RU2011115097A - Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа - Google Patents

Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа Download PDF

Info

Publication number
RU2011115097A
RU2011115097A RU2011115097/28A RU2011115097A RU2011115097A RU 2011115097 A RU2011115097 A RU 2011115097A RU 2011115097/28 A RU2011115097/28 A RU 2011115097/28A RU 2011115097 A RU2011115097 A RU 2011115097A RU 2011115097 A RU2011115097 A RU 2011115097A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
defect
image data
detecting
thermal image
thermographic camera
Prior art date
Application number
RU2011115097/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2476867C2 (ru
Inventor
Дзунити НАКАГАВА (JP)
Дзунити НАКАГАВА
Тадаюки ИТО (JP)
Тадаюки ИТО
Тецуо НИСИЯМА (JP)
Тецуо НИСИЯМА
Масахиро ДОКИ (JP)
Масахиро ДОКИ
Кодзо САИТО (US)
Кодзо САИТО
Белал ГХАРАИБЕХ (US)
Белал ГХАРАИБЕХ
Кенг Хоо ЧУАХ (US)
Кенг Хоо ЧУАХ
Ахмад САЛАИМЕХ (US)
Ахмад САЛАИМЕХ
Масахиро ЯМАМОТО (JP)
Масахиро ЯМАМОТО
Томоя ТАКЕУТИ (JP)
Томоя ТАКЕУТИ
Кадзуфуми ИТО (US)
Кадзуфуми ИТО
Хуасюн ХУАН (CA)
Хуасюн ХУАН
Шон К. БОХУН (CA)
Шон К. БОХУН
Original Assignee
Ниппон Стил Корпорейшн (JP)
Ниппон Стил Корпорейшн
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ниппон Стил Корпорейшн (JP), Ниппон Стил Корпорейшн filed Critical Ниппон Стил Корпорейшн (JP)
Publication of RU2011115097A publication Critical patent/RU2011115097A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2476867C2 publication Critical patent/RU2476867C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/72—Investigating presence of flaws

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

1. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии: ! вызывание изменения температуры поверхности материала во времени, ! получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и ! обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. ! 2. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии: ! нагревание поверхности материала, ! получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала охлаждают после стадии нагревания, и ! обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. ! 3. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии: ! нагревание поверхности материала, ! получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала нагревают на стадии нагревания, и ! обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения. ! 4. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление абсолютного значения вычисленного лапласиана, чтобы определить, имеется ли дефект. ! 5. Способ

Claims (11)

1. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
вызывание изменения температуры поверхности материала во времени,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
2. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
нагревание поверхности материала,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала охлаждают после стадии нагревания, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
3. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
нагревание поверхности материала,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала нагревают на стадии нагревания, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
4. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление абсолютного значения вычисленного лапласиана, чтобы определить, имеется ли дефект.
5. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление значения вычисленного лапласиана для определения того, является ли это значение положительным или отрицательным, чтобы определить тип дефекта.
6. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
устройство изменения температуры для изменения температуры поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
7. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
нагревательное устройство для нагревания поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала охлаждают, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
8. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
нагревательное устройство для нагревания поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала нагревают, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
9. Система по п.7, при этом нагревательное устройство и инфракрасная термографическая камера выполнены так, что предотвращается поступление тепловой энергии, излучаемой из нагревательного устройства, в инфракрасную термографическую камеру.
10. Система по п.7, при этом между нагревательным устройством и инфракрасной термографической камерой размещен теплозащитный элемент так, что предотвращается поступление тепловой энергии, излучаемой из нагревательного устройства, в инфракрасную термографическую камеру.
11. Система по п.8, при этом нагревательное устройство и инфракрасная термографическая камера выполнены так, что тепловая энергия, излучаемая из нагревательного устройства, отражается от поверхности материала, поступая в инфракрасную термографическую камеру.
RU2011115097/28A 2008-09-17 2008-09-17 Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа RU2476867C2 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US2008/076598 WO2010033113A1 (en) 2008-09-17 2008-09-17 Method for detecting defect in material and system for the method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011115097A true RU2011115097A (ru) 2012-10-27
RU2476867C2 RU2476867C2 (ru) 2013-02-27

