RU99122593A - Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля - Google Patents
Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроляInfo
- Publication number
- RU99122593A RU99122593A RU99122593/28A RU99122593A RU99122593A RU 99122593 A RU99122593 A RU 99122593A RU 99122593/28 A RU99122593/28 A RU 99122593/28A RU 99122593 A RU99122593 A RU 99122593A RU 99122593 A RU99122593 A RU 99122593A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- light
- sensor unit
- flux
- deflecting element
- light flux
- Prior art date
Links
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims 28
- 230000003287 optical Effects 0.000 claims 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 3
- 230000001419 dependent Effects 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 claims 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims 1
Claims (26)
1. Блок датчика для контроля поверхности (10', 10'') объекта (10) для определения характеристик поверхности, в состав которого входят устройство сканирования (60) и блок оптического датчика (50) для излучения светового потока (53) на устройство сканирования (60) и для приема светового потока (54), поступающего из устройства сканирования (60), со светоизлучающим модулем (51), излучающим световой поток (53), светопринимающим модулем (52), принимающем световой поток (54) и оптическим светоотклоняющим элементом (9), с помощью которого световой луч, поступающий из устройства сканирования (60), может быть разделен на два отличных друг от друга луча, проходящих по разным траекториям, из которых траектория первого луча (53) определяется первым пространственно ограниченным участком (55) падающего светового потока, а траектория второго луча (54) определяется вторым пространственно ограниченным участком (56) падающего светового потока, при этом площадь поперечного сечения первого пространственно ограниченного участка (55) меньше площадь поперечного сечения второго пространственно ограниченного участка (56); светоиспускающий модуль (51) расположен на траектории второго луча (54), при этом в состав устройства сканирования (60) входит светоотклоняющий элемент (2) с динамически изменяемым углом отклонения, который является зоной облучения блока датчика (50), отличающийся тем, что в состав устройства сканирования (60) входит вогнутое зеркало (1), в фокусе которого светоотклоняющий элемент (2) расположен таким образом, что световой поток, излучаемый блоком датчика (50) может направляться в блок датчика (50) под постоянным углом к оси симметрии (7) вогнутого зеркала (1) по линии сканирования (23, 24) объекта (10), а также световой поток, испускаемый устройством сканирования (60) и диффузно отраженный от объекта (10) может направляться в блок датчика (50) по той же траектории, что и поступающий световой поток, и тем, что вогнутое зеркало (1) расположено таким образом по отношению к поверхности (10', 10'') и светопринимающему модулю (52), что поверхность (10', 10''), может быть телецентрически спроецирована на светопринимающий модуль (52), при этом светоотклоняющий элемент (2) выполняет роль апертурной диафрагмы.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что светоотклоняющий элемент (9) выполнен в виде зеркала с апертурой (25) и расположен таким образом, что большая часть светового потока (53), идущего от светоизлучающего модуля (51) к светоотклоняющему элементу (9), проходит сквозь апертуру (15) на устройство сканирования (60).
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что светоотклоняющий элемент (9) выполнен в виде зеркала и расположен таким образом, что большая часть светового потока (53), идущего от светоизлучающего модуля (51) к светоотклоняющему элементу (9), отражается на устройство сканирования (60) зеркалом (9).
4. Устройство по одному из пп.1 - 3, отличающееся тем, что в состав светоизлучающего модуля (51) входят несколько источников света (3, 4), световое излучение которых имеет разную длину волны.
5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что первый источник света (3), излучает свет длиной волны 620 - 770 нм, а второй источник света (4) излучает свет длиной волны больше 770 нм.
6. Устройство по одному из пп.1 - 5, отличающееся тем, что в состав светопринимающего модуля (52) входит по крайней мере один светоприемник (15, 16, 20) и оптическая система (13), при этом оптическая система (13) расположена между светоотклоняющим элементом (9) и по крайней мере одним светоприемником (15, 16, 20) таким образом, что по крайней мере один светоприемник (15, 16, 20) расположен в фокальной плоскости оптической системы (13).
7. Устройство по п.6, отличающееся тем, что в состав светопринимающего модуля (52) входят несколько светоприемников (15, 16, 20) и по крайней мере один светоделитель (14, 26), при этом с помощью хотя бы одного светоделителя (14, 26) световой поток (54), поступающий на светопринимающий модуль (52) может быть разделен между светоприемниками (15, 16, 20).
