JP2006090801A - 被検査体の検査装置および検査方法 - Google Patents

被検査体の検査装置および検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006090801A
JP2006090801A JP2004275530A JP2004275530A JP2006090801A JP 2006090801 A JP2006090801 A JP 2006090801A JP 2004275530 A JP2004275530 A JP 2004275530A JP 2004275530 A JP2004275530 A JP 2004275530A JP 2006090801 A JP2006090801 A JP 2006090801A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
heating
inspection
infrared
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004275530A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeyuki Nishi
重幸 西
Koji Yoshimura
剛治 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
Priority to JP2004275530A priority Critical patent/JP2006090801A/ja
Publication of JP2006090801A publication Critical patent/JP2006090801A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、被検査体の表面又は表面近傍に発生した欠陥を確度高く検出可能な検査装置及び検査方法を提供することを目的としている。
【解決手段】本発明の一態様に係る検査装置は、被検査体の表面または表面近傍に在る欠陥を検査する検査装置であって、被検査体の表面の所定領域を実質的に一様に加熱する加熱手段と、加熱された領域から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像する撮像手段と、前記赤外線像を画像解析してその赤外線像における特異部分を判別する画像処理手段とを有する被検査体の検査装置である。
【選択図】図1

Description

本発明は被検査体の検査装置及び検査方法に関し、特に被検査体として金属製の薄板の表面又は表面近傍に生じた剥れや浮き等の欠陥を検査するために好適な検査装置及び検査方法に係るものである。
例えば、無段変速機のベルト材やエンジンバルブ弁材に代表される自動車等の伝達駆動部品などの用途に使用される金属製の薄板(以下鋼板と言う場合もある。)は、その表面や表面近傍に微細な剥れや空孔等の欠陥が存在すると、その欠陥を起点とし疲労破壊が生じ易くなるため製品としての信頼性が低下する。
そのような欠陥を内在した鋼板の市場への流出を防止するため鋼板の圧延作業工程では、鋼板の表面欠陥の検査が行なわれている。従来、その検査は、鋼板の一部を切り出し試験片とし試験片の表面を金属顕微鏡等で確認し欠陥を確認する、いわゆる目視検査で行われていた。このような検査方法の場合には、鋼板の一部のみの検査であるため検査の信頼性が低下するのみならず、迅速な検査をおこなうため金属顕微鏡の倍率を低くすると鋼板の地色と欠陥のコントラストが低くなり欠陥検出が難しくなり、一方、金属顕微鏡の倍率を高くするとその視野範囲が狭くなるため膨大な検査時間が必要となる。さらに、鋼板の一部を破壊して取り出し試験片とするため鋼板のロス等を招くとともに欠陥の有無をオンラインで検査できないので、工業生産上効率的でない。
このような問題を解決する技術としてサーモグラフィー法を応用した技術の一例が下記特許文献1に例示されている。特許文献1の検査方法は、被検査体としてモルタルが塗布された下地コンクリートを対象とし、欠陥としてモルタルと下地コンクリートの境界面におけるモルタルの剥離を検査するものであって、そのモルタルの表面を加熱し、モルタルの表面温度の上昇または下降過程においてモルタルから放射された赤外線を赤外線カメラ等で撮像して熱画像を求め、その熱画像の画素線を二階微分し変曲点を求めて剥離を検出するものである。かかる検査方法によれば、モルタルが剥離した欠陥部は熱的に絶縁された状態であるので熱容量が小さく、温度の上昇(下降)過程において温度の変化が健全部より速い。したがって、加熱されたモルタルの表面温度の上昇(下降)過程、すなわち温度的に非定常な状態において測定を行なうことにより、欠陥部は健全部に対し低い温度分布を示すので欠陥部を検出することができる。しかしながら、特許文献1の検査方法は、被検査体の表面または表面近傍に生じた欠陥のように加熱されると直ぐに周囲の健全部と同じ温度になってしまう場合には温度の変化が短時間で終了するため適用しがたく、更に、金属の薄板のように熱伝導が早いものについては適用をすることが困難である。
