RU2019126738A - Система и связанный способ измерения оптических характеристик листа стекла на технологической линии - Google Patents

Система и связанный способ измерения оптических характеристик листа стекла на технологической линии Download PDF

Info

Publication number
RU2019126738A
RU2019126738A RU2019126738A RU2019126738A RU2019126738A RU 2019126738 A RU2019126738 A RU 2019126738A RU 2019126738 A RU2019126738 A RU 2019126738A RU 2019126738 A RU2019126738 A RU 2019126738A RU 2019126738 A RU2019126738 A RU 2019126738A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
glass sheet
image data
camera
image
glass
Prior art date
Application number
RU2019126738A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2762130C2 (ru
RU2019126738A3 (ru
Inventor
Майкл Дж. ВИЛД
Бенджамин Л. МОРАН
Джейсон С. АДДИНГТОН
Original Assignee
Гласстек, Инк.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Гласстек, Инк. filed Critical Гласстек, Инк.
Publication of RU2019126738A publication Critical patent/RU2019126738A/ru
Publication of RU2019126738A3 publication Critical patent/RU2019126738A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2762130C2 publication Critical patent/RU2762130C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00—Pattern recognition
    • G06F18/20—Analysing
    • G06F18/22—Matching criteria, e.g. proximity measures
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/40—Extraction of image or video features
    • G06V10/42—Global feature extraction by analysis of the whole pattern, e.g. using frequency domain transformations or autocorrelation
    • G06V10/431—Frequency domain transformation; Autocorrelation
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/90—Arrangement of cameras or camera modules, e.g. multiple cameras in TV studios or sports stadiums
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
    • G01N2021/8832—Structured background, e.g. for transparent objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861—Determining coordinates of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N2021/8909—Scan signal processing specially adapted for inspection of running sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G01N2021/9586—Windscreens
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection

Claims (43)

