KR900005330B1 - Measuring method for inoragnic element - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 종래 측정장치의 구성도.1 is a block diagram of a conventional measuring device.
제2도는 본 발명에 따르는 측정장치의 구성도.2 is a block diagram of a measuring device according to the present invention.
제3도는 제2도의 요부 확대도.3 is an enlarged view illustrating main parts of FIG. 2.
제4도는 알곤 스펙트럼 라인과 측정원소의 공명 진동수 관계도.4 is a resonance frequency relationship between argon spectral lines and measurement elements.
제5도는 램프 발생기의 출력 파형도.5 is an output waveform diagram of a ramp generator.
제6도는 전류변화에 대한 레이져 파장변화 관계도.6 is a relationship between laser wavelength change and current change.
제7도는 측정원소들에 의한 레이저 빔의 강도감소를 보인 파형도.7 is a waveform diagram showing the reduction of the intensity of the laser beam by the measuring elements.
본 발명의 무기질 원소의 농도를 측정하는 방법에 관한 것으로, 특히 금속(합금분석에 적합하게 한 무기질 원소의 농도 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for measuring the concentration of inorganic elements of the present invention, and more particularly to a method for measuring the concentration of inorganic elements suitable for metal (alloy analysis).
종래의 농도 측정장치는 제1도에 도시한 바와 같이, 샘플(1)과 창(2)에 의하여 밀폐되는 GDL(Glow Discharge Lamp : 글로우 방전관)(3)과, 그레이팅(grating ; 회절판)(4)와, 슬릿(5), PM튜브(광전자 증배관(6)를 내장한 스펙트로메터(분광계)(7)과, PM튜브(6)로부터의 아날로그신호를 낮추고 알곤 가스를 주입하는 진공 및 알곤공급 시스템(10), 그리고 이를 제어하는 컴퓨터(11)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the conventional concentration measuring apparatus includes a GDL (Glow Discharge Lamp) 3 which is sealed by the sample 1 and the
이러한 종래 농도측정장치의 작용을 보면 측정하고자 하는 원소의 농도를 알고 있는 표준샘플(1)를 GDL(2)에 부착하고 컴퓨터(11)에 의하여 조정되는 전원공급기(9) 및 진공과 알곤 공급시스템(10)으로 GDL 작동조건을 맞추고 동작시키면 전원공급기(9)에 의하여 형성된 전기장에 의하여 알곤가스가 표준샘플(1)쪽으로 가속되어 충돌하면서 표준샘플(1)로부터 원자를 분리시키며, 분리된 원자는 가속된 알곤가스와 충돌하여 여기(EXIT)되며, 이렇게 여기된 원자들은 여기상태로부터 기저(GROUND)상태로 돌아오면서 빛을 방출하게 된다. 따라서, 표준샘플(1)을 구성하는 모든 원소들의 공명 진동수(resonance frequency)들이 GDL(3)로부터 방출되고 방출된 빛은 GDL(3)에 부착된 창(2)과 스펙트로메터(7)에 부착된 창(12)을 통하여 스펙트로메터(7)에 입력된 후 집속렌즈(13)와 슬릿(14)을 거쳐 그레이팅(4)에 집속되며, 집속된 빛은 그레이팅(4)에 의해 주파수 별로 분리되면서, 일정한 각도로 반사된다. 반사된 빛은 측정하고자 하는 공명진동수의 공명강도(intensity)를 측정하기 위하여 일정한 위치에 고정된 엑시스트슬릿(5) 및 PM튜브(6)에 의해 주파수별로 측정된다. 측정하고자 하는 원소가 3종류인 경우 각 원소의 공명진동수는 f1,f2,f3이고 GDL(3)로부터 방출하는 빛에는 f1,f2,f3가 섞여 나오며 이 f1,f2,f3는 그레이팅(4)에 의해 서로 다른 각도를 가지고 반사하여 f1,f2,f3가 반사되어 지나가는 경로에 위치한 출구측 슬릿(5)과 PM튜브(6)에 의해 f1,f2,f3의 강도가 각각 측정된다. PM튜브(6)에 의해 측정된 강도 I1,I2,I3은 A/D 콘버터(8)를 거쳐 컴퓨터(11)에 기억된다. 