8. Устройство по п.7, отличающееся тем, что отношение коэффициента отражения к коэффициенту пропускания по крайней мере одного свтоделителя (14, 26) зависит от длины волны.
9. Устройство по одному из пп. 6 - 8, отличающееся тем, что в его состав входит светоприемник (15), перед которым установлен пространственный фильтр (30), служащий для гашения диффузно отраженной точки прямого света, или пятна и/или светоприемник (16), перед которым установлена диафрагма для гашения световых конусов рассеяния.
10. Устройство по п. 9, отличающееся тем, что в его состав входят два светоприемника (15), перед каждым из которых установлен один пространственный фильтр (30), при этом пространственные фильтры (30) расположены под прямым углом друг к другу для того, чтобы измерять зависимость рассеянного светового потока Трэчеда от направления.
11. Устройство по одному из пп.1 - 10, отличающееся тем, что в состав светопринимающего модуля (52) входит по крайней мере одна телекамера с приборами с зарядовой связью и/или один позиционно-чувствительный светопринимающий элемент (позиционно-зависимый детектор).
12. Устройство по одному из пп.1 - 11, отличающееся тем, что светоотклоняющий элемент (2) выполнен в виде вращающегося многогранного зеркала.
13. Устройство по одному из пп.1 - 12, отличающееся тем, что вогнутое зеркало (1) является сегментом, в частности полоской, с параллельными краями, вырезанным из параболоида.
14. Устройство по одному из пп.1 - 3, отличающееся тем, что для получения трехмерного профиля с помощью триангуляции по крайней мере один световой луч, испущенный блоком датчика (50) может быть направлен на объект (10), а световой поток диффузно отраженный от объекта (10) под постоянным углом (θ) к падающему лучу может быть направлен назад на блок датчика таким образом, что траектории падающего и направленного назад лучей совпадают в плоскости, параллельной поверхности объекта (10').
15. Устройство по п.14, отличающееся тем, что для получения трехмерного телецентрического профиля с помощью триангуляции в состав блока датчика (50) входит высокоскоростной позиционно-чувствительный светопринимающий элемент (позиционно-чувствительный датчик) (20) для измерения профиля поверхности (10', 10'') путем освещения поверхности объекта (10') диффузно отраженным световым потоком, направленным по нормали к данной поверхности, с помощью телецентрического проецирования.
16. Устройство по одному из пп.1 - 15, отличающееся тем, что объект (10) может передвигаться относительно блока датчика (50).
17. Способ контроля поверхности (10', 10'') объекта (10) для определения характеристик поверхности, посредством которого световой поток от блока датчика (50) передается на сканирующее устройство (60), а излучаемый световой поток (6) направляется на светоотклоняющий элемент (2) с динамически изменяемым углом отклонения и отклоняется на нем, отличающийся тем, что световой поток, отклоненный на светоотклоняющем элементе (2) фокусируется на объекте с помощью вогнутого зеркала (1), в фокусе которого размещается светоотклоняющий элемент (2), направляется под постоянным углом к оси симметрии (7) вогнутого зеркала (1) по линии сканирования (23, 24) объекта, а световой поток диффузно отраженный от объекта (10) направляется обратно на блок датчика (50) по той же траектории, что и излученный световой поток и тем, что поверхность объекта (10', 10'') телецентрически проецируется на блок датчика (50) с помощью вогнутого зеркала (1), при этом светоотклоняющий элемент (2) работает как апертурная диафрагма.
18. Способ по п.17, отличающийся тем, что для получения трехмерного профиля с помощью триангуляции по крайней мере один луч света, посылаемый блоком датчика (50) направляется на объект (10), а световой луч диффузно отраженный от объекта (10) под постоянным углом (9) к падающему лучу направляется обратно на блок датчика (50) таким образом, что траектории падающего и обратного лучей совпадают в плоскости, параллельной поверхности объекта (10').
19. Способ по п.17 или 18, отличающийся тем, что с помощью специальных пространственных фильтров (30) прямо отраженная световая точка, или пятно, гасится и оценивается только изображение оставшегося светового конуса.
