RU2020654C1 - Устройство для термической обработки подложек - Google Patents
Устройство для термической обработки подложек Download PDFInfo
- Publication number
- RU2020654C1 RU2020654C1 SU5012790A RU2020654C1 RU 2020654 C1 RU2020654 C1 RU 2020654C1 SU 5012790 A SU5012790 A SU 5012790A RU 2020654 C1 RU2020654 C1 RU 2020654C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- chamber
- reaction chamber
- working zone
- side pockets
- volume
- Prior art date
Links
Abstract
Использование: микроэлектроника, в частности производство тонкопленочных транзисторов. Сущность изобретения: устройство содержит реакционную камеру, имеющую рабочую зону 5, в которой расположены последовательно один над другим радиационный экран 7, плоский излучатель 8 и подложкодержатель 9, и боковые карманы 6, в которых расположены лодочки 12 с испаряемым материалом. Лодочки 12 установлены с возможностью перемещения в рабочую зону камеры. Объем камеры пропорционален количеству кислорода, необходимого для преобразования требуемого объема оксидной пленки. Разделение реакционной камеры на рабочую зону и боковые карманы позволяет последовательно проводить операции термической обработки подложек без разгерметизации устройства, например получение оксида материала подложки с использованием кислорода воздуха, находящегося в камере, напыление, легирование в атмосфере остаточного инертного газа. 1 ил.
Description
Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к производству тонкопленочных транзисторов.
Известно устройство для получения оксидных пленок в атмосфере сначала влажного, а затем сухого кислорода. Получаемые в этом устройстве пленки имеют много дефектов.
Известно устройство для проведения диффузии в замкнутом объеме, рабочая камера которого образована двумя кварцевыми ампулами, вставленными одна в другую открытыми концами и помещенными в нагревательную камеру.
Рабочая камера должна быть закрыта так, чтобы не было большой утечки паров примеси. В то же время она негерметична, что обеспечивает поступление кислорода и удаление влаги. Недостатком этого устройства является большая трудоемкость подготовительных работ, высокая стоимость кварца.
Известно устройство для нанесения тонких пленок, в котором в центре рабочей камеры расположен испаритель, а подложкодержатель выполнен в виде барабана, вращающегося планетарно.
Известно устройство для получения оксидных пленок, имеющее реакционную камеру, внутри которой расположены плоский тепловой излучатель и подложкодержатель. Это устройство принято за прототип.
Каждое из описанных устройств предназначено для того или иного вида термической обработки пластин.
При производстве тонкопленочных транзисторов используются различные термические процессы: окисление, диффузия, напыление, легирование и т.п. Каждый из этих процессов ведется в специально предназначенной для этого дорогостоящей установке. Для перехода от одной термической операции к другой необходимо подложку перекладывать из одной установки в другую. При этом не исключается попадение загрязнений на обрабатываемую поверхность подложки и удлиняется технологический цикл изготовления транзистора.
Цель изобретения заключается в сокращении технологического процесса термической обработки подложек, в частности, для тонкопленочных полевых транзисторов с общим затвором за счет того, что операции получения окисного слоя (окисление, диффузия) и напыления осуществляют последовательно в едином замкнутом объеме, заполненном воздухом.
При этом в процессе окисления и вжигания участвует кислород, находящийся в воздухе, а операция напыления осуществляется в атмосфере остаточного, но уже инертного газа. При этом множество различных дорогостоящих установок можно заменить одной.
Устройство, позволяющее решить эту задачу, содержит реакционную камеру, имеющую рабочую зону и боковые карманы, причем в рабочей зоне расположены последовательно один над другим радиационный экран, плоский излучатель и подложкодержатель, в боковых карманах установлены с возможностью перемещения вдоль оси камеры лодочки с испаряемым материалом, а объем реакционной камеры пропорционален количеству кислорода, необходимого для образования требуемого объема окисной пленки.
Разделение реакционной камеры на рабочую зону, в которой собственно и происходит термическая обработка пластин, и боковые (холодные) карманы позволяет последовательно проводить операции получения окисной пленки и напыления, так как при нахождении лодочек с диффузантом в боковых карманах последний не подвергается нагреву и не испаряется.
Замкнутый объем камеры позволяет строго дозировать количество кислорода, участвующего в технологическом процессе, и, следовательно, получать более стабильные параметры окисного слоя. Возможность проведения операций термической обработки подложек в едином замкнутом объеме позволяет исключить попадание загрязнений на обрабатываемые поверхности, которое неизбежно происходит при перезагрузке подложек из одной камеры в другую. Все это увеличивает процент выхода годных изделий и позволяет значительно сократить количество технологического оборудования и уменьшить его стоимость.
