RU2013107542A - Использование электрической емкости для анализа поликристаллического алмаза - Google Patents
Использование электрической емкости для анализа поликристаллического алмаза Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013107542A RU2013107542A RU2013107542/28A RU2013107542A RU2013107542A RU 2013107542 A RU2013107542 A RU 2013107542A RU 2013107542/28 A RU2013107542/28 A RU 2013107542/28A RU 2013107542 A RU2013107542 A RU 2013107542A RU 2013107542 A RU2013107542 A RU 2013107542A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- leached
- component
- polycrystalline structure
- capacitance
- layer
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/40—Grinding-materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
1. Система измерения электрической емкости, содержащая:устройство измерения емкости, содержащее положительный вывод и отрицательный вывод;выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;первый провод, электрически соединяющий положительный вывод с первой поверхностью выщелоченного компонента; ивторой провод, электрически соединяющий отрицательный вывод со второй поверхностью выщелоченного компонента, причем вторая поверхность расположена напротив первой поверхности,при этом устройство измерения емкости выполнено с возможностью измерять емкость выщелоченного компонента.2. Система измерения емкости по п.1, в которой устройство измерения емкости содержит мультиметр.3. Система измерения емкости по п.1, дополнительно содержащая:первый проводящий компонент, примыкающий к первой поверхности выщелоченного компонента и находящийся в контакте с ней; ивторой проводящий компонент, примыкающий ко второй поверхности выщелоченного компонента и находящийся в контакте с ней, при этом первый провод соединен с первым проводящим компонентом, а второй провод соединен со вторым проводящим компонентом.4. Система измерения емкости по п.3, в которой первый проводящий компонент и второй проводящий компонент являются, по существу, аналогичными по размеру и форме.5. Система измерения емкости по п.3, дополнительно содержащая:первую нагрузку, прикладываемую к первому проводящему компоненту в направлени�
Claims (24)
1. Система измерения электрической емкости, содержащая:
устройство измерения емкости, содержащее положительный вывод и отрицательный вывод;
выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
первый провод, электрически соединяющий положительный вывод с первой поверхностью выщелоченного компонента; и
второй провод, электрически соединяющий отрицательный вывод со второй поверхностью выщелоченного компонента, причем вторая поверхность расположена напротив первой поверхности,
при этом устройство измерения емкости выполнено с возможностью измерять емкость выщелоченного компонента.
2. Система измерения емкости по п.1, в которой устройство измерения емкости содержит мультиметр.
3. Система измерения емкости по п.1, дополнительно содержащая:
первый проводящий компонент, примыкающий к первой поверхности выщелоченного компонента и находящийся в контакте с ней; и
второй проводящий компонент, примыкающий ко второй поверхности выщелоченного компонента и находящийся в контакте с ней, при этом первый провод соединен с первым проводящим компонентом, а второй провод соединен со вторым проводящим компонентом.
4. Система измерения емкости по п.3, в которой первый проводящий компонент и второй проводящий компонент являются, по существу, аналогичными по размеру и форме.
5. Система измерения емкости по п.3, дополнительно содержащая:
первую нагрузку, прикладываемую к первому проводящему компоненту в направлении ко второй поверхности; и
вторую нагрузку, прикладываемую ко второму проводящему компоненту в направлении к первой поверхности,
при этом первый проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым к первой поверхности, а второй проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым ко второй поверхности.
6. Система измерения емкости по п.5, в которой первая и вторая нагрузки равны по величине и противоположны по направлению.
7. Система измерения емкости по п.3, дополнительно содержащая:
первый изолирующий компонент, примыкающий к первому проводящему компоненту и находящийся в контакте с ним;
второй изолирующий компонент, примыкающий ко второму проводящему компоненту и находящийся в контакте с ним;
первую нагрузку, прикладываемую к первому изолирующему компоненту в направлении ко второй поверхности; и
вторую нагрузку, прикладываемую ко второму изолирующему компоненту в направлении к первой поверхности,
при этом первый проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым к первой поверхности, а второй проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым ко второй поверхности.
8. Система измерения емкости по п.1, в которой выщелоченный слой содержит по меньшей мере часть побочного материала, удаляемого из него.
9. Способ получения характеристики качества поликристаллической структуры, содержащий этапы, на которых:
получают выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
измеряют по меньшей мере одно значение емкости выщелоченного компонента; и
получают характеристику качества поликристаллической структуры.
