CN108205102A - Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法 - Google Patents

Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108205102A
CN108205102A CN201611182938.5A CN201611182938A CN108205102A CN 108205102 A CN108205102 A CN 108205102A CN 201611182938 A CN201611182938 A CN 201611182938A CN 108205102 A CN108205102 A CN 108205102A
Authority
CN
China
Prior art keywords
microprocessor
conversion chip
power source
source conversion
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201611182938.5A
Other languages
English (en)
Inventor
杨旸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Rui Core Micro Polytron Technologies Inc
Original Assignee
Chengdu Rui Core Micro Polytron Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Rui Core Micro Polytron Technologies Inc filed Critical Chengdu Rui Core Micro Polytron Technologies Inc
Priority to CN201611182938.5A priority Critical patent/CN108205102A/zh
Publication of CN108205102A publication Critical patent/CN108205102A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2856Internal circuit aspects, e.g. built-in test features; Test chips; Measuring material aspects, e.g. electro migration [EM]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种DC‑DC电源转换芯片自动测试系统,包括待测DC‑DC电源转换芯片、与所述DC‑DC电源转换芯片相连用于对所述待测DC‑DC电源转换芯片的工作参数进行测试的测试模块、与所述测试模块相连的微处理器、与所述微处理器相连用于调整实验电源的输入电压大小的电源模块、与所述微处理器相连用于调整实验负载大小的负载模块、与所述微处理器相连的通信模块及与所述通信模块相连的上位机。本发明还公开了一种DC‑DC电源转换芯片自动测试方法。本发明能够对DC‑DC电源转换芯片进行自动测试,保证了测试的可靠性和准确性,极大减少了测试人员的工作量。

Description

DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域,特别是涉及一种DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法。
背景技术
在集成电路的测试中,为了保证电源芯片的稳定性,往往会对电源芯片的各项工作参数进行测试。
市面上现有的电源自动测试系统主要针对的是大功率开关电源,且多在生产线投入使用,而对于实验室芯片级的DC-DC电源转换芯片的小批量测试中使用时,性价比不高。因此,在对DC-DC电源转换芯片进行测试时,往往通过人工手动测试。
由于DC-DC电源转换芯片的供电线路线损会随负载的增大而增大,使得输入电源电压随负载的增大而降低,故在手动测试过程中需要先使其带上指定负载,再调节输入电压至指定电压,最后再读取此条件下的输入电流及输出电压值,操作不便且效率低。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种能够对DC-DC电源转换芯片进行自动测试的DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:一种DC-DC电源转换芯片自动测试系统,包括待测DC-DC电源转换芯片、与所述DC-DC电源转换芯片相连用于对所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数进行测试的测试模块、与所述测试模块相连的微处理器、与所述微处理器相连用于调整实验电源的输入电压大小的电源模块、与所述微处理器相连用于调整实验负载大小的负载模块、与所述微处理器相连的通信模块及与所述通信模块相连的上位机。
所述上位机向所述微处理器发送控制指令并接收、显示及打印输出所述微处理器反馈的数据,所述控制指令包括电源电压及负载指令。
所述电源模块在所述微处理器的控制下调整实验电源的输入电压的大小,所述负载模块在所述微处理器的控制下调整实验负载的大小。
所述测试模块实时测试所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给所述微处理器,所述工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流。
所述电源模块输出电压步进为10mV,所述负载模块电流精度为1mA,所述测试模块电压精度为10mV,所述测试模块电流精度为0.1mA。
一种DC-DC电源转换芯片自动测试方法,包括以下步骤:
上位机初始化;
所述上位机通过通信模块向微处理器发送控制指令;
所述微处理器接收到所述控制指令,控制电源模块输出电压,使得待测DC-DC电源转换芯片开始工作;
所述微处理器控制负载模块;
所述微处理器控制电源模块输出设定电压;
测试模块实时测试所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给所述微处理器;
所述微处理器通过所述通信模块将测试结果发送给所述上位机;以及
所述上位机将接收到的测试结果进行显示及打印输出。
所述微处理器控制所述负载模块以保证负载电流稳定在很小的一个范围内波动。
所述工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流。
所述上位机将接收到的数据存储在EXCEL表中,并在所述上位机界面绘制出不同输入电压条件下效率随负载变化的曲线及不同输入电压条件下输出电压随负载变化曲线。
本发明的有益效果是:能够对DC-DC电源转换芯片进行自动测试,保证了测试的可靠性和准确性,极大减少了测试人员的工作量,有效提高了测试效率,设计合理、成本低、性能稳定可靠且操作方便。
附图说明
图1为本发明DC-DC电源转换芯片自动测试系统的系统结构图;
图2为本发明DC-DC电源转换芯片自动测试方法的方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案,但本发明的保护范围不局限于以下所述。
如图1所示,图1为本发明DC-DC电源转换芯片自动测试系统的系统结构图,其包括待测DC-DC电源转换芯片、与DC-DC电源转换芯片相连用于对待测DC-DC电源转换芯片的工作参数进行测试的测试模块、与测试模块相连的微处理器、与微处理器相连用于调整实验电源的输入电压大小的电源模块、与微处理器相连用于调整实验负载大小的负载模块、与微处理器相连的通信模块及与通信模块相连的上位机。
上位机向微处理器发送控制指令并接收、显示及打印输出微处理器反馈的数据,控制指令包括电源电压及负载指令;电源模块在微处理器的控制下调整实验电源的输入电压的大小;负载模块在微处理器的控制下调整实验负载的大小;测试模块实时测试待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给微处理器,工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流;通信模块实现上位机与微处理器的数据交换;微处理器通过内置的计算机程序实现对各个模块的控制与衔接。
在本发明中,通过微处理器与电源模块、负载模块、测试模块、通信模块及上位机相连接实现对待测DC-DC电源转换芯片的自动测试,微处理器可自动控制各模块之间的工作状态,实验人员只需根据不同的产品在上位机设置需要的输入电压及输出电流测试点,然后一键启动上位机,不需要对实验进行任何的干预。微处理器在接收到上位机发送的指令后,通过内置的计算机程序实现对各个模块的控制和衔接,保证了实验的可靠性和准确度,极大减少了实验人员的工作量,操作简单,可有效提高实验效率。
在本发明中,电源模块输出电压步进为10mV,负载模块电流精度为1mA,测试模块电压精度为10mV,测试模块电流精度为0.1mA。
如图2所示,图2为本发明DC-DC电源转换芯片自动测试方法的方法流程图,本发明DC-DC电源转换芯片自动测试方法包括以下步骤:
步骤一,开始。
步骤二,上位机初始化。
步骤三,上位机通过通信模块向微处理器发送控制指令。
步骤四,微处理器接收到控制指令,控制电源模块输出电压,使得待测DC-DC电源转换芯片开始工作。
步骤五,微处理器控制负载模块,保证负载电流稳定在很小的一个范围内波动。
步骤六,微处理器控制电源模块输出设定电压。
步骤七,测试模块实时测试待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给微处理器,工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流。
步骤八,微处理器通过通信模块将测试结果发送给上位机。
步骤九,上位机将接收到的测试结果进行显示及打印输出,其中,上位机可将接收到的数据存储在EXCEL表中,并在上位机界面绘制出不同输入电压条件下效率随负载变化的曲线及不同输入电压条件下输出电压随负载变化曲线。
步骤十,结束。
综上所述,本发明DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法能够对DC-DC电源转换芯片进行自动测试,保证了测试的可靠性和准确性,极大减少了测试人员的工作量,有效提高了测试效率,设计合理、成本低、性能稳定可靠且操作方便。

