NL8802910A - MEASURING SENSOR FOR A PORTABLE ANALYSIS DEVICE. - Google Patents
MEASURING SENSOR FOR A PORTABLE ANALYSIS DEVICE. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8802910A NL8802910A NL8802910A NL8802910A NL8802910A NL 8802910 A NL8802910 A NL 8802910A NL 8802910 A NL8802910 A NL 8802910A NL 8802910 A NL8802910 A NL 8802910A NL 8802910 A NL8802910 A NL 8802910A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- sensor
- spectrum
- measuring sensor
- dispersing
- sensor according
- Prior art date
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/443—Emission spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
4 883082 Ke/ki %4 883082 Ke / ki%
Korte aanduiding: Meetsensor voor een draagbare analyse- inrichtingShort designation: Measurement sensor for a portable analyzer
De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een meet-sensor voor een draagbare analyse-inrichting met gebruikmaking van optische emissie, waarin de optische emissie tot een spectrum wordt gedispergeerd door het gebruik van spec-5 trografen op basis van rasters.The present invention relates to a measuring sensor for a portable analyzer using optical emission, wherein the optical emission is dispersed into a spectrum using raster-based spec-5 graphs.
Optische emissie wordt gebruikt voor het analyseren van geleidende monsters, bijvoorbeeld verschillende metalen. De methode doet een electrische ontlading ontstaan tussen het monster en de electrode die de sonde vormt. Door de ontla-10 ding verdampt iets van het materiaal van het oppervlak van het monster en worden de atomen van dat materiaal geëxciteerd en geïoniseerd, waardoor een plasma wordt gevormd. Elk element zendt een onderscheiden spectrum uit. De inhoud van verschillende elementen in het monster kan worden bepaald 15 door meting van het spectrum dat door heet materiaal wordt geëmitteerd.Optical emission is used to analyze conductive samples, for example different metals. The method creates an electrical discharge between the sample and the electrode that forms the probe. The discharge causes some of the material to evaporate from the surface of the sample and the atoms of that material to be excited and ionized to form a plasma. Each element emits a distinct spectrum. The content of different elements in the sample can be determined by measuring the spectrum emitted by hot material.
Bij moderne draagbare optische emissie-analyse-inrich-tingen wordt licht tot een spectrum gedispergeerd door een boogvormig raster te gebruiken, dat het spectrum focusseert 20 op een cirkelbaan. Het licht wordt van het meetobject overgebracht naar de spectrograaf door middel van een licht-kabel. De spectraallijnen worden gemeten door gebruikmaking van afzonderlijke fotomultiplicatorbuizen. Die apparatuur is echter niet draagbaar.In modern portable optical emission analyzers, light is dispersed to a spectrum using an arcuate grating that focuses the spectrum on a circular path. The light is transferred from the measuring object to the spectrograph by means of a light cable. The spectral lines are measured using separate photomultiplier tubes. However, that equipment is not portable.
25 Optische emissie-analyse-inrichtingen kunnen ook een prisma-spectrograaf gebruiken, waardoor het spectrum wordt gedispergeerd. De meting wordt uitgevoerd door middel van een lijndetector. In dat geval kan ook nog draagbaarheid worden bereikt, maar de bruikbaarheid van de spectrograaf 30 wordt sterk beperkt door de niet-lineaire en temperatuur-afhankelijke dispersie.Optical emission analyzers can also use a prism spectrograph, which disperses the spectrum. The measurement is performed by means of a line detector. In that case, portability can also be achieved, but the usability of the spectrograph 30 is greatly limited by the non-linear and temperature-dependent dispersion.
Het doel van de onderhavige uitvinding is enkele van de bezwaren van de bekende techniek te ondervangen en een .8802910 * - 2 - verbeterde meetsensor te realiseren die geschikt is voor draagbare analyse, welke sensor wordt gebruikt in verband met optische emissie, en waar de optische emissie tot een spectrum kan worden gedispergeerd door middel van een spec-5 trograaf die gebaseerd is op het gebruik van een raster. De wezenlijke nieuwe maatregelen volgens de uitvinding blijken uit de bijgevoegde conclusies.The object of the present invention is to overcome some of the drawbacks of the prior art and to realize an .8802910 * - 2 - improved measuring sensor suitable for portable analysis, which sensor is used in connection with optical emission, and where the optical spectrum emission can be dispersed by a spec-5 based on the use of a grid. The essential new measures according to the invention are apparent from the appended claims.
