RU2020654C1 - Устройство для термической обработки подложек - Google Patents

Устройство для термической обработки подложек Download PDF

Info

Publication number
RU2020654C1
RU2020654C1 SU5012790A RU2020654C1 RU 2020654 C1 RU2020654 C1 RU 2020654C1 SU 5012790 A SU5012790 A SU 5012790A RU 2020654 C1 RU2020654 C1 RU 2020654C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
chamber
reaction chamber
working zone
side pockets
volume
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Нургельды Розыев
Original Assignee
Нургельды Розыев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Нургельды Розыев filed Critical Нургельды Розыев
Priority to SU5012790 priority Critical patent/RU2020654C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2020654C1 publication Critical patent/RU2020654C1/ru

Links

Abstract

Использование: микроэлектроника, в частности производство тонкопленочных транзисторов. Сущность изобретения: устройство содержит реакционную камеру, имеющую рабочую зону 5, в которой расположены последовательно один над другим радиационный экран 7, плоский излучатель 8 и подложкодержатель 9, и боковые карманы 6, в которых расположены лодочки 12 с испаряемым материалом. Лодочки 12 установлены с возможностью перемещения в рабочую зону камеры. Объем камеры пропорционален количеству кислорода, необходимого для преобразования требуемого объема оксидной пленки. Разделение реакционной камеры на рабочую зону и боковые карманы позволяет последовательно проводить операции термической обработки подложек без разгерметизации устройства, например получение оксида материала подложки с использованием кислорода воздуха, находящегося в камере, напыление, легирование в атмосфере остаточного инертного газа. 1 ил.