Claims (9)

1.一种DC-DC电源转换芯片自动测试系统,其特征在于:所述DC-DC电源转换芯片自动测试系统包括待测DC-DC电源转换芯片、与所述DC-DC电源转换芯片相连用于对所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数进行测试的测试模块、与所述测试模块相连的微处理器、与所述微处理器相连用于调整实验电源的输入电压大小的电源模块、与所述微处理器相连用于调整实验负载大小的负载模块、与所述微处理器相连的通信模块及与所述通信模块相连的上位机。
2.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于:所述上位机向所述微处理器发送控制指令并接收、显示及打印输出所述微处理器反馈的数据,所述控制指令包括电源电压及负载指令。
3.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于:所述电源模块在所述微处理器的控制下调整实验电源的输入电压的大小,所述负载模块在所述微处理器的控制下调整实验负载的大小。
4.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于:所述测试模块实时测试所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给所述微处理器,所述工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流。
5.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于:所述电源模块输出电压步进为10mV,所述负载模块电流精度为1mA,所述测试模块电压精度为10mV,所述测试模块电流精度为0.1mA。
6.一种DC-DC电源转换芯片自动测试方法,包括以下步骤:
上位机初始化;
所述上位机通过通信模块向微处理器发送控制指令;
所述微处理器接收到所述控制指令,控制电源模块输出电压,使得待测DC-DC电源转换芯片开始工作;
所述微处理器控制负载模块;
所述微处理器控制电源模块输出设定电压;
测试模块实时测试所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给所述微处理器;
所述微处理器通过所述通信模块将测试结果发送给所述上位机;以及
所述上位机将接收到的测试结果进行显示及打印输出。
7.根据权利要求6所述的DC-DC电源转换芯片自动测试方法,其特征在于:所述微处理器控制所述负载模块以保证负载电流稳定在很小的一个范围内波动。
8.根据权利要求6所述的DC-DC电源转换芯片自动测试方法,其特征在于:所述工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流。
9.根据权利要求6所述的DC-DC电源转换芯片自动测试方法,其特征在于:所述上位机将接收到的数据存储在EXCEL表中,并在所述上位机界面绘制出不同输入电压条件下效率随负载变化的曲线及不同输入电压条件下输出电压随负载变化曲线。
CN201611182938.5A 2016-12-20 2016-12-20 Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法 Pending CN108205102A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611182938.5A CN108205102A (zh) 2016-12-20 2016-12-20 Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611182938.5A CN108205102A (zh) 2016-12-20 2016-12-20 Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108205102A true CN108205102A (zh) 2018-06-26

