RU2459194C2 - Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты) - Google Patents

Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты) Download PDF

Info

Publication number
RU2459194C2
RU2459194C2 RU2010119630/28A RU2010119630A RU2459194C2 RU 2459194 C2 RU2459194 C2 RU 2459194C2 RU 2010119630/28 A RU2010119630/28 A RU 2010119630/28A RU 2010119630 A RU2010119630 A RU 2010119630A RU 2459194 C2 RU2459194 C2 RU 2459194C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
substrate
emitter
sample
reflector
orthogonal
Prior art date
Application number
RU2010119630/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2010119630A (ru
Inventor
Владимир Викторович Вьюхин (RU)
Владимир Викторович Вьюхин
Владимир Степанович Цепелев (RU)
Владимир Степанович Цепелев
Аркадий Моисеевич Поводатор (RU)
Аркадий Моисеевич Поводатор
Виктор Васильевич Конашков (RU)
Виктор Васильевич Конашков
Original Assignee
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" filed Critical Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина"
Priority to RU2010119630/28A priority Critical patent/RU2459194C2/ru
Publication of RU2010119630A publication Critical patent/RU2010119630A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2459194C2 publication Critical patent/RU2459194C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Группа изобретений относится к технической физике, а именно к анализу материалов, в частности, к определению плотности металлических расплавов методом геометрии «большой капли», т.е. путем измерения параметров силуэта лежащей на подложке эллипсовидной капли образца расплава посредством фотоэлектронной объемометрии. Изобретение может быть использовано в лабораториях и на предприятиях металлургической промышленности. По 1 варианту перед загрузкой образца на подложку помещают отражатель, перед объективом фотоприемника помещают излучатель ортогональных оптических линий, между излучателем и вакуумной камерой помещают полупрозрачную пластину с фотосенсорами, соединенными с блоком сигнализации и управления узлом настройки. После этого осуществляют регулировку горизонтальности подложки, выключают излучатель, убирают отражатель, излучатель, полупрозрачную пластину и продолжают операции. Кроме того, используют лазерный нивелир, а в качестве полупрозрачной пластины - мишень от него, в том числе с ортогональными щелями и фотосенсорами. Кроме того, используют шаговые двигатели с зубчатой передачей и отражатель в виде призмы. По 2 варианту на подложку загружают образец, включают измерительную установку, с помощью фотоприемника и компьютера получают изображение силуэта эллипсовидной капли на дисплее. Затем осуществляют регулировку подложки до тех пор, пока линия подложки на дисплее не будет выставлена горизонтально или вертикальная координата одного из краев изображения подложки не будет равна вертикальной координате другого, после чего продолжают последующие операции.
Техническим результатом изобретения является увеличение объективности, достоверности и точности определения плотности высокотемпературных металлических расплавов методом геометрии «большой капли». 2 н. и 5 з.п. ф-лы, 6 ил.

