RU2017134935A - Слоистая структура для oled и способ получения такой структуры - Google Patents

Слоистая структура для oled и способ получения такой структуры Download PDF

Info

Publication number
RU2017134935A
RU2017134935A RU2017134935A RU2017134935A RU2017134935A RU 2017134935 A RU2017134935 A RU 2017134935A RU 2017134935 A RU2017134935 A RU 2017134935A RU 2017134935 A RU2017134935 A RU 2017134935A RU 2017134935 A RU2017134935 A RU 2017134935A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layer
layered structure
oxide
ald
substrate
Prior art date
Application number
RU2017134935A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2017134935A3 (ru
Inventor
Йоунг Сеонг Ли
Моаль Симон Ле
Дзинво ХАН
Original Assignee
Сэн-Гобэн Гласс Франс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сэн-Гобэн Гласс Франс filed Critical Сэн-Гобэн Гласс Франс
Publication of RU2017134935A publication Critical patent/RU2017134935A/ru
Publication of RU2017134935A3 publication Critical patent/RU2017134935A3/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/621Providing a shape to conductive layers, e.g. patterning or selective deposition
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02225Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
    • H01L21/0226Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
    • H01L21/02263Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase
    • H01L21/02271Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition
    • H01L21/0228Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition deposition by cyclic CVD, e.g. ALD, ALE, pulsed CVD
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02631Physical deposition at reduced pressure, e.g. MBE, sputtering, evaporation
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/81Anodes
    • H10K50/814Anodes combined with auxiliary electrodes, e.g. ITO layer combined with metal lines
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/85Arrangements for extracting light from the devices
    • H10K50/854Arrangements for extracting light from the devices comprising scattering means
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K77/00Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
    • H10K77/10Substrates, e.g. flexible substrates
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/10Transparent electrodes, e.g. using graphene
    • H10K2102/101Transparent electrodes, e.g. using graphene comprising transparent conductive oxides [TCO]
    • H10K2102/103Transparent electrodes, e.g. using graphene comprising transparent conductive oxides [TCO] comprising indium oxides, e.g. ITO
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/81Anodes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Claims (23)