1. Установленная на технологической линии система для измерения оптических характеристик листа стекла, при этом установленная на технологической линии система установлена в системе для изготовления листов стекла, содержащей одну или более станций обработки и один или более конвейеров для транспортировки листа стекла от станции к станции во время обработки, при этом установленная на технологической линии система содержит:
устройство для измерения мелких оптических или препятствующих обзору дефектов в первой выбранной области листа стекла, содержащее
первый просветный экран, содержащий контрастные элементы, расположенные в виде заданного рисунка,
первую камеру для получения первого набора данных изображения, содержащего по меньшей мере одно изображение первого просветного экрана, связанное с первой выбранной областью листа стекла, при перемещении листа стекла в предварительно выбранное положение на конвейере между камерой и первым просветным экраном, и
вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики для приема первого набора данных изображения, формирования карты интенсивности из первого набора данных изображения и идентификации и определения местоположения мелких дефектов из карты интенсивности; и
устройство для измерения передаваемого оптического искажения во второй выбранной области листа стекла, содержащее
второй просветный экран, содержащий контрастные элементы, расположенные в виде заданного рисунка,
вторую камеру для получения второго набора данных изображения, содержащего изображение второго просветного экрана с листом стекла, размещенным в предварительно выбранной ориентации между второй камерой и вторым просветным экраном, и
вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики для приема второго набора данных изображения, связанного с листом стекла, и определения выбранного признака оптического искажения, связанного с точками интереса на втором изображении посредством формирования карты фаз из второго набора данных изображения и формирования выбранного признака оптического искажения из карты фаз.
2. Система по п. 1, отличающаяся тем, что первая камера представляет собой однострочную камеру, при этом первый просветный экран проходит по всему размеру выбранной области в направлении, перпендикулярном направлению транспортировки, и при этом первый набор данных изображения содержит данные от множества изображений строчной развертки листа стекла при транспортировке листа стекла на пути между первой камерой и первым просветным экраном.
3. Система по п. 2, отличающаяся тем, что устройство для измерения мелких оптических или препятствующих обзору дефектов содержит расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер, каждый из которых выполнен с возможностью транспортировки каждого листа стекла в целом в горизонтальной ориентации, при этом расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер расположены друг за другом, при этом их смежные концы расположены на расстоянии друг от друга с образованием зазора выбранного размера, таким образом, что, когда лист стекла транспортируется от расположенного выше по потоку конвейера к расположенному ниже по потоку конвейеру, часть листа стекла остается без опоры при транспортировке через зазор, и при этом первый просветный экран установлен таким образом, что первая камера может получать множество изображений первого просветного экрана при транспортировке между ними части листа стекла без опоры.
4. Система по п. 1, отличающаяся тем, что устройство для измерения передаваемого оптического искажения дополнительно содержит механизм захвата и позиционирования листа стекла для приема листа стекла при его транспортировке на одном из конвейеров, мгновенного удаления листа стекла с конвейера, позиционирования листа стекла на пути между второй камерой и вторым просветным экраном в предварительно выбранной ориентации, таким образом вторая камера может получать второй набор данных изображения из изображения рисунка на втором просветном экране, передаваемого через лист стекла, когда лист стекла расположен в предварительно выбранной ориентации, с последующим возвратом листа стекла на конвейер для дополнительной обработки.
5. Система по п. 4, отличающаяся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали для листа стекла, содержащий датчик для получения данных, связанных с формой листа стекла, перемещаемого на расположенном выше по потоку конвейере, от установленной на технологической линии системы, при этом программируемое устройство управления содержит логику для выполнения анализа полученных данных и идентификации листа стекла как одной из набора известных форм детали, и при этом управление механизмом захвата и позиционирования основано частично на идентифицированной форме детали.
6. Система по п. 5, отличающаяся тем, что датчик представляет собой первую камеру, и при этом полученные данные представляют собой первый набор данных изображения.
7. Система по п. 1, отличающаяся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали для листа стекла, содержащий датчик для получения данных, связанных с формой листа стекла, перемещаемого на расположенном выше по потоку конвейере, от установленной на технологической линии системы, при этом программируемое устройство управления содержит логику для выполнения анализа полученных данных и идентификации листа стекла как одной из набора известных форм детали, и при этом первая выбранная область листа стекла определена частично на основе идентифицированной формы детали.
8. Система по п. 7, отличающаяся тем, что датчик представляет собой первую камеру, и при этом полученные данные представляют собой первый набор данных изображения.
9. Система по п. 1, отличающаяся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали для листа стекла, содержащий датчик для получения данных, связанных с формой листа стекла, перемещаемого на расположенном выше по потоку конвейере, от установленной на технологической линии системы, при этом программируемое устройство управления содержит логику для выполнения анализа полученных данных и идентификации листа стекла как одной из набора известных форм детали, и при этом вторая выбранная область листа стекла определена частично на основе идентифицированной формы детали.
10. Система по п. 9, отличающаяся тем, что датчик представляет собой первую камеру, и при этом полученные данные представляют собой первый набор данных изображения.
11. Система по п. 1, отличающаяся тем, что первая выбранная область листа стекла и вторая выбранная область листа стекла определены как одна и та же область.