特開平2001−50921号公報
本発明は、被検査体の表面又は表面近傍に発生した欠陥を確度高く検出可能な検査装置及び検査方法を提供することを目的としている。
本発明の一態様は、被検査体の表面または表面近傍に在る欠陥を検査する検査装置であって、被検査体の表面の所定領域を実質的に一様に加熱する加熱手段と、加熱された領域から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像する撮像手段と、前記赤外線像を画像解析してその赤外線像における特異部分を判別する画像処理手段とを有する被検査体の検査装置である。なお、この検査装置には、前記領域を一定した温度に加熱するために、前記加熱手段の加熱量を制御する加熱制御手段を設けておけば好ましい。この熱量を制御するためのパラメータとしては、加熱時間又は/及び加熱温度などが設定される。さらに、上記加熱手段としては、平面視において前記領域を包含可能な大きさを有し被検査体が載置される平板状のもの、前記領域を加熱可能な赤外線ランプ又は誘導加熱装置などを採用することができる。前記被検査体としては金属製の薄板を対象とすることができ、特に厚みが1mm以下の薄板の表面または表面欠陥の欠陥を検査する場合にはこの検査装置は好適である。
本発明の一態様は、被検査体の表面または表面近傍に在る欠陥を検査する検査方法であって、被検査体の表面の所定領域を実質的に一様に加熱し、加熱された表面の所定領域から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像し、前記赤外線象を画像解析してその赤外線像における特異部分を判別する被検査体の検査方法である。
本発明の態様によれば、被検査体の表面の所定領域を実質的に一様に加熱する加熱手段によって被検査体の表面又は表面近傍を均一な温度に加熱し、被検査体の表面を温度的に定常な状態とする。そのように温度的に定常状態とされた被検査体の表面から放射される赤外線で形成された赤外線像を撮像手段で撮像する。ここで、欠陥の熱容量は大きいので欠陥に与えられた熱は欠陥に蓄積され、健全部に与えられた熱は熱伝導によって被検査体の内部に移動する。その結果、定常状態に加熱された被検査体において欠陥から放射される赤外線の放射量は健全部に比べ多くなり、赤外線像を画像解析してその赤外線像における特異部分を判別することにより欠陥が識別される。このように、被検査体の表面の温度が定常な状態のときに欠陥を識別できるので、加熱されたときに健全部との温度変化の差異の生じにくい被検査体の表面又は表面近傍に在る欠陥について確度よく検出することが可能となる。
以下、本発明について、その実施態様に基づき図面を参照しつつ説明する。なお、以下、対象として鋼板を例に説明するが本発明における被検査体はそれに限定されることなく、例えばその他の金属、セラミックス又は樹脂を主体とした被検査体にも適用される。さらに、検出する欠陥の形態についても後述するものに限定されない。
[実施態様1]
本発明の第1態様について図1〜4を参照しつつ説明する。図1は、鋼板Wの表面又は表面近傍(以下の説明では併せて「表面」と言う。)に生じた欠陥を検査する第1態様の検査装置1の概略構成図である。図2は、図1の鋼板Wの部分拡大平面視と部分拡大断面視であり、鋼板Wに生じた欠陥について説明する図である。図3は、図1の検査装置1で欠陥を検出する原理について説明する図である。図4は、図1の検査装置1の実施例を説明する図である。
第1態様で対象とする鋼板Wは厚みが1mm程度の鋼板である。鋼板Wには、例えば図2において符号d1〜d3で示す3種の欠陥がその表面に存在している。第1の欠陥d1は、鋼板Wの表面から鋼板Wの一部が剥離したものであり、その上面は開口している。第2の欠陥d2と第3の欠陥d3は、鋼板Wの表面から鋼板Wの一部が剥離した後に異物が開口面に付着し圧接され空孔状となったものである。第2の欠陥d2は一部が開口したもので、第3の欠陥d3は、開口が異物で閉塞されほぼ未開口のものである。
