JP2010160122A - 被検査体の欠陥検査方法及びその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検査体1の欠陥検査方法を適用可能な装置10は、被検査体1の表面を加熱するヒータ4と、加熱された被検査体1の表面から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像する赤外線カメラ3と、コンピュータ8とを備え、このコンピュータ8は、さらに非定常温度場における誤差最小化変分原理を用いたインテリジェントハイブリッド法を適用することにより前記赤外線像を修正する画像処理部82と、修正された赤外線像に基づいて被検査体1の亀裂部分を判別する特異点判別部83とを備えている。
【選択図】図1
Description
画像処理部82で、計算スキーム(数29)に従って、前記ステップS3のデータを実験計測温度場{uexp}として用いて計算を実行して、求めた修正温度場{umod}を、前記ステップS3のデータに加えて誤差が自動的に検出・消去された温度場を得る(ステップS4)。そして、特異点判別部83で、表示部7に結果をグラフ表示し、前記ステップS2と前記ステップS4との数値データの比較によって評価する(ステップS5)。
1 被検査体
2 載置台
3 赤外線カメラ
4 ヒータ(加熱手段に相当する。)
6 入力部
7 表示部
8 コンピュータ
81a CPU
81b ROM
81c RAM
82 画像処理部(修正手段に相当する。)
83 特異点判別部(判別手段に相当する。)
84 カメラ制御部
85 加熱制御部
86 位置制御部
Claims (6)
- 被検査体の表面を加熱する加熱工程と、前記加熱された被検査体の表面から放射された赤外線で形成される赤外線像を赤外線カメラで撮像する撮像工程とを備えた被検査体の欠陥検査方法であって、
温度場における誤差最小化変分原理を用いたインテリジェントハイブリッド法を適用することにより前記赤外線像を修正する修正工程と、
前記修正された赤外線像に基づいて前記被検査体の亀裂部分を判別する判別工程とを備えたことを特徴とする被検査体の欠陥検査方法。 - 前記インテリジェントハイブリッド法は、非定常温度場における誤差最小化変分原理を用いたものであることを特徴とする請求項1記載の被検査体の欠陥検査方法。
- 前記インテリジェントハイブリッド法は、定常温度場における誤差最小化変分原理を用いたものであることを特徴とする請求項1記載の被検査体の欠陥検査方法。
- 前記判別工程は、前記亀裂部分を画面上に表示する表示工程をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の被検査体の欠陥検査方法。
- 前記表示工程は、前記亀裂部分の周りの熱流束ベクトルの大きさの変化を、前記画面上に複数の色彩の変化で表示するものであることを特徴とする請求項4記載の被検査体の欠陥検査方法。
- 被検査体の表面を加熱する加熱手段と、前記加熱された被検査体の表面から放射された赤外線で形成される赤外線像を撮像する赤外線カメラとを備えた被検査体の欠陥検査装置であって、
温度場における誤差最小化変分原理を用いたインテリジェントハイブリッド法を適用することにより前記赤外線像を修正する修正手段と、
前記修正された赤外線像に基づいて前記被検査体の亀裂部分を判別する判別手段とを備えたことを特徴とする被検査体の欠陥検査装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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2009
- 2009-01-12 JP JP2009004154A patent/JP2010160122A/ja active Pending
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