RU2005101407A - Способ и устройство для поточного измерения характеристик поверхностного слоя металлургического изделия - Google Patents

Способ и устройство для поточного измерения характеристик поверхностного слоя металлургического изделия Download PDF

Info

Publication number
RU2005101407A
RU2005101407A RU2005101407/28A RU2005101407A RU2005101407A RU 2005101407 A RU2005101407 A RU 2005101407A RU 2005101407/28 A RU2005101407/28 A RU 2005101407/28A RU 2005101407 A RU2005101407 A RU 2005101407A RU 2005101407 A RU2005101407 A RU 2005101407A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
optical fiber
radiation
measuring
product
sensor
Prior art date
Application number
RU2005101407/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2316756C2 (ru
Inventor
Пьер-Жан КРОТ (FR)
Пьер-Жан КРОТ
Марко БИНИ (FR)
Марко БИНИ
Original Assignee
Юсинор (Fr)
Юсинор
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Юсинор (Fr), Юсинор filed Critical Юсинор (Fr)
Publication of RU2005101407A publication Critical patent/RU2005101407A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2316756C2 publication Critical patent/RU2316756C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/359—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/20—Metals
    • G01N33/208—Coatings, e.g. platings
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N2021/4704—Angular selective
    • G01N2021/4709—Backscatter
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N2021/4735—Solid samples, e.g. paper, glass
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G01N2021/4742—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres comprising optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/061—Sources
    • G01N2201/06113—Coherent sources; lasers
    • G01N2201/0612—Laser diodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08—Optical fibres; light guides

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (10)

1. Способ измерения характеристик поверхностного слоя (1) металлургических изделий, в частности, для обеспечения поточного измерения в процессе подачи указанного изделия во время его изготовления, согласно которому зону (13) поверхности изделия освещают падающим излучением (23), направляемым ортогонально этой поверхности, и затем измеряют, также в направлении, ортогональном поверхности, энергию излучения, отраженного освещаемой зоной (13), причем указанную зону (13) освещают посредством освещающего оптического волокна (2), соединенного с источником (24) падающего излучения с заданной длиной волны, а отраженное излучение измеряют посредством измерительного оптического волокна (3), соединенного сдатчиком (34), при этом свободные концы (21, 31) этих двух оптических волокон (2, 3) оголены и удерживаются в непосредственной близости друг от друга и параллельно друг другу.
2. Способ по п.1, согласно которому оголенные свободные концы (21, 31) оптических волокон (2, 3) удерживают на расстоянии от 5 до 50 мм от поверхности (1) изделия.
3. Способ по п.1, согласно которому используют излучение ближнего инфракрасного диапазона, предпочтительно с длиной волны 830 нм.
4. Способ по п.1, согласно которому отраженное излучение измеряют также в одном или более направлениях, наклонных к поверхности (1) изделия, чтобы оценить энергию, рассеиваемую упомянутой освещенной зоной (13).
5. Способ по п.4, согласно которому угол или углы, под которыми осуществляют упомянутые измерения, составляют от 0 до 30° относительно вертикали к упомянутой поверхности (1).
6. Устройство для измерения характеристик поверхностного слоя металлургического изделия, в частности для поточного измерения в процессе подачи указанного изделия во время его изготовления, упомянутое устройство включает измерительную головку (51), имеющую переднюю поверхность (55), предназначенную для размещения напротив поверхности (1) изделия, и включающую освещающее оптическое волокно (2) и измерительное оптическое волокно (3), причем свободный оголенный конец (21, 31) каждого из этих двух оптических волокон находится на передней поверхности (55) головки (51), и соответствующие концевые части указанных волокон расположены параллельно и так близко друг к другу, как только возможно, при этом другой конец освещающего оптического волокна (2) соединен с источником (24) светового излучения, а другой конец измерительного оптического волокна (3) соединен с датчиком (34); и упомянутое устройство также содержит средства (57) обработки сигнала, подаваемого упомянутым датчиком (34), для определения интенсивности излучения, которое подается в этот датчик по измерительному оптическому волокну (3).
7. Устройство по п.6, которое содержит датчик (52) расстояния для постоянного контроля или измерения расстояния между свободными оголенными концами (21, 31) оптических волокон и поверхностью (1) изделия.
8. Устройство по п.6, в котором измерительная головка (51) включает соединенное с отдельным датчиком (44) дополнительное оптическое волокно (4), свободная концевая часть (41) которого ориентирована наклонно относительно свободной концевой части (21) освещающего оптического волокна (2).
9. Устройство по п.6, в котором источником (24) излучения является лазерный диод с длиной волны излучения около 830 нм.
10. Применение способа по п.1 для движущейся стальной полосы.
RU2005101407/28A 2002-08-01 2003-07-29 Способ и устройство для поточного измерения характеристик поверхностного слоя металлургического изделия RU2316756C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0209845A FR2843197B1 (fr) 2002-08-01 2002-08-01 Procede et dispositif de mesure en ligne de caracteristiques d'un revetement de surface d'un produit metallurgique.
FR02/09845 2002-08-01

