JP2019536997A5 - - Google Patents
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Claims (22)
- 動的光散乱測定および/または静的光散乱測定を行うように構成された粒子特性測定装置であって、前記粒子特性測定装置は、
光源と、
サンプル位置を画定するサンプルキャリアと、
前記光源と前記サンプルキャリアとの間に配置された光学素子であって、前記光学素子は、前記光源からの光を修正し、修正ビームを生成するように構成され、
前記修正ビームは、
a)前記修正ビーム自身に干渉して、前記サンプル位置において有効ビームを照射軸に沿って生成し、
b)遠視野において発散し、実質的に照光されない暗領域を、前記照射軸に沿って前記サンプルキャリアから離れた位置に生成する、光学素子と、
前記サンプルキャリア内のサンプルによって前記有効ビームから散乱された光を検出するように構成された、前記サンプルキャリアから離れて配置された検出器であって、前記照射軸から0°〜10°の角度に画定された散乱軸に沿った前方散乱光または後方散乱光を検出するように配置された検出器と、を備える粒子特性測定装置。 - 前記サンプルキャリアはサンプルセルであり、前記修正ビームは自身に干渉して、前記サンプルセルにおいて、前記有効ビームを前記照射軸に沿って生成することを特徴とする、請求項1に記載の粒子特性測定装置。
- 前記検出器は、前方散乱光を検出するように配置された第1検出器であって、前記粒子特性測定装置は、後方散乱光を検知するように配置された第2検出器をさらに備えることを特徴とする、請求項1または2に記載の粒子特性測定装置。
- 前記検出器はアクティブな検出領域を備え、前記アクティブな検出領域は、完全に前記暗領域内に位置することを特徴とする、請求項1から3のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 前記有効ビームは、ベッセルビームに近似していることを特徴とする、請求項1から4のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 前記光学素子は、アキシコンレンズであることを特徴とする、請求項1から5のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 前記光学素子は減光レンズであって、前記レンズは、その中心に遮光オブスキュレーション(obscuration)を備えることを特徴とする、請求項1から5のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 前記検出器または第2検出器が後方散乱光を検出するように配置された際、前記検出器または前記第2検出器が前記遮光オブスキュレーションを形成することを特徴とする、請求項7に記載の粒子特性測定装置。
- 前記レンズは、前記レンズの中心を貫く開口部を備え、前記検出器または第2検出器が後方散乱光を検出するように配置された際、前記検出器または前記第2検出器が前記開口内に配置されていることを特徴とする、請求項7または8に記載の粒子特性測定装置。
- 前記光学素子は、
前記光源からの光を第1部分と第2部分とに分割するように構成されたビームスプリッタと、
前記第1部分および前記第2部分を受光するように配置された少なくとも1枚のレンズとを備え、前記少なくとも1枚のレンズは、前記第1部分および前記第2部分をサンプルキャリアの表面に向けるように構成されたことを特徴とする、請求項1から5のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。 - レンズが、前記光源からの前記光の両方の部分を受光するように配置され、前記レンズは光の両方の部分を前記サンプルキャリアの表面に向けるように構成され、前記レンズは、前記第1部分および前記第2部分が前記レンズの前記中心に対して前記レンズの対向する位置に入射するように、任意に配置されることを特徴とする、請求項10に記載の粒子特性測定装置。
- 前記サンプルキャリアは、液体サンプルの液滴を保持するための液滴表面を備える、または、前記サンプルキャリアは、キュベットを備えることを特徴とする、請求項1から11のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 前記散乱軸に沿って散乱した光を、前記検出器へと偏光するように構成された偏光素子をさらに備えることを特徴とする、請求項1から12のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 前記光学素子、前記サンプルキャリア、および前記偏光素子は、ボディ上に支持されており、前記ボディは、前記光源と前記検出器とを備える光学装置に任意で収容されるように構成されていることを特徴とする、請求項13に記載の粒子特性測定装置。
- 前記サンプル位置において、サンプルによって前記有効ビームから散乱された光を検出するように構成された追加の検出器であって、前記照射軸から85〜95°の角度に画定された散乱軸に沿った散乱光を検出するように配置された、追加の検出器をさらに備えることを特徴とする、請求項1から14のいずれか1項に記載の粒子特性測定装置。
- 動的光散乱法を用いてサンプル中に分散した粒子の特性を測定する方法であって、該方法は、
前記サンプルをサンプルキャリア上、またはサンプルキャリア内に配置することと、
前記サンプルを照光する光源を提供することと、
前記光源と前記サンプルとの間に配置された光学素子を用いて、前記光源からの光を修正することであって、前記光学素子は、前記光源からの光を修正し、修正ビームを生成するように構成され、前記修正ビームは、自身に干渉して前記サンプルにおいて有効ビームを照射軸に沿って生成し、遠視野において発散して、実質的に照光されない暗領域を前記照射軸に沿って前記サンプルセルから離れた位置に生成する、前記光源からの光を修正することと、
前記照射軸から0〜10°の角度で画定された散乱軸に沿って、前記サンプルから前方または後方に散乱した光を、前記サンプルから離れて配置された検出器を用いて検出することとを備える、方法。 - 液体サンプルを支持、または収容するように構成されたキュベットホルダに収容可能なボディと、
前記ボディに取り付けられ、光源からの光を修正し、修正ビームを生成するように構成された光学素子であって、前記修正ビームは、a)自身に干渉して、前記ボディにおいて、照射軸に沿って伝搬する有効ビームを生成する、b)遠視野において発散して、実質的に照光されない暗領域を、前記照射軸に沿って前記サンプルセルから離れた位置に生成する、光学素子とを備える、光学アセンブリ。 - 前記ボディは、液体サンプルを収容するように構成され、前記ボディの外側からの照明光を前記サンプルへと伝送させ、散乱した光を前記サンプルから前記ボディの外側へと伝送させるように構成されていることを特徴とする、請求項17に記載の光学アセンブリ。
