CN103969491A - 处理器电压的检测装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种处理器电压的检测装置及方法。处理器电压的检测装置包括一电路板、一电压值测试装置、一数字开关及一连接数字开关的检测芯片,电路板包括一CPU插槽、一信号产生芯片及一电压调整器,检测芯片插接在CPU插槽中,数字开关用于预设一预设数据,信号产生芯片用于在电路板开机后发送一启动信号给检测芯片,检测芯片用于读取预设数据,将预设数据转换成SVID数据并SVID数据发送给电压调整器,电压调整器用于根据SVID数据发送一CPU电压给CPU插槽,电压值测试装置用于测试CPU电压的电压值大小以确定CPU电压的电压值是否匹配预设数据对应的电压值。
Description
技术领域
本发明涉及一种电压测试装置及方法,特别是涉及一种处理器电压的检测装置及方法。
背景技术
服务器的主板上一般装设处理器,在开机时处理器会发出SVID(Subsystem Vendor ID,子系统厂商识别码)数据给电压调节器(Voltage Regulator),所述电压调节器根据所述SVID数据发送一电压给所述处理器的内核从而给所述处理器的内核供电,对于需要检修的主板的电压调节器,如果电压调节器出现问题而输出一较高的电压给所述处理器的内核可能烧坏所述处理器。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种检测处理器电压以保护处理器的检测装置及方法。
一种处理器电压的检测装置,包括一电路板及一电压值测试装置,所述电路板包括一CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器,所述处理器电压的检测装置还包括一数字开关、一连接所述数字开关的检测芯片及一电压值测试装置,所述检测芯片插接在所述CPU插槽中,所述检测芯片包括一连接所述数字开关的读取模块、一转换模块、一发送模块及一控制模块,所述数字开关用于预设一预设数据,所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片的控制模块,所述控制模块用于控制所述读取模块读取所述预设数据,所述转换模块用于将所述预设数据转换成SVID数据,所述发送模块用于将所述SVID数据发送给所述电压调整器,所述电压调整器用于根据所述SVID数据发送一CPU电压给所述CPU插槽,所述电压值测试装置用于测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值。
一实施例中,所述预设数据为一8位二进制数据。
一实施例中,所述信号产生芯片为一南桥芯片。
一实施例中,所述电压值测试装置为一示波器。
一种处理器电压的检测方法;所述处理器电压的检测方法包括如下步骤:
提供一处理器电压的检测装置,所述处理器电压的检测装置,包括一电路板、一电压值测试装置、一数字开关、一连接所述数字开关的检测芯片及一电压值测试装置,所述电路板包括一CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器,所述检测芯片插接在所述CPU插槽中;
所述数字开关设置一预设数据;
所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片;
所述检测芯片读取所述预设数据,将所述预设数据转换成SVID数据并发送给所述电压调整器;
所述电压调整器根据所述SVID数据发送一CPU电压给所述CPU插槽;
所述电压值测试装置测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值。
一实施例中,所述述预设数据为一8位二进制数据。
一实施例中,所述信号产生芯片为一南桥芯片。
一实施例中,所述电压值测试装置为一示波器。
与现有技术相比,本发明处理器的电压测试装置及方法通过插接一检测芯片于CPU插槽中,所述检测芯片读取数字开关的数据并转换成SVID数据给电压调节器,从而使电压调节器输出电压值给CPU插槽,这样就可以测试所述电压值,从而在正式使用处理器时确保处理器不被烧坏。
附图说明
图1为本发明处理器电压的检测装置的一较佳实施方式中的示意图。
图2为本发明处理器电压的检测方法的一较佳实施方式中的流程图。
主要元件符号说明
电路板 | 10 |
CPU插槽 | 11 |
信号产生芯片 | 13 |
电压调整器 | 15 |
检测芯片 | 30 |
读取模块 | 31 |
转换模块 | 33 |
发送模块 | 35 |
控制模块 | 37 |
数字开关 | 50 |
电压值测试装置 | 70 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明处理器电压的检测装置一较佳实施方式包括一电路板10,所述电路板10包括一CPU插槽11、一连接所述CPU插槽11的信号产生芯片13及一连接所述CPU插槽11的电压调整器15,所述处理器电压的检测装置还包括一插接在所述CPU插槽11上的检测芯片30、一连接所述检测芯片30的数字开关50。所述处理器电压的检测装置还包括一用于检测所述电压调整器15输出给所述CPU插槽11的电压值的电压值测试装置70,在本实施例中,所述信号产生芯片13为一南桥芯片,所述电压值测试装置70为一示波器。