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2005101407A true RU2005101407A (ru) 2005-09-10
RU2316756C2 RU2316756C2 (ru) 2008-02-10

Family

ID=30129633

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005101407/28A RU2316756C2 (ru) 2002-08-01 2003-07-29 Способ и устройство для поточного измерения характеристик поверхностного слоя металлургического изделия

Country Status (11)

Country Link
US (1) US7253904B2 (ru)
EP (1) EP1525454A2 (ru)
JP (1) JP2005534915A (ru)
KR (1) KR20050042470A (ru)
CN (1) CN1672036A (ru)
AU (1) AU2003273488A1 (ru)
BR (1) BR0313016A (ru)
CA (1) CA2494094A1 (ru)
FR (1) FR2843197B1 (ru)
RU (1) RU2316756C2 (ru)
WO (1) WO2004013619A2 (ru)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4174582B2 (ja) * 2004-03-29 2008-11-05 ジヤトコ株式会社 金属表面の検査装置
FR2868524B1 (fr) * 2004-03-31 2006-07-21 Ecole Norm Superieure Cachan Dispositif perfectionne de mesure optique de rugosite d'une surface, dispositif de controle du positionnement du prisme d'un tel dispositif, procede de contole du positionnement de ce prisme et procede de positionnement de ce prisme
WO2008032834A1 (fr) 2006-09-14 2008-03-20 Panasonic Corporation Dispositif d'identification des métaux et procédé d'identification des métaux
EP1972930B1 (de) * 2007-03-19 2019-11-13 Concast Ag Verfahren zur Erkennung von Oberflächenmerkmalen metallurgischer Erzeugnisse, insbesondere Strangguss- und Walzerzeugnisse, sowie eine Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US8879066B2 (en) * 2012-10-26 2014-11-04 Ppg Industries Ohio, Inc. Texture analysis of a painted surface using specular angle data
CN103884687B (zh) * 2014-03-28 2016-09-07 福建中烟工业有限责任公司 滤棒成型机热熔胶喷涂量的检测方法及装置
GB201406343D0 (en) * 2014-04-08 2014-05-21 Univ Nottingham Capillary refill measurement
RU2604563C1 (ru) * 2015-05-29 2016-12-10 Денис Анатольевич Вечтомов Устройство для определения степени термического поражения материалов и конструкций в ходе пожарно-технической экспертизы путём анализа оптических свойств материала (ксл-01)
RU2700722C1 (ru) * 2018-11-06 2019-09-19 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия Ракетных войск стратегического назначения имени Петра Великого" МО РФ Способ исследований температурных зависимостей оптических характеристик полупроводниковых материалов
EP4179294A1 (en) * 2020-07-07 2023-05-17 Gamma Scientific Inc. Retroreflectometer for non-contact measurements of optical characteristics

