RU2008123480A - Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения - Google Patents
Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения Download PDFInfo
- Publication number
- RU2008123480A RU2008123480A RU2008123480/28A RU2008123480A RU2008123480A RU 2008123480 A RU2008123480 A RU 2008123480A RU 2008123480/28 A RU2008123480/28 A RU 2008123480/28A RU 2008123480 A RU2008123480 A RU 2008123480A RU 2008123480 A RU2008123480 A RU 2008123480A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- current
- blind
- bolometers
- radiation
- bolometer
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract 17
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 title claims abstract 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
- G01J5/22—Electrical features thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/75—Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/78—Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
1. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, содержащее матрицу элементарных болометров, которые чувствительны к падающему излучению и называются «активными» болометрами, и дополнительную строку болометров (12), которые по существу нечувствительны к излучению и называются «слепыми», причем активные и слепые болометры сформированы на подложке, в которой сформирована считывающая схема для последовательного обращения к каждой из строк матрицы и строке слепых болометров, причем каждый из болометров в одной и той же строке получает смещение одновременно, причем упомянутое устройство отличается тем, что ! считывающая схема также содержит источник для выработки опорного тока (Iref) на основе дополнительного слепого болометра (16), который также сформирован на подложке, и средство копирования опорного тока (Iref) в каждый из столбцов матрицы, состоящее из токового зеркала (17), ! каждый из столбцов матрицы содержит компенсационную структуру, способную шунтировать большую часть фонового электрического тока или тока общего уровня, содержащую слепой болометр (12) указанной дополнительной строки, связанный с интегратором (9, 10, 11) тока, способным интегрировать разность между током, текущим через активный болометр строки, которая считывается в данный момент, и током компенсации, выдаваемым слепым болометром (12); ! на стадии формирования сигнала или считывания указанной дополнительной строки копия опорного тока (Iref) выводится из тока, выдаваемого слепым болометром (12) через переключатель (18). ! 2. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрас
Claims (11)
1. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, содержащее матрицу элементарных болометров, которые чувствительны к падающему излучению и называются «активными» болометрами, и дополнительную строку болометров (12), которые по существу нечувствительны к излучению и называются «слепыми», причем активные и слепые болометры сформированы на подложке, в которой сформирована считывающая схема для последовательного обращения к каждой из строк матрицы и строке слепых болометров, причем каждый из болометров в одной и той же строке получает смещение одновременно, причем упомянутое устройство отличается тем, что
считывающая схема также содержит источник для выработки опорного тока (Iref) на основе дополнительного слепого болометра (16), который также сформирован на подложке, и средство копирования опорного тока (Iref) в каждый из столбцов матрицы, состоящее из токового зеркала (17),
каждый из столбцов матрицы содержит компенсационную структуру, способную шунтировать большую часть фонового электрического тока или тока общего уровня, содержащую слепой болометр (12) указанной дополнительной строки, связанный с интегратором (9, 10, 11) тока, способным интегрировать разность между током, текущим через активный болометр строки, которая считывается в данный момент, и током компенсации, выдаваемым слепым болометром (12);
на стадии формирования сигнала или считывания указанной дополнительной строки копия опорного тока (Iref) выводится из тока, выдаваемого слепым болометром (12) через переключатель (18).
2. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по п.1, отличающееся тем, что компенсационная структура содержит:
компенсационный болометр (12), имеющий сопротивление Rcomp,
линию питания (VSK), подключенную к одному из выводов сопротивления Rcomp,
инжекционный транзистор (14), подключенный, во-первых, к другому выводу сопротивления для обеспечения тока компенсации (Icomp) через сопротивление Rcomp посредством напряжения (GSK) на своем затворе и подключенный, во-вторых, к отрицательному выводу интегратора (9, 10, 11).
3. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по любому из пп.1 и 2, отличающееся тем, что источник для выработки опорного тока (Iref) состоит из
дополнительного слепого болометра (16), имеющего сопротивление Rcomp-ref,
инжекционного транзистора (15) подключенного к одному из выводов указанного сопротивления Rcomp-ref, который обеспечивает подачу смещения на указанное сопротивление,
линии питания (VSK), подключенной к другому выводу указанного сопротивления Rcomp-ref,
токового зеркала (17), подключенного к другому выводу транзистора.
4. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по п.2, отличающееся тем, что каждый из слепых болометров (12) состоит из одного или нескольких элементарных слепых болометров, соединенных друг с другом и совместно имеющих пренебрежимо малое тепловое сопротивление относительно подложки.
5. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по п.1, отличающееся тем, что токовое зеркало (17) содержит
первый опорный транзистор (19), расположенный вблизи источника опорного тока, исток которого подключен к заземлению системы, и сток и затвор которого подключены к истоку инжекционного транзистора (15) указанного источника опорного тока,
транзистор (20) копирования столбцов, затвор которого соединен (изопотенциален) с затвором первого опорного транзистора (19), исток которого заземлен, и сток которого подключен к переключателю (18), который соединяет систему для считывания слепых болометров с отрицательным входом интегратора.
6. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по п.5, отличающееся тем, что транзисторы, которые образуют токовое зеркало (17), могут быть типа n-канального МОП или типа р-канального МОП.
7. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по любому из пп.5 и 6, отличающееся тем, что компонент, пригодный для обеспечения омического падения напряжения, связан с каждым из двух транзисторов (19, 20), которые образуют токовое зеркало (17).
8. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по п.7, отличающееся тем, что компонент, который обеспечивает омическое падение напряжения, состоит из сопротивления (21, 22) или длинного транзистора.
9. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по любому из п.5 или 6, отличающееся тем, что используется токовое зеркало каскадного типа, причем каждое из плеч (19, 20) токового зеркала (17) содержит дополнительный транзистор (23, 24), сток которого подключен к затвору и истоку транзисторов (19, 20), соответственно, и исток которого подключен к заземлению схемы.
10. Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения, по любому из п.4 или 5, отличающееся тем, что переключатель (18), через который опорный ток Iref поступает на вход интегратора, остается замкнутым, когда все переключатели (4) выбора разомкнуты.
11. Система построения изображения, которая использует устройство для регистрации инфракрасного излучения по любому из пп.5-9 и включает в себя алгоритмическую функцию для коррекции выходных сигналов каждой строки каждого кадра как функцию конкретного «строчного» сигнала, полученного при замыкании переключателя (18), через который опорный ток Iref поступает на вход интегратора при считывании строки слепых болометров.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0756217 | 2007-07-02 | ||
FR0756217A FR2918450B1 (fr) | 2007-07-02 | 2007-07-02 | Dispositif de detection de rayonnement infrarouge a detecteurs bolometriques |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2008123480A true RU2008123480A (ru) | 2009-12-20 |
RU2460977C2 RU2460977C2 (ru) | 2012-09-10 |
Family
ID=39047571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2008123480/28A RU2460977C2 (ru) | 2007-07-02 | 2008-06-09 | Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7700919B2 (ru) |
EP (1) | EP2012101B1 (ru) |
CN (1) | CN101339073A (ru) |
CA (1) | CA2633407C (ru) |
DE (1) | DE602008000377D1 (ru) |
FR (1) | FR2918450B1 (ru) |
RU (1) | RU2460977C2 (ru) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8847160B2 (en) * | 2008-11-13 | 2014-09-30 | Hanvision Co., Ltd. | Semiconductor for sensing infrared radiation and method thereof |