Bij de meetsensor volgens de uitvinding wordt een elec-trische ontlading opgewekt tussen het monster dat wordt 10 waargenomen en de electrode, welke ontlading materiaal doet verdampen vanaf het oppervlak van het monster. De van het monster gescheiden atomen worden aangeslagen en geïoniseerd en zo zendt elk van de monsterelementen een onderscheiden spectrum uit. Het spectrum van het monster wordt gemeten 15 door middel van de meetsensor volgens de onderhavige uitvinding.In the measuring sensor according to the invention, an electric discharge is generated between the sample that is observed and the electrode, which discharge material evaporates from the surface of the sample. The atoms separated from the sample are excited and ionized, thus each of the sample elements emits a distinct spectrum. The spectrum of the sample is measured by means of the measuring sensor according to the present invention.
De meetsensor volgens de uitvinding omvat tenminste een dispergerende en focusserende component. De dispergerende en focusserende eigenschappen kunnen aanwezig zijn ofwel in één 20 component of in afzonderlijke componenten. Wanneer de eigenschappen aanwezig zijn in één en dezelfde component, gebruikt de inrichting volgens de uitvinding een raster met vlak veld, dat licht tot een spectrum dispergeert en focus-seert op een detector. Wanneer de eigenschappen zich bevin-25 den in afzonderlijke componenten, wordt het vanaf het monster uitgezonden licht via een holle spiegel geleid tot op een raster en dan wordt het door dit raster gedisper-geerde spectrum op de detector gefocusseerd door een andere holle spiegel.The measuring sensor according to the invention comprises at least one dispersing and focusing component. The dispersing and focusing properties can be present either in one component or in separate components. When the properties are contained in one and the same component, the device according to the invention uses a flat field grating which disperses light into a spectrum and focuses on a detector. When the properties are in separate components, the light emitted from the sample is guided through a hollow mirror to a grating and then the spectrum dispersed by this grating is focused on the detector by another hollow mirror.
30 De meetsensor volgens de uitvinding omvat ook een de tector die geschikt is voor de bepaling van het spectrum, welke detector met voordeel samengesteld is uit detector-elementen die geschikt zijn voor de meting van een spectrum. Deze elementen bevinden zich met voordeel langs een lijn op 35 eenzelfde oppervlak, zodat ze een lijndetector vormen die verder verbonden is met een analyse- en een drukinrichting.The measuring sensor according to the invention also comprises a detector suitable for determining the spectrum, which detector is advantageously composed of detector elements suitable for measuring a spectrum. These elements are advantageously located along a line on the same surface so that they form a line detector further connected to an analyzer and a printer.
.8802910 * - 3 -.8802910 * - 3 -
Door de meetsensor volgens de uitvinding te gebruiken is het mogelijk een spectrum te analyseren waarvan de kortste golflengte ongeveer 180 nm is. Zo kan de uitvinding worden benut voor elementen met een geringe molaire massa en 5 kan hij worden toegepast bijvoorbeeld om het koolgehalte van staal te bepalen.By using the measuring sensor according to the invention it is possible to analyze a spectrum whose shortest wavelength is about 180 nm. The invention can thus be used for elements with a low molar mass and it can be used, for example, to determine the carbon content of steel.
De uitvinding wordt hierna in verdere bijzonderheden beschreven aan de hand van bijgaande tekeningen.The invention is described in further detail below with reference to the accompanying drawings.
Fig. 1 is een schematische illustratie van een voor-10 keursuitvoering van de uitvinding;Fig. 1 is a schematic illustration of a preferred embodiment of the invention;
Fig. 2 is een schematische illustratie van een andere voorkeursuitvoering van de uitvinding enFig. 2 is a schematic illustration of another preferred embodiment of the invention and
Fig. 3 is een schematische illustratie van een voorkeursuitvoering van de uitvinding die verschillend is van de 15 uitvoeringen van figuren 1 en 2.Fig. 3 is a schematic illustration of a preferred embodiment of the invention that is different from the embodiments of Figures 1 and 2.
