JP5712946B2 - 粒度分布測定装置 - Google Patents
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Description
よって、ペーストやスラリー等の高濃度で粒子群を含有するサンプル(試料)における粒子群の粒度分布を測定する場合、多重散乱光の発生を低減するために、レーザ光の光軸方向のサンプルの厚さを薄くする必要がある。
粒度分布測定装置109は、サンプル(試料)Sが収容される試料セル5と、レーザ光通過孔130aを有する設置台(試料セル配置部)130と、レーザ光源1とコリメータ2と透明カバー3とを有する照射光学系110と、集光レンズ6とリングディテクタ(前方回折/散乱光センサ)7とを有する測定光学系120と、粒度分布測定装置109全体を制御する制御部140とを備える(例えば、特許文献1参照)。
そして、粒度分布測定装置109の上下方向の中央部には、設置台130が配置されており、設置台130上に試料セル5が載置される。
このような照射光学系110の構成において、レーザ光源1で発生されたレーザ光は、コリメータ2を通過して平行光とされ、上方向(Z方向)に向かうように試料セル5に照射される。なお、平行光は、光軸に垂直な断面積が約1cm2であり、円形状となる。これにより、レーザ光は、試料セル5内の粒子群で回折・散乱して、空間的に回折・散乱光の強度分布パターンが生ずることになる。
このような測定光学系120の構成において、上方向に対して60°以内の回折・散乱光は、集光レンズ6を介してリングディテクタ7の受光面上に集光されて、リング状の回折・散乱像を結ぶようになる。
そこで、本発明は、所望の温度で試料に含まれる被測定粒子群の粒度分布を算出することができる粒度分布測定装置を提供することを目的とする。
また、本発明の粒度分布測定装置は、前記光強度分布取得部が、前記温度調整部材を第二位置に移動させることを実行するようにしてもよい。
本発明の粒度分布測定装置によれば、測定光を試料に照射する際には、自動的に光強度分布取得部が温度調整部材を第二位置に移動させることになる。
ここで、「設定距離」とは、試料セルの設計者等によって測定する試料を考慮して予め決められた任意の距離であり、例えば、0.1mm以上0.5mm以下等となる。なお、設定距離は、試料に含まれる粒子の最大粒子直径と略同一であるか、あるいは、最大粒子直径の数倍(2倍〜3倍)程度であることが好ましい。
粒度分布測定装置9は、サンプル(試料)Sが収容される試料セル5と、試料セル5を配置するための試料セル配置部30と、レーザ光源1とコリメータ2と透明カバー3とを有する照射光学系10と、集光レンズ6とリングディテクタ(前方回折/散乱光センサ)7とを有する測定光学系20と、粒度分布測定装置9全体を制御する制御部40とを備える。
取付部材33の凹部33aには、試料セル5の下端部が挿入されるようになっている。これにより、試料セル5の凹部12が、レーザ光源1とリングディテクタ7との間の光路上に配置される。
また、中部シャッタ部分31aや上部固定ジャケット部分31bや下部固定ジャケット部分31cは、制御部40からの制御信号によって温度が所望の温度に調整可能となっており、例えば、ペルチェ素子、各種ヒータ、配管接続された循環恒温槽等を有する金属板等である。
また、中部シャッタ部分32aや上部固定ジャケット部分32bや下部固定ジャケット部分32cは、制御部40からの制御信号によって温度が所望の温度に調整可能となっており、例えば、ペルチェ素子、各種ヒータ、配管接続された循環恒温槽等を有する金属板等である。
例えば、まず、温度調整部材31の中部シャッタ部分31aを第一位置に配置させるとともに温度調整部材32の中部シャッタ部分32aを第一位置に配置させておく。次に、入力装置42を用いて設定温度が入力されることにより、中部シャッタ部分31aと上部固定ジャケット部分31bと下部固定ジャケット部分31cとの温度を設定温度にするとともに、中部シャッタ部分32aと上部固定ジャケット部分32bと下部固定ジャケット部分32cとの温度を設定温度にする。次に、試料セル5の下端部が挿入される。そして、サンプルSが所望の設定温度になれば、温度調整部材31の中部シャッタ部分31aを第二位置にスライドさせるとともに、温度調整部材32の中部シャッタ部分32aを第二位置にスライドさせた直後に、レーザ光源1からのレーザ光をサンプルSに照射する。これにより、光強度分布をリングディテクタ7で検出して取得する。
以上のように、粒度分布測定装置9によれば、所望の設定温度でサンプルSに含まれる被測定粒子群の粒度分布を算出することができる。
(1)上述した粒度分布測定装置9では、試料セル5の前後側に温度調整部材31、32が設けられる構成を示したが、試料セル5の片側のみに温度調整部材が設けられるような構成としてもよい。
(3)上述した粒度分布測定装置9では、光強度分布取得部41aは、温度調整部材31、32の中部シャッタ部分31a、32aを第二位置に移動させる構成を示したが、ヒトが手動で温度調整部材31、32の中部シャッタ部分31a、32aを第二位置に移動させるような構成としてもよい。
5: 試料セル
7: リングディテクタ(検出器)
9: レーザ回折式粒度分布測定装置
30: 試料セル配置部
31、32: 温度調整部材
41a: 光強度分布取得部
41b: 粒度分布算出部
Claims (4)
- 測定光を出射する光源と、
光強度分布を検出する検出器と、
被測定粒子群を含む試料が収容された試料セルを光源と検出器との間の光路上に配置する試料セル配置部と、
前記光源からの測定光を試料に照射することにより発生する光強度分布を検出器で検出して取得する光強度分布取得部と、
前記光強度分布取得部で取得された光強度分布を用いて、前記試料に含まれる被測定粒子群の粒度分布を算出する粒度分布算出部とを備える粒度分布測定装置であって、
前記試料セルの温度を調整する温度調整部材を備え、
前記温度調整部材は、前記試料セルの周囲で光路上となる第一位置と、当該光路上でない第二位置とに移動可能となっており、
前記光源からの測定光を試料に照射する際には、前記温度調整部材を第二位置に移動させることを特徴とする粒度分布測定装置。 - 前記光強度分布取得部が、前記温度調整部材を第二位置に移動させることを実行することを特徴とする請求項1に記載の粒度分布測定装置。
- 前記試料セルは、平板形状の透明な第一基板と、平板形状の透明な第二基板とを備え、
前記第一基板の上面には、前記試料が収容されるための測定用凹部が形成されており、
前記第二基板の下面は、前記第一基板の上面と当接するように配置されることにより、前記第二基板の下面と測定用凹部の底面との間の距離が設定距離となることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の粒度分布測定装置。 - 前記温度調整部材は、温度が調整可能な平板形状基板を備え、
前記平板形状基板は、前記第一基板又は前記第二基板と当接するように配置される第一位置と、前記第一基板又は前記第二基板と当接しないように配置される第二位置とに移動可能となっていることを特徴とする請求項3に記載の粒度分布測定装置。
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