Family

ID=40670939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011115097/28A RU2476867C2 (ru) 2008-09-17 2008-09-17 Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа

Country Status (11)

Country Link
US (1) US8506159B2 (ru)
EP (1) EP2350627B1 (ru)
JP (1) JP4913264B2 (ru)
KR (1) KR101260146B1 (ru)
CN (1) CN102159940B (ru)
BR (1) BRPI0823078B1 (ru)
CA (1) CA2736734C (ru)
MX (1) MX2011002128A (ru)
RU (1) RU2476867C2 (ru)
TW (1) TWI425205B (ru)
WO (1) WO2010033113A1 (ru)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5732826B2 (ja) * 2010-11-22 2015-06-10 トヨタ自動車株式会社 鋳造品の検査方法
TWI426263B (zh) * 2010-12-15 2014-02-11 Ind Tech Res Inst 缺陷量測裝置和缺陷量測方法
EP2691933A1 (en) * 2011-03-31 2014-02-05 Sage Electrochromics, Inc. System and method for detecting and repairing defects in an electrochromic device using thermal imaging
JP5494566B2 (ja) * 2011-05-11 2014-05-14 新日鐵住金株式会社 鋼材の欠陥検出方法
JP5743855B2 (ja) * 2011-11-07 2015-07-01 浜松ホトニクス株式会社 発熱点検出方法及び発熱点検出装置
US10261059B1 (en) 2012-04-13 2019-04-16 Design Data Corporation Galvanization analysis system
RU2494434C1 (ru) * 2012-06-07 2013-09-27 Закрытое акционерное общество "ГИАП-ДИСТцентр" Способ управления промышленной безопасностью и диагностики эксплуатационного состояния промышленного объекта
MX354701B (es) * 2012-10-18 2018-03-16 Yoshino Gypsum Co Método para detectar vacíos en tabla de construcción a base de yeso y método para producir tabla de construcción a base de yeso.
TWI490471B (zh) * 2013-01-28 2015-07-01 Univ Nat Taiwan 非破壞性的複合材料檢測裝置及其檢測方法
CN103235003B (zh) * 2013-04-18 2015-04-08 常州山由帝武节能新材料制造有限公司 真空隔热板导热系数检测装置
CN103245668B (zh) * 2013-04-22 2015-03-25 南京诺威尔光电系统有限公司 一种激光扫描热波成像方法
US9689262B2 (en) * 2013-06-05 2017-06-27 General Electric Company Thermographic inspection system for composite wind turbine blade
US9518946B2 (en) * 2013-12-04 2016-12-13 Watlow Electric Manufacturing Company Thermographic inspection system
JP6021798B2 (ja) * 2013-12-27 2016-11-09 株式会社神戸製鋼所 表面欠陥検査装置
TWI495869B (zh) * 2014-01-03 2015-08-11 Jung Tzung Wei 石墨導熱片的製備系統及導熱片檢測裝置
US9897561B2 (en) 2014-03-12 2018-02-20 Agency For Science, Technology And Research Method of detecting defects in an object based on active thermography and a system thereof
WO2015195135A1 (en) * 2014-06-20 2015-12-23 Halliburton Energy Services, Inc. Flash infrared thermography examination - nondestructive testing
DE102014218136B4 (de) * 2014-09-10 2019-07-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Thermographische Untersuchungseinrichtung sowie Verfahren zur zerstörungsfreien Untersuchung einer oberflächennahen Struktur an einem Prüfobjekt