Volgens fig. 1 ontstaat in de gasruimte 3 die gelegen is tussen de electrode 1, die bijvoorbeeld kan bestaan uit koper, wolfraam of zilver, en het monster 2, een electrische ontlading opgewekt. De gasruimte 3 kan enig edelgas bevat-20 ten, een mengsel van een edelgas en waterstof en/of lucht.According to FIG. 1, an electric discharge is generated in the gas space 3 which lies between the electrode 1, which can for instance consist of copper, tungsten or silver, and the sample 2. The gas space 3 can contain any noble gas, a mixture of a noble gas and hydrogen and / or air.
Door de electrische ontlading wordt materiaal van het monster afgescheiden en ontstaat in de gasruimte 3 een plasma, waarvandaan elk element een onderscheiden spectrum uitzendt.The electrical discharge separates material from the sample and creates a plasma in the gas space 3, from which each element emits a different spectrum.
In de meetsensor 11 volgens de uitvinding wordt het uit het 25 plasma uitgezonden licht door een collimator en/of via de kabel 13 geleid naar de spiegel 4 en verder door de spleet 5 naar het raster 6 met vlak veld. Zo dient het vlakveldraster 6 zowel om te dispergeren als om te focusseren. Het vlakveldraster 6 leidt het spectrum verder naar de lijndetector 30 7. De inhoud van de verschillende elementen in het monster 2 wordt bepaald op basis van het spectrum dat op de lijndetector 7 wordt gemeten door gebruikmaking van algemeen bekende technieken.In the measuring sensor 11 according to the invention, the light emitted from the plasma is passed through a collimator and / or via the cable 13 to the mirror 4 and further through the slit 5 to the screen 6 with flat field. For example, the plane field grating 6 serves both to disperse and to focus. The flat field grating 6 passes the spectrum further to the line detector 7. The content of the various elements in the sample 2 is determined based on the spectrum measured on the line detector 7 using well known techniques.
In de uitvoering van fig. 2 is het vlakveldraster 6 35 vervangen door een opstelling die wordt gevormd door een raster en tenminste een holle spiegel. Nu bevinden de dis-tpergerende en focusserende eigenschappen van de meetsensor .8802910 4> - 4 - volgens de uitvinding zich in afzonderlijke onderdelen. In fig. 2 wordt het vanuit het plasma uitgezonden licht via de spiegel 4 en de spleet 5 naar de holle spiegel 8 geleid, en verder naar het raster 9. Het door het raster 9 gedisper-5 geerde spectrum wordt gefocusseerd door middel van een andere holle spiegel 10, en de daarvandaan verkregen straling wordt naar de lijndetector 7 geleid, De inhoud van de verschillende elementen in het monster wordt bepaald uit het spectrum dat door de lijndetector 7 wordt gemeten op 10 dezelfde wijze als bij de uitvoering van fig, 1.In the embodiment of Fig. 2, the flat field grating 6 has been replaced by an arrangement formed by a grating and at least one concave mirror. The dispersing and focusing properties of the measuring sensor according to the invention are now in separate parts. In Fig. 2, the light emitted from the plasma is conducted via the mirror 4 and the slit 5 to the hollow mirror 8, and further to the grating 9. The spectrum dispersed by the grating 9 is focused by means of another hollow mirror 10, and the radiation obtained therefrom is conducted to the line detector 7. The content of the various elements in the sample is determined from the spectrum measured by the line detector 7 in the same manner as in the embodiment of FIG. 1.
De uitvinding kan ook met voordeel worden toegepast door de opstelling van fig. 3 te gebruiken, waar de holle spiegels 8 en 10 uit fig. 2 samengevat zijn, zodat ze een holle spiegel 12 vormen. Overigens komt de uitvoering van 15 fig. 3 overeen met die van fig. 2.The invention can also be advantageously practiced by using the arrangement of Fig. 3, where the concave mirrors 8 and 10 of Fig. 2 are summarized to form a concave mirror 12. Incidentally, the embodiment of Fig. 3 corresponds to that of Fig. 2.