上記鋼板Wを検査する検査装置1は、図1に示すように、平面視において鋼板Wを包含する大きさを備え載置された鋼板Wを底面から加熱する加熱手段である平板状のヒータ13と、鋼板Wの上面から放射される赤外線で形成された赤外線像を撮像するため鋼板Wの上方に配設された撮像手段である赤外線カメラ14と、赤外線カメラ14で撮像した赤外線像に基づいて鋼板Wの表面の欠陥を識別する画像処理手段16という基本的な構成を含んでおり、さらに、自動化を容易にするために、ヒータ13が上部に組み込まれた載置部材11と、載置部材11を図示するX,Y方向、すなわち水平面内において移動させ所望の位置へ位置決めする位置決め手段12と、ヒータ13の加熱パターンを制御する加熱制御手段18と、位置決め手段12の動作を制御する位置制御手段19と、加熱制御手段18、位置制御手段19及び赤外線カメラ14と電気的に接続されそれぞれから送られたデータに基づいて全体を統合的に制御するとともに前記画像処理手段16が内蔵された演算手段15とを備えている。以下、加熱手段、撮像手段および画像処理手段について説明する。
〈加熱手段〉
本態様の加熱手段であるヒータ13は少なくとも鋼板Wに対応する領域が全体として一定の温度で発熱し、鋼板Wを一様に加熱するように構成されている。したがって、ヒータ13で底面から鋼板Wが加熱されると熱は表面に伝導し、表面の温度は上昇し、与えられる熱量と表面から空気中に伝達する熱量が均衡した時点で表面の温度は全体として一定で一様な温度となる。なお、例えば加熱する時間及び生じる熱量等を加熱パターンにおける制御因子として加熱制御手段18で温度制御して所定の温度までヒータ13を発熱させた後に一定の温度となるように制御してもよい。このヒータ13で加熱された鋼板Wは、その表面から赤外線を放射する。
この検査装置1に組込まれるヒータ13は、鋼板Wに対応する領域が一様に発熱し、鋼板Wの全面を一様に加熱できるものを選択する必要がある。ここで「一様」の意義は、例えば目標とする鋼板Wの表面の温度に対し温度ムラが目標温度の±10%程度ある場合も含まれ、例えば鋼板Wの表面の目標温度が20℃の場合±2℃の温度ムラは一様の範囲内である。その程度の温度ムラは、その温度ムラによる赤外線像のムラについて画像処理手段16で微分処理又はフィーリエ変換処理等の周知の画像処理をすることで除去することができる。
鋼板Wを一様に加熱するヒータ13は、例えば市販のバンドヒータの中から注意して選択し採用できる。クロムなどの導電性物質を混入した平板状のセラミックヒータはその平面内の発熱量がほぼ一定であり好適である。さらに、ペルチェ効果を利用したペルチェ素子を備えたヒータは加熱量を電気的に精度よく制御でき検査装置1に組み込みにはより好ましい。また、加熱手段としては、例えばハロゲンランプ、赤外線ランプ又は誘導加熱など非接触で鋼板Wを加熱可能なものを組込むこともできる。
〈撮像手段〉
本態様の撮像手段である赤外線カメラ14は、ヒータ13で加熱された鋼板Wの表面から放射される赤外線で形成される赤外線像を撮像するものであり、周知の赤外線カメラが使用される。なお、図において符号Sは赤外線カメラ14の鋼板Wの表面における視野の範囲であるが、このように視野範囲Sが鋼板Wの表面の検査をすべき領域をカバーできない場合には、その領域が赤外線カメラ14の視野範囲Sに収まるように位置決め手段12を位置制御手段18で制御して載置部材11を水平方向に移動させればよい。この載置部材11の移動速度は、赤外線カメラ14の撮像分解能と露光時間に基づいて決まる。
〈画像処理手段〉
画像処理手段16が組み込まれた演算手段15は、具体的に言えばインターフェイス、CPU及びメモリーなどを備えたコンピュータである。画像処理手段16には、視野範囲Sにおいて赤外線カメラ14で撮像された赤外線像の画像データと位置制御手段19で生成された鋼板Wにおけるその視野範囲Sの位置データが送信される。画像処理手段16は、その画像データと位置データに基づいて鋼板Wの表面の温度に対応した2次元的な温度分布を例えば図4に示すようにマップ状に生成する。そして、画像処理手段16は、作成された温度分布について、図2(b)に示すように周囲の温度に対して温度差がある部分を特異部分として抽出し、その特異部分を欠陥と認識する。なお、生成された温度分布において特異部分を抽出する手法は周知の画像処理方法を採用することができ、例えば画像データを微分する等の信号処理を行って特異部分のエッジを強調し、より欠陥の識別を容易にすることもできる。また、この特異部分の温度変化が僅かであっても、線状あるいは断続的に連なっている特異部分の場合、この特異部分の長手方向に投影分布を作成する信号処理を行って特異部分を強調し、より欠陥の識別を容易にすることも可能である。
ここで、図4について説明する。図4に示す鋼板Wの表面の温度分布に関するマップは、横軸が位置決め装置12のX軸方向、縦軸がY軸方向であり、矩形状の区画が視野領域Sに対応し、赤外線像を画像処理し識別された欠陥に関する情報(例えば視野領域Sの中の欠陥数)を色の変化として表している。すなわち、この例の場合には視野領域Sの中の欠陥個数が多くなるにつれその区画の色が濃くなっている。例えば図4において符号100で示す区画には単独で欠陥が発生していることを、符号101で示す連続した区画には連続して欠陥が発生していることを示しており、欠陥の発生状態を瞬時に識別できる。なお、その欠陥情報としては欠陥の個数のみならず、例えば個々の欠陥の大きさや欠陥の種類などについてその分布を表示することができる。