Family

ID=62603227

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611182938.5A Pending CN108205102A (zh) 2016-12-20 2016-12-20 Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108205102A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109031158A (zh) * 2018-08-15 2018-12-18 大族激光科技产业集团股份有限公司 激光器电源的测试系统及方法
CN112433091A (zh) * 2020-12-04 2021-03-02 武汉轻工大学 一种用于芯片的用电功耗的实时检测系统
CN114236363A (zh) * 2022-01-04 2022-03-25 深圳凯瑞通电子有限公司 一种基于集成电路芯片的稳定性测试方法和系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101236175A (zh) * 2008-03-04 2008-08-06 扬州大学 芯片电泳专用程控电源系统
CN201417297Y (zh) * 2009-04-29 2010-03-03 深圳安博电子有限公司 一种电源管理芯片测试装置
RU2009141309A (ru) * 2009-11-10 2011-05-20 Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские к Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств
US20110291691A1 (en) * 2010-06-01 2011-12-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Chip and chip test system
CN104569680A (zh) * 2015-01-06 2015-04-29 工业和信息化部电子第五研究所 Dc/dc变换器测试装置和方法
CN105911483A (zh) * 2016-04-18 2016-08-31 北京小米移动软件有限公司 电源芯片的测试装置及方法
CN206450790U (zh) * 2016-12-20 2017-08-29 成都锐成芯微科技股份有限公司 Dc‑dc电源转换芯片自动测试系统

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101236175A (zh) * 2008-03-04 2008-08-06 扬州大学 芯片电泳专用程控电源系统
CN201417297Y (zh) * 2009-04-29 2010-03-03 深圳安博电子有限公司 一种电源管理芯片测试装置
RU2009141309A (ru) * 2009-11-10 2011-05-20 Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские к Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств
US20110291691A1 (en) * 2010-06-01 2011-12-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Chip and chip test system
CN104569680A (zh) * 2015-01-06 2015-04-29 工业和信息化部电子第五研究所 Dc/dc变换器测试装置和方法
CN105911483A (zh) * 2016-04-18 2016-08-31 北京小米移动软件有限公司 电源芯片的测试装置及方法
CN206450790U (zh) * 2016-12-20 2017-08-29 成都锐成芯微科技股份有限公司 Dc‑dc电源转换芯片自动测试系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109031158A (zh) * 2018-08-15 2018-12-18 大族激光科技产业集团股份有限公司 激光器电源的测试系统及方法
CN109031158B (zh) * 2018-08-15 2021-04-27 大族激光科技产业集团股份有限公司 激光器电源的测试系统及方法
CN112433091A (zh) * 2020-12-04 2021-03-02 武汉轻工大学 一种用于芯片的用电功耗的实时检测系统
CN114236363A (zh) * 2022-01-04 2022-03-25 深圳凯瑞通电子有限公司 一种基于集成电路芯片的稳定性测试方法和系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101789682B (zh) 一种多路输出电源时序控制装置及方法
US9385597B2 (en) Multi-mode current-allocating device
EP2804287A1 (en) Charger and charging system
CN108205102A (zh) Dc-dc电源转换芯片自动测试系统及方法
CN206450790U (zh) Dc‑dc电源转换芯片自动测试系统
CN103455070A (zh) 一种电源均压均流装置及方法
CN104821653A (zh) 电表及其内部的供电电路、电表内部的供电控制方法
CN103227466A (zh) 一种直流稳压电源对航天器通断电控制方法
CN204465135U (zh) 电表及其内部的供电电路
CN206894499U (zh) 电源供应器
CN103973099B (zh) 电子装置、电源转换器及其工作方法
CN206894325U (zh) 一种新型低待机功耗的控制电路
CN104484004A (zh) 一种在线式ups的控制装置及在线式ups
CN204347670U (zh) 一种开关电源待机低功耗电路
CN203595958U (zh) 一种基于cpci接口的n+1冗余电源的负载均衡电路
CN209982350U (zh) 一种电源电路与电能表
CN204068703U (zh) 多路输出开关电源电路
CN203406792U (zh) 待机控制模块和电源装置
CN204465121U (zh) 一种电测量设备的多路供电控制电路、电表内的集成电源控制板
CN102468750A (zh) 一种采用三极管串联结构的高压转低压电源电路
CN207123379U (zh) 多路摄像模组老化测试装置
CN201199671Y (zh) 电源输出电路
CN204211291U (zh) 一种可关断式电梯电源
CN203574537U (zh) 一种交流开关电源启动电路
CN203761270U (zh) 一种光纤激光器的恒流电源电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20180626

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication