering av defekter i virke
NZ270892A (en) * 1994-08-24 1997-01-29 Us Natural Resources Detecting lumber defects utilizing optical pattern recognition algorithm
JP3335258B2 (ja) * 1994-10-27 2002-10-15 旭光学工業株式会社 反射型走査光学装置
US5953120A (en) * 1996-01-04 1999-09-14 Sandia Corporation Optical probe
DE19703596C2 (de) * 1996-01-31 2000-12-14 Asahi Optical Co Ltd Abtastvorrichtung und Polygonspiegelabdeckung
US5847400A (en) * 1996-02-01 1998-12-08 Molecular Dynamics, Inc. Fluorescence imaging system having reduced background fluorescence
DE19604076C2 (de) * 1996-02-05 1998-02-19 F & O Electronic Systems Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche von Holz zwecks Feststellung von Oberflächenmerkmalen und Verfahren hierzu

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU99122593A (ru) Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля
RU2186372C2 (ru) Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля
US11977183B2 (en) 2D scanning high precision LiDAR using combination of rotating concave mirror and beam steering devices
US6862097B2 (en) Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus
JP2529691B2 (ja) 光学式距離測定装置及び支持部材上の部品の位置を決定する装置
JP2004347422A (ja) 測距装置
KR850000669A (ko) 거리측정 시스템
JPH0762614B2 (ja) 光センサ
JP5681799B2 (ja) 距離測定システム
JP6892734B2 (ja) 光波距離測定装置
US6661446B2 (en) Parallel-processing, optical distance-measuring device
JPH08240408A (ja) 変位センサ
US5815272A (en) Filter for laser gaging system
RU2439492C1 (ru) Лазерный дальномер
JPH11201718A (ja) センサ装置及び距離測定装置
WO1995002179B1 (en) Misalignment detection apparatus for transmissometer with underfilled reflector
JP6867736B2 (ja) 光波距離測定装置
KR20220165784A (ko) 이물·결함 검사 장치, 이물·결함 검사에서의 화상 생성 장치, 및 이물·결함 검사 방법
JP3388285B2 (ja) 検査装置
JPH07117500B2 (ja) 検査装置
US6456384B1 (en) Moiré interferometer with overlapping illumination and imaging systems
KR970071042A (ko) 광학 모니터용 텔레센트릭 반사 헤드
JP3020398B2 (ja) 板表面の検査方法及び検査装置並びに検査用光源
US20210325668A1 (en) Optical system to reduce local internal backscatter
JPS6167012A (ja) 焦点検出装置