20. Способ по одному из пп.17 - 19, отличающийся тем, что различные характеристики поверхности измеряются в реальном масштабе времени, в предпочтительном варианте с использованием компьютера.
21. Способ по одному из пп.17 - 20, отличающийся тем, что световой поток, падающий на блок датчика (50), разделяется между несколькими каналами, каждый из которых оценивается отдельно от других.
22. Способ по п.21, отличающийся тем, что части светового потока разной длины волны, попадающие на блок датчика, отделяются друг от друга, при этом по этим частям светового потока с высокой частотой следования осуществляется мгновенная регистрация различных характеристик поверхности, к которым относятся профиль поверхности в трехмерном канале (20), отражательная способность в канале света красного спектра (16), а также эффект Трэчеда в рассеивающем канале (15).
23. Способ по п.21 или 22, отличающийся тем, что световой поток, падающий на блок датчика (50) (в предпочтительном варианте изобретения - красная часть спектра), разделяется на первую и вторую части и эти две части светового потока направляются на два светоприемника (15, 16) и тем, что в случае первой части светового потока прямого излучения изображение световых конусов, полученное от эффекта рассеяния, гасится, оценивается изображение диффузно отраженной световой точки прямого излучения, или светового пятна, и/или тем, что в случае второй части светового потока с помощью специальных пространственных фильтров (30) диффузно отраженная световая точка прямого излучения, или световое пятно, гасится и оценивается только изображение оставшихся световых конусов.
24. Способ по п.22 или 23, отличающийся тем, что части светового потока разной длины волны, падающие на блок датчика (50), отделяются друг от друга, при этом с помощью позиционно-чувствительного светопринимающего элемента (позиционно-чувствительный детектор) (20) по данным первой части светового потока с помощью триангуляции измеряется трехмерная информация, а с помощью электрооптических чувствительных элементов (16, 17) (предпочтительно в реальном масштабе времени) по данным второй части светового потока измеряется интенсивность его распределения по объекту (10), а также поверхностные характеристики (эффект рассеяния).
25. Способ по одному из пп.17 - 24, отличающийся тем, что световой поток, падающий на блок датчика (50), используется для визуализации зависимых от плотности поверхностных аномалий, и с помощью четырехсекторного процесса как функция положения регистрируется в реальном масштабе времени в виде (Sx + Sy)/S и в виде арктангенса направления (Sx/Sy), и если необходимо также в виде функции высоты профиля в сочетании с процессом триангуляции в трехмерном канале, пространственное разрешение которого ограничено только фокусирующей способностью лазерного излучения.
26. Способ по одному из пп.17 - 25, отличающийся тем, что объект (10) передвигается относительно блока датчика (50).
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19717488.4 | 1997-04-25 | ||
DE19717488A DE19717488C2 (de) | 1997-04-25 | 1997-04-25 | Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche von Objekten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU99122593A true RU99122593A (ru) | 2001-08-20 |
RU2186372C2 RU2186372C2 (ru) | 2002-07-27 |
Family
ID=7827728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU99122593/28A RU2186372C2 (ru) | 1997-04-25 | 1998-04-23 | Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6449036B1 (ru) |
EP (1) | EP0977982B1 (ru) |
AT (1) | ATE227843T1 (ru) |
AU (1) | AU6848798A (ru) |
CA (1) | CA2287242C (ru) |
DE (2) | DE19717488C2 (ru) |
RU (1) | RU2186372C2 (ru) |
WO (1) | WO1998049545A1 (ru) |