かかる構成の検査装置1による鋼板Wの表面にある欠陥の検出動作について説明する。ヒータ13を介して載置部材11に載置された鋼板Wを裏面から加熱する。鋼板Wの表面がほぼ一定の温度となったことを赤外線カメラ14で確認し、赤外線カメラ14の視野範囲Sに鋼板Wが入るようにX、Y軸方向に鋼板Wを移動しながら鋼板Wの表面を撮像する。
このとき、鋼板Wの表面が全体的にほぼ一定で一様な温度に加熱されているので健全部からはほぼ一定した強度または量の赤外線が放射される。その一方で、図2に示すように、表面に開口した第1の欠陥d1は健全部と比べて熱容量が大きく且つ赤外線が拡散されて放射されるため健全部に比べ赤外線の放射強度または放射量(R1)が大きくなる。また、同様に第2および第3の欠陥d2、d3についても、第1の欠陥d1に比べて赤外線の放射強度は少ないものの健全部に比べて赤外線の放射強度または放射量(R2、R3)は大きくなる。したがって、図4(b)に示すように、欠陥から放射される赤外線で形成された赤外線像は健全部の赤外線像の中で特異部分となるため、その特異部分を識別することで欠陥の検出が可能となる。
上記した検査装置1の実施例について説明する。被検査体としては、厚みが1mmのステンレス製の鋼板Wを対象とした。その鋼板Wは、第1の欠陥d1と第3の欠陥d3を表面に有するものであった。検査条件としては、鋼板Wの表面温度が40℃となるように加熱して検査した場合(実施例1)、20℃となるように加熱して検査した場合(実施例2)について実施した。また、金属顕微鏡で検査した場合(比較例)についても実施した。
実施例1では、図3(b)に示すように第1及び第3の欠陥d1、d3を明瞭に識別することができた。また、実施例2では、第1の欠陥d1を明瞭に識別でき、実施例1に比べれば不明瞭であるが図3(c)に示すように第3の欠陥d3も識別することができた。このように鋼板Wの表面の温度を上げると欠陥を識別しやすくなる理由は不明であるが、健全部における赤外線像のバックグランドノイズが減少することと欠陥に熱がより蓄積され赤外線が放射されるのでS/Nが高くなるためであると推定される。なお、比較例においては、図3(a)に示すように、第1の欠陥d1は識別できるが、第3の欠陥d3を識別することは困難であった。
[実施態様2]
本発明の第2態様について図5を参照して説明する。図5は、連続的に搬送される鋼板Wの表面に在る欠陥を検査する検査装置2の概略構成図であって、実施態様1の検査装置1と同様な部分には同一符号を付し詳細な説明を省略する。
本態様の検査装置2は、検査装置1と同様に基本的な構成としての加熱手段である加熱光を照射するハロゲンランプ23と、撮像手段である赤外線カメラ14と、画像処理手段16とを有するとともに、さらに、鋼板Wを搬送方向(符号Tで示す矢印方向)に搬送するため鋼板Wを支持する回転可能な下搬送ローラ20と、下搬送ローラ20に支持された鋼板Wの上面に当接するように配設され搬送方向に回転する一対の搬送ロール21を有している。
赤外線カメラ14は、搬送される鋼板Wの所定の領域を撮像できるように鋼板Wの上方に配設されている。加熱制御手段18によって加熱制御されるハロゲンランプ23は一対あり、赤外線カメラ14が撮像する領域を挟み込むように搬送方向に並設されている。ここで、ハロゲンランプ23は、直線状にほぼ一定の熱量で加熱光を放射するように構成されており、その加熱光が鋼板Wの搬送方向Tにほぼ直行するように鋼板Wに対して配設されている。したがって、鋼板Wは、上流側のハロゲンランプ23によって幅方向に一様に加熱され、その後赤外線カメラ14の視野領域に到達し、その表面における赤外線像が撮像されることとなる。さらに、下流側のハロゲンランプ23で加熱された鋼板Wは、上流側のハロゲンランプ23で鋼板Wに与えられた熱が下流側に伝導することを抑止するので、赤外線カメラ14が撮像する領域の温度を一定にできる。かかる検査装置2によれば、例えば圧延中の鋼板Wについて表面の欠陥を検出することができ、工業生産上極めて効率的である。
本発明に係る第1態様の検査装置1の概略構成図である。 図1の鋼板Wの部分拡大平面視と部分拡大断面視である。 図1の検査装置1で欠陥を検出する原理について説明する図である。 図1の検査装置1の実施例を説明する図である。 本発明に係る第2態様の検査装置1の概略構成図である。
符号の説明
1(2) 検査装置
11 載置部材
12 位置決め手段
13 ヒータ
14 赤外線カメラ
15 演算手段
16 画像処理手段
18 加熱制御手段
19 位置制御手段
20 下搬送ローラ
21 上搬送ロール
23 ハロゲンランプ