이때 I1.I2,I3는 농도를 알고 있는 원소를 포함한 표준샘플(1)에 의한 강도이므로 각 원소의 알려진 농도 C1,C2,C3에 해당하는 강도들이다.The action of the conventional concentration measuring device is to attach a standard sample (1), which knows the concentration of the element to be measured, to the GDL (2), the power supply 9 controlled by the computer 11, and the vacuum and argon supply system. When the GDL operating condition is adjusted to (10) and operated, the argon gas is accelerated and collided toward the standard sample (1) by the electric field generated by the power supply (9) to separate the atoms from the standard sample (1). It collides with the accelerated argon gas and is excited, and these excited atoms emit light as they return from the excited state to the ground state. Thus, the resonance frequencies of all the elements constituting the standard sample 1 are emitted from the GDL 3 and the emitted light is attached to the
다음에는 표준샘플(1)을 제거하고 농도를 알고자하는 원소를 포함한 합금을 위와같은 방법으로 측정하면 미지의 농도 C1',C2',C3'에 해당하는 강도 I1',I2',I3'가 컴퓨터(11)에 기억되고 컴퓨터(11)에 미리 내장된 분석용 소프트웨어가 I1',I2',I3'와 I1',I2',I3'를 비교하여 미지의 농도 C1,C2,C3의 값을 계산함으로서 측정하고자 하는 농도를 알아낼 수 있다.Next, remove the standard sample (1) and measure the alloy containing the element whose concentration you want to know in the same way as above. Intensity I 1 ' , I 2 corresponding to unknown concentrations C 1' , C 2 ' , C 3' ' , I 3' is stored in the computer 11 and the analysis software pre-built in the computer 11 compares I 1 ' , I 2' , I 3 ' with I 1' , I 2 ' , I 3' By calculating the values of unknown concentrations C 1 , C 2 , C 3 can determine the concentration to be measured.
그러나, 이러한 종래 기술은 원자방사에 의해서만이 원소의 농도측정히 가능하였으며. 여러가지 무기물원소를 동시에 분석하기 위해서는 고가인 PM 튜브가 여러개 필요하계 되고 GDL로부터 나오는 빛을 파장별로 분류되기 위해 고가의 스펙트로메터를 사용하여야 하므로 장치가 고가화되는 결함이 있었다.However, this prior art was able to measure the concentration of elements only by atomic radiation. In order to analyze various inorganic elements simultaneously, several expensive PM tubes are required and expensive spectrometers have to be used to classify the light emitted from the GDL by wavelength.
본 발명은 이러한 종래의 곁함을 해소하기 위하여 창안한 것으로, 광원의 파장을 가변할 수 있는 레이저를 사용하여 레이저의 강도와 측정원소들의 자발방출(emission)에 의한 강도를 검지하여, 측정되는 가변레이저의 파장 또는 주파수에 따른 강도의 비로써 신호를 분석하여 농도를 측정할 수 있게 하며, 원자 자발방출 뿐만아니라 원자흡수에 의한 농도측정도 가능하게 한 것인바, 이러한 본 발명의 일실시예를 첨부도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The present invention has been devised to solve the above-mentioned concomitant, and using a laser capable of varying the wavelength of the light source, the variable laser is measured by detecting the intensity of the laser and the intensity due to the emission of the measurement elements. By analyzing the signal as a ratio of the intensity according to the wavelength or the frequency of the not only the emission of atoms but also the concentration measurement by atomic absorption bar bar, one embodiment of the present invention When described in detail as follows.
