RU2081403C1 - Instrument transducer for portable analyzer of optical emission - Google Patents
Instrument transducer for portable analyzer of optical emission Download PDFInfo
- Publication number
- RU2081403C1 RU2081403C1 SU884356943A SU4356943A RU2081403C1 RU 2081403 C1 RU2081403 C1 RU 2081403C1 SU 884356943 A SU884356943 A SU 884356943A SU 4356943 A SU4356943 A SU 4356943A RU 2081403 C1 RU2081403 C1 RU 2081403C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- spectrum
- detector
- optical emission
- emission
- grating
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003245 coal Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/443—Emission spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к измерительному датчику для портативного анализатора, использующего оптическое излучение, в котором оптическое излучение разлагают на спектр за счет применения решеточных спектрографов. The invention relates to a measuring sensor for a portable analyzer using optical radiation, in which optical radiation is decomposed into a spectrum through the use of grating spectrographs.
Оптическое излучение используют для анализа проводящих образцов различных металлов. При этом способе создают электрический разряд между образцом и зондирующим электродом. При разряде испаряется некоторая часть материала из поверхности образца, и атомы этого материала возбуждаются и ионизируются, образуя плазму. Каждый элемент испускает определенный спектр. Содержание каждого элемента в образце может быть определено за счет изменения испускаемого материалом спектра. Optical radiation is used to analyze conductive samples of various metals. With this method, an electric discharge is created between the sample and the probe electrode. During the discharge, a certain part of the material evaporates from the surface of the sample, and the atoms of this material are excited and ionized, forming a plasma. Each element emits a specific spectrum. The content of each element in the sample can be determined by changing the spectrum emitted by the material.
Известен измерительный датчик для портативного анализатора оптической эмиссии, предусматривающий диспергирование оптической эмиссии в спектр, содержащий дифракционную решетку, выполненную с диспергирующим и фокусирующим элементами и оптически связанную с детектором эмиссии. A known measuring sensor for a portable optical emission analyzer is provided for dispersing optical emission into a spectrum containing a diffraction grating made with dispersing and focusing elements and optically coupled to the emission detector.
В современных портативных оптических эмиссионных анализаторах свет рассеивается в спектр за счет применения изогнутой решетки, которая позволяет сфокусировать спектр на круговую орбиту. Свет передается от объекта измерения в спектрограф посредством светового кабеля. Спектральные линии измеряют за счет применения отдельных фотоумножительных трубок. Однако, такие устройства не является портативными. In modern portable optical emission analyzers, light is scattered into the spectrum through the use of a curved grating, which allows you to focus the spectrum into a circular orbit. Light is transmitted from the measurement object to the spectrograph by means of a light cable. Spectral lines are measured by using separate photomultiplier tubes. However, such devices are not portable.
Анализаторы, применяющие оптическую эмиссию, также могут использовать призмовый спектрограф, за счет чего спектр рассеивается. Измерение осуществляется посредством линейного детектора. В этом случае можно даже говорить о портативности, но применимость спектрографа сильно ограничена нелинейной и зависящей от температуры дисперсий. Optical emission analyzers can also use a prism spectrograph, due to which the spectrum is scattered. Measurement is carried out by means of a linear detector. In this case, one can even talk about portability, but the applicability of the spectrograph is severely limited by the nonlinear and temperature-dependent dispersions.
Задачей данного изобретения является устранение некоторых из недостатков известных устройств и создание усовершенствованного датчика, пригодного для портативного анализатора, причем этот датчик используется вместе с оптической эмиссией, оптическая эмиссия может разлагаться на спектр с помощью спектрографа, основанного на применении решетки. The objective of this invention is to eliminate some of the disadvantages of the known devices and create an improved sensor suitable for a portable analyzer, and this sensor is used together with optical emission, optical emission can be decomposed into a spectrum using a spectrograph based on the use of a grating.
Технический результат согласно изобретению достигается за счет того, что измерительный датчик для портативного анализатора оптической эмиссии в качестве дифракционной решетки имеет плоскую полевую решетку, предназначенную для создания спектра и фокусировки спектра на детектор эмиссии, при этом детектор образован одним или несколькими детекторными элементами, расположенными на прямой линии в одной и той же плоской поверхности, и предназначен для изображения созданного спектра. The technical result according to the invention is achieved due to the fact that the measuring sensor for a portable optical emission analyzer as a diffraction grating has a flat field grating designed to create a spectrum and focus the spectrum on the emission detector, while the detector is formed by one or more detector elements located on a straight line lines in the same flat surface, and is intended for the image of the created spectrum.
В измерительном датчике по изобретению создают электрический разряд между исследуемым образцом и электродом, при этом разряде с поверхности образца испаряется материал, Атомы, отделенные от образца, возбуждаются и ионизируются и, таким образом, элементы, входящие в образец, излучают определенный спектр. Спектр образца измеряют посредством измерительного датчика по данному изобретению. In the measuring sensor according to the invention, an electric discharge is created between the test sample and the electrode, in this case material is evaporated from the surface of the sample. Atoms separated from the sample are excited and ionized, and thus the elements entering the sample emit a certain spectrum. The spectrum of the sample is measured by a measuring sensor according to this invention.
Измерительный датчик по данному изобретению содержит по меньшей мере одну рассеивающую и фокусирующую составляющую. Рассеивающие и фокусирующие свойства могут заключаться либо в одной составляющей, либо в отдельных составляющих. Когда эти свойства заключаются в одной и той же составляющей, в устройстве по изобретению используется плоская полевая решетка, которая рассеивает свет на спектр и фокусирует его на детектор. Когда эти свойства содержатся в отдельных составляющих, свет, испускаемый образцом, отражается с помощью вогнутого зеркала на решетку, а затем рассеянный этой решеткой спектр фокусируется на детектор с помощью другого вогнутого зеркала. The measuring sensor according to this invention contains at least one scattering and focusing component. The scattering and focusing properties can be either in one component, or in separate components. When these properties are in the same component, a flat field grating is used in the device according to the invention, which scatters the light on the spectrum and focuses it on the detector. When these properties are contained in separate components, the light emitted by the sample is reflected with a concave mirror onto the grating, and then the spectrum scattered by this grating is focused on the detector using another concave mirror.
Измерительный датчик по изобретению также содержит детектор, пригодный для определения спектра, причем этот детектор составлен из детекторных элементов, подходящих для измерения спектра. Эти элементы располагают вдоль линии на той же самой поверхности так, чтобы они образовывали линейный детектор, который далее соединен с анализатором и печатающим устройством. The measuring sensor according to the invention also contains a detector suitable for determining the spectrum, and this detector is composed of detector elements suitable for measuring the spectrum. These elements are arranged along a line on the same surface so that they form a linear detector, which is further connected to the analyzer and the printing device.
За счет применения измерительного датчика по данному изобретению можно производить анализ спектра, у которого самая короткая длина волны составляет около 180 нм. Таким образом, изобретение может использоваться для исследования элементов с легкой молярной массой и оно может применяться, например для определения содержания угля в стали. By using the measuring sensor of the present invention, it is possible to analyze a spectrum in which the shortest wavelength is about 180 nm. Thus, the invention can be used to study elements with a light molar mass and it can be used, for example, to determine the coal content in steel.
На фиг. 1 представлено схематическое изображение предпочтительного варианта реализации изобретения; на фиг. 2 схематическое изображение другого предпочтительного изобретения; на фиг. 3 схематическое изображение предпочтительного варианта изобретения, отличного от примеров, показанных на фиг. 1 и 2. In FIG. 1 is a schematic representation of a preferred embodiment of the invention; in FIG. 2 is a schematic illustration of another preferred invention; in FIG. 3 is a schematic representation of a preferred embodiment of the invention other than the examples shown in FIG. 1 and 2.
Измерительный датчик для портативного анализатора оптической эмиссии, предусматривающий диспергирование оптической эмиссии в спектр, согласно фиг. 1 3 содержит дифракционную решетку, выполненную с диспергирующим и фокусирующим элементами и оптически связанную с детектором эмиссии, при этом в качестве дифракционной решетки применяется плоская полевая решетка, предназначенная для создания спектра и фокусировки спектра на детектор эмиссии, причем детектор образован одним или несколькими детекторными элементами, расположенными на прямой линии в одной и той же плоской поверхности, и предназначен для изображения созданного спектра. A measurement sensor for a portable optical emission analyzer, comprising dispersing the optical emission into a spectrum according to FIG. 1 to 3 contains a diffraction grating made with dispersing and focusing elements and optically coupled to an emission detector, wherein a flat field grating is used as a diffraction grating, designed to create a spectrum and focus the spectrum on the emission detector, wherein the detector is formed by one or more detector elements, located on a straight line in the same flat surface, and is intended to image the created spectrum.
В соответствии с фиг. 1, между электродом 1, который может быть выполнен, например, из меди, вольфрама или серебра, и образцом 2 в газовом промежутке 3 создают электрический разряд. В газовом промежутке 3 может содержаться какой-либо благородный газ, смесь благородного газа и водорода и/или воздуха. С помощью электрического разряда отделяют материал от образца и создают в газовом промежутке 3 плазму, в которой каждый элемент испускает определенный спектр. В измерительном датчике 4 по изобретению свет, излученный плазмой, проходит через колимматор и/или по кабелю 5 на зеркало 6, а далее через прорезь 7 на плоскую полевую решетку 8. Таким образом, плоская полевая решетка 8 служит и как рассеивающая и как фокусирующая компонента. Затем плоская полевая решетка 8 поводит спектр на линейный детектор 9. Содержание различных элементов в образце 2 определяют на основании спектра, измеренного на линейном детекторе 9, посредством широко известной технологии. In accordance with FIG. 1, an electric discharge is created between the
В примере, показанном на фиг. 2, плоская полевая решетка 8 заменена устройством, содержащим решетку и по меньшей мере одно вогнутое зеркало. Теперь рассеяние и фокусирование сосредоточены в отдельных компонентах измерительного датчика 4 по изобретению. Как показано на фиг. 2, свет, излученный плазмой, проходит через зеркало 6 и прорезь 7 на вогнутое зеркало 10, а далее на решетку 8. Рассеянный решеткой 8 спектр фокусируется посредством другого вогнутого зеркала 11, а полученное от него излучение направляется на линейный детектор 9. Содержание различных элементов в образце определяют на основании спектра, измеренного с помощью линейного детектора 9 таким же способом, как и в примере, показанном на фиг. 1. In the example shown in FIG. 2, the
Изобретение может успешно применяться также с использованием устройства, показанного на фиг. 3, где вогнутые зеркала 10 и 11, показанные на фиг. 2, объединены, образуя одно вогнутое зеркало 12. В остальном пример на фиг. 3 соответствует примеру на фиг. 2. The invention can also be successfully applied using the device shown in FIG. 3, where the
Claims (1)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI875236 | 1987-11-27 | ||
FI875236A FI875236A (en) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | MAETNINGSGIVARE FOER BAERBAR ANALYSATOR. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2081403C1 true RU2081403C1 (en) | 1997-06-10 |
Family
ID=8525483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884356943A RU2081403C1 (en) | 1987-11-27 | 1988-11-25 | Instrument transducer for portable analyzer of optical emission |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
CA (1) | CA1333228C (en) |
DE (1) | DE3840106C2 (en) |
FI (1) | FI875236A (en) |
FR (1) | FR2623906B1 (en) |
GB (1) | GB2212909B (en) |
IT (1) | IT1227881B (en) |
NL (1) | NL8802910A (en) |
RU (1) | RU2081403C1 (en) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2671872B1 (en) * | 1991-01-17 | 1993-04-02 | Secomam Sa | PORTABLE SPECTROPHOTOMETER FOR THE IN SITU STUDY OF THE ABSORPTION SPECTRUM OF A SUBSTANCE. |
DE4114276C2 (en) * | 1991-05-02 | 1996-09-19 | Spectro Analytical Instr | Gas filled UV spectrometer |
DE19545749A1 (en) * | 1995-12-07 | 1997-06-19 | Ekkehard Finkeissen | Hand-held optical spectrometer with integrated digital electronic analysis device |
DE19651677A1 (en) * | 1996-12-12 | 1998-06-18 | Spectro Analytical Instr | Optical emission spectrometer |
AT406527B (en) * | 1997-03-04 | 2000-06-26 | Bernhard Dr Platzer | DEVICE FOR ANALYZING GASEOUS SAMPLES |
DE19900308B4 (en) * | 1999-01-07 | 2010-11-25 | Spectro Analytical Instruments Gmbh | Echelle spectrometer of small size with two-dimensional detector |
LU90370B1 (en) | 1999-03-11 | 2000-09-11 | Intellectual Trade Cy Sa | Frame for doors or windows |
DE102008054733B4 (en) | 2008-12-16 | 2021-02-25 | Hitachi High-Tech Analytical Science Finland Oy | Spectrometer with multiple grids |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2823577A (en) * | 1951-08-10 | 1958-02-18 | Leeds & Northrup Co | Multiple slit spectrograph for direct reading spectrographic analysis |
DE2513345C2 (en) * | 1975-03-26 | 1976-09-30 | Kloeckner Werke Ag | DEVICE FOR THE SPECTRAL ANALYTICAL DETERMINATION OF THE ALLOY COMPONENTS OF MATERIAL SAMPLES MADE OF METAL |
FR2334947A1 (en) * | 1975-12-10 | 1977-07-08 | Instruments Sa | FIELD SPECTOGRAPH FOR A WIDE SPECTRAL DOMAIN USING A CONCAVE HOLOGRAPHIC NETWORK |
FR2396961A2 (en) * | 1977-07-08 | 1979-02-02 | Instruments Sa | FIELD SPECTROGRAPH FOR AN EXTENDED SPECTRAL DOMAIN, USING A CONCAVE HOLOGRAPHIC NETWORK |
US4253765A (en) * | 1978-02-22 | 1981-03-03 | Hitachi, Ltd. | Multi-wavelength spectrophotometer |
DE2833324A1 (en) * | 1978-07-29 | 1980-02-14 | Schubert & Salzer Maschinen | Spark chamber for vacuum emission spectrometers - has sampling plate of thermally stable moulded laminated plastic |
US4320971A (en) * | 1978-08-28 | 1982-03-23 | Nippon Kogaku K.K. | Spectrophotometer |
JPS5941534B2 (en) * | 1978-09-29 | 1984-10-08 | 株式会社島津製作所 | Emission spectrometer |
JPS56137233A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Japan Atom Energy Res Inst | Diagonal incidence spectroscope |
GB2095824B (en) * | 1981-03-27 | 1985-02-06 | British Steel Corp | Portable optical emission analyser |
JPS5892841A (en) * | 1981-11-28 | 1983-06-02 | Shimadzu Corp | Densitometer |
DE3224736A1 (en) * | 1982-07-02 | 1984-01-05 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | GRID SPECTROMETER |
JPS59178339A (en) * | 1983-03-29 | 1984-10-09 | Toshiba Corp | Measuring apparatus for absorbance |
JPS59231425A (en) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Shimadzu Corp | Detector for photodiode array spectrophotometer |
JPS60192229A (en) * | 1984-03-14 | 1985-09-30 | Hitachi Ltd | Photometer for simultaneously measuring multiwavelength light |
JPS6111622A (en) * | 1984-06-27 | 1986-01-20 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