Claims (5)

  1. 被検査体の表面または表面近傍に在る欠陥を検査する検査装置であって、被検査体の表面の所定領域を実質的に一様に加熱する加熱手段と、前記領域から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像する撮像手段と、前記赤外線像を画像解析してその赤外線像における特異部分を判別する画像処理手段とを有する被検査体の検査装置。
  2. 前記検査装置は、前記加熱手段の加熱量を制御する加熱制御手段を有する請求項1に記載の被検査体の検査装置。
  3. 平面視において前記領域を包含可能な大きさを有し前記被検査体が載置される平板状の加熱手段を有する請求項1または2のいずれかに記載の被検査体の検査装置。
  4. 前記被検査体は金属製の薄板である請求項1乃至3のいずれかに記載の被検査体の検査装置。
  5. 被検査体の表面または表面近傍に在る欠陥を検査する検査方法であって、被検査体の表面の所定領域を実質的に一様に加熱し、加熱された表面の所定領域から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像し、前記赤外線象を画像解析してその赤外線像における特異部分を判別する被検査体の検査方法。
JP2004275530A 2004-09-22 2004-09-22 被検査体の検査装置および検査方法 Pending JP2006090801A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004275530A JP2006090801A (ja) 2004-09-22 2004-09-22 被検査体の検査装置および検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004275530A JP2006090801A (ja) 2004-09-22 2004-09-22 被検査体の検査装置および検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006090801A true JP2006090801A (ja) 2006-04-06