12. Система по п. 1, отличающаяся тем, что логика для формирования карты интенсивности из первого набора данных изображения включает логику для формирования Фурье-преобразования данных изображения, демодулирования Фурье-преобразования, формирования обратного Фурье-преобразования демодулированных данных, извлечения двумерного комплексного числа, связанного с каждым пикселем, при этом указанное комплексное число имеет фазовую составляющую и составляющую величины, и формирования карты интенсивности обратного Фурье-преобразования посредством определения квадратного корня суммы квадратов мнимой части двумерного комплексного числа и действительной части двумерного комплексного числа для каждой точки интереса в изображении.
13. Система по п. 1, отличающаяся тем, что идентификация и определение местоположения мелких оптических или препятствующих обзору дефектов выполняются для каждой точки интереса в изображении посредством выполнения анализа карты интенсивности для определения местоположения краев мелких объектов BLOB.
14. Система по п. 1, отличающаяся тем, что логика для формирования карты фаз из второго набора данных изображения включает логику для формирования Фурье-преобразования полученных данных изображения, демодулирования Фурье-преобразования, формирования обратного Фурье-преобразования демодулированных данных, извлечения двумерного комплексного числа, связанного с каждой точкой интереса, при этом указанное комплексное число имеет фазовую составляющую и составляющую величины, и формирования карты фаз обратного Фурье-преобразования посредством определения обратного тангенса мнимой части двумерного комплексного числа, деленной на действительную часть двумерного комплексного числа для каждой точки интереса в изображении.
15. Установленное на технологической линии устройство для измерения оптических характеристик листа стекла в системе для изготовления листов стекла, содержащей станцию нагрева для нагрева листа стекла до температуры, достаточной для размягчения стекла с целью придания ему требуемой формы, станцию гнутья, в которой размягченному листу придается требуемая форма, станцию охлаждения, в которой отформованный лист стекла охлаждается управляемым образом, и один или несколько конвейеров для транспортировки листа стекла от одной станции к другой в ходе обработки, причем устройство содержит:
устройство обнаружения мелких оптических или препятствующих обзору дефектов, содержащее
первый просветный экран, содержащий контрастные элементы, расположенные в виде заданного рисунка,
первую камеру для получения первого набора данных изображения, содержащего по меньшей мере одно изображение первого просветного экрана, связанное с первой выбранной областью листа стекла, при перемещении листа стекла в предварительно выбранное положение на конвейере между камерой и первым просветным экраном, и
вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики для приема первого набора данных изображения и идентификации и определения местоположения мелких дефектов из карты интенсивности; и
устройство обнаружения передаваемого оптического искажения, содержащее
второй просветный экран, содержащий контрастные элементы, расположенные в виде заданного рисунка,
вторую камеру для получения второго набора данных изображения, содержащего изображение второго просветного экрана с листом стекла, размещенным в предварительно выбранной ориентации между второй камерой и вторым просветным экраном, и
вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики для приема второго набора данных изображения, связанного с листом стекла, и определения выбранного признака оптического искажения, связанного с точками интереса на втором изображении из второго набора данных изображения.
16. Устройство по п. 15, отличающееся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали для листа стекла, содержащий датчик для получения
данных, связанных с формой листа стекла, перемещаемого на расположенном выше по потоку конвейере, от второго просветного экрана, и вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики для выполнения анализа полученных данных и идентификации листа стекла как одной из набора известных форм детали; и
механизм захвата и позиционирования листа стекла, содержащий программируемое устройство управления, содержащее логику для управления механизмом на основании данных о форме, полученных посредством идентификатора детали, для приема листа стекла при его транспортировке на одном из конвейеров, мгновенного удаления листа стекла с конвейера и позиционирования листа стекла на пути между второй камерой и вторым просветным экраном таким образом, что вторая камера может захватывать изображение рисунка, передаваемое через лист стекла.
17. Способ измерения оптических характеристик листа стекла при транспортировке листа стекла в системе для изготовления листов стекла, содержащей одну или несколько станций обработки и один или несколько конвейеров для транспортировки листа стекла от одной станции к другой в процессе обработки, причем способ включает по меньшей мере следующие этапы:
измерение мелких оптических или препятствующих обзору дефектов в первой выбранной области листа стекла посредством
обеспечения первого просветного экрана, содержащего контрастные элементы, расположенные в виде заданного рисунка,
получения от первой камеры первого набора данных изображения, содержащего по меньшей мере одно изображение первого просветного экрана, связанное с первой выбранной областью листа стекла, при перемещении листа стекла в предварительно выбранное положение на конвейере между камерой и первым просветным экраном, и
реализации логики на вычислительном устройстве, содержащем по меньшей мере один процессор для приема первого набора данных изображения, формирования карты интенсивности из первого набора данных изображения и идентификации и определения местоположения мелких дефектов из карты интенсивности; и
измерение передаваемого оптического искажения во второй выбранной области листа стекла посредством
обеспечения второго просветного экрана, содержащего контрастные элементы, расположенные в виде заданного рисунка,
получения от второй камеры второго набора данных изображения, содержащего изображение второго просветного экрана с листом стекла, размещенным в предварительно выбранной ориентации между второй камерой и вторым просветным экраном, и
реализации логики на вычислительном устройстве, содержащем по меньшей мере один процессор для приема второго набора данных изображения, связанного с листом стекла, и определения выбранного признака оптического искажения, связанного с точками интереса на втором изображении посредством формирования карты фаз из второго набора данных изображения и формирования выбранного признака оптического искажения из карты фаз.
RU2019126738A 2017-02-09 2018-02-08 Система и связанный способ измерения оптических характеристик листа стекла на технологической линии RU2762130C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/428,367 US10289930B2 (en) 2017-02-09 2017-02-09 System and associated for online measurement of the optical characteristics of a glass sheet
US15/428,367 2017-02-09
PCT/US2018/017388 WO2018148386A1 (en) 2017-02-09 2018-02-08 System and associated method for online measurement of the optical characteristics of a glass sheet