US4678917A (en) * | 1985-02-19 | 1987-07-07 | The Perkin-Elmer Corporation | Instantaneous reading multichannel polychromatic spectrophotometer method and apparatus |
GB8618159D0 (en) * | 1986-07-25 | 1986-09-03 | Pa Consulting Services | Spectrometer based instruments |
AU587927B2 (en) * | 1987-02-10 | 1989-08-31 | Shiley Incorporated | Multichannel optical system |
-
1987
- 1987-11-27 FI FI875236A patent/FI875236A/en not_active Application Discontinuation
-
1988
- 1988-11-24 GB GB8827446A patent/GB2212909B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-25 IT IT8822750A patent/IT1227881B/en active
- 1988-11-25 NL NL8802910A patent/NL8802910A/en not_active Application Discontinuation
- 1988-11-25 CA CA000584223A patent/CA1333228C/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-25 RU SU884356943A patent/RU2081403C1/en active
- 1988-11-25 FR FR8815437A patent/FR2623906B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-28 DE DE3840106A patent/DE3840106C2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент США N 4037962, кл. G 01 J 3/00, 1977. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI875236A0 (en) | 1987-11-27 |
DE3840106A1 (en) | 1989-06-08 |
IT8822750A0 (en) | 1988-11-25 |
NL8802910A (en) | 1989-06-16 |
FI875236A (en) | 1989-05-28 |
CA1333228C (en) | 1994-11-29 |
DE3840106C2 (en) | 1997-07-31 |
IT1227881B (en) | 1991-05-14 |
GB2212909B (en) | 1992-06-17 |
FR2623906A1 (en) | 1989-06-02 |
GB2212909A (en) | 1989-08-02 |
FR2623906B1 (en) | 1992-12-18 |
GB8827446D0 (en) | 1988-12-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3556659A (en) | Laser-excited raman spectrometer | |
CN112119296B (en) | Hybrid laser-induced breakdown spectroscopy system | |
CN105784682A (en) | Detection device and detection method by laser induced breakdown spectroscopy | |
RU2081403C1 (en) | Instrument transducer for portable analyzer of optical emission | |
US6853449B2 (en) | Programmable diffraction grating sensor | |
US7609379B2 (en) | Detecting laser-induced fluorescence emissions | |
JPS5837545A (en) | Spectrofluoro-measuring device | |
JP5261862B2 (en) | Method and apparatus for measuring stray light of diffraction grating | |
JP2007017350A (en) | X-ray analyzer | |
KR900005331B1 (en) | Concentration measuring instrument of inorganic element | |
US3715585A (en) | Fluorescence spectrophotometry using multiple reflections to enhance sample absorption and fluorescence collection | |
JPS59168345A (en) | Spectroscopic analysis method | |
JP3101707B2 (en) | Raman scattered light enhancement device | |
JP2898489B2 (en) | Equipment for spectrophotometric analysis | |
JP2000055809A (en) | Raman microspectroscope and method therefor | |
JPS62188919A (en) | Method and instrument for direct emission analysis by multistage laser excitation | |
US4402606A (en) | Optogalvanic intracavity quantitative detector and method for its use | |
JP3126718B2 (en) | Multi-channel fluorescence spectrometer | |
RU2319937C2 (en) | METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SPECTRAL LINE OF CARBON AT 193 nm BY MEANS OF OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY | |
JP7356498B2 (en) | Equipment for analyzing the material composition of samples via plasma spectral analysis | |
US11892409B1 (en) | Discrete light detection device | |
KR900005330B1 (en) | Measuring method for inoragnic element | |
JPS6285847A (en) | Method and device for direct emission spectrochemical analysis of laser multistage excitation | |
SU543289A1 (en) | Device for fluorescence x-ray analysis | |
JP2020008374A (en) | Spectroscopic analyzer |