10. Способ по п.9, в котором дополнительно получают калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений емкости и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре,
при этом для получения характеристики качества поликристаллической структуры используют одно или более измеренных значений емкости выщелоченного компонента для оценки фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте.
11. Способ по п.9, в котором дополнительно получают калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений емкости и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре,
при этом при получении характеристики качества поликристаллической структуры:
определяют усредненное значение по меньшей мере из одного измеренного значения емкости выщелоченного компонента; и
используют усредненное значение и калибровочную кривую для оценки фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте.
12. Способ по п.9, в котором дополнительно выполняют деполяризацию выщелоченного компонента.
13. Способ по п.12, в котором деполяризацию выщелоченного компонента выполняют перед измерением каждого измеряемого значения емкости и/или после измерения каждого измеряемого значения емкости.
14. Способ по п.12, в котором при деполяризации выщелоченного компонента заземляют выщелоченный компонент, и/или оборачивают выщелоченный компонент в деполяризирующий материал, и/или подвергают тепловой обработке выщелоченный компонент, и/или помещают выщелоченный компонент в солевой раствор, и/или ожидают в течение некоторого периода времени.
15. Способ по п.9, в котором дополнительно очищают поликристаллическую структуру от одного или более побочных материалов, при этом побочные материалы образованы в поликристаллической структуре во время процесса выщелачивания, при котором удаляется из нее по меньшей мере часть материала катализатора и образуется выщелоченный компонент.
16. Способ по п.9, в котором дополнительно:
измеряют множество значений емкости для каждого из множества выщелоченных компонентов, причем каждый выщелоченный компонент образован во время одного и того же процесса выщелачивания,
при этом при получении характеристики качества поликристаллической структуры используют множество измеренных значений емкости для каждого выщелоченного компонента, с тем, чтобы определить качество микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента.
17. Способ по п.16, в котором дополнительно:
определяют диапазон разброса данных для каждого из множества выщелоченных компонентов, исходя из множества измеренных значений емкости,
при этом для получения характеристики качества поликристаллической структуры используют диапазон разброса данных, с тем, чтобы определить качество микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента, причем микроструктура поликристаллической структуры является менее пористой, когда диапазон разброса данных меньше, по сравнению с диапазонами разброса данных других выщелоченных компонентов.
18. Способ по п.9, в котором выщелоченный слой содержит по меньшей мере часть побочного материала, удаляемого из него.
19. Способ по п.9, в котором дополнительно устанавливают по меньшей мере часть выщелоченных компонентов в инструмент на основании указанной полученной характеристики качества поликристаллической структуры.
20. Способ получения характеристики качества поликристаллической структуры, содержащий этапы, на которых:
получают выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
измеряют по меньшей мере одно значение емкости выщелоченного компонента; и
получают характеристику качества поликристаллической структуры, причем характеристика качества содержит по меньшей мере один из следующих параметров: оценочную глубину выщелачивания выщелоченного компонента, относительное количество катализатора, оставшегося в выщелоченном слое, и относительную пористость поликристаллической структуры выщелоченного компонента.
21. Способ по п.20, в котором выщелоченный слой содержит по меньшей мере часть побочного материала, удаляемого из выщелоченного слоя.
22. Способ по п.20, в котором дополнительно очищают поликристаллическую структуру от одного или более побочных материалов, при этом побочные материалы образованы внутри поликристаллической структуры во время процесса выщелачивания, при котором удаляется из нее по меньшей мере часть материала катализатора и образуется выщелоченный компонент.
23. Способ по п.20, в котором выполняют деполяризацию выщелоченного компонента перед измерением каждого значения емкости и/или после измерения каждого значения емкости.