Families Citing this family (50)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6661506B2 (en) * | 2000-08-24 | 2003-12-09 | Og Technologies, Inc. | Engine bearing inspection system |
US6624883B1 (en) * | 2000-09-28 | 2003-09-23 | National Research Council Of Canada | Method of and apparatus for determining wood grain orientation |
JP2003029201A (ja) * | 2001-07-11 | 2003-01-29 | Canon Inc | 画像投射装置及び画像補正方法 |
EP1345024A1 (en) * | 2002-03-11 | 2003-09-17 | Centre National De La Recherche Scientifique | Method and device for polarimetric measurement of the Mueller matrix coefficients of a sample in the far ultraviolet to visible spectral range |
US6795175B2 (en) * | 2002-05-21 | 2004-09-21 | The Boeing Company | System and method for imaging contamination on a surface |
AT413452B (de) * | 2003-11-18 | 2006-03-15 | Riegl Laser Measurement Sys | Einrichtung zur aufnahme eines objektraumes |
WO2006091762A1 (en) * | 2005-02-24 | 2006-08-31 | Dermisonics, Inc. | Method for enhancing attenuation characteristic of absorbent materials useful with dermal and transdermal substance delivery systems |
WO2006091913A1 (en) * | 2005-02-25 | 2006-08-31 | Nanometrics Incorporated | Apparatus and method for enhanced critical dimension scatterometry |
DE102005025009A1 (de) | 2005-05-29 | 2006-11-30 | Massen Machine Vision Systems Gmbh | Charakterisierung und Qualitätskontrolle von zumindestens teilweise optisch transluzenten und intern optisch streuenden Produkten |
US7628495B2 (en) * | 2005-06-06 | 2009-12-08 | Infocus Corporation | Mirror-based light path combination for light sources |
US7397553B1 (en) * | 2005-10-24 | 2008-07-08 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Surface scanning |
JPWO2007072794A1 (ja) | 2005-12-19 | 2009-05-28 | 国際先端技術総合研究所株式会社 | ホログラムチップにより真贋判別可能なカード |
ES2302599B1 (es) * | 2006-01-28 | 2009-05-08 | Universidade De Vigo | Metodo para la identificacion de marisco. |
US7545502B2 (en) * | 2006-09-27 | 2009-06-09 | Weyerhaeuser Nr Company | Methods for detecting compression wood in lumber |
US20080224041A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-18 | Cannamela John J | Method and apparatus for subsurface anomaly detection and image projection |
DE102008012635A1 (de) * | 2008-03-05 | 2009-09-10 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verfahren und Anordnung zur zeitaufgelösten Spektroskopie |
CA2738396C (en) * | 2011-04-28 | 2013-12-24 | Denis Lessard | Optical inspection apparatus and method |
NO336441B1 (no) | 2012-01-24 | 2015-08-17 | Tomra Sorting As | Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie |
JP5906115B2 (ja) * | 2012-03-29 | 2016-04-20 | 川崎重工業株式会社 | 光走査装置及びレーザ加工装置 |
KR102093108B1 (ko) * | 2012-05-09 | 2020-03-25 | 시게이트 테크놀로지 엘엘씨 | 표면 피처들 맵핑 |
US9212900B2 (en) | 2012-08-11 | 2015-12-15 | Seagate Technology Llc | Surface features characterization |
US9297751B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-03-29 | Seagate Technology Llc | Chemical characterization of surface features |
US9297759B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-03-29 | Seagate Technology Llc | Classification of surface features using fluorescence |
US9377394B2 (en) | 2012-10-16 | 2016-06-28 | Seagate Technology Llc | Distinguishing foreign surface features from native surface features |
US9217714B2 (en) | 2012-12-06 | 2015-12-22 | Seagate Technology Llc | Reflective surfaces for surface features of an article |
DE102013003744B4 (de) * | 2013-03-06 | 2021-02-11 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Dichteverteilung in einer Holzwerkstoffplatte |
US9274064B2 (en) | 2013-05-30 | 2016-03-01 | Seagate Technology Llc | Surface feature manager |
US9513215B2 (en) | 2013-05-30 | 2016-12-06 | Seagate Technology Llc | Surface features by azimuthal angle |
