RU2008131544A - Способ измерения дифракционных линз - Google Patents
Способ измерения дифракционных линз Download PDFInfo
- Publication number
- RU2008131544A RU2008131544A RU2008131544/28A RU2008131544A RU2008131544A RU 2008131544 A RU2008131544 A RU 2008131544A RU 2008131544/28 A RU2008131544/28 A RU 2008131544/28A RU 2008131544 A RU2008131544 A RU 2008131544A RU 2008131544 A RU2008131544 A RU 2008131544A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- lens
- properties
- diffractive
- elementary
- diffractive lens
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract 6
- 238000011545 laboratory measurement Methods 0.000 claims 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0292—Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Prostheses (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Lenses (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
1. Способ измерения оптических свойств дифракционной линзы, содержащий этапы, на которых ! пропускают свет через дифракционную линзу и на массив элементарных линз, в котором каждая элементарная линза принимает часть света и в котором дифракционная линза имеет границу зоны, покрывающую, по меньшей мере, часть одной элементарной линзы, ! измеряют одно или несколько свойств дифракционной линзы на основании света, в общем случае, сфокусированного массивом элементарных линз и зарегистрированного датчиком, ! регулируют результат измерения для компенсации предполагаемых оптических свойств дифракционного компонента линзы в измерительной системе. ! 2. Способ по п.1, в котором влияние дифракционной структуры вычисляют с использованием преобразования Фурье волнового фронта через каждую элементарную линзу для фазовой задержки, вносимой дифракционной структурой. ! 3. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором сравнивают позицию светового пятна, сфокусированного каждой элементарной линзой, с позицией пятна для полностью коллимированного волнового фронта, для определения поперечного перемещения пятна. ! 4. Способ по п.3, в котором влияние дифракционной структуры определяют путем сравнения измеренных значений для дифракционной линзы и эквивалентной однофокусной линзы для определения коррекции. ! 5. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором ! идентифицируют размытые или двойные пятна, в котором наличие размытого или двойного пятна свидетельствует о наличии дифракционного участка поверхности линзы, и ! регулируют локальный наклон для элементарной линзы для представления эквивалентной однофок�
Claims (16)
1. Способ измерения оптических свойств дифракционной линзы, содержащий этапы, на которых
пропускают свет через дифракционную линзу и на массив элементарных линз, в котором каждая элементарная линза принимает часть света и в котором дифракционная линза имеет границу зоны, покрывающую, по меньшей мере, часть одной элементарной линзы,
измеряют одно или несколько свойств дифракционной линзы на основании света, в общем случае, сфокусированного массивом элементарных линз и зарегистрированного датчиком,
регулируют результат измерения для компенсации предполагаемых оптических свойств дифракционного компонента линзы в измерительной системе.
2. Способ по п.1, в котором влияние дифракционной структуры вычисляют с использованием преобразования Фурье волнового фронта через каждую элементарную линзу для фазовой задержки, вносимой дифракционной структурой.
3. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором сравнивают позицию светового пятна, сфокусированного каждой элементарной линзой, с позицией пятна для полностью коллимированного волнового фронта, для определения поперечного перемещения пятна.
4. Способ по п.3, в котором влияние дифракционной структуры определяют путем сравнения измеренных значений для дифракционной линзы и эквивалентной однофокусной линзы для определения коррекции.
5. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором
идентифицируют размытые или двойные пятна, в котором наличие размытого или двойного пятна свидетельствует о наличии дифракционного участка поверхности линзы, и
регулируют локальный наклон для элементарной линзы для представления эквивалентной однофокусной линзы.
6. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения одного или нескольких определенных свойств дифракционной линзы с одним или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы определяют эквивалентную однофокусную линзу.
7. Способ по п.6, в котором при определении эквивалентной однофокусной линзы сравнивают теоретические расчеты и лабораторные измерения.
8. Способ по п.6, в котором при определении эквивалентной однофокусной линзы сравнивают теоретические расчеты и клинические измерения.
9. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором определяют наилучшую регулировку путем сравнения двух или более из теоретических расчетов, лабораторных измерений и клинических измерений.
10. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором анализируют участок волнового фронта.
11. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения одного или нескольких определенных свойств дифракционной линзы с одним или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы
оценивают теоретическое искажение данных на основании конструкции линзы; и
компенсируют оценку теоретического искажения.
12. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения одного или нескольких определенных свойств дифракционной линзы с одним или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы вычисляют приблизительный участок линзы, который будет покрывать элементарную линзу для оценивания величины двойного пятна.
13. Способ по п.1, в котором диаметр элементарной линзы меньше, чем у измеряемой дифракционной зоны.
14. Способ по п.1, в котором диаметр элементарной линзы больше, чем у измеряемой дифракционной зоны.
15. Способ измерения оптических свойств дифракционной линзы, содержащий этапы, на которых
пропускают свет через дифракционную линзу, в котором дифракционная линза имеет границу зоны, покрывающую, по меньшей мере, часть одной элементарной линзы,
с использованием системы, предназначенной для измерения оптических свойств линзы, измеряют одно или несколько свойств дифракционной линзы на основании света, выходящего из линзы,
вычисляют одно или несколько свойств дифракционной линзы для определения одного или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы,
сравнивают одно или несколько определенных свойств дифракционной линзы с одним или несколькими теоретическими расчетами дифракционной линзы,
вычисляют одно или несколько свойств системы, используемой для измерения свойств линзы,
измеряют одно или несколько свойств системы, используемой для измерения свойств дифракционной линзы, и
корректируют измерение одного или нескольких свойств дифракционной линзы на основании сравнения с одним или несколькими предполагаемыми свойствами дифракционной линзы и одним или несколькими свойствами системы для измерения свойств линзы.
16. Способ по п.15, в котором при измерении одного или нескольких свойств дифракционной линзы измеряют сферическую аберрацию дифракционной линзы.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US95291307P | 2007-07-31 | 2007-07-31 | |
| US60/952,913 | 2007-07-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2008131544A true RU2008131544A (ru) | 2010-02-10 |
| RU2468348C2 RU2468348C2 (ru) | 2012-11-27 |
Family
ID=39947820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2008131544/28A RU2468348C2 (ru) | 2007-07-31 | 2008-07-30 | Способ измерения дифракционных линз |
Country Status (13)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7777872B2 (ru) |
| EP (1) | EP2023116A3 (ru) |
| JP (1) | JP5547384B2 (ru) |
| KR (1) | KR101441901B1 (ru) |
| CN (1) | CN101393075B (ru) |
| AR (1) | AR067761A1 (ru) |
| AU (1) | AU2008203433B2 (ru) |
| BR (1) | BRPI0805010A2 (ru) |
| CA (1) | CA2638447C (ru) |
| IL (1) | IL193193A (ru) |
| MX (1) | MX2008009812A (ru) |
| RU (1) | RU2468348C2 (ru) |
| TW (1) | TWI404520B (ru) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8317505B2 (en) | 2007-08-21 | 2012-11-27 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Apparatus for formation of an ophthalmic lens precursor and lens |
| US8313828B2 (en) * | 2008-08-20 | 2012-11-20 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Ophthalmic lens precursor and lens |