제2도는 본 발명에 따르는 측정장치를 보인 것으로, 이에 도시한 바와 같이, 파장을 가변할 수 있는 레이저(21), 레이저(21)에서 나오는 빔(beam)을 시준(collimation) 및 집속하는 렌즈(22), 레이저빔을 GDL(24)까지 안내하는 파이버(fibex)(23), 파이버(23')에 나오는 레이저빔을 시준 및 집속하는 GDL(24)에 내장된 렌즈(25), GDL(24)로부터 레이저빔을 안내하는 파이버(23'), 파이버(23')로부터 나오는 레이저빔을 시준 및 집속하는 렌즈(25'), 레이저빔을 검출하는 디텍터(detecter)(26), 디텍터(26)로부터의 신호를 증폭하는 앰플리파이어(27), 앰플리파이어(27)로부터의 아날로그신호를 디지탈신호로 바꾸는 A/O 콘버터(28), GDL(24)의 작동 조건을 조정하는 진공 및 알곤 공급시스템(29), 고전압공급기(30), 레이저빔의 파장을 제어하는 램프발생기(Ramp Generator)(31), 그리고 주변장치 조정 및 데이터를 분석하는 컴퓨터(32)로 구성되어 있다.Figure 2 shows a measuring device according to the present invention, as shown in the
제3도는 제2도의 GDL(24)을 확대하여 보인 것으로, 이 GDL(24)에는 애노드(34)가 설치되고, 렌즈(25) 및 파이버(23)(23')의 연결위치는 샘플(33)에 근접한 위치에 설치되며, 샘플(33)과 대향된 측에 창(35)이 설치된다. 그리고 GDL(24)의 내부에는 작용공간(36)이 구비된다. 37,38은 알곤 유입구와 진공을 위한 배기로이다.3 shows an enlarged view of the
이와 같이 구성된 본 발명의 일실시예에 따른 농도 측정장치를 이용하여 농도측정을 하고자 하는 경우에는 농도를 알고자 하는 원소가 들어 있는 표준샘플(33)을 GDL(24)에 설치하고, 컴퓨터(32)에 조정되는 진공 및 알곤 공급시스템(29)과 전원공급기(30)에 의해 GDL(24)에 동작조건이 형성되면, 애노드와 샘플(33)간에 전기장이 형성되어 알곤가스 유입구(37)로 들어온 알곤가스가 가속되고, 이 알곤가스가 샘플과 충돌하여 원소들의 원소를 샘플(33)로부터 분리시킨다. 샘플(33)로부터 분리된 원자들은 다시 알곤가스와 충돌하여 여기되고 여기된 원자가 기저상태로 돌아오면서 빛을 방출하여 샘플(33)로부터 어느정도 떨어진 위치(떨어진 위치정도는 GDL내의 압력 및 공급전압 등에 의해 결정된다)에서 플라지마(PLASMA)(39)가 형성된다. 그러므로 샘플(33)로부터 플라즈마(39)까지의 공간을 원소의 원자들이 샘플(33)로부터 플라즈마(39)를 향하여 가속되고 있는 공간이다. 이때 램프 발생기(31)에 의하여 파장이 가변하는 레이저(21)로부터 나온 빔은 렌즈(22)와 파이버(23)을 거쳐 상기 공간에 입사된다. 만약 측정하고자 하는 원소의 공영진동수가 F1,F2,F3이고 Fmin<F1,F2,F3<Fmax와 같은 조건을 만족하는 원소라면(여기서, Fmin과 Fmax는 λmin과 λmax 일때의 주파수이다). 레이저의 파장 또는 주파수가 Fmin에서 Fmax까지 변화하면서 Fl,F2,F3과 일치하였을때 Fl,F2,F3의 공명진동수를 가진 원소들은 레이저빔의 에너지를 흡수하여 여기된다. 즉, 흡수되기전 레이저빔의 강도가 I0라 아면 원소에 의해 흡수된후의 강도는 Il.I2.I3가 된다(제7도). 이렇게 강도가 감소된 레이저빔은 파이버(23')와 렌즈(25)를 통하여 디텍터(26)에 집속되어 앰플리파이어(27), A/D 콘버터(28)를 거쳐 컴퓨터(32)에 기억된다. 이러한 과정히 일정시간(TC)동안 반복되면 램프발생기(31)의 주파수 FrXtc만름 각 원소에 의한 강도 값들이 컴퓨터(32)에 기억되고 컴퓨터 분석용 소프트웨어에 의하여 각 원소의 평균 강도 값들이 구해진다.When the concentration is to be measured using the concentration measuring device according to the embodiment of the present invention configured as described above, a
이러한 값들이 어떠한 원고인지를 알아내는 방법은 레이저의 주파수가 Fmin으로부터 Fmax까지 변하는 동안에 알곤 가스에 의한 신호가 디텍터(26)으로부터 검출되고 동시에 원소들에 의한 신호로 검출된다. 이때 Fmin과 Fmax 사이에 있는 알곤의 스펙트럼선은 컴퓨터(32)에 입력되어 있고 측정하고자 하는 원소의 공명진동수 값도 입력되어 있는 값이다.The method of finding out which of these values is the original is that a signal by argon gas is detected from the
그러므로 제4도에서와 같이 레이저가 Fmin에서 Fmax까지 변하는 과정에서 알곤에 의할 레이저빔의 강도의 감소 신호 Fa1,Fa2,Fa3,Fa4,Fa5는 항상 디텍터(26)에 의해 감지되고, 만약 Fa1과 Fa2사이의 F1위치에서 레이저빔 강도감소가 디텍터(26)에 의해 감지되면 Fl을 가진 원소에 의한 검지이므로 강도이 어떤 원소라는 것을 알 수 있다.Therefore, as shown in FIG. 4, the decrease signals Fa 1 , Fa 2 , Fa 3 , Fa 4 , and Fa 5 of the intensity of the laser beam due to argon are always detected by the