- 前記ボディに取り付けられ、前記暗領域に配置された偏光素子であって、前記偏光素子は、前記液体サンプルから散乱した光を、前記照射軸の方向に、前記照射軸に対してゼロではない角度の軸に沿ってそらすように構成された偏光素子をさらに備えることを特徴とする、請求項17または18に記載の光学アセンブリ。
- 光学装置を作動させるように構成された、コンピュータプログラムを備える非揮発性の機械可読媒体であって、前記光学装置は、照射軸に沿ってサンプル位置を照光するための光源と、前記サンプル位置におけるサンプルによって前記照射軸から離れるように散乱された光を検出するように構成された検出器とを備え、
前記コンピュータプログラムは、請求項17から19のいずれか1項に記載の光学アセンブリが、前記光学装置に存在するか否かを判定するように構成され、
前記コンピュータプログラムが、前記光学アセンブリは存在しないと判定した場合、軸外散乱測定を行うための第1モードで作動し、
前記コンピュータプログラムが、前記光学アセンブリは存在すると判定した場合、ゼロ度散乱測定を行うための第2モードで作動するように構成されたことを特徴とする、機械可読媒体。 - 前記コンピュータプログラムは、前記サンプルの物理的特性を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項20に記載の機械可読媒体。
- 前記物理的特徴は、粒子径を含むことを特徴とする、請求項21に記載の機械可読媒体。
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JP2002048714A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Kurabo Ind Ltd | 濁度測定装置 |
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US7224455B2 (en) * | 2004-05-28 | 2007-05-29 | Teledyne Technologies Incorporated | Measuring particulate matter in a fluid |
KR101283071B1 (ko) * | 2005-07-15 | 2013-07-05 | 바이오비질런트 시스템즈 인코포레이티드 | 병원체 및 입자 검출기 시스템 및 방법 |
JP2008039539A (ja) * | 2006-08-04 | 2008-02-21 | Shimadzu Corp | 光散乱検出装置 |
US7580131B2 (en) * | 2007-04-17 | 2009-08-25 | Asml Netherlands B.V. | Angularly resolved scatterometer and inspection method |
DE102007031244B3 (de) * | 2007-07-05 | 2009-01-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Durchführung statischer und dynamischer Streulichtmessungen in kleinen Volumina |
GB0714563D0 (en) * | 2007-07-26 | 2007-09-05 | Malvern Instr Ltd | Apparatus and method of producing a light beam for an optical measurement instrument |
JP5662154B2 (ja) * | 2007-11-15 | 2015-01-28 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | アクティブビデオ煙検出(avsd)システムでの物体進入判断方法およびavsdシステム |
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JP2012047464A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Sony Corp | 微小粒子測定装置及び光軸補正方法 |
DE102010060121C5 (de) * | 2010-10-22 | 2023-09-28 | Leica Microsystems Cms Gmbh | SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet |
WO2012127880A1 (ja) | 2011-03-24 | 2012-09-27 | 株式会社ニコン | 観察装置および観察方法 |
FR2978255B1 (fr) * | 2011-07-22 | 2014-02-21 | Horiba Jobin Yvon Sas | Dispositif optique d'eclairage conoscopique a cone creux pour microscope optique et procede de microscopie optique en conoscopie |
WO2013080209A1 (en) | 2011-12-01 | 2013-06-06 | P.M.L. - Particles Monitoring Technologies Ltd. | Detection scheme for particle size and concentration measurement |
CN203587475U (zh) * | 2013-09-25 | 2014-05-07 | 江西科技师范大学 | 一种细胞和颗粒形态光学检测装置 |
WO2015067930A1 (en) * | 2013-11-05 | 2015-05-14 | Malvern Instruments Limited | Improvements relating to particle characterisation |
GB201415783D0 (en) * | 2014-09-05 | 2014-10-22 | Malvern Instr Ltd | Particle characterisation |
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