| US8318055B2 (en) | 2007-08-21 | 2012-11-27 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Methods for formation of an ophthalmic lens precursor and lens |
| US7905594B2 (en) * | 2007-08-21 | 2011-03-15 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Free form ophthalmic lens |
| US9417464B2 (en) | 2008-08-20 | 2016-08-16 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Method and apparatus of forming a translating multifocal contact lens having a lower-lid contact surface |
| FR2939199B1 (fr) * | 2008-12-02 | 2011-02-11 | C2 Diagnostics | Procede et dispositif de cytometrie en flux sans fluide de gainage |
| US8240849B2 (en) * | 2009-03-31 | 2012-08-14 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Free form lens with refractive index variations |
| US8807076B2 (en) | 2010-03-12 | 2014-08-19 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Apparatus for vapor phase processing ophthalmic devices |
| JP5727188B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2015-06-03 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置 |
| US8340456B1 (en) * | 2011-10-13 | 2012-12-25 | General Electric Company | System and method for depth from defocus imaging |
| WO2013096003A1 (en) * | 2011-12-20 | 2013-06-27 | 3M Innovative Properties Company | Sensor for measuring surface non-uniformity |
| DE102012010960A1 (de) * | 2012-05-30 | 2013-12-05 | Fresnel Optics Gmbh | Anordnung zur optischen Charakterisierung vonFresnellinsen |
| JP6407576B2 (ja) * | 2013-06-14 | 2018-10-17 | 興和株式会社 | 模型眼モジュール、これを用いた眼内レンズ検査装置及び眼内レンズ検査方法 |
| US9645412B2 (en) | 2014-11-05 | 2017-05-09 | Johnson & Johnson Vision Care Inc. | Customized lens device and method |
| US10359643B2 (en) | 2015-12-18 | 2019-07-23 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Methods for incorporating lens features and lenses having such features |
| CN106225734B (zh) * | 2016-06-30 | 2019-07-05 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种大动态范围高精度光轴测量装置 |
| WO2018138538A1 (en) | 2017-01-30 | 2018-08-02 | Universitat Politecnica De Catalunya | System and method for characterizing, designing and/or modifying optical properties of a lens |
| CN112584133A (zh) * | 2019-09-27 | 2021-03-30 | 苹果公司 | 对象定位系统 |
| JP7356940B2 (ja) * | 2020-03-23 | 2023-10-05 | ホヤ レンズ タイランド リミテッド | レンズ評価方法、レンズ設計方法、眼鏡レンズの製造方法およびレンズ評価プログラム |
| US11364696B2 (en) | 2020-09-18 | 2022-06-21 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc | Apparatus for forming an ophthalmic lens |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5050981A (en) * | 1990-07-24 | 1991-09-24 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Lens design method and resulting aspheric lens |
| TW582549U (en) * | 1997-09-24 | 2004-04-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Calculating apparatus of diffraction efficiency of diffraction lens, lens with optical grating device and reading optical system |
| US6406146B1 (en) | 2000-09-21 | 2002-06-18 | Carl Zeiss, Inc. | Wavefront refractor simultaneously recording two hartmann-shack images |
| US6595642B2 (en) * | 2001-08-31 | 2003-07-22 | Adaptive Optics Associates, Inc. | Ophthalmic instrument having Hartmann wavefront sensor with extended source |
| US6575572B2 (en) * | 2001-09-21 | 2003-06-10 | Carl Zeiss Ophthalmic Systems, Inc. | Method and apparatus for measuring optical aberrations of an eye |
| US6637884B2 (en) * | 2001-12-14 | 2003-10-28 | Bausch & Lomb Incorporated | Aberrometer calibration |
| JP2004077154A (ja) | 2002-08-09 | 2004-03-11 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | レンズ性能評価装置 |
| US20050122473A1 (en) * | 2003-11-24 | 2005-06-09 | Curatu Eugene O. | Method and apparatus for aberroscope calibration and discrete compensation |