.8802910.8802910
Claims (6)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI875236A FI875236A (en) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | MAETNINGSGIVARE FOER BAERBAR ANALYSATOR. |
| FI875236 | 1987-11-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8802910A true NL8802910A (en) | 1989-06-16 |
Family
ID=8525483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8802910A NL8802910A (en) | 1987-11-27 | 1988-11-25 | MEASURING SENSOR FOR A PORTABLE ANALYSIS DEVICE. |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| CA (1) | CA1333228C (en) |
| DE (1) | DE3840106C2 (en) |
| FI (1) | FI875236A (en) |
| FR (1) | FR2623906B1 (en) |
| GB (1) | GB2212909B (en) |
| IT (1) | IT1227881B (en) |
| NL (1) | NL8802910A (en) |
| RU (1) | RU2081403C1 (en) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2671872B1 (en) * | 1991-01-17 | 1993-04-02 | Secomam Sa | PORTABLE SPECTROPHOTOMETER FOR THE IN SITU STUDY OF THE ABSORPTION SPECTRUM OF A SUBSTANCE. |
| DE4114276C2 (en) * | 1991-05-02 | 1996-09-19 | Spectro Analytical Instr | Gas filled UV spectrometer |
| DE19545749A1 (en) * | 1995-12-07 | 1997-06-19 | Ekkehard Finkeissen | Hand-held optical spectrometer with integrated digital electronic analysis device |
| DE19651677A1 (en) * | 1996-12-12 | 1998-06-18 | Spectro Analytical Instr | Optical emission spectrometer |
| AT406527B (en) | 1997-03-04 | 2000-06-26 | Bernhard Dr Platzer | DEVICE FOR ANALYZING GASEOUS SAMPLES |
| DE19900308B4 (en) * | 1999-01-07 | 2010-11-25 | Spectro Analytical Instruments Gmbh | Echelle spectrometer of small size with two-dimensional detector |
| LU90370B1 (en) | 1999-03-11 | 2000-09-11 | Intellectual Trade Cy Sa | Frame for doors or windows |
| DE102008054733B4 (en) | 2008-12-16 | 2021-02-25 | Hitachi High-Tech Analytical Science Finland Oy | Spectrometer with multiple grids |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2823577A (en) * | 1951-08-10 | 1958-02-18 | Leeds & Northrup Co | Multiple slit spectrograph for direct reading spectrographic analysis |
| DE2513345C2 (en) * | 1975-03-26 | 1976-09-30 | Kloeckner Werke Ag | DEVICE FOR THE SPECTRAL ANALYTICAL DETERMINATION OF THE ALLOY COMPONENTS OF MATERIAL SAMPLES MADE OF METAL |
| FR2334947A1 (en) * | 1975-12-10 | 1977-07-08 | Instruments Sa | FIELD SPECTOGRAPH FOR A WIDE SPECTRAL DOMAIN USING A CONCAVE HOLOGRAPHIC NETWORK |
| FR2396961A2 (en) * | 1977-07-08 | 1979-02-02 | Instruments Sa | FIELD SPECTROGRAPH FOR AN EXTENDED SPECTRAL DOMAIN, USING A CONCAVE HOLOGRAPHIC NETWORK |
| US4253765A (en) * | 1978-02-22 | 1981-03-03 | Hitachi, Ltd. | Multi-wavelength spectrophotometer |
| DE2833324A1 (en) * | 1978-07-29 | 1980-02-14 | Schubert & Salzer Maschinen | Spark chamber for vacuum emission spectrometers - has sampling plate of thermally stable moulded laminated plastic |
| US4320971A (en) * | 1978-08-28 | 1982-03-23 | Nippon Kogaku K.K. | Spectrophotometer |
| JPS5941534B2 (en) * | 1978-09-29 | 1984-10-08 | 株式会社島津製作所 | Emission spectrometer |
| JPS56137233A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Japan Atom Energy Res Inst | Diagonal incidence spectroscope |
| GB2095824B (en) * | 1981-03-27 | 1985-02-06 | British Steel Corp | Portable optical emission analyser |
| JPS5892841A (en) * | 1981-11-28 | 1983-06-02 | Shimadzu Corp | Densitometer |
| DE3224736A1 (en) * | 1982-07-02 | 1984-01-05 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | GRID SPECTROMETER |
| JPS59178339A (en) * | 1983-03-29 | 1984-10-09 | Toshiba Corp | Measuring apparatus for absorbance |
| JPS59231425A (en) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Shimadzu Corp | Detector for photodiode array spectrophotometer |
| JPS60192229A (en) * | 1984-03-14 | 1985-09-30 | Hitachi Ltd | Photometer for simultaneously measuring multiwavelength light |