US8039797B2 (en) * | 2008-11-13 | 2011-10-18 | Han Vision Co., Ltd. | Semiconductor for sensing infrared radiation and method thereof |
FR2941298B1 (fr) * | 2009-01-19 | 2011-02-18 | Ulis | Dispositif pour la detection d'un rayonnement electromagnetique et detecteur de rayonnement electromagnetique comportant de tels dispositifs. |
FR2946743B1 (fr) * | 2009-06-15 | 2012-01-27 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de detection de rayonnements electromagnetiques a detecteur bolometrique polarise, application a une detection infrarouge |
FR2951895B1 (fr) * | 2009-10-22 | 2012-07-13 | Ulis | Procede de correction des images delivrees par un detecteur non regule en temperature, et detecteur mettant en oeuvre un tel procede |
FR2968078A1 (fr) * | 2010-11-29 | 2012-06-01 | Commissariat Energie Atomique | Circuit électronique de polarisation et de lecture de détecteur thermique résistif |
FR2969763B1 (fr) * | 2010-12-22 | 2013-02-15 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de mesure et imageur comportant un tel systeme |
US8816268B1 (en) * | 2011-04-29 | 2014-08-26 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Input unit cell circuitry for transducer readout |
CN102494781B (zh) * | 2011-12-14 | 2013-04-10 | 电子科技大学 | 一种读出电路偏置结构 |
WO2016112360A1 (en) * | 2015-01-08 | 2016-07-14 | Flir Systems, Inc. | Devices and methods for infrared reference pixels |
CN103234642B (zh) * | 2013-04-15 | 2015-07-22 | 电子科技大学 | 一种红外焦平面阵列探测器的读出电路的积分前置电路 |
CN106155164B (zh) * | 2015-04-20 | 2017-11-28 | 扬智科技股份有限公司 | 电子装置与其集成电路 |
FR3038194B1 (fr) | 2015-06-26 | 2017-08-11 | Ulis | Correction de pixels parasites dans un capteur d'image infrarouge |
FR3038195B1 (fr) | 2015-06-26 | 2018-08-31 | Ulis | Detection de pixels parasites dans un capteur d'image infrarouge |
US10444364B2 (en) | 2016-05-19 | 2019-10-15 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Pinned photodiode pixels including current mirror-based background light suppression, and imaging devices including the same |
FR3068463B1 (fr) * | 2017-06-30 | 2019-07-26 | Continental Automotive France | Capteur en courant |
DE102018119710A1 (de) * | 2018-08-14 | 2020-02-20 | Universität Leipzig | Vorrichtung und verfahren zur bestimmung einer wellenlänge einer strahlung |
FR3088512B1 (fr) | 2018-11-09 | 2020-10-30 | Schneider Electric Ind Sas | Procede de traitement d'une image |
FR3095714B1 (fr) | 2019-04-30 | 2021-05-07 | Ulis | Procédé et dispositif pour retirer la rémanence dans une image infrarouge d'une scène statique |
FR3095713B1 (fr) | 2019-04-30 | 2021-05-07 | Ulis | Procédé et dispositif pour retirer la rémanence dans une image infrarouge d'une scène changeante |
FR3100612B1 (fr) * | 2019-09-05 | 2021-08-06 | Lynred | Capteur infrarouge a capture instantanee |
US10827090B1 (en) * | 2019-09-16 | 2020-11-03 | Innolux Corporation | Electronic device and method for operating electronic device |
RU2745484C1 (ru) * | 2020-07-27 | 2021-03-25 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт химии и механики" (ФГУП "ЦНИИХМ") | Устройство для регистрации инфракрасного излучения на основе матрицы болометрических детекторов со схемой компенсации неоднородности, учитывающей эффект саморазогрева |
CN112214953B (zh) * | 2020-10-20 | 2022-08-05 | 中国科学院新疆理化技术研究所 | 一种电路级总剂量辐射效应仿真方法 |
CN112857589B (zh) * | 2021-01-21 | 2022-04-15 | 北京大学 | 一种列级读出电路和一种非制冷红外热像仪 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU402753A1 (ru) * | 1971-07-22 | 1973-10-19 | Л. А. Дидык, В. Д. Кукуш, Л. С. Дидык , А. И. Тесленко Харьковский институт радиоэлектроники | Изобретения |