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2019126738A true RU2019126738A (ru) 2021-03-09
RU2019126738A3 RU2019126738A3 (ru) 2021-06-21
RU2762130C2 RU2762130C2 (ru) 2021-12-15

Family

ID=63037578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019126738A RU2762130C2 (ru) 2017-02-09 2018-02-08 Система и связанный способ измерения оптических характеристик листа стекла на технологической линии

Country Status (12)

Country Link
US (1) US10289930B2 (ru)
EP (1) EP3580156A4 (ru)
JP (1) JP7094028B2 (ru)
KR (1) KR102621902B1 (ru)
CN (1) CN110267893B (ru)
BR (1) BR112019016351B1 (ru)
CA (1) CA3051482A1 (ru)
MX (1) MX2019009366A (ru)
RU (1) RU2762130C2 (ru)
TW (1) TWI776852B (ru)
WO (1) WO2018148386A1 (ru)
ZA (1) ZA201905868B (ru)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10187542B1 (en) 2015-12-19 2019-01-22 Ripcord Inc. Integrated physical warehouse and digital document management system
KR20180132606A (ko) 2015-12-19 2018-12-12 립코드 인크. 문서 및 파스너 식별에 관련되는 시스템 및 방법
KR20200031067A (ko) 2017-03-21 2020-03-23 립코드 인크. 문서 디지털화를 위한 다중-시트 핸들링
JP2020514206A (ja) * 2017-03-21 2020-05-21 リップコード インコーポレイテッド シートの識別及び移動を行うためのシステム及び方法
CN110441331B (zh) * 2019-08-01 2024-04-12 北京杰福科技有限公司 玻璃光畸变检测系统及方法
FR3101420A1 (fr) * 2019-09-30 2021-04-02 Saint-Gobain Glass France Méthode d’évaluation de la qualité optique d’une zone délimitée d’un vitrage
CN111967345B (zh) * 2020-07-28 2023-10-31 国网上海市电力公司 一种实时判定摄像头遮挡状态的方法
CN113673782B (zh) * 2021-09-06 2024-02-23 中导光电设备股份有限公司 多显微镜扫描拍照路径优化方法和装置
CN113469472B (zh) * 2021-09-06 2022-02-22 中导光电设备股份有限公司 一种多显微镜定点拍照路径优化方法
CN113562465B (zh) * 2021-09-26 2021-12-03 成都新西旺自动化科技有限公司 片状物放置视觉引导方法及系统
CN114166753B (zh) * 2021-12-09 2022-08-23 黑龙江职业学院(黑龙江省经济管理干部学院) 一种基于图像处理的玻璃屏幕内部损伤检测装置和方法
CN114199887A (zh) * 2021-12-13 2022-03-18 苏州华星光电技术有限公司 显示面板的曲面度外观检测设备

Family Cites Families (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4149784A (en) * 1977-01-13 1979-04-17 Bell & Howell Company Roll film reader/printer with manually insertable discrete film
US4585343A (en) * 1983-11-04 1986-04-29 Libbey-Owens-Ford Company Apparatus and method for inspecting glass
JPS61151409A (ja) * 1984-12-26 1986-07-10 Central Glass Co Ltd 板ガラスの検査方法およびその装置
GB2193709B (en) * 1986-07-28 1989-12-13 Libbey Owens Ford Co Apparatus for aligning glass sheets in a production line
US5558927A (en) 1992-09-17 1996-09-24 Seiko Epson Corporation Color filter for liquid crystal displays and film-forming apparatus
US6705526B1 (en) 1995-12-18 2004-03-16 Metrologic Instruments, Inc. Automated method of and system for dimensioning objects transported through a work environment using contour tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods on two-dimensional range data maps captured by an amplitude modulated laser scanning beam
DE19649488A1 (de) * 1996-11-29 1997-11-06 Schott Glaswerke Vorrichtung zur Handhabung von dünnen Glasscheiben
CA2252308C (en) 1998-10-30 2005-01-04 Image Processing Systems, Inc. Glass inspection system
US6505483B1 (en) * 2000-02-25 2003-01-14 Surface Combustion, Inc. Glass transportation system
AU2001288641A1 (en) 2000-09-01 2002-03-13 Mark M. Abbott Optical system for imaging distortions in moving reflective sheets
US20040086166A1 (en) 2002-11-01 2004-05-06 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for flat patterned media inspection
JP2004245695A (ja) * 2003-02-13 2004-09-02 Ademakku:Kk 画像処理方法と異物検出装置
FI20035031A0 (fi) 2003-03-12 2003-03-12 Tamglass Ltd Oy Menetelmä ja laite turvalasituotannon seuraamiseksi tai käsittelyprosessin ohjaamiseksi
DE10316707B4 (de) * 2003-04-04 2006-04-27 Schott Ag Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material
KR100956348B1 (ko) 2003-09-05 2010-05-06 삼성전자주식회사 인라인 반송 시스템
JP4767632B2 (ja) * 2005-09-05 2011-09-07 東京エレクトロン株式会社 基板の異常検出方法
JP5265099B2 (ja) * 2006-09-11 2013-08-14 オリンパス株式会社 基板検査装置
ITTV20070162A1 (it) 2007-09-21 2009-03-22 For El Base Di Vianello Fortun Macchina automatica e procedimento automatico per la molatura del bordo perimetrale delle lastre di vetro.
US8049879B2 (en) * 2008-04-15 2011-11-01 Glasstech, Inc. Method and apparatus for measuring transmitted optical distortion in glass sheets
JP2010048745A (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 Asahi Glass Co Ltd 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法
FR2936605B1 (fr) * 2008-10-01 2014-10-31 Saint Gobain Dispositif d'analyse de la surface d'un substrat
IT1391489B1 (it) 2008-10-17 2011-12-23 For El S P A Macchina automatica per l'estrusione continua di sigillante termoplastico su profilo distanziatore durante l'applicazione discontinua dello stesso su lastra di vetro e procedimento automatico per l'estrusione continua di sigillante termoplastico su profilo distanziatore durante l'applicazione discontinua dello stesso su lastra di vetro.
KR101592028B1 (ko) * 2009-04-20 2016-02-04 이세용 대형필름 검사 및 적재장치
CN101936916A (zh) * 2009-07-02 2011-01-05 法国圣-戈班玻璃公司 检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷的设备和方法
GB0914651D0 (en) * 2009-08-21 2009-09-30 Pilkington Automotive D Gmbh Heatable glazing inspection
US9080986B2 (en) * 2010-02-15 2015-07-14 Ricoh Company, Ltd. Transparent object detection system and transparent flat plate detection system
US20120098959A1 (en) * 2010-10-20 2012-04-26 Glasstech, Inc. Method and apparatus for measuring transmitted optical distortion in glass sheets
US8526079B2 (en) 2010-10-26 2013-09-03 Jean-Paul Ciardullo High-speed digital scanner and method
KR20140022064A (ko) * 2011-05-10 2014-02-21 아사히 가라스 가부시키가이샤 투광성 판상체의 미소 결점의 검사 방법 및 투광성 판상체의 미소 결점의 검사 장치
CN102305798B (zh) * 2011-08-02 2013-05-22 上海交通大学 基于机器视觉的玻璃缺陷的检测与分类方法
KR101324015B1 (ko) * 2011-08-18 2013-10-31 바슬러 비전 테크놀로지스 에이지 유리기판 표면 불량 검사 장치 및 검사 방법
FR2983583B1 (fr) * 2011-12-02 2013-11-15 Saint Gobain Dispositif d'analyse des defauts d'aspect d'un substrat transparent
US10401305B2 (en) 2012-02-15 2019-09-03 Kla-Tencor Corporation Time-varying intensity map generation for reticles
US9250067B2 (en) * 2013-03-15 2016-02-02 Glasstech, Inc. System and method for evaluating the performance of a vehicle windshield/wiper combination
CN104142350B (zh) * 2013-11-28 2017-06-06 中航锂电（江苏）有限公司 锂电池极片表面缺陷检测设备
KR101549310B1 (ko) * 2013-12-13 2015-09-01 이은석 투명체의 결함검출을 위한 위상천이 영사장치 및 그 방법
US9933373B2 (en) * 2014-04-29 2018-04-03 Glasstech, Inc. Glass sheet acquisition and positioning mechanism for an inline system for measuring the optical characteristics of a glass sheet
US10007934B2 (en) * 2014-07-21 2018-06-26 Greystone Data Technology, Inc. System and method for self-performing a cosmetic evaluation of an electronic device
DE102014115336A1 (de) * 2014-10-21 2016-04-21 Isra Surface Vision Gmbh Verfahren zur Bestimmung eines lokalen Brechwerts und Vorrichtung hierfür
US10851013B2 (en) 2015-03-05 2020-12-01 Glasstech, Inc. Glass sheet acquisition and positioning system and associated method for an inline system for measuring the optical characteristics of a glass sheet
US9841276B2 (en) * 2015-06-26 2017-12-12 Glasstech, Inc. System and method for developing three-dimensional surface information corresponding to a contoured glass sheet
CN205240591U (zh) * 2015-12-25 2016-05-18 江苏创基新能源有限公司 太阳能光伏组件生产线中的玻璃移载装置
US10531064B2 (en) * 2016-04-15 2020-01-07 Canon Kabushiki Kaisha Shape reconstruction using electronic light diffusing layers (E-Glass)
CN205771840U (zh) * 2016-05-31 2016-12-07 日本电气硝子株式会社 玻璃板制造装置
CN206292183U (zh) * 2016-11-09 2017-06-30 哈尔滨理工大学 一种使用狭缝相机的镜片检测系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN110267893A (zh) 2019-09-20
TW201837449A (zh) 2018-10-16
TWI776852B (zh) 2022-09-11
RU2762130C2 (ru) 2021-12-15
JP7094028B2 (ja) 2022-07-01
RU2019126738A3 (ru) 2021-06-21
EP3580156A4 (en) 2020-12-02
WO2018148386A1 (en) 2018-08-16
US10289930B2 (en) 2019-05-14
KR20190133153A (ko) 2019-12-02
BR112019016351B1 (pt) 2023-11-28
US20180224380A1 (en) 2018-08-09
CN110267893B (zh) 2022-05-13
JP2020507765A (ja) 2020-03-12
KR102621902B1 (ko) 2024-01-08
ZA201905868B (en) 2021-02-24
BR112019016351A2 (pt) 2020-04-07
MX2019009366A (es) 2020-02-05
CA3051482A1 (en) 2018-08-16
EP3580156A1 (en) 2019-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2019126738A (ru) Система и связанный способ измерения оптических характеристик листа стекла на технологической линии
RU2019126745A (ru) Система и связанный с ней способ обнаружения мелких дефектов на/в листе стекла на технологической линии
JP2020507765A5 (ru)
CN107735674B (zh) 表面缺陷检测装置、表面缺陷检测方法及钢材的制造方法
WO2016209409A1 (en) System and method for measuring reflected optical distortion in contoured glass sheets
CA2990385A1 (en) System and method for developing three-dimensional surface information corresponding to a contoured glass sheet
CN106546603A (zh) 一种tp、玻璃盖板的工业视觉检测装置及检测方法
JP2014215163A (ja) 検査装置
WO2018105489A1 (ja) 帯状ガラスフィルムの品質検査方法、及び、ガラスロール
JP2017062181A (ja) 表面疵検査装置及び表面疵検査方法
JPH02194307A (ja) 板状物体の反り形状測定装置
JP2017009522A (ja) 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法
KR20190070666A (ko) 슬라브 트랙킹 장치
US20230217087A1 (en) System and method of extracting or inspecting a feature of an object using thermal imaging, and a method of inspecting an object of a garment product
JP2020008355A (ja) 凹凸部検出方法及び凹凸部検出装置