DE102014014737A1 (de) * 2014-10-09 2016-04-14 Testo Ag Verfahren sowie Wärmebildaufnahmevorrichtung zur Erzeugung radiometrischer Bilder mit in Teilbereichen erhöhter Auflösung
JP6568691B2 (ja) * 2015-02-25 2019-08-28 株式会社Ｋｊｔｄ 探傷対象物の内部欠陥を検出する探傷システム、及び探傷方法
EP3088876B1 (en) * 2015-04-28 2017-12-13 Mart S.r.l. Machine and method to detect a surface irregularity on a moving panel
DE102015211853B3 (de) * 2015-06-25 2016-06-16 Thyssenkrupp Ag Verfahren zur Beschichtung einer Oberfläche eines Metallbandes sowie Metallbandbeschichtungsvorrichtung
US9910001B2 (en) * 2015-10-01 2018-03-06 Radix Inc. Fragment detection method and apparatus
CN105301051B (zh) * 2015-11-18 2018-01-12 北京理工大学 适用于tbc脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法
US10690581B2 (en) * 2015-12-07 2020-06-23 The Boeing Company Infrared thermographic porosity quantification in composite structures
CN106324037A (zh) * 2016-09-30 2017-01-11 杭州公科路桥技术有限公司 无损检测桥梁混凝土结构缺陷的系统及方法
CN106290471A (zh) * 2016-09-30 2017-01-04 杭州公科路桥技术有限公司 用于无损检测桥梁混凝土结构缺陷的系统及方法
US10564108B2 (en) * 2017-07-03 2020-02-18 Saudi Arabian Oil Company Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes
US10954002B2 (en) * 2018-04-03 2021-03-23 The Boeing Company Methods for thermographic inspection of structures
JP6849150B2 (ja) * 2018-05-22 2021-03-24 東芝三菱電機産業システム株式会社 産業プラント監視制御システム
CN109254012A (zh) * 2018-10-09 2019-01-22 中北大学 一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置及方法
KR102285341B1 (ko) * 2018-10-22 2021-08-03 주식회사 파루인쇄전자 면상 발열 검사시트 및 이를 이용한 제품 검사 장치
CN109813433A (zh) * 2018-12-01 2019-05-28 湖北理工学院 Lf精炼炉钢水温度的连续测温方法
CN113412424A (zh) * 2019-02-06 2021-09-17 松下知识产权经营株式会社 厚度测量方法、厚度测量装置、缺陷检测方法以及缺陷检测装置
JP2021012124A (ja) * 2019-07-08 2021-02-04 株式会社シーピーアイテクノロジーズ 温度計測装置、温度計測プログラムおよび温度計測方法
US11513118B2 (en) * 2019-10-17 2022-11-29 C2Sense, Inc. Temporal thermal sensing and related methods
CN111721810B (zh) * 2020-07-09 2023-05-09 中国民航大学 一种融合恒温加热箱的涡轮叶片缺陷红外检测系统
CN112129809B (zh) * 2020-08-13 2023-12-29 苏州赛米维尔智能装备有限公司 一种基于视觉引导的铜片热阻率检测装置及其检测方法
US20220048243A1 (en) * 2020-08-13 2022-02-17 Uchicago Argonne, Llc Identifying Subsurface Porocity In Situ During Laser Based Additive Manufacturing Using Thermal Imaging
CN113008936B (zh) * 2021-03-23 2022-10-04 深圳市梯易易智能科技有限公司 一种利用红外热成像识别基材与脏污的方法
CN113447527B (zh) * 2021-06-11 2022-10-25 西安交通大学 一种双模激光红外热成像检测系统及方法
CN114113218B (zh) * 2021-11-24 2023-09-26 北京理工大学 一种残胶检测方法和系统
CN114609189B (zh) * 2022-02-24 2023-04-21 电子科技大学 一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法
CN117124559B (zh) * 2023-10-27 2023-12-22 湖南嘉迪汽车零部件有限公司 一种用于汽车内外饰的塑料成型冷却方法及装置