1.Слоистая структура, пригодная в качестве подложки для органического светоизлучающего устройства (OLED), причем упомянутая структура включает в себя:
(i) светопропускающую стеклянную подложку,
(ii) диффузионный внутренний выводящий слой (IEL) с наружным слоем, выполненным из стекла, содержащего, по меньшей мере, 30 вес.% Bi2O3, сформированный на одной стороне светопропускающей стеклянной подложки,
(iii) кислотостойкий барьерный слой, сформированный на внутреннем выводящем слое (IEL), причем упомянутый кислотостойкий барьерный слой имеет двуслойную структуру, выполненную из
осажденного методом атомно-слоевого осаждения (ALD) металооксидного слоя в контакте с IEL, причем оксид металла выбран из группы, состоящей из оксида алюминия (Al2O3), оксида титана (TiO2), оксида циркония (ZrO2) и оксида гафния ((HfO2), и
осажденного напылением слоя SiOxNy в контакте с полученным осаждением методом ALD металлоксидным слоем.
2. Слоистая структура по п.1, дополнительно включающая в себя (iv) прозрачный электродный слой на кислотостойком барьерном слое.
3. Слоистая структура по п.2, в которой прозрачный электродный слой включает в себя слой прозрачного электропроводящего оксида (TCO).
4. Слоистая структура по п.3, в которой прозрачный электродный слой дополнительно включает в себя металлический слой, предпочтительно слой из Mo-Al-Mo, в контакте со слоем прозрачного электропроводящего оксида.
5. Слоистая структура по п.3, в которой прозрачный электродный слой дополнительно включает в себя металлическую решетку в контакте со слоем прозрачного электропроводящего оксида.
6. Слоистая структура по любому из пп.1-5, в которой осажденный методом ALD металлооксидный слой имеет толщину в диапазоне от 5 до 100 нм, предпочтительно в диапазоне от 10 до 50 нм.
7. Слоистая структура по любому из пп.1-5, в которой слой SiOxNy имеет толщину в диапазоне от 5 до 200 нм, предпочтительно в диапазоне от 10 до 100 нм.
8. Слоистая структура по любому из пп.1-5, в которой слой SiOxNy имеет показатель преломления (при 550 нм), по меньшей мере, 1,8, предпочтительно, по меньшей мере, 1,9.
9.Способ получения слоистой структуры по любому из пп.1-8, причем способ включает в себя следующие последовательные стадии:
(a) обеспечение светопропускающей подложки с диффузионным внутренним выводящим слоем (IEL), образованным на одной стороне светопропускающей подложки, причем наружный слой упомянутого внутреннего выводящего слоя изготавливают из стекла, содержащего, по меньшей мере, 30 вес.% Bi2O3,
(b) осаждение методом атомно-слоевого осаждения (ALD) на поверхность IEL слоя оксида металла, выбранного из группы, состоящей из оксида алюминия (Al2O3), оксида титана (TiO2), оксида циркония (ZrO2) и оксида гафния (HfO2),
(c) промывание получившейся подложки с осажденным методом ALD покрытием,
(d) осаждение напылением слоя SiOxNy на промытую подложку с осажденным методом ALD покрытием.
10. Способ по п.9, также включающий дополнительную стадию (e) осаждения слоя прозрачного электропроводящего оксида (TCO) на слой SiOxNy.
11. Способ по п.10, также включающий дополнительную стадию (f) осаждения металлического слоя на слой прозрачного проводящего оксида.
12. Способ по п.10 или 11, также включающий дополнительную стадию формирования рисунка слоя TCO, а также необязательного металлического слоя, с помощью фотолитографии и кислотного мокрого травления.
13. Способ по п.9, в котором стадия промывания включает погружение подложки с осажденным методом ALD покрытием в моющий раствор, ополаскивание водой и сушку.
14. Способ по п.13, котором стадия промывания включает в себя воздействие ультразвуком на подложку с осажденным методом ALD покрытием во время погружения в моющий раствор и во время ополаскивания водой.
RU2017134935A 2015-04-16 2016-03-23 Слоистая структура для oled и способ получения такой структуры RU2017134935A (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP15163911.9A EP3082172A1 (en) 2015-04-16 2015-04-16 Layered structure for an oled and a method for producing such a structure
EP15163911.9 2015-04-16
PCT/EP2016/056448 WO2016165921A1 (en) 2015-04-16 2016-03-23 Layered structure for an oled and a method for producing such a structure

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2017134935A true RU2017134935A (ru) 2019-04-05
RU2017134935A3 RU2017134935A3 (ru) 2019-07-26

Family

ID=52946413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017134935A RU2017134935A (ru) 2015-04-16 2016-03-23 Слоистая структура для oled и способ получения такой структуры

