CN207123379U - 多路摄像模组老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种多路摄像模组老化测试装置，该装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组。电压转化芯片将输入电源输入的电压进行电压转换，并利用转换后的电压为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电；第一LDO芯片为若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电，第二LDO芯片为若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电，第三LDO芯片为若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电，第四LDO芯片为若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试，效率高，不需要软件控制和外部电路控制，操作简单，并且成本低廉。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测领域，尤其涉及一种多路摄像模组老化测试装置。
背景技术
在摄像模组老化的实验中，利用模组点亮测试工装盒来做该老化实验，一个模组点亮测试工装盒同时只能老化一个模组，效率低，并且用模组点亮测试工装盒老化摄像模组需要配合电脑以及客户端软件来配合，操作复杂，非常不方便，同时老化成本较高。
实用新型内容
针对现有技术中老化设项目组的试验中效率低、操作复杂、成本高的技术问题，提供了一种多路摄像模组老化测试装置。
本实用新型提供了一种多路摄像模组老化测试装置，所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组；
所述输入电源与所述电压转化芯片连接，所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接，所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换，利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电；
所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接，实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电；所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接，实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电；所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接，实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电；所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接，实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试。
优选地，所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的RESET以及PWDN连接。
优选地，所述输入电源的输出电压为+4.5V～+18V。
优选地，所述电压转化芯片为DC TO DC芯片。
优选地，所述电压转化芯片的输出电压为3.3V。
优选地，所述电压转化芯片为TPS54627芯片。
优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压为0.5*(1+R1/R2)，其中R1、R2为电阻。
优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片为输出电压可调芯片。
优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R2的阻值固定，电阻R1的阻值可调。
优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R1的阻值通过跳帽方式调节。
由上述技术方案可知，本实用新型提供一种多路摄像模组老化测试装置，该装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组；输入电源与电压转化芯片连接，电压转换芯片与第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接，电压转化芯片将输入电源输入的电压进行电压转换，并利用转换后的电压为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电；第一LDO芯片与若干个摄像模组的各AVDD接口连接，实现第一LDO芯片为若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电；第二LDO芯片与若干个摄像模组的各AFVCC接口连接，实现第二LDO芯片为若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电；第三LDO芯片与若干个摄像模组的各DVDD接口连接，实现第三LDO芯片为若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电；第四LDO芯片与若干个摄像模组的各DOVDD接口连接，实现第四LDO芯片为若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试，效率高，不需要软件控制和外部电路控制，操作简单，并且成本低廉。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。
图1是本实用新型的一个较佳实施例的多路摄像模组老化测试装置的结构示意图；
图2A、2B、2C、2D、2E、2F、2G是本实用新型的一个较佳实施例的多路摄像模组老化测试装置的电路图；
图3是本实用新型中多路摄像模组在PCB上的分布示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
一种多路摄像模组老化测试装置，所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO(低压差稳压器)芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组；所述输入电源与所述电压转化芯片连接，所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接，所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换，利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电。所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接，实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电；所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接，实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电；所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接，实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电；所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接，实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试，效率高，不需要软件控制和外部电路控制，操作简单，并且成本低廉，其中，图2A、2B、2C、2D、2E、2F、2G是本实用新型的一个较佳实施例的多路摄像模组老化测试装置的电路图。
进一步地，如图1所示，所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的RESET以及PWDN连接，实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各RESET以及PWDN同时供电。