24. Способ по п.20, в котором дополнительно устанавливают по меньшей мере часть выщелоченных компонентов в инструмент на основании указанной полученной характеристики качества поликристаллической структуры.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/401,188 US9423370B2 (en) | 2012-02-21 | 2012-02-21 | Use of capacitance to analyze polycrystalline diamond |
US13/401188 | 2012-02-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2013107542A true RU2013107542A (ru) | 2014-08-27 |
RU2610041C2 RU2610041C2 (ru) | 2017-02-07 |
Family
ID=47749678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2013107542A RU2610041C2 (ru) | 2012-02-21 | 2013-02-20 | Использование электрической емкости для анализа поликристаллического алмаза |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9423370B2 (ru) |
EP (1) | EP2631638B1 (ru) |
JP (1) | JP6294241B2 (ru) |
KR (1) | KR102001276B1 (ru) |
CN (1) | CN104246109B (ru) |
RU (1) | RU2610041C2 (ru) |
WO (1) | WO2013126436A1 (ru) |
ZA (1) | ZA201406091B (ru) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130213433A1 (en) * | 2012-02-21 | 2013-08-22 | Varel International Ind., L.P. | Method to Improve the Performance of a Leached Cutter |
US9423436B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-08-23 | Varel International Ind., L.P. | Method and apparatus to assess the thermal damage caused to a PCD cutter using capacitance spectroscopy |
US9377428B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-06-28 | Varel International Ind., L.P. | Non-destructive leaching depth measurement using capacitance spectroscopy |
US9423370B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-08-23 | Varel International Ind., L.P | Use of capacitance to analyze polycrystalline diamond |
US9128031B2 (en) | 2012-02-21 | 2015-09-08 | Varel International Ind., L.P. | Method to improve the leaching process |
EP3330723A1 (en) * | 2013-11-06 | 2018-06-06 | Varel International, Ind., L.P. | Method of non-destructively determining a leaching depth of a polycrystalline diamond compact cutter |
WO2015179091A1 (en) * | 2014-05-23 | 2015-11-26 | Varel International Ind., L.P. | Non-destructive leaching depth measurement using capacitance spectroscopy |
US10406501B2 (en) | 2015-06-03 | 2019-09-10 | Halliburton Energy Services, Inc. | Electrochemical removal of metal or other material from polycrystalline diamond |
CN110220448B (zh) * | 2019-05-30 | 2024-07-05 | 河南四方达超硬材料股份有限公司 | 一种快速无损检测聚晶金刚石复合片脱钴深度的装置 |
Family Cites Families (66)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2755240A (en) | 1953-11-02 | 1956-07-17 | Shawinigan Water And Power Com | Electrolysis of titanium tetrachloride to produce titanium |
US2934811A (en) | 1959-03-06 | 1960-05-03 | Condenser Machinery Corp | Method of increasing capacitance |
US4290016A (en) | 1978-12-28 | 1981-09-15 | Magnaflux Corporation | Method and apparatus for establishing magnetization levels for magnetic particle testing or the like |
US4255976A (en) | 1979-08-13 | 1981-03-17 | Theodore P. Zoli, Jr. | Apparatus and method for measuring the velocity of a moving dielectric material |
US5011514A (en) * | 1988-07-29 | 1991-04-30 | Norton Company | Cemented and cemented/sintered superabrasive polycrystalline bodies and methods of manufacture thereof |
US4952869A (en) * | 1989-09-25 | 1990-08-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Dual purpose probe for simultaneous voltage and current sampling |
JP3298328B2 (ja) * | 1994-09-29 | 2002-07-02 | 株式会社豊田中央研究所 | 誘電率測定装置 |
US6063333A (en) | 1996-10-15 | 2000-05-16 | Penn State Research Foundation | Method and apparatus for fabrication of cobalt alloy composite inserts |
US6107808A (en) | 1998-12-28 | 2000-08-22 | Maxwell Energy Products, Inc. | Internal unbalance detection in capacitors |
US6388453B1 (en) | 1999-01-25 | 2002-05-14 | Bryan D. Greer | Swept-frequency dielectric moisture and density sensor |