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10367142B2 (ru)
EP (1) EP3082172A1 (ru)
JP (1) JP2018516431A (ru)
KR (1) KR20170137087A (ru)
CN (1) CN107431144B (ru)
RU (1) RU2017134935A (ru)
TW (1) TW201705581A (ru)
WO (1) WO2016165921A1 (ru)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2637715T3 (es) * 2014-12-01 2017-10-16 Saint-Gobain Glass France Sustrato OLED difusor transparente y método para producir dicho sustrato
CN110429161B (zh) * 2018-08-07 2021-04-20 广东聚华印刷显示技术有限公司 光学增透结构及底发射型电致发光器件和制备方法
CN109148694A (zh) * 2018-08-27 2019-01-04 领旺(上海)光伏科技有限公司 用于柔性钙钛矿太阳能电池的ito电极表面修饰方法
CN111384271B (zh) * 2018-12-29 2021-05-28 Tcl科技集团股份有限公司 量子点发光二极管及其制备方法
CN110747449B (zh) * 2019-11-19 2021-01-05 哈尔滨工业大学 一种用于电子屏幕的自洁疏水膜层的制备方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE655526A (fr) 1964-11-10 1965-05-10 Acec Poêle à accumulation
JP4363365B2 (ja) * 2004-07-20 2009-11-11 株式会社デンソー カラー有機elディスプレイおよびその製造方法
US7335980B2 (en) * 2004-11-04 2008-02-26 International Business Machines Corporation Hardmask for reliability of silicon based dielectrics
WO2009017035A1 (ja) 2007-07-27 2009-02-05 Asahi Glass Co., Ltd. 透光性基板、その製造方法、有機led素子及びその製造方法
FR2955575B1 (fr) 2010-01-22 2012-02-24 Saint Gobain Substrat verrier revetu d'une couche haut indice sous un revetement electrode et dispositif electroluminescent organique comportant un tel substrat.
WO2012093467A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 シャープ株式会社 有機el表示装置およびその製造方法
KR101825053B1 (ko) * 2011-01-11 2018-02-05 삼성디스플레이 주식회사 유기발광표시장치의 제조방법
JP5684370B2 (ja) * 2011-03-29 2015-03-11 Necライティング株式会社 有機el発光装置、有機el発光装置の製造方法及び有機el照明装置
KR101715112B1 (ko) 2012-06-14 2017-03-10 쌩-고벵 글래스 프랑스 Oled 소자용 적층체, 그 제조방법 및 이를 구비한 oled 소자
FR2993707B1 (fr) 2012-07-17 2015-03-13 Saint Gobain Electrode supportee transparente pour oled
ES2548048T3 (es) 2012-09-28 2015-10-13 Saint-Gobain Glass France Método de para producir un sustrato OLED difusor transparente
JP6319095B2 (ja) * 2012-12-13 2018-05-09 コニカミノルタ株式会社 有機エレクトロルミネッセンスデバイスの製造方法
FR3020179B1 (fr) 2014-04-22 2017-10-06 Saint Gobain Electrode supportee transparente pour oled

Also Published As

Publication number Publication date
US10367142B2 (en) 2019-07-30
CN107431144A (zh) 2017-12-01
TW201705581A (zh) 2017-02-01
KR20170137087A (ko) 2017-12-12
JP2018516431A (ja) 2018-06-21
EP3082172A1 (en) 2016-10-19
RU2017134935A3 (ru) 2019-07-26
WO2016165921A1 (en) 2016-10-20
CN107431144B (zh) 2019-10-01
US20180114910A1 (en) 2018-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2017134935A (ru) Слоистая структура для oled и способ получения такой структуры
JP2018516431A5 (ru)
JP7206559B2 (ja) オプトエレクトロニクス箔およびオプトエレクトロニクス箔の製造方法
RU2014112035A (ru) Устройство вывода и источник света
JP6542677B2 (ja) Oled用導電性支持体、これを組み込んだoled、及びその製造
JP2012525692A5 (ru)
RU2008146761A (ru) Окно с антибактериальными и/или антигрибковыми свойствами и способ его производства
FR2814094B1 (fr) Substrat a revetement photocatalytique et son procede de fabrication
US9786849B2 (en) Electrically conductive OLED carrier, OLED incorporating said carrier, and its manufacture
RU2014134901A (ru) Емкостной преобразователь, полученный микрообработкой, и способ его изготовления
RU2008146729A (ru) Фотокаталитическое окно и способ его изготовления
RU2014134810A (ru) Емкостной преобразователь, полученный микрообработкой, и способ его изготовления
JP2020505736A5 (ru)
JP2007026951A5 (ru)
US20140106491A1 (en) Method of fabricating patterned substrate
RU2017104776A (ru) Прозрачная диффузионная подложка осид и способ для изготовления такой подложки
US9401457B2 (en) Method for forming current diffusion layer in light emitting diode device and method for fabricating the same
JP2013545230A5 (ru)
JP2017514279A5 (ru)
RU2685086C2 (ru) Прозрачный электрод на подложке для осид
WO2016138708A1 (zh) 电极及其制作方法、阵列基板及其制作方法
TW201145594A (en) GaN LED having backside reflector and heat dissipation layer and manufacturing method thereof
CN104167478A (zh) 一种具有多粗化层的红外发光二极管的粗化方法
RU2017127198A (ru) Архитектурное стекло с низкоэмиссионным покрытием, имеющим многослойную структуру, обладающее высокой прочностью, и/или способ его изготовления
JP2018503940A5 (ru)

Legal Events

Date Code Title Description
FA94 Acknowledgement of application withdrawn (non-payment of fees)

Effective date: 20210111