| JPS6111622A (en) * | 1984-06-27 | 1986-01-20 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| US4678917A (en) * | 1985-02-19 | 1987-07-07 | The Perkin-Elmer Corporation | Instantaneous reading multichannel polychromatic spectrophotometer method and apparatus |
| GB8618159D0 (en) * | 1986-07-25 | 1986-09-03 | Pa Consulting Services | Spectrometer based instruments |
| JPS63200108A (en) * | 1987-02-10 | 1988-08-18 | シレイ・インコーポレーテッド | Optical system using plurality of path |
-
1987
- 1987-11-27 FI FI875236A patent/FI875236A/en not_active Application Discontinuation
-
1988
- 1988-11-24 GB GB8827446A patent/GB2212909B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-25 IT IT8822750A patent/IT1227881B/en active
- 1988-11-25 RU SU884356943A patent/RU2081403C1/en active
- 1988-11-25 FR FR8815437A patent/FR2623906B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-25 CA CA000584223A patent/CA1333228C/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-25 NL NL8802910A patent/NL8802910A/en not_active Application Discontinuation
- 1988-11-28 DE DE3840106A patent/DE3840106C2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI875236A (en) | 1989-05-28 |
| DE3840106A1 (en) | 1989-06-08 |
| GB2212909B (en) | 1992-06-17 |
| GB2212909A (en) | 1989-08-02 |
| FI875236A0 (en) | 1987-11-27 |
| IT1227881B (en) | 1991-05-14 |
| FR2623906B1 (en) | 1992-12-18 |
| GB8827446D0 (en) | 1988-12-29 |
| CA1333228C (en) | 1994-11-29 |
| IT8822750A0 (en) | 1988-11-25 |
| FR2623906A1 (en) | 1989-06-02 |
| RU2081403C1 (en) | 1997-06-10 |
| DE3840106C2 (en) | 1997-07-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8355126B2 (en) | Hand-held, self-contained optical emission spectroscopy (OES) analyzer | |
| AU2019264883B2 (en) | Hybrid laser-induced breakdown spectroscopy system | |
| US3619061A (en) | Apparatus for simultaneous multielement analysis by atomic fluorescence spectroscopy | |
| US20100177308A1 (en) | Spectrometer comprising solid body sensors and secondary electron multipliers | |
| Schermer et al. | An improved microstrip plasma for optical emission spectrometry of gaseous species | |
| US20110051135A1 (en) | Multiple-Light-Path Front End for OES Instrument | |
| NL8802910A (en) | MEASURING SENSOR FOR A PORTABLE ANALYSIS DEVICE. | |
| US4182574A (en) | Arrangement for carrying out laser spectral analysis | |
| NL7905080A (en) | SAMPLE INPUT SYSTEM FOR FLAMLESS EMISSION SPECTROS COPY. | |
| US11009397B2 (en) | Compact two-dimensional spectrometer | |
| JPH02203256A (en) | Atomic emission spectroscope | |
| US3247759A (en) | Spectrometer with multiple entrance slits | |
| JP7356498B2 (en) | Equipment for analyzing the material composition of samples via plasma spectral analysis | |
| US20220205840A1 (en) | Method for fabricating an optical source for calibrating an optical system | |
| US4402606A (en) | Optogalvanic intracavity quantitative detector and method for its use | |
| US20210396679A1 (en) | Apparatus and method for element analysis of materials by means of optical emission spectroscopy | |
| RU2319937C2 (en) | METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SPECTRAL LINE OF CARBON AT 193 nm BY MEANS OF OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY | |
| US6934021B2 (en) | Method and arrangement for applying optical emission spectroscopy to the detection of the 193 nm spectral line of carbon | |
| JP2006126065A (en) | Emission spectrometry device | |
| CN108709864A (en) | A kind of multi-functional atomic spectrometer | |
| Chan et al. | Characterization of a Low-Temperature Plasma (LTP) Ambient Ionization Source Using Temporally Resolved Monochromatic Imaging Spectrometry | |
| JPH11183253A (en) | Emission analyzing device | |
| KR900005330B1 (en) | Measuring method for inoragnic element | |
| JP2023500086A (en) | Easily adjustable optical emission spectrometer | |
| JPH0716992Y2 (en) | Emission spectroscopy analyzer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BV | The patent application has lapsed |