JP3603640B2 (ja) * | 1999-02-04 | 2004-12-22 | 松下電器産業株式会社 | 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 |
US6950196B2 (en) | 2000-09-20 | 2005-09-27 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a thickness of a structure on a specimen and at least one additional property of the specimen |
JP2002148012A (ja) | 2000-11-08 | 2002-05-22 | Ulvac Japan Ltd | 膜厚測定装置及び膜厚測定方法 |
WO2003031208A1 (fr) | 2001-10-02 | 2003-04-17 | Societe De Technologie Michelin | Procede et dispositif de mesure en continu de l'usure d'une enveloppe de pneumatique |
US20050050801A1 (en) | 2003-09-05 | 2005-03-10 | Cho Hyun Sam | Doubled-sided and multi-layered PCD and PCBN abrasive articles |
EP1637875A1 (en) | 2004-09-17 | 2006-03-22 | Fondazione Torino Wireless | A multi-frequency capacitive measurement device and a method of operating the same |
DE102004063228B4 (de) | 2004-12-22 | 2007-06-28 | Hauni Maschinenbau Ag | Meßvorrichtung und -verfahren zur Bestimmung einer dielektrischen Eigenschaft, insbesondere der Feuchte und/oder Dichte, eines Produkts |
US20060163584A1 (en) * | 2005-01-26 | 2006-07-27 | Robert Linares | Boron-doped diamond semiconductor |
US20060244443A1 (en) | 2005-01-28 | 2006-11-02 | Goldfine Neil J | Material condition assessment with eddy current sensors |
DE102005021420A1 (de) | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Wilka Schließtechnik GmbH | Einsteckschloss mit Fallensperre |
DE102005040296B4 (de) * | 2005-08-21 | 2007-06-14 | Hahn-Meitner-Institut Berlin Gmbh | Messverfahren zur in-situ-Kontrolle des chemischen Ätzvorgangs von latenten Ionenspuren |
US7726421B2 (en) | 2005-10-12 | 2010-06-01 | Smith International, Inc. | Diamond-bonded bodies and compacts with improved thermal stability and mechanical strength |
FI117941B (fi) * | 2005-10-13 | 2007-04-30 | Outokumpu Technology Oyj | Menetelmä metallisulfidimineraalien liuottamiseksi |
US8499860B2 (en) | 2005-12-14 | 2013-08-06 | Smith International, Inc. | Cutting elements having cutting edges with continuous varying radii and bits incorporating the same |
US20070169419A1 (en) | 2006-01-26 | 2007-07-26 | Ulterra Drilling Technologies, Inc. | Sonochemical leaching of polycrystalline diamond |
JP2007256267A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-10-04 | Saga Univ | 静電容量及び誘電率を利用した砥石の気孔率評価方法 |
US7616734B1 (en) | 2006-05-09 | 2009-11-10 | Smith International, Inc. | Multi-step method of nondestructively measuring a region within an ultra-hard polycrystalline construction |
US7558369B1 (en) | 2006-05-09 | 2009-07-07 | Smith International, Inc. | Nondestructive method of measuring a region within an ultra-hard polycrystalline construction |
US20080104034A1 (en) | 2006-05-26 | 2008-05-01 | Stewart Jeffrey A | Method For Scoring Changes to a Webpage |
US8395377B2 (en) | 2006-06-23 | 2013-03-12 | Aktiebolaget Skf | Vibration and condition monitoring system and the parts thereof |
US7768258B2 (en) | 2006-09-06 | 2010-08-03 | Metrix Instrument Co., L.P. | Proximity probe transmitter |
US8080074B2 (en) | 2006-11-20 | 2011-12-20 | Us Synthetic Corporation | Polycrystalline diamond compacts, and related methods and applications |
US8025113B2 (en) | 2006-11-29 | 2011-09-27 | Baker Hughes Incorporated | Detritus flow management features for drag bit cutters and bits so equipped |
US8002859B2 (en) | 2007-02-06 | 2011-08-23 | Smith International, Inc. | Manufacture of thermally stable cutting elements |
KR20100015759A (ko) * | 2007-03-22 | 2010-02-12 | 엘리먼트 씩스 (프로덕션) (피티와이) 리미티드 | 연마 콤팩트 |
US20080290866A1 (en) | 2007-05-23 | 2008-11-27 | Cuffe John M | Method and apparatus for digital measurement of an eddy current signal |
DE102007054858A1 (de) * | 2007-11-16 | 2009-05-20 | Continental Automotive France | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Kraftstoffanteils in einem Motoröl eines Kraftfahrzeugs |
GB0810184D0 (en) * | 2008-06-04 | 2008-07-09 | Element Six Production Pty Ltd | Method for producing a compact |