所述检测芯片30包括一连接所述数字开关50的读取模块31、一连接所述读取模块31的转换模块33、一连接所述转换模块33的发送模块35及一连接所述读取模块31的控制模块37。所述发送模块35连接所述电压调整器15。
所述数字开关50用于预先设置一预设数据,在本实施例中,所述预设数据为一8位二进制数据,例如10000001。
所述电路板10的信号产生芯片13在所述电路板10开机时发送一启动信号给与所述CPU插槽11电性连接的检测芯片30的控制模块37,所述检测芯片30的控制模块37控制所述读取模块31读取所述数字开关50的预设数据并传送给所述转换模块33,所述转换模块33根据SVID总线协议将所述预设数据转换成SVID数据,并将所述SVID数据发送给所述电压调整器15,所述电压调整器15根据所述SVID数据发送一CPU电压给所述CPU插槽11。所述电压值测试装置70测试所述CPU电压的电压值大小。所述CPU电压的电压值匹配预设数据对应的电压值,则可以将一CPU替换所述检测芯片30而进行正常开机,如果不匹配,则知道电压调整器15的输出电压有问题。
请参阅图2,本发明处理器电压的检测装置一较佳实施方式包括如下步骤:
S201,所述数字开关50设置一预设数据;
S202,所述信号产生芯片13在所述电路板10开机时发送一启动信号给所述检测芯片30的控制模块37;
S203,所述控制模块37控制所述读取模块31读取所述数字开关50的预设数据并传送给所述转换模块33;
S204,所述转换模块33根据SVID总线协议将所述预设数据转换成SVID数据,并传送给所述电压调整器15;
S205,所述电压调整器15根据所述SVID数据发送一CPU电压给所述CPU插槽11;
S206,所述电压值测试装置70测试所述CPU电压的电压值。所述CPU电压的电压值匹配预设数据对应的电压值,则可以将一CPU替换所述检测芯片30而进行正常开机,从而确保CPU不被烧坏。
在本实施方式中,用一数字开关及检测芯片30的结合代替处理器而实现对电压调整器15输出给所述处理器的电压的测试,因为处理器的价格高,从而在检修电路板时有效保护处理器。
对本领域的技术人员来说,可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整,而这些改变和调整都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种处理器电压的检测装置,包括一电路板及一电压值测试装置,所述电路板包括一CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器,其特征在于:所述处理器电压的检测装置还包括一数字开关、一连接所述数字开关的检测芯片及一电压值测试装置,所述检测芯片插接在所述CPU插槽中,所述检测芯片包括一连接所述数字开关的读取模块、一转换模块、一发送模块及一控制模块,所述数字开关用于预设一预设数据,所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片的控制模块,所述控制模块用于控制所述读取模块读取所述预设数据,所述转换模块用于将所述预设数据转换成SVID数据,所述发送模块用于将所述SVID数据发送给所述电压调整器,所述电压调整器用于根据所述SVID数据发送一CPU电压给所述CPU插槽,所述电压值测试装置用于测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值。
2.如权利要求1所述的处理器电压的检测装置,其特征在于:所述预设数据为一8位二进制数据。
3.如权利要求1所述的处理器电压的检测装置,其特征在于:所述信号产生芯片为一南桥芯片。
4.如权利要求1所述的处理器电压的检测装置,其特征在于:所述电压值测试装置为一示波器。
5.一种处理器电压的检测方法;其特征在于:所述处理器电压的检测方法包括如下步骤:
提供一处理器电压的检测装置,所述处理器电压的检测装置,包括一电路板、一电压值测试装置、一数字开关、一连接所述数字开关的检测芯片及一电压值测试装置,所述电路板包括一CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器,所述检测芯片插接在所述CPU插槽中;
所述数字开关设置一预设数据;
所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片;
所述检测芯片读取所述预设数据,将所述预设数据转换成SVID数据并发送给所述电压调整器;
所述电压调整器根据所述SVID数据发送一CPU电压给所述CPU插槽;
所述电压值测试装置测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值。
6.如权利要求5所述的处理器电压的检测方法,其特征在于:所述述预设数据为一8位二进制数据。
7.如权利要求5所述的处理器电压的检测方法,其特征在于:所述信号产生芯片为一南桥芯片。
8.如权利要求5所述的处理器电压的检测方法,其特征在于:所述电压值测试装置为一示波器。
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