| DE10360570B4 (de) * | 2003-12-22 | 2006-01-12 | Carl Zeiss | Optisches Meßsystem und optisches Meßverfahren |
| CN100517569C (zh) * | 2004-08-09 | 2009-07-22 | 株式会社尼康 | 光学特性测量装置及方法、曝光装置及方法及组件制造方法 |
| JP4926068B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2012-05-09 | アボット・メディカル・オプティクス・インコーポレイテッド | 複数の位相板を有する眼用レンズ |
-
2008
- 2008-07-29 US US12/181,889 patent/US7777872B2/en active Active
- 2008-07-30 EP EP20080161425 patent/EP2023116A3/en not_active Withdrawn
- 2008-07-30 RU RU2008131544/28A patent/RU2468348C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2008-07-30 TW TW097128776A patent/TWI404520B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-07-31 IL IL193193A patent/IL193193A/en not_active IP Right Cessation
- 2008-07-31 CA CA 2638447 patent/CA2638447C/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-07-31 MX MX2008009812A patent/MX2008009812A/es active IP Right Grant
- 2008-07-31 AU AU2008203433A patent/AU2008203433B2/en not_active Ceased
- 2008-07-31 BR BRPI0805010-4A patent/BRPI0805010A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2008-07-31 AR ARP080103328A patent/AR067761A1/es not_active Application Discontinuation
- 2008-07-31 KR KR1020080075287A patent/KR101441901B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2008-07-31 CN CN2008101769415A patent/CN101393075B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-07-31 JP JP2008198685A patent/JP5547384B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20090013142A (ko) | 2009-02-04 |
| TWI404520B (zh) | 2013-08-11 |
| JP2009037241A (ja) | 2009-02-19 |
| JP5547384B2 (ja) | 2014-07-09 |
| CA2638447C (en) | 2015-04-21 |
| CN101393075B (zh) | 2013-03-27 |
| US7777872B2 (en) | 2010-08-17 |
| CA2638447A1 (en) | 2009-01-31 |
| KR101441901B1 (ko) | 2014-09-23 |
| BRPI0805010A2 (pt) | 2009-07-21 |
| EP2023116A2 (en) | 2009-02-11 |
| US20090033920A1 (en) | 2009-02-05 |
| EP2023116A3 (en) | 2010-04-21 |
| MX2008009812A (es) | 2009-03-05 |
| RU2468348C2 (ru) | 2012-11-27 |
| AU2008203433A1 (en) | 2009-02-19 |
| AU2008203433B2 (en) | 2014-04-17 |
| TW200913956A (en) | 2009-04-01 |
| AR067761A1 (es) | 2009-10-21 |
| CN101393075A (zh) | 2009-03-25 |
| IL193193A (en) | 2013-02-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2008131544A (ru) | Способ измерения дифракционных линз | |
| KR101373659B1 (ko) | 굴절률 분포 계측방법 및 굴절률 분포 계측장치 | |
| KR101393171B1 (ko) | 비구면을 정밀 고해상도로 측정하는 방법 | |
| JP2008506505A5 (ru) | ||
| US9255879B2 (en) | Method of measuring refractive index distribution, method of manufacturing optical element, and measurement apparatus of refractive index distribution | |
| WO2005052538A3 (en) | Lensometers and wavefront sensors and methods of measuring aberration | |
| JP2006527353A (ja) | 光学的結像系の結像品質を決定する方法 | |
| US20110315851A1 (en) | Focus information generating device and focus information generating method | |
| JP2013108932A (ja) | 屈折率分布測定方法および屈折率分布測定装置 | |
| CN101986097B (zh) | 在球面面形干涉检测中高精度消除离焦误差及倾斜误差的方法 | |
| JP2011124345A5 (ru) | ||
| JP2004528910A (ja) | 波面収差の測定方法および測定装置 | |
| TWI638133B (zh) | 非接觸式鏡片曲率半徑與厚度檢測裝置及其檢測方法 | |
| JP2012093348A5 (ru) | ||
| US8762099B2 (en) | Measurement method and measurement apparatus | |
| JP2021051038A (ja) | 収差推定方法、収差推定装置、プログラムおよび記録媒体 | |
| JP2007298281A (ja) | 被検体の面形状の測定方法及び測定装置 | |
| KR101002677B1 (ko) | 간섭계 장치의 시스템 오차 교정 방법 | |
| US9116044B2 (en) | System and method for determining size and location of minimum beam spot | |
| TWI550263B (zh) | 光學元件之量測方法、電腦可執行記錄媒體、系統及設備 | |
| JP2016158855A5 (ru) | ||
| JPH0240177B2 (ja) | Kogakuhikyumennokensaho | |
| JP2021004794A5 (ru) | ||
| JP2011127980A5 (ru) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160731 |