US9217715B2 (en) | 2013-05-30 | 2015-12-22 | Seagate Technology Llc | Apparatuses and methods for magnetic features of articles |
US9201019B2 (en) | 2013-05-30 | 2015-12-01 | Seagate Technology Llc | Article edge inspection |
UA121305C2 (uk) * | 2013-11-04 | 2020-05-12 | Томра Сортінґ Нв | Пристрій для контролю |
RU2579817C1 (ru) * | 2014-10-16 | 2016-04-10 | Открытое Акционерное общество "Ростовский оптико-механический завод" | Оптическая система дальномера |
RU2621469C1 (ru) * | 2015-12-11 | 2017-06-06 | Акционерное общество "Концерн радиостроения "Вега" | Способ контроля поверхности |
CN107270813A (zh) * | 2017-06-27 | 2017-10-20 | 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 | 一种扫描镜装置 |
US20190017878A1 (en) * | 2017-07-12 | 2019-01-17 | Radiant Innovation Inc. | Non-contact temperature measuring device |
DE102017214715A1 (de) * | 2017-08-23 | 2019-02-28 | Robert Bosch Gmbh | Optische Anordnung für ein LiDAR-System, LiDAR-System und Arbeitsvorrichtung |
WO2019117301A1 (ja) * | 2017-12-15 | 2019-06-20 | 株式会社堀場製作所 | 表面特性検査装置及び表面特性検査プログラム |
RU182588U1 (ru) * | 2017-12-27 | 2018-08-23 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Устройство контроля геометрических параметров поверхности изделия |
RU182109U1 (ru) * | 2017-12-27 | 2018-08-03 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Оптоэлектронный датчик |
EA035636B1 (ru) * | 2017-12-27 | 2020-07-20 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Устройство контроля геометрических параметров поверхности изделия |
US20210025986A1 (en) * | 2018-03-15 | 2021-01-28 | Pioneer Corporation | Scanning device and measuring device |
FR3089642A1 (fr) * | 2018-12-11 | 2020-06-12 | Safran Electronics & Defense | Dispositif d’harmonisation multi-spectral destine a aligner les voies optiques d’un systeme optronique |
WO2020177076A1 (zh) * | 2019-03-05 | 2020-09-10 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 一种探测装置初始状态标定方法及装置 |
EP3745081B1 (de) * | 2019-05-28 | 2023-03-22 | Tecan Trading Ag | Positionsdetektor und verfahren zur 3d-positionsbestimmung |
CN110068288A (zh) * | 2019-05-28 | 2019-07-30 | 西南科技大学 | 一种激光扫描复合编码条纹整场投射与采集装置 |
CN110230988B (zh) * | 2019-07-15 | 2021-08-03 | 河北科技大学 | 轮毂检测装置 |
DE102020003850A1 (de) * | 2020-06-26 | 2021-12-30 | Baumer Inspection Gmbh | Vorrichtung zum Bestimmen eines Höhenprofils eines Objekts |
EP3985455A1 (fr) * | 2020-10-16 | 2022-04-20 | The Swatch Group Research and Development Ltd | Ensemble de mesure du degré d'humidité relative à l'intérieur d'un boîtier de montre |
CN113358070B (zh) * | 2021-07-07 | 2023-03-28 | 苏州鑫睿益荣信息技术有限公司 | 一种汽车刹车片平整度及销钉高度检测系统及其检测方法 |
CN115145020A (zh) * | 2022-06-16 | 2022-10-04 | 北京遥感设备研究所 | 一种激光传播方向与光学平台平行的光学调节系统及方法 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1488841A (en) * | 1974-01-18 | 1977-10-12 | Plessey Co Ltd | Optical detection apparatus |
JPS6010284B2 (ja) * | 1976-09-03 | 1985-03-16 | キヤノン株式会社 | 走査光学系 |
US4286880A (en) * | 1979-07-30 | 1981-09-01 | The Bendix Corporation | Scanning light beam lumber defect position system and method of using same |
JPS5940149A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-05 | Matsushita Electric Works Ltd | 生節検出装置 |
JPS6019117A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-01-31 | Nec Corp | 平面走査機構 |
DE3408106A1 (de) * | 1984-03-05 | 1985-09-12 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Optischer rauheits-scanner |
US4606645A (en) * | 1984-10-29 | 1986-08-19 | Weyerhaeuser Company | Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material |
US4744663A (en) * | 1984-12-14 | 1988-05-17 | Nippon Kogaku K.K. | Pattern position detection apparatus using laser beam |