Description

Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к производству тонкопленочных транзисторов.
Известно устройство для получения оксидных пленок в атмосфере сначала влажного, а затем сухого кислорода. Получаемые в этом устройстве пленки имеют много дефектов.
Известно устройство для проведения диффузии в замкнутом объеме, рабочая камера которого образована двумя кварцевыми ампулами, вставленными одна в другую открытыми концами и помещенными в нагревательную камеру.
Рабочая камера должна быть закрыта так, чтобы не было большой утечки паров примеси. В то же время она негерметична, что обеспечивает поступление кислорода и удаление влаги. Недостатком этого устройства является большая трудоемкость подготовительных работ, высокая стоимость кварца.
Известно устройство для нанесения тонких пленок, в котором в центре рабочей камеры расположен испаритель, а подложкодержатель выполнен в виде барабана, вращающегося планетарно.
Известно устройство для получения оксидных пленок, имеющее реакционную камеру, внутри которой расположены плоский тепловой излучатель и подложкодержатель. Это устройство принято за прототип.
Каждое из описанных устройств предназначено для того или иного вида термической обработки пластин.
При производстве тонкопленочных транзисторов используются различные термические процессы: окисление, диффузия, напыление, легирование и т.п. Каждый из этих процессов ведется в специально предназначенной для этого дорогостоящей установке. Для перехода от одной термической операции к другой необходимо подложку перекладывать из одной установки в другую. При этом не исключается попадение загрязнений на обрабатываемую поверхность подложки и удлиняется технологический цикл изготовления транзистора.
Цель изобретения заключается в сокращении технологического процесса термической обработки подложек, в частности, для тонкопленочных полевых транзисторов с общим затвором за счет того, что операции получения окисного слоя (окисление, диффузия) и напыления осуществляют последовательно в едином замкнутом объеме, заполненном воздухом.
При этом в процессе окисления и вжигания участвует кислород, находящийся в воздухе, а операция напыления осуществляется в атмосфере остаточного, но уже инертного газа. При этом множество различных дорогостоящих установок можно заменить одной.
Устройство, позволяющее решить эту задачу, содержит реакционную камеру, имеющую рабочую зону и боковые карманы, причем в рабочей зоне расположены последовательно один над другим радиационный экран, плоский излучатель и подложкодержатель, в боковых карманах установлены с возможностью перемещения вдоль оси камеры лодочки с испаряемым материалом, а объем реакционной камеры пропорционален количеству кислорода, необходимого для образования требуемого объема окисной пленки.
Разделение реакционной камеры на рабочую зону, в которой собственно и происходит термическая обработка пластин, и боковые (холодные) карманы позволяет последовательно проводить операции получения окисной пленки и напыления, так как при нахождении лодочек с диффузантом в боковых карманах последний не подвергается нагреву и не испаряется.
Замкнутый объем камеры позволяет строго дозировать количество кислорода, участвующего в технологическом процессе, и, следовательно, получать более стабильные параметры окисного слоя. Возможность проведения операций термической обработки подложек в едином замкнутом объеме позволяет исключить попадание загрязнений на обрабатываемые поверхности, которое неизбежно происходит при перезагрузке подложек из одной камеры в другую. Все это увеличивает процент выхода годных изделий и позволяет значительно сократить количество технологического оборудования и уменьшить его стоимость.
На чертеже изображено предлагаемое устройство.
Корпус 1 и крышка 2 с фторопластовым уплотнителем 3 между ними образуют реакционную камеру 4, имеющую рабочую зону 5 и боковые карманы 6. В рабочей зоне 5 расположены последовательно один над другим радиационный экран 7, ленточный излучатель 8 и подложкодержатель 9, на котором размещают обрабатываемые пластины 10. Поверхности рабочей зоны 5 и реакционного экрана 7 защищены поликоровыми пластинами 11.
В боковых карманах 6 расположены с возможностью свободного перемещения вдоль оси камеры лодочки 12 с испаряемым материалом (диффузантом).
В качестве ленточного излучателя может быть использовано устройство для импульсного отжига полупроводниковых подложек, обеспечивающее равномерный поток излучаемой мощности.
Подложкодежатель 9 имеет прижимное устройство, выполненное в виде набора поликоровых пластин 12 и радиационных экранов 13 с прижимным винтом. Это устройство фиксирует подложку и одновременно защищает ее тыльную сторону. Подача питающего напряжения излучателя осуществляется через токовводы.
Объем рабочей камеры должен быть пропорционален количеству кислорода в воздухе, необходимого для образования требуемого объема окисной пленки.
Пример расчета необходимого объема камеры.
Определяют необходимый объем окисла на металлической подложке
V
Figure 00000002
=S·δ, где S - площадь открытой поверхности подложки, м2;
δ - толщина окисного слоя, м.
Определяют концентрацию атомов кислорода в окисле
Figure 00000003
=
Figure 00000004
K, где М - масса 1 г/моль окисла;
γ - плотность окисла, кг/м3,
К - валентность (соотношение атомов кислорода к атомам металла),
при NiO K =
Figure 00000005
= 1
Cu2O K =
Figure 00000006
= 0,5
Fe2O3 K =
Figure 00000007
= 1,5
Определяют концентрацию атомов кислорода в воздухе
γвозд =
Figure 00000008
, -3) где М - масса 1 г/моль кислорода;
22,4 ˙ 103 - объем 1 г/моль газа при нормальных условиях, м3;
0,21 - процентное соотношение молекул кислорода в воздухе.
Определяют количественное соотношение концентрации атомов кислорода в оксиде к концентрации атомов кислорода в воздухе:
K =
Figure 00000009

Определяют необходимый объем воздуха в реакционной камере
Vвозд = V
Figure 00000010
K
Рассмотрим процесс термической обработки пластин для изготовления тонкопленочных полевых транзисторов с общим затвором, осуществляемый в предлагаемом устройстве.
Подготовка устройства к работе начинается с вакуумно-гигиенических работ: очищают внутренние поверхности камеры 4 от напыленного металла; протирают бязью, смоченной спиртом, крышку 2; проверяют контакты токовводов излучателя 8; заправляют камеру новой металлической подложкой 10; проверяют наличие напыляемого легколетучего металла и летучего элемента в лодочках 12 и устанавливают их в боковых карманах 6; герметизируют камеру 4 с помощью четырех винтов.
Приступают к операции получения оксидного слоя. Для этого включают питание излучателя 8, запитанного трансформатором с напряжением ≈ 1,5-2 В. Так как поверхности камеры, излучателя и т.п. защищены поликоровыми пластинами 11, активный газ - кислород воздуха, заключенный внутри камеры, реагирует только с обрабатываемой поверхностью металлической подложки 10, тыльная сторона которой также защищена поликоровой пластиной 12. Радиационные экраны 7, 13, имеющие сечение "меандр" и выполненные из молибденовой фольги толщиной 50 мкм, исключают потери энергии. Процесс вжигания составляет 40-50 с. Затем питание излучателя 8 выключается.
Переходят к операции напыления, например, омических контатков истока и стока, которая осуществляется в атмосфере остаточного инертного газа. Наклоном корпуса устройства из карманов в промежуток между излучателем 8 и подложкой 10 подается, например, по направляющим лодочка 12 с легколетучим металлом и легирующим элементом. Снова включается питание излучателя 8. Процесс напыления продолжается в течение 50-55 с. Выключается питание излучателя 8 и после остывания разгерметизируют камеру 4 и вынимают подложку 10. Контролируют качество покрытия.
Режимы этих операций соответствуют известным.
Далее любым из известных способов (фотолитографическим процессом или сфокусированными лучами лазера, электронов, ионов и т.д.) формируют канал типа "меандр".
Данное устройство может быть использовано и для производства тонкопленочных оксидных диодов с барьером Шотки.