Description

Группа изобретений относится к технической физике, а именно к анализу материалов, в частности к определению физико-химических параметров высокотемпературных металлических расплавов методом геометрии так называемой «большой капли», т.е. путем измерения плотности неподвижно лежащей на подложке эллипсовидной капли образца расплава посредством фотоэлектронной объемометрии. Изобретение может быть использовано в лабораторных исследованиях, на предприятиях металлургической промышленности, при выполнении лабораторных работ в вузах.
Известна заготовка для диспергирования материала экстракцией в висящей капле расплава (см. пат. РФ №2087261 - аналог). Недостатком данной заготовки в процессе ее применения является использование способа висящей, а не лежащей капли расплава, при этом не обеспечивается точность измерения плотности образца расплава посредством фотоэлектронной объемометрии.
Наиболее близким к предлагаемой группе изобретений по технической сущности и достигаемому результату является способ неабсолютного измерения плотности образца - капли расплава с известной массой образца, равной 10…40 граммов («большой капли»), лежащей на горизонтальной подложке, размещенной на конце штока в вакуумной камере горизонтального типа в высокотемпературной зоне электропечи, на основе фотоэлектронной объемометрии, который осуществляют по геометрическим характеристикам эллипсоида капли посредством измерения параметров его контура (силуэта) и дальнейшего определения объема капли (см. Филиппов С.И. и др. «Физико-химические методы исследования металлургических процессов» М.: Металлургия, 1968 г., стр.266…271, рис.114, 116, прототип). При этом сферическая симметрия, т.е. горизонтальная установка подложки, на которой помещают каплю в зоне нагрева печи, и строгая окружность в основании капли являются необходимыми условиями применения данного способа. Для контроля горизонтальности установки подложки используют индикатор в виде пузырькового уровня, который устанавливают на подложку вместо образца расплава перед каждым опытом (см. Филиппов С.И. и др., с.271). Недостатком способа является то, что он не обеспечивает точность установления горизонтальности подложки, процедура установления горизонтальности субъективна и, в конечном итоге, не обеспечивает точность и достоверность определения плотности высокотемпературных металлических расплавов.
Задачей предлагаемой группы изобретений является повышение достоверности и точности измерения плотности капли металлического расплава.
Поставленная задача решается с помощью двух вариантов способа определения плотности металлических расплавов.
По первому варианту способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов с использованием каплевидного образца расплава известной массы, лежащего на подложке в высокотемпературной зоне электропечи вакуумной камеры горизонтального типа, при котором перед загрузкой образца осуществляют горизонтальную регулировку подложки с использованием узла изменения положения подложки, на подложку загружают образец, включают измерительную установку, получают фотоспособом, посредством расположенного вне вакуумной камеры фотоприемника, силуэт эллипсовидной капли, по которому определяют объем и плотность капли, отличается тем, что перед загрузкой образца на подложку помещают отражатель с перпендикулярной подложке зеркальной поверхностью, после чего перед объективом фотоприемника помещают излучатель ортогональных горизонтальной и вертикальной оптических линий, между этим излучателем и вакуумной камерой помещают перпендикулярно горизонтальной плоскости полупрозрачную пластину с фотосенсорами, соединенными, посредством шины данных, с блоком сигнализации и управления узлом настройки, после этого осуществляют горизонтальную регулировку подложки, для чего включают излучатель ортогональных оптических сигналов, изменяют положение подложки до тех пор, пока сигналы фотосенсоров не достигнут минимальной величины, после чего выключают излучатель ортогональных оптических сигналов, убирают отражатель, излучатель ортогональных оптических сигналов, полупрозрачную пластину и продолжают последующие операции способа.
Кроме того, формируют ортогональные оптические сигналы посредством излучателя в виде лазерного нивелира, а в качестве полупрозрачной пластины используют мишень лазерного нивелира.
Кроме того, в качестве полупрозрачной пластины используют пластину с ортогональными щелями.
Кроме того, размещают, например, на ортогональных осях полупрозрачной пластины в качестве фотосенсоров фотодиоды со светофильтрами.
Кроме того, в качестве узла изменения положения подложки используют шаговые двигатели с зубчатой передачей.
Кроме того, в качестве отражателя используют прямоугольную призму с одной зеркальной поверхностью.