由于不同摄像模组所需的RESET和PWDN的启动电平要求不一致，因而利用第四LDO芯片是在上电前通过跳帽的方式选择是上拉到DOVDD还是下拉到地，从而实现模组的RESET和POWER DOWN的起始电平可以自由控制，提高了装置的使用灵活性。
进一步地，如图1所示，所述输入电源的输出电压为+4.5V～+18V，即输入电源为电压转化芯片提供的电压的范围为+4.5V～+18V，宽范围的电压输入能够有效降低装置对电源的要求，提高装置使用的灵活性。优选地，采用DC jack标准接口输入，兼容摄像模组测试板接口定义，可以兼容大部分适配器的接口，例如，输入电源的输出电压为DC+12V。
进一步地，如图1所示，所述电压转化芯片为DC TO DC芯片。优选地，电压转化芯片为TPS54627芯片，其输出电压为3.3V。TPS54627芯片可以实现+4.5V到+18V 6A宽电压大电流输入，同时保证高转换效率，电源高压降转换的功率损耗最少。
进一步地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压可调，输出电压的计算公式为0.5*(1+R1/R2)，其中R1、R2为电阻，电阻R2的阻值固定，通过调节电阻R1的阻值调节LDO的输出电压。优选地，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R1的阻值通过跳帽方式调节，从而实现第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压可控，从而可以为不同电压需要的摄像模组提供电压，实现为不同电压需求的摄像模组老化，满足不同的模组电压要求，不需要软件来实现。
本实用新型中的LDO芯片为高功率芯片，每个LDO可以同时给10个摄像模组供电，因此可以节省很多LDO芯片，从而节约成本，其中，图3是多路摄像模组在PCB上的分布示意图，图中1、2、3、4、5、6、7、8、9、10为各摄像模组CCM。本实用新型中通过四路LDO芯片在低压降的情况下转换成摄像模组所需的各路电压，使输出电压效率高、噪声小，操作简单、成本低、同时通过跳帽调节R1阻值来调节输出电压来实现电压可控。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或者部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储在计算机可读取的存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤。
本实用新型的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本实用新型的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。
以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解；其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种多路摄像模组老化测试装置，其特征在于，所述装置包括输入电源、电压转化芯片、第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片、第四LDO芯片以及若干个摄像模组；
所述输入电源与所述电压转化芯片连接，所述电压转换芯片与所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片连接，所述电压转化芯片将所述输入电源输入的电压进行电压转换，利用转换后的电压为所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片供电；
所述第一LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AVDD接口连接，实现第一LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AVDD接口同时供电；所述第二LDO芯片与所述若干个摄像模组的各AFVCC接口连接，实现第二LDO芯片为所述若干个摄像模组的各AFVCC接口同时供电；所述第三LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DVDD接口连接，实现第三LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DVDD接口同时供电；所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的各DOVDD接口连接，实现第四LDO芯片为所述若干个摄像模组的各DOVDD接口同时供电，从而完成同时对多路摄像模组老化测试。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第四LDO芯片与所述若干个摄像模组的RESET以及PWDN连接。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述输入电源的输出电压为+4.5V～+18V。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电压转化芯片为DC TO DC芯片。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述电压转化芯片的输出电压为3.3V。
6.根据权利要求4或5所述的装置，其特征在于，所述电压转化芯片为TPS54627芯片。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的输出电压为0.5*(1+R1/R2)V，其中R1为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的电阻，R2为第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片或第四LDO芯片的电阻。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片为输出电压可调芯片。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R2的阻值固定，电阻R1的阻值可调。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第一LDO芯片、第二LDO芯片、第三LDO芯片以及第四LDO芯片的电阻R1的阻值通过跳帽方式调节。
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Cited By (1)
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| CN113049891A (zh) * | 2019-12-27 | 2021-06-29 | 苏州松健光学科技有限公司 | 一种摄像头老化测试电路 |
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2017
- 2017-02-06 CN CN201720110983.3U patent/CN207123379U/zh active Active
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Address after: 437400 sanyingxing Technology Co., Ltd., Tongcheng Economic Development Zone, Xianning City, Hubei Province Patentee after: Hubei sanyingxing Photoelectric Technology Co.,Ltd. Address before: 437400 sanyingxing high tech park, Tongcheng Economic Development Zone, Xianning City, Hubei Province Patentee before: HUBEI SUNWIN TECHNOLOGY GROUP Co.,Ltd. |
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| CP03 | "change of name, title or address" |