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62126339A (ja) 1985-11-28 1987-06-08 Komatsu Ltd 内部欠陥の検出方法および装置
US4866276A (en) * 1987-12-29 1989-09-12 The Boeing Company Method and apparatus for nondestructive analysis of subsurface features of material
JPH01239443A (ja) * 1988-03-18 1989-09-25 Nkk Corp 管外面の欠陥検出方法およびその装置
SU1746391A1 (ru) * 1989-05-10 1992-07-07 Научно-исследовательский институт телевизионной техники "Электрон" Устройство дл выделени контуров изображений объектов
US5131758A (en) * 1990-05-16 1992-07-21 Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of remotely characterizing thermal properties of a sample
US5292195A (en) * 1992-09-09 1994-03-08 Martin Marietta Corporation Thermographic evaluation technique
US5396068A (en) * 1993-03-30 1995-03-07 At&T Corp. Method of making a semiconductor device including infrared imaging, and apparatus for use in the imaging
US5716133A (en) * 1995-01-17 1998-02-10 Applied Komatsu Technology, Inc. Shielded heat sensor for measuring temperature
US5711603A (en) * 1996-10-30 1998-01-27 United Technologies Corporation Nondestructive testing: transient depth thermography
US6000844A (en) * 1997-03-04 1999-12-14 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects using spatially controlled heat application
JP3275796B2 (ja) * 1997-09-08 2002-04-22 日本鋼管株式会社 樹脂被覆鋼材の製造装置
US6236044B1 (en) 1998-08-21 2001-05-22 Trw Inc. Method and apparatus for inspection of a substrate by use of a ring illuminator
DE19846995C2 (de) * 1998-10-13 2000-11-30 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zum berührungslosen Detektieren von Prüfkörpern
US7083327B1 (en) * 1999-04-06 2006-08-01 Thermal Wave Imaging, Inc. Method and apparatus for detecting kissing unbond defects
JP2001050921A (ja) * 1999-08-11 2001-02-23 Constec Engi Co 物体の内部欠陥の自動検出方法及び装置
GB9924425D0 (en) * 1999-10-16 1999-12-15 British Aerospace Material analysis
US7401976B1 (en) * 2000-08-25 2008-07-22 Art Advanced Research Technologies Inc. Detection of defects by thermographic analysis
CA2449508A1 (en) 2001-05-21 2002-11-28 Pressco Technology, Inc. An apparatus and method for providing snapshot action thermal infrared imaging within automated process control article inspection applications
KR20040103918A (ko) * 2002-01-23 2004-12-09 마리나 시스템 코포레이션 결함 검출 및 분석을 위한 적외선 서모그래피
US6712502B2 (en) * 2002-04-10 2004-03-30 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Synchronized electronic shutter system and method for thermal nondestructive evaluation
US7520857B2 (en) * 2002-06-07 2009-04-21 Verathon Inc. 3D ultrasound-based instrument for non-invasive measurement of amniotic fluid volume
JP2004020336A (ja) 2002-06-14 2004-01-22 Osaka Gas Co Ltd サーモグラフィー検査装置
JP4216609B2 (ja) 2003-01-10 2009-01-28 新日本製鐵株式会社 疵検出装置及び疵検出方法
JP2006090801A (ja) 2004-09-22 2006-04-06 Hitachi Metals Ltd 被検査体の検査装置および検査方法
EP1852697B1 (en) 2004-10-04 2010-12-22 Siemens Aktiengesellschaft Method for determing material parameters of an object from temperature-versus-time (t-t) data
US7462809B2 (en) 2004-10-22 2008-12-09 Northrop Grumman Corporation Spectral filter system for infrared imaging of substrates through coatings
AT501845B1 (de) * 2005-03-15 2008-08-15 Walter Mag Dr Medinger Verfahren zur punkt-raster-diagnose von störstellen im raum auf der grundlage der magnetischen flussdichte oder verwandter physikalischer grössen
US7568832B2 (en) * 2006-05-12 2009-08-04 The Boeing Company Imaging method to verify electrical conductivity across lightning strike protection boundaries
US8220991B2 (en) * 2006-05-12 2012-07-17 The Boeing Company Electromagnetically heating a conductive medium in a composite aircraft component
JP4218037B2 (ja) * 2006-06-06 2009-02-04 株式会社九州ノゲデン 被検体欠陥部等の検出装置
US8581975B2 (en) * 2006-06-16 2013-11-12 Worcester Polytechnic Institute Infrared defect detection system and method for the evaluation of powdermetallic compacts
US7553070B2 (en) * 2006-11-06 2009-06-30 The Boeing Company Infrared NDI for detecting shallow irregularities
US8393784B2 (en) * 2008-03-31 2013-03-12 General Electric Company Characterization of flaws in composites identified by thermography