По второму варианту способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов с использованием капельного образца расплава известной массы, лежащего на подложке в высокотемпературной зоне электропечи вакуумной камеры горизонтального типа, включающий горизонтальную регулировку подложки с использованием узла изменения положения подложки и получения фотоспособом, посредством фотоприемника, силуэт поперечного сечения эллипсовидной капли, по которому определяют объем и плотность капли, отличается тем, что сначала на подложку загружают образец, после чего включают измерительную установку, с помощью фотоприемника и компьютера получают изображение силуэта эллипсовидной капли на дисплее компьютера, после чего осуществляют горизонтальную регулировку подложки путем изменения положения подложки с образцом расплава до тех пор, пока линия подложки на экране дисплея не будет выставлена горизонтально или пока вертикальная координата одного из краев изображения подложки не будет равна вертикальной координате другого края изображения подложки, после чего продолжают последующие операции способа.
Технические решения, содержащие вышеуказанные совокупности отличительных признаков, а также совокупности ограничительных и отличительных признаков, не выявлены в известном уровне техники, что при достижении вышеописанного технического результата позволяет считать предложенные технические решения имеющими изобретательский уровень.
Предлагаемая группа изобретений поясняется чертежами:
фиг.1 - блок-схема измерительного комплекса для реализации первого варианта способа;
фиг.2 - блок-схема измерительного комплекса для реализации второго варианта способа;
фиг.3 - полупрозрачная пластина в виде оптической мишени лазерного нивелира;
фиг.4 - изображение образца расплава технически чистой меди, t=690°С на подложке, полученное при экспериментах;
фиг.5 - изображение образца расплава Cu-P, t=1044°С на подложке, полученное при экспериментах;
фиг.6 - изображение образца расплава стали трубной, t=1510°С на подложке, полученное при экспериментах.
Варианты способа определения плотности высокотемпературных металлических расплавов осуществляют посредством измерительного комплекса, который содержит излучающий ортогональные горизонтальную и вертикальную оптические линии излучатель 1, полупрозрачную пластину с ортогональными щелями и фотосенсорами 2, фотоприемник 3, соосный с размещенной в высокотемпературной зоне электропечи вакуумной камерой горизонтального типа 4, коаксиальный цилиндрический электронагреватель 5, капельный образец расплава фиксированной массы 6, расположенный на срезе цилиндрической подложки 7, закрепленной на одном из концов регулируемого штока 8, другой конец которого через вакуумный уплотнительный узел 9 соединен с узлом изменения положения подложки 10, который соединен с блоком сигнализации и управления 11, соединенным с одним из портов компьютера 12, на дисплей 13 которого выводят изображение капельного образца расплава фиксированной массы 6 и подложки 7. При осуществлении способа определения плотности высокотемпературных металлических расплавов по первому варианту, перед проведением экспериментов на подложку 7 вместо капельного образца расплава фиксированной массы 6 помещают отражатель 14. Фотосенсоры, размещенные на полупрозрачной пластине с ортогональными щелями 2 и фотоприемник 3 соединены соответствующими шинами данных с одним из портов компьютера 12.
Излучатель 1 выполнен, например, в виде кластера из n ортогонально расположенных светодиодов, например лазерных или сверхярких светодиодов L7113SEC-H фирмы Kingbright - см. каталог Kingbright, 2005-2006, или лазерного нивелира типа XLiner COMBO. Полупрозрачная пластина 2 выполнена в виде, например, оптической мишени для лазерного нивелира, см. фиг.3, или оптической шкалы из оргстекла, в конструкции с наличием ортогональных сквозных щелей в ней, их ширина на 1-2 мм больше светового луча; в качестве фотосенсоров используют интегральные микросхемы - оптосенсоры TSL250 фирмы TAOS, см. каталог ELFA - 55, 2007, р.812. Светофильтры (на схеме не показано) на фотосенсорах выполнены из материала, пропускающего преимущественно спектральные составляющие, например красные, излучателя 1. Выходные сигналы фотосенсоров поступают на вход сумматора (на схеме не показано), выполненного, например, в виде многовходовой схемы «или» на основе КМОП интегральных схем К561ЛЕ6, выход которой служит шиной данных (на схеме не показано) и соединен с одним из портов, например USB, компьютера 12. Фотоприемник выполнен в виде телекамеры, например, 3372Р Sanyo, или цифрового фотоаппарата с разрешением более 1 Мпиксела и соединен с компьютером посредством стандартного переходного USB - кабеля. Коаксиальный цилиндрический электронагреватель 5 выполнен из тугоплавкого немагнитного металла, например молибдена, и обеспечивает изотермическую зону. Подложка 7 выполнена в виде цилиндрического тела из высокотемпературной керамики, например бериллиевой. Регулируемый шток 8 выполнен из молибдена. Вакуумный уплотнительный узел 9 сделан из вакуумной резины. Узел изменения положения подложки 10 выполнен в виде исполнительного устройства с зубчатыми передачами, например, по меньшей мере из двух шаговых двигателей - регуляторов холостого хода автомобиля ВАЗ 2112-1148300-01(03), причем каждый из двигателей производит регулировку штока 8 по одной оси. К одному из портов компьютера 12 подключен блок сигнализации и управления 11, выполненный в виде коммутатора на основе транзисторных ключей или реле, см. Г.Штелинг, А.Байссе, Электрические микромашины. - М.: Энергоатомиздат, 1991, с.190, рис.7.1, с.202, 203, рис.7.13…7.15; он дополнительно содержит типовую схему пороговой сигнализации, например звуковой, в виде автоколебательного мультивибратора частотой 1 кГц на транзисторах КТЗ 15 с нагрузкой в виде динамической маломощной (около 0, 1 Вт), головки. Отражатель 14 выполнен, например, в виде прямоугольной зеркальной призмы или зеркала размером 1…2 см, причем зеркало жестко ортогонально зафиксировано на горизонтальном, например, сделанном из листа железа, прямоугольном основании размером 1…2 см и образует перевернутую Т-образную конструкцию.