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3827963A (en) * 1973-01-02 1974-08-06 Electrometallurgical Sales Reflectivity-responsive control system for electrolytic finishing apparatus
US4278353A (en) * 1980-04-11 1981-07-14 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Optical inspection of gold surfaces
JPS6056425B2 (ja) * 1982-06-01 1985-12-10 新日本製鐵株式会社 亜鉛メツキ鋼板の合金化制御方法
CH663473A5 (de) * 1983-04-26 1987-12-15 Volpi Ag Verfahren zum optischen bestimmen der oberflaechenbeschaffenheit von festkoerpern.
JPS63145926A (ja) * 1986-12-10 1988-06-18 Hoya Corp カラ−センサ
EP0319769B1 (de) * 1987-12-03 1993-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Farbsensoranordnung für die Erkennung von Gegenständen mit farbigen Oberflächen
JPH0559518A (ja) * 1991-08-29 1993-03-09 Kobe Steel Ltd 亜鉛メツキ鋼板の合金化度測定方法
JPH08313223A (ja) * 1995-05-16 1996-11-29 Ls Electro Galvanizing Co 移動ストリップを監視する方法と装置
US5880826A (en) 1997-07-01 1999-03-09 L J Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
JP3290586B2 (ja) * 1996-03-13 2002-06-10 セイコーインスツルメンツ株式会社 走査型近視野光学顕微鏡
KR100328926B1 (ko) * 1997-12-26 2002-05-09 이구택 레이저를 이용한 도금강판의 온-라인 합금화도측정방법
US6519032B1 (en) * 1998-04-03 2003-02-11 Symyx Technologies, Inc. Fiber optic apparatus and use thereof in combinatorial material science
KR100647749B1 (ko) 1998-11-24 2006-11-24 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 광산란 측정장치
US6597185B1 (en) * 2000-09-20 2003-07-22 Neocera, Inc. Apparatus for localized measurements of complex permittivity of a material

Also Published As

Publication number Publication date
US20060102831A1 (en) 2006-05-18
RU2316756C2 (ru) 2008-02-10
CA2494094A1 (fr) 2004-02-12
CN1672036A (zh) 2005-09-21
EP1525454A2 (fr) 2005-04-27
AU2003273488A1 (en) 2004-02-23
WO2004013619A2 (fr) 2004-02-12
JP2005534915A (ja) 2005-11-17
FR2843197B1 (fr) 2005-08-05
US7253904B2 (en) 2007-08-07
WO2004013619A3 (fr) 2004-04-15
AU2003273488A8 (en) 2004-02-23
KR20050042470A (ko) 2005-05-09
FR2843197A1 (fr) 2004-02-06
BR0313016A (pt) 2005-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101161881B1 (ko) 투명 기판의 결함 검출 검사장치
ATE364173T1 (de) Verwendung von hochwellenzahl-ramanspektroskopie zur messung von gewebe
ATE257582T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur objektuntersuchung
US4956558A (en) System for measuring film thickness
RU2005101407A (ru) Способ и устройство для поточного измерения характеристик поверхностного слоя металлургического изделия
ATE492796T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur optischen ermittlung der anwesenheit von kohlendioxid
NO20010910D0 (no) FremgangsmÕte og apparat til mÕling av filmtykkelse
WO2009049834A3 (en) Optical sensor device
DE59410197D1 (de) Optisches Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Substanzen an Sensoroberflächen
WO2010060915A3 (de) Messvorrichtung und verfahren für spektroskopische messungen mit led beleuchtung
US6757058B1 (en) Fiber-optic light line for use in an inspection system
WO1998052025A1 (fr) Procede et instrument de controle de surface
FR2813391B1 (fr) Procede et appareil de mesure en transmission de la structure geometrique d'un composant optique
ATE258679T1 (de) Vorrichtung und verfahren für die messung optischer eigenschaften mittels rückwirkender kontrolle
ATE305131T1 (de) Optoelektronische formerfassung durch chromatische kodierung mit beleuchtungsebenen
DE60322716D1 (de) Brechungsindexbestimmung mittels mikro-interferometrischer reflexionsmessungen
ATE88560T1 (de) Anordnung zur optischen erfassung raeumlicher unebenheiten in der struktur eines zu untersuchenden objekts.
DE69806994D1 (de) Vorrichtung zum Messen der Dimensionen eines langgestreckten Objektes mit einer im Durchschnitt gekrümmten Kontur
ATE350656T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der chromatischen dispersion von optischen komponenten
WO2004029545A3 (en) Method and apparatus for determining the wavelength of an input light beam
CA2404891A1 (en) Method of in-vivo measurement of fat content of a body and apparatus therefor
ATE325330T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur durchführung interferometrischer messungen
JPS6461622A (en) Temperature measuring instrument
DE69942775D1 (de) Analytische mengenbestimmung und prozesssteuerung
CN200958977Y (zh) 基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20090730