RU2009141309A - Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств - Google Patents

Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств Download PDF

Info

Publication number
RU2009141309A
RU2009141309A RU2009141309/08A RU2009141309A RU2009141309A RU 2009141309 A RU2009141309 A RU 2009141309A RU 2009141309/08 A RU2009141309/08 A RU 2009141309/08A RU 2009141309 A RU2009141309 A RU 2009141309A RU 2009141309 A RU2009141309 A RU 2009141309A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
microcontroller
tested
ram
power supply
ram chips
Prior art date
Application number
RU2009141309/08A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2438164C2 (ru
Inventor
Александр Анатольевич Сашов (RU)
Александр Анатольевич Сашов
Михаил Игоревич Краснов (RU)
Михаил Игоревич Краснов
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские к
Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские к, Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы") filed Critical Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские к
Priority to RU2009141309/08A priority Critical patent/RU2438164C2/ru
Publication of RU2009141309A publication Critical patent/RU2009141309A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2438164C2 publication Critical patent/RU2438164C2/ru

Links

Classifications

    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств большой емкости содержит: микроконтроллер с встроенной flash памятью и с двумя аналогово-цифровыми преобразователями (АЦП), преобразователь интерфейса USB в UART, генератор на 100 МГц, датчик температуры микроконтроллера, источники питания на 1,7 В, 2,5 В, 3,3 В, 5,0 В, блок выбора источника питания, блок измерения тока потребления, блок проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения управляющих входов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения шины адреса тестируемых микросхем ОЗУ, персональный компьютер (ПК), блок питания, n драйверов-компараторов-нагрузок для каждой линии шины данных тестируемых микросхем ОЗУ, где n - целое число, больше 1, m цифровых датчиков температуры микросхем ОЗУ, закрепленных на корпусе тестируемых микросхем ОЗУ, где m - целое число, больше 1, при этом ПК посредством USB интерфейса через преобразователь интерфейса USB в UART соединен с микроконтроллером, два вывода микроконтроллера соединены с двумя управляющими входами блока выбора источника питания, который на основании соответствующих управляющих сигналов подключает требуемый источник питания на 1,7 В или 2,5 В, или 3,3 В или 5,0 В соответственно, восемнадцать выводов микроконтроллера соединены с восемнадцатью входами блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, который отключает напряжение питание от тестируемых микросхем ОЗУ и подает напряжение питание на общий вывод тестируемых микросхем ОЗУ, другие восемнадцать выводов микроконтроллера соединены с восемнадца�

Claims (1)

  1. Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств большой емкости содержит: микроконтроллер с встроенной flash памятью и с двумя аналогово-цифровыми преобразователями (АЦП), преобразователь интерфейса USB в UART, генератор на 100 МГц, датчик температуры микроконтроллера, источники питания на 1,7 В, 2,5 В, 3,3 В, 5,0 В, блок выбора источника питания, блок измерения тока потребления, блок проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения управляющих входов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения шины адреса тестируемых микросхем ОЗУ, персональный компьютер (ПК), блок питания, n драйверов-компараторов-нагрузок для каждой линии шины данных тестируемых микросхем ОЗУ, где n - целое число, больше 1, m цифровых датчиков температуры микросхем ОЗУ, закрепленных на корпусе тестируемых микросхем ОЗУ, где m - целое число, больше 1, при этом ПК посредством USB интерфейса через преобразователь интерфейса USB в UART соединен с микроконтроллером, два вывода микроконтроллера соединены с двумя управляющими входами блока выбора источника питания, который на основании соответствующих управляющих сигналов подключает требуемый источник питания на 1,7 В или 2,5 В, или 3,3 В или 5,0 В соответственно, восемнадцать выводов микроконтроллера соединены с восемнадцатью входами блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, который отключает напряжение питание от тестируемых микросхем ОЗУ и подает напряжение питание на общий вывод тестируемых микросхем ОЗУ, другие восемнадцать выводов микроконтроллера соединены с восемнадцатью входами преобразователя уровня напряжения управляющих входов тестируемых микросхем ОЗУ, двадцать четыре вывода микроконтроллера соединены с двадцатью четырьмя входами преобразователя уровня напряжения шины адреса тестируемых микросхем ОЗУ, цифровые датчики температуры тестируемых микросхем ОЗУ, закрепленные на корпусе микросхем ОЗУ, посредством I2C интерфейса соединены с первым входом микроконтроллера, второй вход микроконтроллера соединен с выходом датчика температуры, третий вход микроконтроллера соединен с выходом генератора на 100 МГц, первый выход блока измерения тока потребления соединен с первым АЦП микроконтроллера, второй выход блока измерения тока потребления соединен со вторым входом блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, выход блока выбора источника питания соединен с входом блока измерения тока потребления, выход блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ соединен с входом второго АЦП микроконтроллера, драйверы-компараторы-нагрузки для каждой линии шины данных тестируемых микросхем ОЗУ соединены посредством LVDS интерфейсов с четвертым, пятым и шестым входом микроконтроллера соответственно, блок питания соединен со всеми элементами системы.
RU2009141309/08A 2009-11-10 2009-11-10 Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств RU2438164C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2009141309/08A RU2438164C2 (ru) 2009-11-10 2009-11-10 Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2009141309/08A RU2438164C2 (ru) 2009-11-10 2009-11-10 Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2009141309A true RU2009141309A (ru) 2011-05-20
RU2438164C2 RU2438164C2 (ru) 2011-12-27