Первый вариант способа определения плотности высокотемпературных металлических расплавов осуществляют посредством вышеописанного измерительного комплекса следующим образом. Подготавливается изучаемый образец 6, у которого определяется масса. Перед началом эксперимента на подложку 7 помещают отражатель 14 таким образом, чтобы плоскость отражения была перпендикулярна оси вакуумной камеры горизонтального типа 4. Между вакуумной камерой 4 и фотоприемником 3, соосно с ними, размещают излучатель 1 и полупрозрачную пластину с ортогональными щелями и фотосенсорами 2, причем в случае применения лазерного нивелира в качестве излучателя 1 ориентация ортогональных лучей автоматически обеспечивает горизонтальную и вертикальную составляющие с ошибкой +/-0,01 углового градуса. Лучи излучателя 1 проходят через щели в пластине 2 и, отражаясь от отражателя 14, попадают на пластину 2 и на фотосенсоры, причем, например, фотосенсоры могут быть размещены как по всей поверхности пластины 2, так и только на продолжении сквозных щелей, т.е. на ортогональных осях пластины 2. Когда сигналы фотосенсоров равны нулю, компьютер 12 не вырабатывает сигнал управления для блока сигнализации и управления 11, он не управляет узлом изменения положения подложки 10, который, в свою очередь, не регулирует горизонтальность подложки 7 и можно считать, что она горизонтальна. Когда сигналы фотосенсоров не равны нулю, компьютер 12 вырабатывает сигнал управления для блока сигнализации и управления 11, который начинает управлять узлом изменения положения подложки 10 таким образом, чтобы шток 8 с подложкой 7 и отражателем 14 заняли положение, при котором отраженный оптический сигнал попал в ортогональные сквозные щели в пластине 2, но не попадал на фотосенсоры пластины 2, после чего процедуру регулировки горизонтальности подложки 7 считают законченной. Излучатель 1, полупрозрачную пластину 2, отражатель 14 убирают, на подложку 7 помещают образец расплава 6, измерительный комплекс закрывают, включают вакуумный насос, затем электропечь и начинают эксперимент, при этом наблюдают на дисплее 13 все стадии эксперимента. Перед каждым экспериментом процедуру регулировки горизонтальности подложки 7 повторяют.
Второй вариант способа определения плотности высокотемпературных металлических расплавов осуществляют посредством вышеописанного измерительного комплекса следующим образом. Подготавливается изучаемый образец 6, у которого определяется масса, после чего он помещается на подложку 7 в центр вакуумной камеры горизонтального типа 4 в высокотемпературной зоне электропечи, после чего вакуумную камеру 4 закрывают. Включают вакуумный насос и электропечь, осуществляют начальную стадию эксперимента, при которой регулируют горизонтальность подложки 7. Наблюдают на дисплее 13 фотоизображение подложки 7 с образцом расплава 6 на ней, и регулируют положение подложки 7 до тех пор, пока линия подложки на дисплее 13 не будет выставлена горизонтально или пока вертикальная координата одного из краев изображения подложки 7 не будет равна вертикальной координате другого края изображения подложки. При этом компьютер 12 вырабатывает управляющий сигнал для блока сигнализации и управления 11, который управляет узлом изменения положения подложки 10 таким образом, чтобы шток 8 с подложкой 7 перемещался в нужном направлении. Регулировку осуществляют до тех пор, пока сигнал на выходе блока сигнализации и управления 11 не станет равен нулю, при этом в нем может быть выработан сигнал окончания процесса регулировки горизонтальности подложки 7, например звуковой, после чего проводят основную стадию эксперимента, при этом наблюдают на дисплее 13 все этапы эксперимента.
Изображение на дисплее 13 различных экспериментально полученных образцов капли расплава 6, лежащих на горизонтальной подложке 7, приведенное на фиг.4, фиг.5, фиг.6, подтверждает необходимость и возможность регулировки горизонтальности подложки 7 для обеспечения симметрии эллипсоида расплава и обоснованного применения формул расчета для этого эллипсоида, определения параметров силуэта, объема и, в конечном итоге, плотности исследуемого расплава.
Отличительные признаки предложенного технического решения обеспечивают возможность установления горизонтальности подложки, возможность увеличения симметрии как силуэта, так и сечения капли высокотемпературного металлического расплава при экспериментах, а в конечном итоге, увеличение объективности, достоверности и точности определения плотности высокотемпературных металлических расплавов методом геометрии «большой капли».