US7757792B2 (en) | 2008-07-18 | 2010-07-20 | Omni Ip Ltd | Method and apparatus for selectively leaching portions of PDC cutters already mounted in drill bits |
US7712553B2 (en) | 2008-07-18 | 2010-05-11 | Omni Ip Ltd | Method and apparatus for selectively leaching portions of PDC cutters used in drill bits |
US20100011673A1 (en) | 2008-07-18 | 2010-01-21 | James Shamburger | Method and apparatus for selectively leaching portions of PDC cutters through templates formed in mechanical shields placed over the cutters |
US8297382B2 (en) * | 2008-10-03 | 2012-10-30 | Us Synthetic Corporation | Polycrystalline diamond compacts, method of fabricating same, and various applications |
US8535400B2 (en) | 2008-10-20 | 2013-09-17 | Smith International, Inc. | Techniques and materials for the accelerated removal of catalyst material from diamond bodies |
US8663349B2 (en) * | 2008-10-30 | 2014-03-04 | Us Synthetic Corporation | Polycrystalline diamond compacts, and related methods and applications |
GB2498480B (en) | 2008-12-18 | 2013-10-09 | Smith International | Method of designing a bottom hole assembly and a bottom hole assembly |
GB2467570B (en) * | 2009-02-09 | 2012-09-19 | Reedhycalog Uk Ltd | Cutting element |
GB0902230D0 (en) * | 2009-02-11 | 2009-03-25 | Element Six Production Pty Ltd | Polycrystalline super-hard element |
GB0903826D0 (en) * | 2009-03-06 | 2009-04-22 | Element Six Production Pty Ltd | Polycrystalline diamond element |
GB0903822D0 (en) | 2009-03-06 | 2009-04-22 | Element Six Ltd | Polycrystalline diamond body |
CN101545884A (zh) * | 2009-04-30 | 2009-09-30 | 中国科学院上海技术物理研究所 | InGaAs/InP平面型光电探测器扩散结的检测方法 |
US8353371B2 (en) * | 2009-11-25 | 2013-01-15 | Us Synthetic Corporation | Polycrystalline diamond compact including a substrate having a raised interfacial surface bonded to a leached polycrystalline diamond table, and applications therefor |
US8791708B2 (en) | 2010-03-04 | 2014-07-29 | Franklin Sensors Inc. | Obscured feature detector with advanced trace properties |
EP3399135A1 (en) | 2010-04-27 | 2018-11-07 | Baker Hughes Incorporated | Method of forming polycrystalline diamond compacts |
US8522900B2 (en) | 2010-09-17 | 2013-09-03 | Varel Europe S.A.S. | High toughness thermally stable polycrystalline diamond |
US8771391B2 (en) | 2011-02-22 | 2014-07-08 | Baker Hughes Incorporated | Methods of forming polycrystalline compacts |
US8727044B2 (en) | 2011-03-24 | 2014-05-20 | Us Synthetic Corporation | Polycrystalline diamond compact including a carbonate-catalyzed polycrystalline diamond body and applications therefor |
RU2602651C2 (ru) | 2011-06-28 | 2016-11-20 | Варел Интернэшнл Инд., Л.П. | Электрохимическое удаление катализатора из сверхтвердых материалов с помощью ультразвука |
CN102351504A (zh) * | 2011-07-04 | 2012-02-15 | 寇自力 | 一种导电多晶金刚石/碳化物复合材料及其制备方法 |
US9423436B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-08-23 | Varel International Ind., L.P. | Method and apparatus to assess the thermal damage caused to a PCD cutter using capacitance spectroscopy |
US20130214768A1 (en) | 2012-02-21 | 2013-08-22 | Varel International Ind., L.P. | Use of Eddy Currents to Analyze Polycrystalline Diamond |
US20130213720A1 (en) | 2012-02-21 | 2013-08-22 | Varel International Ind., L.P. | Method And Apparatus To Improve The Performance Of A Leached Cutter |
US9128031B2 (en) | 2012-02-21 | 2015-09-08 | Varel International Ind., L.P. | Method to improve the leaching process |
US9423370B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-08-23 | Varel International Ind., L.P | Use of capacitance to analyze polycrystalline diamond |
US9377428B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-06-28 | Varel International Ind., L.P. | Non-destructive leaching depth measurement using capacitance spectroscopy |
US20130213433A1 (en) | 2012-02-21 | 2013-08-22 | Varel International Ind., L.P. | Method to Improve the Performance of a Leached Cutter |