Family

ID=44733327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2009141309/08A RU2438164C2 (ru) 2009-11-10 2009-11-10 Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2438164C2 (ru)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108205102A (zh) * 2016-12-20 2018-06-26 成都锐成芯微科技股份有限公司 Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法
CN113960443A (zh) * 2021-09-23 2022-01-21 瑞芯微电子股份有限公司 一种io静态参数测试方法及系统
CN116521468A (zh) * 2023-07-05 2023-08-01 西安智多晶微电子有限公司 一种fpga在线调试方法及支持在线调试的fpga
CN113960443B (zh) * 2021-09-23 2024-06-07 瑞芯微电子股份有限公司 一种io静态参数测试方法及系统

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2524858C2 (ru) * 2012-10-29 2014-08-10 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "Цифровые решения" Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти
CN106991028B (zh) * 2016-01-20 2020-06-05 中国长城科技集团股份有限公司 一种计算机的温度异常处理方法及系统
RU2686517C1 (ru) * 2018-06-18 2019-04-29 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") Способ проведения испытаний на стойкость сложнофункциональных микросхем к статическому дестабилизирующему воздействию
RU186203U1 (ru) * 2018-10-30 2019-01-11 Акционерное общество "Актив-софт" (АО "Актив-софт") Система маркировки и тестирования usb-устройств
RU2696881C1 (ru) * 2018-10-30 2019-08-07 Акционерное общество "Актив-софт" (АО "Актив-софт") Система маркировки и тестирования usb-устройств
RU189608U1 (ru) * 2019-04-09 2019-05-29 Акционерное общество "МЦСТ" Адаптер тестирования канала оперативной памяти третьего поколения
RU194790U1 (ru) * 2019-10-17 2019-12-23 Акционерное общество "МЦСТ" Адаптер тестирования канала оперативной памяти четвертого поколения
RU199432U1 (ru) * 2020-06-29 2020-09-01 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Петрозаводский государственный университет" Устройство тестирования многокристальной микросхемы

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108205102A (zh) * 2016-12-20 2018-06-26 成都锐成芯微科技股份有限公司 Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法
CN113960443A (zh) * 2021-09-23 2022-01-21 瑞芯微电子股份有限公司 一种io静态参数测试方法及系统
CN113960443B (zh) * 2021-09-23 2024-06-07 瑞芯微电子股份有限公司 一种io静态参数测试方法及系统
CN116521468A (zh) * 2023-07-05 2023-08-01 西安智多晶微电子有限公司 一种fpga在线调试方法及支持在线调试的fpga
CN116521468B (zh) * 2023-07-05 2023-09-15 西安智多晶微电子有限公司 一种fpga在线调试方法及支持在线调试的fpga

Also Published As

Publication number Publication date
RU2438164C2 (ru) 2011-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2009141309A (ru) Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств
US9323707B2 (en) Universal serial bus signal test device
ATE553539T1 (de) Taktmodusbestimmung in einem speichersystem
JP2010263531A (ja) Ａ／ｄ変換回路及びテスト方法
KR101270798B1 (ko) 에너지저장시스템(ｅｓｓ)용 배터리관리시스템(ｂｍｓ) 검사장치
BR112017008712A2 (pt) depurador (eud) do barramento em série universal embutido para depuração de multi-interface nos sistemas eletrônicos
TW201350877A (zh) 輔助測試電路及具有該輔助測試電路之晶片及電路板
CN104897998B (zh) 一种ict测试系统
TW201341801A (zh) 轉接板及具有該轉接板的直流電源測試系統
KR20120037053A (ko) 집적 회로, 이의 테스트 동작 방법, 및 이를 포함하는 장치들
RU2524858C2 (ru) Система функционального тестирования карт полупроводниковой памяти
US9255961B2 (en) Semiconductor integrated circuit, operating method of semiconductor integrated circuit, and debug system
ATE450799T1 (de) Onchip-prüfschaltung für einen eingebetteten komparator
CN103389933A (zh) 测试卡及具有该测试卡的测试用电子装置
CN103529829A (zh) 一种电动车控制器测试系统
CN111983427B (zh) 一种16通道模拟开关电路测试系统及测试方法
RU189608U1 (ru) Адаптер тестирования канала оперативной памяти третьего поколения
JP6504087B2 (ja) 検査器およびその制御方法、制御プログラム
US20180024182A1 (en) Inspection method for touch panel control substrate, and touch panel controller
TW201350891A (zh) 電源供應器測試電路
CN103969492A (zh) 处理器电压的检测装置及方法
RU111683U1 (ru) Автоматизированная система контроля электрических соединений
CN210807229U (zh) 一种待测mcu中dac的精度验证电路
CN203824663U (zh) 基于ZigBee的XLPE电力电缆绝缘温度监测装置
CN214040333U (zh) 便携式可视化舰船设备结构振动测试仪