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ПОДЛОЖЕК, содержащее реакционную камеру с рабочей зоной, в которой расположены тепловой излучатель и подложкодержатель, отличающееся тем, что оно снабжено радиационным экраном и лодочками для испаряемого материала, реакционная камера выполнена с боковыми карманами, причем радиационный экран, плоский излучатель и подложкодержатель расположены в рабочей зоне последовательно один над другим, лодочки для испаряемого материала установлены в боковых карманах реакционной камеры с возможностью перемещения в ее рабочую зону, а объем реакционной камеры пропорционален количеству кислорода, необходимого для образования требуемого объема окисной пленки.
SU5012790 1991-11-27 1991-11-27 Устройство для термической обработки подложек RU2020654C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5012790 RU2020654C1 (ru) 1991-11-27 1991-11-27 Устройство для термической обработки подложек

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5012790 RU2020654C1 (ru) 1991-11-27 1991-11-27 Устройство для термической обработки подложек

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2020654C1 true RU2020654C1 (ru) 1994-09-30

Family

ID=21589638

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU5012790 RU2020654C1 (ru) 1991-11-27 1991-11-27 Устройство для термической обработки подложек

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2020654C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2468468C2 (ru) * 2010-11-30 2012-11-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Нижегородский Государственный Университет Им. Н.И. Лобачевского" Устройство нагрева подложки для установки изготовления полупроводниковой структуры

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Моряков О.С. Термические процессы в микроэлектронике М.: Высшая школа, 1987, с.67-69. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2468468C2 (ru) * 2010-11-30 2012-11-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Нижегородский Государственный Университет Им. Н.И. Лобачевского" Устройство нагрева подложки для установки изготовления полупроводниковой структуры

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4265932A (en) Mobile transparent window apparatus and method for photochemical vapor deposition
US6150265A (en) Apparatus for forming materials
EP1125321B1 (en) Chemical deposition reactor and method of forming a thin film using the same
US4685976A (en) Multi-layer semiconductor processing with scavenging between layers by excimer laser
JPS61164219A (ja) 薄膜トランジスタアレイの製造装置
TW201140654A (en) Photoresist removing processor and methods
JPH01215023A (ja) 表面処理方法およびその装置
KR20010031890A (ko) 마이크로파 에너지를 이용한 무정질 필름 어닐링 방법
US5688410A (en) Method of ashing resist and apparatus therefor
US6074901A (en) Process for crystallizing an amorphous silicon film and apparatus for fabricating the same
RU2020654C1 (ru) Устройство для термической обработки подложек
JP2003224117A (ja) 絶縁膜の製造装置
US3743587A (en) Method for reactive sputter deposition of phosphosilicate glass
GB2089377A (en) Improved photochemical vapor deposition apparatus and method
US5817559A (en) Production method for a semiconductor device
CA1184020A (en) Method of manufacturing semiconductor device
TWI287253B (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP3500172B2 (ja) 分子線エピタキシー装置
JPH09270404A (ja) 基体の処理方法
US20070141843A1 (en) Substrate peripheral film-removing apparatus and substrate peripheral film-removing method
JPH0341722A (ja) 薄膜製造装置
JP3413872B2 (ja) 拡散方法
JPH11126811A (ja) 不純物量測定方法および装置
Foulon et al. Laser projection patterned processing of semiconductors
JPH02311307A (ja) 超伝導物質薄膜製造方法