Claims (7)

1. Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов с использованием каплевидного образца известной массы, лежащего на подложке в высокотемпературной зоне электропечи вакуумной камеры горизонтального типа, при котором перед загрузкой образца осуществляют горизонтальную регулировку подложки с использованием узла изменения положения подложки, на подложку загружают образец, включают измерительную установку, получают фотоспособом посредством расположенного вне вакуумной камеры фотоприемника силуэт эллипсовидной капли, по которому определяют объем и плотность капли, отличающийся тем, что перед загрузкой образца на подложку помещают отражатель с перпендикулярной подложке зеркальной поверхностью, после чего перед объективом фотоприемника помещают излучатель ортогональных горизонтальной и вертикальной оптических линий, между этим излучателем и вакуумной камерой помещают перпендикулярно горизонтальной плоскости полупрозрачную пластину с фотосенсорами, соединенными посредством шины данных с блоком сигнализации и управления узлом настройки, после этого осуществляют горизонтальную регулировку подложки, для чего включают излучатель ортогональных оптических сигналов, изменяют положение подложки до тех пор, пока сигналы фотосенсоров не достигнут минимальной величины, после чего выключают излучатель ортогональных оптических сигналов, убирают отражатель, излучатель ортогональных оптических сигналов, полупрозрачную пластину и продолжают последующие операции способа.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что формируют ортогональные оптические сигналы посредством излучателя в виде лазерного нивелира, а в качестве полупрозрачной пластины используют мишень лазерного нивелира.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве полупрозрачной пластины используют пластину с ортогональными щелями.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что размещают, например, на ортогональных осях полупрозрачной пластины в качестве фотосенсоров фотодиоды со светофильтрами.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве узла изменения положения подложки используют шаговые двигатели с зубчатой передачей.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве отражателя используют прямоугольную призму с одной зеркальной поверхностью.
7. Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов с использованием каплевидного образца известной массы, лежащего на подложке в высокотемпературной зоне электропечи вакуумной камеры горизонтального типа, включающий горизонтальную регулировку подложки с использованием узла изменения положения подложки и получения фотоспособом посредством фотоприемника силуэта поперечного сечения эллипсовидной капли, по которому определяют объем и плотность капли, отличающийся тем, что сначала на подложку загружают образец, после чего включают измерительную установку, с помощью фотоприемника и компьютера получают изображение силуэта эллипсовидной капли на дисплее компьютера, после чего осуществляют горизонтальную установку подложки путем изменения положения подложки с образцом расплава до тех пор, пока линия подложки на экране дисплея не будет выставлена горизонтально или пока вертикальная координата одного из краев изображения подложки не будет равна вертикальной координате другого края изображения подложки, после чего продолжают последующие операции способа.
RU2010119630/28A 2010-05-17 2010-05-17 Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты) RU2459194C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010119630/28A RU2459194C2 (ru) 2010-05-17 2010-05-17 Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010119630/28A RU2459194C2 (ru) 2010-05-17 2010-05-17 Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2010119630A RU2010119630A (ru) 2011-11-27
RU2459194C2 true RU2459194C2 (ru) 2012-08-20

Family

ID=45317481

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010119630/28A RU2459194C2 (ru) 2010-05-17 2010-05-17 Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты)

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2459194C2 (ru)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2517770C1 (ru) * 2012-11-26 2014-05-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ определения плотности металлических расплавов
RU2531039C1 (ru) * 2013-04-25 2014-10-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство для определения плотности и поверхностного натяжения многокомпонентных металлических расплавов
RU2561313C1 (ru) * 2014-06-10 2015-08-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство определения поверхностного натяжения и/или плотности металлических расплавов
RU2570238C1 (ru) * 2014-07-01 2015-12-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство изучения плотности и/или поверхностного натяжения образца металлического сплава
RU167476U1 (ru) * 2015-12-08 2017-01-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство для определения плотности и поверхностного натяжения металлических расплавов
RU2613592C1 (ru) * 2015-11-09 2017-03-17 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство для определения плотности и поверхностного натяжения металлических расплавов
RU2757008C1 (ru) * 2020-11-12 2021-10-08 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ определения физических параметров капельного образца металлического расплава и устройство для его реализации
RU2806360C1 (ru) * 2022-12-22 2023-10-31 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство для определения плотности и поверхностного натяжения металлических расплавов