US5177511A (en) * | 1986-11-08 | 1993-01-05 | G. Rodenstock Instruments Gmbh | Apparatus for producing images of an object and in particular for observing the rear portions of the eye |
EP0387521A3 (de) * | 1989-02-28 | 1991-02-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Optischer Abstandssensor |
DE3920669A1 (de) * | 1989-06-23 | 1991-01-10 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische abtastvorrichtung |
DE3923788C1 (ru) * | 1989-07-18 | 1991-01-10 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 8000 Muenchen, De | |
JP2511391B2 (ja) * | 1991-12-04 | 1996-06-26 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 光学式間隔センサ |
JP3214944B2 (ja) * | 1992-03-17 | 2001-10-02 | 株式会社リコー | 光走査装置 |
SE9400849L (sv) * | 1994-03-08 | 1995-04-03 | Soliton Elektronik Ab | Anordning och förfarande för detektering av defekter i virke |
NZ270892A (en) * | 1994-08-24 | 1997-01-29 | Us Natural Resources | Detecting lumber defects utilizing optical pattern recognition algorithm |
JP3335258B2 (ja) * | 1994-10-27 | 2002-10-15 | 旭光学工業株式会社 | 反射型走査光学装置 |
US5953120A (en) * | 1996-01-04 | 1999-09-14 | Sandia Corporation | Optical probe |
DE19703596C2 (de) * | 1996-01-31 | 2000-12-14 | Asahi Optical Co Ltd | Abtastvorrichtung und Polygonspiegelabdeckung |
US5847400A (en) * | 1996-02-01 | 1998-12-08 | Molecular Dynamics, Inc. | Fluorescence imaging system having reduced background fluorescence |
DE19604076C2 (de) * | 1996-02-05 | 1998-02-19 | F & O Electronic Systems | Vorrichtung zur Inspektion der Oberfläche von Holz zwecks Feststellung von Oberflächenmerkmalen und Verfahren hierzu |
-
1997
- 1997-04-25 DE DE19717488A patent/DE19717488C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-23 RU RU99122593/28A patent/RU2186372C2/ru not_active IP Right Cessation
- 1998-04-23 AT AT98913977T patent/ATE227843T1/de active
- 1998-04-23 CA CA002287242A patent/CA2287242C/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-23 EP EP98913977A patent/EP0977982B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-04-23 DE DE59806277T patent/DE59806277D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-04-23 WO PCT/IB1998/000614 patent/WO1998049545A1/de active IP Right Grant
- 1998-04-23 AU AU68487/98A patent/AU6848798A/en not_active Abandoned
- 1998-04-23 US US09/403,735 patent/US6449036B1/en not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU99122593A (ru) | Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля | |
RU2186372C2 (ru) | Блок датчика для контроля поверхности объекта и способ для осуществления этого контроля | |
US11977183B2 (en) | 2D scanning high precision LiDAR using combination of rotating concave mirror and beam steering devices | |
US6862097B2 (en) | Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus | |
JP2529691B2 (ja) | 光学式距離測定装置及び支持部材上の部品の位置を決定する装置 | |
JP2004347422A (ja) | 測距装置 | |
KR850000669A (ko) | 거리측정 시스템 | |
JPH0762614B2 (ja) | 光センサ | |
JP5681799B2 (ja) | 距離測定システム | |
JP6892734B2 (ja) | 光波距離測定装置 | |
US6661446B2 (en) | Parallel-processing, optical distance-measuring device | |
JPH08240408A (ja) | 変位センサ | |
US5815272A (en) | Filter for laser gaging system | |
RU2439492C1 (ru) | Лазерный дальномер | |
JPH11201718A (ja) | センサ装置及び距離測定装置 | |
WO1995002179B1 (en) | Misalignment detection apparatus for transmissometer with underfilled reflector | |
JP6867736B2 (ja) | 光波距離測定装置 | |
KR20220165784A (ko) | 이물·결함 검사 장치, 이물·결함 검사에서의 화상 생성 장치, 및 이물·결함 검사 방법 | |
JP3388285B2 (ja) | 検査装置 | |
JPH07117500B2 (ja) | 検査装置 | |
US6456384B1 (en) | Moiré interferometer with overlapping illumination and imaging systems | |
KR970071042A (ko) | 광학 모니터용 텔레센트릭 반사 헤드 | |
JP3020398B2 (ja) | 板表面の検査方法及び検査装置並びに検査用光源 | |
US20210325668A1 (en) | Optical system to reduce local internal backscatter | |
JPS6167012A (ja) | 焦点検出装置 |