На чертеже изображено предлагаемое устройство.
Корпус 1 и крышка 2 с фторопластовым уплотнителем 3 между ними образуют реакционную камеру 4, имеющую рабочую зону 5 и боковые карманы 6. В рабочей зоне 5 расположены последовательно один над другим радиационный экран 7, ленточный излучатель 8 и подложкодержатель 9, на котором размещают обрабатываемые пластины 10. Поверхности рабочей зоны 5 и реакционного экрана 7 защищены поликоровыми пластинами 11.
В боковых карманах 6 расположены с возможностью свободного перемещения вдоль оси камеры лодочки 12 с испаряемым материалом (диффузантом).
В качестве ленточного излучателя может быть использовано устройство для импульсного отжига полупроводниковых подложек, обеспечивающее равномерный поток излучаемой мощности.
Подложкодежатель 9 имеет прижимное устройство, выполненное в виде набора поликоровых пластин 12 и радиационных экранов 13 с прижимным винтом. Это устройство фиксирует подложку и одновременно защищает ее тыльную сторону. Подача питающего напряжения излучателя осуществляется через токовводы.
Объем рабочей камеры должен быть пропорционален количеству кислорода в воздухе, необходимого для образования требуемого объема окисной пленки.
Пример расчета необходимого объема камеры.
Определяют необходимый объем окисла на металлической подложке
V=S·δ, где S - площадь открытой поверхности подложки, м2;
δ - толщина окисного слоя, м.
V=S·δ, где S - площадь открытой поверхности подложки, м2;
δ - толщина окисного слоя, м.
Определяют концентрацию атомов кислорода в окисле
= K, где М - масса 1 г/моль окисла;
γ - плотность окисла, кг/м3,
К - валентность (соотношение атомов кислорода к атомам металла),
при NiO K = = 1
Cu2O K = = 0,5
Fe2O3 K = = 1,5
Определяют концентрацию атомов кислорода в воздухе
γвозд = , (м-3) где М - масса 1 г/моль кислорода;
22,4 ˙ 103 - объем 1 г/моль газа при нормальных условиях, м3;
0,21 - процентное соотношение молекул кислорода в воздухе.
= K, где М - масса 1 г/моль окисла;
γ - плотность окисла, кг/м3,
К - валентность (соотношение атомов кислорода к атомам металла),
при NiO K = = 1
Cu2O K = = 0,5
Fe2O3 K = = 1,5
Определяют концентрацию атомов кислорода в воздухе
γвозд = , (м-3) где М - масса 1 г/моль кислорода;
22,4 ˙ 103 - объем 1 г/моль газа при нормальных условиях, м3;
0,21 - процентное соотношение молекул кислорода в воздухе.
Определяют количественное соотношение концентрации атомов кислорода в оксиде к концентрации атомов кислорода в воздухе:
K =
Определяют необходимый объем воздуха в реакционной камере
Vвозд = VK
Рассмотрим процесс термической обработки пластин для изготовления тонкопленочных полевых транзисторов с общим затвором, осуществляемый в предлагаемом устройстве.
K =
Определяют необходимый объем воздуха в реакционной камере
Vвозд = VK
Рассмотрим процесс термической обработки пластин для изготовления тонкопленочных полевых транзисторов с общим затвором, осуществляемый в предлагаемом устройстве.
Подготовка устройства к работе начинается с вакуумно-гигиенических работ: очищают внутренние поверхности камеры 4 от напыленного металла; протирают бязью, смоченной спиртом, крышку 2; проверяют контакты токовводов излучателя 8; заправляют камеру новой металлической подложкой 10; проверяют наличие напыляемого легколетучего металла и летучего элемента в лодочках 12 и устанавливают их в боковых карманах 6; герметизируют камеру 4 с помощью четырех винтов.
Приступают к операции получения оксидного слоя. Для этого включают питание излучателя 8, запитанного трансформатором с напряжением ≈ 1,5-2 В. Так как поверхности камеры, излучателя и т.п. защищены поликоровыми пластинами 11, активный газ - кислород воздуха, заключенный внутри камеры, реагирует только с обрабатываемой поверхностью металлической подложки 10, тыльная сторона которой также защищена поликоровой пластиной 12. Радиационные экраны 7, 13, имеющие сечение "меандр" и выполненные из молибденовой фольги толщиной 50 мкм, исключают потери энергии. Процесс вжигания составляет 40-50 с. Затем питание излучателя 8 выключается.