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU700824A1 (ru) * 1978-06-02 1979-11-30 Чечено-Ингушский Государственный Университет Подложка дл исследовани политерм поверхностного нат жени металлических расплавов
SU1221547A1 (ru) * 1984-01-27 1986-03-30 Кабардино-Балкарский ордена Дружбы народов государственный университет Устройство дл определени плотности и поверхностного нат жени жидких растворов
EP1002572B1 (en) * 1994-10-18 2006-12-06 The Regents of the University of California The combinatorial synthesis of novel materials

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU700824A1 (ru) * 1978-06-02 1979-11-30 Чечено-Ингушский Государственный Университет Подложка дл исследовани политерм поверхностного нат жени металлических расплавов
SU1221547A1 (ru) * 1984-01-27 1986-03-30 Кабардино-Балкарский ордена Дружбы народов государственный университет Устройство дл определени плотности и поверхностного нат жени жидких растворов
EP1002572B1 (en) * 1994-10-18 2006-12-06 The Regents of the University of California The combinatorial synthesis of novel materials

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Филиппов С.И. и др. Физико-химические методы исследования металлургических процессов. Металлургия, рис.114, 116, с.266-271, 1968. *

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2517770C1 (ru) * 2012-11-26 2014-05-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ определения плотности металлических расплавов
RU2531039C1 (ru) * 2013-04-25 2014-10-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство для определения плотности и поверхностного натяжения многокомпонентных металлических расплавов
RU2561313C1 (ru) * 2014-06-10 2015-08-27 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство определения поверхностного натяжения и/или плотности металлических расплавов
RU2570238C1 (ru) * 2014-07-01 2015-12-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство изучения плотности и/или поверхностного натяжения образца металлического сплава
RU2613592C1 (ru) * 2015-11-09 2017-03-17 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ и устройство для определения плотности и поверхностного натяжения металлических расплавов
RU167476U1 (ru) * 2015-12-08 2017-01-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство для определения плотности и поверхностного натяжения металлических расплавов
RU2757008C1 (ru) * 2020-11-12 2021-10-08 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ определения физических параметров капельного образца металлического расплава и устройство для его реализации
RU2806360C1 (ru) * 2022-12-22 2023-10-31 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Устройство для определения плотности и поверхностного натяжения металлических расплавов

Also Published As

Publication number Publication date
RU2010119630A (ru) 2011-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2459194C2 (ru) Способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты)
US10254235B2 (en) Defect inspecting method and defect inspecting apparatus
KR102513746B1 (ko) 석영 도가니의 투과율 측정 방법 및 장치
CN107003233B (zh) 细胞拍摄装置、细胞拍摄方法及试样池
JP2007309888A (ja) 分注装置
JP6037057B2 (ja) 示差屈折率計を用いた測定方法、その測定方法を使用する示差屈折率計及び液体クロマトグラフ
KR20120133734A (ko) 유리기판 에지부의 결함유무 검출을 위한 장치 및 방법
CN210720179U (zh) 复检相机对焦测距装置和玻璃复检设备
RU69249U1 (ru) Устройство для бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов
RU2517770C1 (ru) Способ определения плотности металлических расплавов
JP2017110985A (ja) ガス検知装置
JP2823035B2 (ja) 半導体単結晶の引上装置及び引上方法
RU101191U1 (ru) Устройство для определения плотности высокотемпературных металлических расплавов
US10564115B2 (en) X-ray analysis of drilling fluid
JPH11264796A (ja) 粉塵量測定装置及び測定方法
CN111458033A (zh) 炼钢炉双波长温度测量装置及方法
CN207798027U (zh) 垂直度检测装置及垂直度检测系统
JPS6363945A (ja) 光物性測定の安定化方法
JP5712946B2 (ja) 粒度分布測定装置
JPS6370148A (ja) 微細粒度分布測定装置
JP5359778B2 (ja) オートフォーカス制御装置およびその制御を用いた計測処理装置、ならびにオートフォーカス制御方法
EP3203210B1 (en) Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method
JP2002005860A (ja) 微小領域熱物性測定装置
Staudinger et al. Quick optical measurement of particle distribution in a sedimentation apparatus
JP6423048B1 (ja) 掘削流体のx線分析

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20130518