이와같은 알곤 스펙트럼 라인과 원소의 공명 진동수 비교로 디텍터(26)에 검지된 레이저 빔의 강도 감소가 어느 원소에 의한 것인지 알 수 있다. 만약에 Fa1,과 Fa2사이에서 어떠한 신호도 검지되지 않으면 Fl의 공명진동수를 가진 원소가 없는 것이 된다. 표준샘플(33)은 측정이 끝나고 나면 농도가 알려지지 않은 샘플을 위와 같은 과정을 거쳐를 구하고 농도가 알려진 원소에 의한 강도, Il',I2'.I3'와 비교하여 농도가 알려지지 않는 원소의 농도를 분석용 소프트웨어를 사용하여 구한다.By comparing the resonance frequencies of the argon spectral lines and the elements, it is possible to know which element causes the decrease in the intensity of the laser beam detected by the
위와같은 방법은 원자흡수에 의한 원소의 농도 측정이었고 플라즈마에 의해 방출되는 빛을 (35)을 통하여 더텍터(26)로 검지하면 원자흡수와 다르게 디텍터(26)가 원소의 원자가 여기된 후 기저상대로 환원되면서 방출하는 빛을 검지하게 된다.The above method was to measure the concentration of the element by atomic absorption. When the light emitted by the plasma is detected by the
즉, 원자흡수 방법에서는 레이저 빔의 강도감소를 측정하였으나, 창(35)을 통한 측정은 원자의 방출에 의한 빛을 측정하는 것이다. 방출에 의한 측정신호 분석도 흡수에 의한 측정신호 분석과 같은 방법 및 소프트웨어를 사용하면 원소의 농도를 측정할 수 있다.That is, in the atomic absorption method, the intensity reduction of the laser beam is measured, but the measurement through the
이상에서 설명한 바와같은 본 발명은 파장을 램프발생기에 의하여 가변할 수 있는 레이저를 사용하고 제3도와 같은 구조의 GDL을 사용함으로서 종래장치에 사용했던 원자방출에 의한 방법뿐아니라 원자흡수에 의한 원자의 농도측정도 가능하여 더욱더 정확한 측정간을 얻을 수 있을 뿐아니라, 종래장치에서 사용했던 고가의 스펙트로메터 및 PM 튜브등을 제거하게 되어 제작원가가 저렴한 농도측정장치를 제공하는 이점이 있다.As described above, the present invention uses a laser capable of varying the wavelength by a ramp generator and uses a GDL having a structure as shown in FIG. Concentration measurement is also possible to obtain a more accurate measurement, as well as removing the expensive spectrometer and PM tube used in the conventional device has the advantage of providing a low-cost concentration measurement device.
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KR1019870005526A KR900005330B1 (en) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | Measuring method for inoragnic element |
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KR1019870005526A KR900005330B1 (en) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | Measuring method for inoragnic element |
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KR880014363A KR880014363A (en) | 1988-12-23 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190102888A (en) * | 2018-02-27 | 2019-09-04 | 주식회사 선반도체 | Appartus and method for insfecting diffraction of coaxial reflection type |
-
1987
- 1987-05-30 KR KR1019870005526A patent/KR900005330B1/en not_active IP Right Cessation
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KR20190102888A (en) * | 2018-02-27 | 2019-09-04 | 주식회사 선반도체 | Appartus and method for insfecting diffraction of coaxial reflection type |
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