Family

ID=36231939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004275530A Pending JP2006090801A (ja) 2004-09-22 2004-09-22 被検査体の検査装置および検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006090801A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008051728A (ja) * 2006-08-28 2008-03-06 Shinshu Univ 温度分布表示装置
JP2010160122A (ja) * 2009-01-12 2010-07-22 Kobe Univ 被検査体の欠陥検査方法及びその装置
US8506159B2 (en) 2008-09-17 2013-08-13 Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation Method for detecting defect in material and system for the method
CN112697798A (zh) * 2020-12-07 2021-04-23 国网信息通信产业集团有限公司 面向红外图像的变电设备电流致热型缺陷的诊断方法和装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51147378A (en) * 1975-06-13 1976-12-17 Nippon Steel Corp Flaw detecting method of steel pieces
JPH0862166A (ja) * 1994-08-26 1996-03-08 Hitachi Ltd 建築物の外壁剥離診断方法及びその装置
JPH09138205A (ja) * 1995-11-15 1997-05-27 Agency Of Ind Science & Technol 赤外線サーモグラフィによる材料の欠陥検出方法
JP2001324461A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 構造物非破壊検査装置と構造物非破壊検査方法
JP2003075381A (ja) * 2001-09-04 2003-03-12 Nippon Steel Corp 金属帯の欠陥検出装置、方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51147378A (en) * 1975-06-13 1976-12-17 Nippon Steel Corp Flaw detecting method of steel pieces
JPH0862166A (ja) * 1994-08-26 1996-03-08 Hitachi Ltd 建築物の外壁剥離診断方法及びその装置
JPH09138205A (ja) * 1995-11-15 1997-05-27 Agency Of Ind Science & Technol 赤外線サーモグラフィによる材料の欠陥検出方法
JP2001324461A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 構造物非破壊検査装置と構造物非破壊検査方法
JP2003075381A (ja) * 2001-09-04 2003-03-12 Nippon Steel Corp 金属帯の欠陥検出装置、方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008051728A (ja) * 2006-08-28 2008-03-06 Shinshu Univ 温度分布表示装置
US8506159B2 (en) 2008-09-17 2013-08-13 Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation Method for detecting defect in material and system for the method
TWI425205B (zh) * 2008-09-17 2014-02-01 Nippon Steel & Sumitomo Metal Corp 用以偵測材料中缺陷之方法以及用於該方法之系統
JP2010160122A (ja) * 2009-01-12 2010-07-22 Kobe Univ 被検査体の欠陥検査方法及びその装置
CN112697798A (zh) * 2020-12-07 2021-04-23 国网信息通信产业集团有限公司 面向红外图像的变电设备电流致热型缺陷的诊断方法和装置
CN112697798B (zh) * 2020-12-07 2023-03-31 国网信息通信产业集团有限公司 面向红外图像的变电设备电流致热型缺陷的诊断方法和装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4322890B2 (ja) 起伏検査装置、起伏検査方法、起伏検査装置の制御プログラム、記録媒体
EP2350627B1 (en) Method for detecting defect in material and system for the method
WO2007145223A1 (ja) 起伏検査装置、起伏検査方法、起伏検査装置の制御プログラム、記録媒体
JP5392179B2 (ja) 鋼板の欠陥検出方法及び欠陥検出システム
JP2009139333A (ja) マクロ検査装置、マクロ検査方法
JP2010025652A (ja) 表面疵検査装置
JP2010071722A (ja) 凹凸疵検査方法及び装置
JP3938227B2 (ja) 異物検査方法および装置
TW201140043A (en) End face inspection method for light-pervious rectangular sheets and end face inspection apparatus
JP2006226801A (ja) ガラス基板検査装置および検査方法
WO2016009920A1 (ja) 基板の検査装置及び基板の検査方法
JPH09152322A (ja) 表面品質検査方法及び表面品質検査装置
JP6007639B2 (ja) 疵検出方法および疵検出装置
JP2006090801A (ja) 被検査体の検査装置および検査方法
JP2001209798A (ja) 外観検査方法及び検査装置
JP5787668B2 (ja) 欠陥検出装置
CN110646432A (zh) 玻璃裂纹检查系统及方法
JP2010139434A (ja) 異物とキズ痕との判別検査装置及び検査方法
JP2019066222A (ja) 外観検査装置および外観検査方法
JP4565252B2 (ja) 移動物品の欠陥部等の検出方法
Hsu et al. Automatic optical inspection for magnetic particle detection of forging defects
JP2007183283A (ja) 異物検査方法および装置
JP2005134294A (ja) 円筒状部品の形状検査方法および形状検査装置
JP2009047517A (ja) 検査装置
JP2008286623A (ja) 分注検査装置および検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20070810

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080723

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20080725

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20080917

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20081010

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081208

A02 Decision of refusal

Effective date: 20090306

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090428

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Effective date: 20090518

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Effective date: 20090710

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912