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110059769A (ko) 2011-06-03
US8506159B2 (en) 2013-08-13
MX2011002128A (es) 2011-04-05
RU2476867C2 (ru) 2013-02-27
US20110249700A1 (en) 2011-10-13
BRPI0823078B1 (pt) 2019-06-25
JP4913264B2 (ja) 2012-04-11
WO2010033113A1 (en) 2010-03-25
EP2350627A1 (en) 2011-08-03
JP2011527438A (ja) 2011-10-27
CN102159940A (zh) 2011-08-17
CN102159940B (zh) 2013-12-11
TW201020541A (en) 2010-06-01
TWI425205B (zh) 2014-02-01
KR101260146B1 (ko) 2013-05-02
CA2736734A1 (en) 2010-03-25
EP2350627B1 (en) 2013-11-06
BRPI0823078A2 (pt) 2018-12-18
CA2736734C (en) 2015-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011115097A (ru) Способ обнаружения дефекта в материале и система для этого способа
US9905014B2 (en) Method and system for the examination of a sample by means of thermography
WO2017130251A1 (ja) 厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置
US11300522B2 (en) Article damage evaluation
WO2012012437A3 (en) Temperature response sensing and classification of analytes with porous optical films
JP2008072575A5 (ru)
US9383540B1 (en) System and method for controlling the focus of a lens
CN103713006B (zh) 一种固态材料的固-固相变速率测量装置及方法
EP1760401A3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung der Bildung von Ansätzen in Feuerräumen
JP6273365B2 (ja) サーモグラフィ検査システム
WO2011064531A3 (en) Improved sensor arrangement
RU2011123399A (ru) Устройство и способ для трехмерного оптического обмера сильно отражающих или прозрачных объектов
JP2008046354A5 (ru)
JP2016539340A5 (ru)
KR102064582B1 (ko) 열화상 카메라를 이용한 온도 측정 장치, 방법 및 컴퓨터로 독출 가능한 기록 매체
WO2013118067A3 (en) A device for imaging, recording and saving thermographic image, a system of three liquid crystal matrices used by this device and its application for the detection of thermal anomalies, and a method of diagnosing of these anomalies
KR101322801B1 (ko) 기준패턴을 이용한 적외선 열화상 카메라의 방사율 설정 시스템 및 그 방법
KR101248018B1 (ko) 열 손실량 측정방법 및 열 손실량 측정장치
US10109514B2 (en) Visual feedback for process control in RTP chambers
JP2011038838A (ja) 熱型赤外線出力計測装置および熱型赤外線出力計測方法
JP2002027330A (ja) ディジタル画像形成システムの暗信号による閉ループ熱制御
US10302379B1 (en) Apparatus of heat pipe quality detection using infrared thermal imager and method thereof
Whitenton An introduction for machining researchers to measurement uncertainty sources in thermal images of metal cutting
CN104990923B (zh) 一种测量透明树脂类材料非同步固化度分布的实验方法
TW201925768A (zh) 利用紅外線熱影像檢測熱管品質之裝置與方法

Legal Events

Date Code Title Description
PD4A Correction of name of patent owner
PD4A Correction of name of patent owner
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200918