US5442176A (en) * | 1993-10-06 | 1995-08-15 | Raytheon Company | Infrared detector array |
JPH10122957A (ja) * | 1996-10-22 | 1998-05-15 | Nikon Corp | 熱型赤外線イメージセンサ |
KR20010070481A (ko) * | 2000-01-11 | 2001-07-25 | 마리 오 휴버 | 능동 픽셀 센서 회로 및 aps 회로 동작 방법 |
US7034301B2 (en) * | 2002-02-27 | 2006-04-25 | Indigo Systems Corporation | Microbolometer focal plane array systems and methods |
TWI349439B (en) * | 2004-03-22 | 2011-09-21 | Integrated Device Tech | Monolithic clock generator and timing/frequency reference |
WO2007015235A1 (en) * | 2005-08-04 | 2007-02-08 | Semi-Conductor Devices-An Elbit Systems-Rafael Partnership | Circuitry for balancing a differential type focal plane array of bolometer based infra-red detectors |
-
2007
- 2007-07-02 FR FR0756217A patent/FR2918450B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-05-28 US US12/128,070 patent/US7700919B2/en active Active
- 2008-06-04 CA CA2633407A patent/CA2633407C/fr active Active
- 2008-06-09 RU RU2008123480/28A patent/RU2460977C2/ru active
- 2008-06-10 CN CNA2008101110569A patent/CN101339073A/zh active Pending
- 2008-06-17 EP EP08305274A patent/EP2012101B1/fr not_active Not-in-force
- 2008-06-17 DE DE602008000377T patent/DE602008000377D1/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2460977C2 (ru) | 2012-09-10 |
EP2012101B1 (fr) | 2009-12-09 |
CA2633407A1 (fr) | 2009-01-02 |
FR2918450A1 (fr) | 2009-01-09 |
US7700919B2 (en) | 2010-04-20 |
FR2918450B1 (fr) | 2010-05-21 |
CA2633407C (fr) | 2016-10-04 |
DE602008000377D1 (de) | 2010-01-21 |
CN101339073A (zh) | 2009-01-07 |
EP2012101A1 (fr) | 2009-01-07 |
US20090008556A1 (en) | 2009-01-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2008123480A (ru) | Устройство для регистрации электромагнитного излучения, в особенности инфракрасного излучения | |
RU2638914C2 (ru) | Устройство фотоэлектрического преобразования и система фотоэлектрического преобразования | |
US6635857B1 (en) | Method and apparatus for a pixel cell architecture having high sensitivity, low lag and electronic shutter | |
RU2008123479A (ru) | Устройство для регистрации инфракрасного излучения на основе болометрических детекторов | |
US6777660B1 (en) | CMOS active pixel with reset noise reduction | |
US6046444A (en) | High sensitivity active pixel with electronic shutter | |
JP6321182B2 (ja) | 一定の電圧でバイアスされたフォトダイオードを有する画素回路及び関連する撮像方法 | |
WO2013046618A1 (en) | Sensor array, matrix-type sensor array and touch display | |
KR20190022467A (ko) | 샘플-앤드-홀드 기반 시간적 대비 비전 센서 | |
US7133074B1 (en) | Image sensor circuits including sampling circuits used therein for performing correlated double sampling | |
JPH03831B2 (ru) | ||
US20080210848A1 (en) | Column current source | |
US8344321B2 (en) | Infrared imaging device | |
US8183513B2 (en) | In-cell current subtraction for infrared detectors | |
JP4854410B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH04268866A (ja) | イメージセンサ | |
JP6137522B2 (ja) | 光電変換装置のリセット方法と、光電変換装置、光電変換アレイ、および撮像装置 | |
US9426388B2 (en) | Semiconductor device and infrared image pickup device provided with same | |
US7969493B2 (en) | Matching free dynamic digital pixel sensor | |
WO2007066762A1 (ja) | 固体撮像装置 | |
Zhou et al. | A high-precision and high-linearity readout integrated circuit for infrared focal plane array applications | |
US6191412B1 (en) | Gain and error correction circuitry | |
Gramegna et al. | Low-noise CMOS preamplifier-shaper for silicon drift detectors | |
US10205903B2 (en) | Compact readout circuit and a method for reading a pixel using a compact readout circuit | |
WO2020038463A1 (zh) | 光学指纹识别电路 |