US20130214769A1 (en) | 2012-02-21 | 2013-08-22 | Varel International Ind., L.P. | Use of Capacitance And Eddy Currents to Analyze Polycrystalline Diamond |
-
2012
- 2012-02-21 US US13/401,188 patent/US9423370B2/en active Active
-
2013
- 2013-02-20 WO PCT/US2013/026918 patent/WO2013126436A1/en active Application Filing
- 2013-02-20 CN CN201380021023.4A patent/CN104246109B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-02-20 JP JP2014558803A patent/JP6294241B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-02-20 KR KR1020147026119A patent/KR102001276B1/ko active IP Right Grant
- 2013-02-20 RU RU2013107542A patent/RU2610041C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2013-02-21 EP EP13156142.5A patent/EP2631638B1/en not_active Not-in-force
-
2014
- 2014-08-19 ZA ZA2014/06091A patent/ZA201406091B/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013126436A1 (en) | 2013-08-29 |
US20130214799A1 (en) | 2013-08-22 |
EP2631638A2 (en) | 2013-08-28 |
JP6294241B2 (ja) | 2018-03-14 |
CN104246109A (zh) | 2014-12-24 |
US9423370B2 (en) | 2016-08-23 |
KR20140128438A (ko) | 2014-11-05 |
EP2631638B1 (en) | 2017-09-13 |
ZA201406091B (en) | 2017-09-27 |
JP2015509590A (ja) | 2015-03-30 |
KR102001276B1 (ko) | 2019-07-17 |
CN104246109B (zh) | 2017-04-19 |
RU2610041C2 (ru) | 2017-02-07 |
EP2631638A3 (en) | 2014-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2013107542A (ru) | Использование электрической емкости для анализа поликристаллического алмаза | |
Sauerteig et al. | Electrochemical-mechanical coupled modeling and parameterization of swelling and ionic transport in lithium-ion batteries | |
JP5871237B2 (ja) | 土壌の水分状態特定装置及びその方法 | |
Wang et al. | Lithium-ion battery temperature on-line estimation based on fast impedance calculation | |
US9859736B2 (en) | Battery control method based on ageing-adaptive operation window | |
RU2013107544A (ru) | Использование электрической емкости и вихревых токов для анализа поликристаллического алмаза | |
RU2013107540A (ru) | Использование вихревых токов для анализа поликристаллического алмаза | |
WO2012078613A3 (en) | Electrochemical cell monitoring and balancing circuit with self-diagnostic feature | |
WO2004017829A3 (de) | Messelektrodenanordnung | |
DE60025929D1 (de) | Anordnung und verfahren zum feststellen und/oder überwachen elektrophysiologischer eigenschaften von ionenkanälen | |
WO2010044572A3 (en) | Method and apparatus for checking insulation of pouch electric cell and probe for the same | |
WO2010044571A3 (ko) | 셀 모듈 어셈블리의 절연성 검사 장치와 방법 및 이를 위한 프로브 | |
EP2423665A3 (en) | Particulate matter detection device | |
EP2690198A3 (en) | Apparatus and graphene device manufacturing method using the apparatus | |
SG143218A1 (en) | Conductivity measurement device, its manufacture and use | |
CN107219021B (zh) | 一种用于检测电池温度的方法和装置 | |
WO2002074985A3 (de) | Verfahren zum erfassen von makromolekularen biopolymeren mittels einer elektrodenanordnung | |
Huang et al. | Electrochemical corrosion behaviour of copper under periodic wet–dry cycle condition | |
MX2019000593A (es) | Monitor de calidad de agua inteligente automatizado y analizador asi como metodos asociados. | |
EP2363910A3 (de) | Brennstoffzellensystem mit verbesserter elektrischer Kontaktierung | |
DE502004003894D1 (de) | Bezugselektrode für potentiometrische Messungen und Verfahren zu deren Überwachung | |
EP3750237C0 (de) | Vorrichtung zur elektrischen kontaktierung einer solarzelle bei der messung elektrischer kenndaten der solarzelle und verfahren zur messung elektrischer kenndaten einer solarzelle | |
WO2012156233A3 (de) | Vorrichtung und verfahren zum bestimmen eines zustandsparameters einer batterie | |
WO2012024439A3 (en) | Method and apparatus for electrocatalytic amplification on pre-oxidized measuring electrode | |
US11112521B2 (en) | Capacitive proximity sensing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
HE9A | Changing address for correspondence with an applicant | ||
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20210221 |