Переходят к операции напыления, например, омических контатков истока и стока, которая осуществляется в атмосфере остаточного инертного газа. Наклоном корпуса устройства из карманов в промежуток между излучателем 8 и подложкой 10 подается, например, по направляющим лодочка 12 с легколетучим металлом и легирующим элементом. Снова включается питание излучателя 8. Процесс напыления продолжается в течение 50-55 с. Выключается питание излучателя 8 и после остывания разгерметизируют камеру 4 и вынимают подложку 10. Контролируют качество покрытия.
Режимы этих операций соответствуют известным.
Далее любым из известных способов (фотолитографическим процессом или сфокусированными лучами лазера, электронов, ионов и т.д.) формируют канал типа "меандр".
Данное устройство может быть использовано и для производства тонкопленочных оксидных диодов с барьером Шотки.
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ПОДЛОЖЕК, содержащее реакционную камеру с рабочей зоной, в которой расположены тепловой излучатель и подложкодержатель, отличающееся тем, что оно снабжено радиационным экраном и лодочками для испаряемого материала, реакционная камера выполнена с боковыми карманами, причем радиационный экран, плоский излучатель и подложкодержатель расположены в рабочей зоне последовательно один над другим, лодочки для испаряемого материала установлены в боковых карманах реакционной камеры с возможностью перемещения в ее рабочую зону, а объем реакционной камеры пропорционален количеству кислорода, необходимого для образования требуемого объема окисной пленки.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5012790 RU2020654C1 (ru) | 1991-11-27 | 1991-11-27 | Устройство для термической обработки подложек |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU5012790 RU2020654C1 (ru) | 1991-11-27 | 1991-11-27 | Устройство для термической обработки подложек |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2020654C1 true RU2020654C1 (ru) | 1994-09-30 |
Family
ID=21589638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU5012790 RU2020654C1 (ru) | 1991-11-27 | 1991-11-27 | Устройство для термической обработки подложек |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2020654C1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2468468C2 (ru) * | 2010-11-30 | 2012-11-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Нижегородский Государственный Университет Им. Н.И. Лобачевского" | Устройство нагрева подложки для установки изготовления полупроводниковой структуры |
-
1991
- 1991-11-27 RU SU5012790 patent/RU2020654C1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Моряков О.С. Термические процессы в микроэлектронике М.: Высшая школа, 1987, с.67-69. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2468468C2 (ru) * | 2010-11-30 | 2012-11-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Нижегородский Государственный Университет Им. Н.И. Лобачевского" | Устройство нагрева подложки для установки изготовления полупроводниковой структуры |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4265932A (en) | Mobile transparent window apparatus and method for photochemical vapor deposition | |
US6150265A (en) | Apparatus for forming materials | |
EP1125321B1 (en) | Chemical deposition reactor and method of forming a thin film using the same | |
US4685976A (en) | Multi-layer semiconductor processing with scavenging between layers by excimer laser | |
JPS61164219A (ja) | 薄膜トランジスタアレイの製造装置 | |
TW201140654A (en) | Photoresist removing processor and methods | |
JPH01215023A (ja) | 表面処理方法およびその装置 | |
KR20010031890A (ko) | 마이크로파 에너지를 이용한 무정질 필름 어닐링 방법 | |
US5688410A (en) | Method of ashing resist and apparatus therefor | |
US6074901A (en) | Process for crystallizing an amorphous silicon film and apparatus for fabricating the same | |
RU2020654C1 (ru) | Устройство для термической обработки подложек | |
JP2003224117A (ja) | 絶縁膜の製造装置 | |
US3743587A (en) | Method for reactive sputter deposition of phosphosilicate glass | |
GB2089377A (en) | Improved photochemical vapor deposition apparatus and method | |
US5817559A (en) | Production method for a semiconductor device | |
CA1184020A (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
TWI287253B (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP3500172B2 (ja) | 分子線エピタキシー装置 | |
JPH09270404A (ja) | 基体の処理方法 | |
US20070141843A1 (en) | Substrate peripheral film-removing apparatus and substrate peripheral film-removing method | |
JPH0341722A (ja) | 薄膜製造装置 | |
JP3413872B2 (ja) | 拡散方法 | |
JPH11126811A (ja) | 不純物量測定方法および装置 | |
Foulon et al. | Laser projection patterned processing of semiconductors | |
JPH02311307A (ja) | 超伝導物質薄膜製造方法 |