RU2002132829A - Силовой полупроводниковый модуль - Google Patents
Силовой полупроводниковый модульInfo
- Publication number
- RU2002132829A RU2002132829A RU2002132829/28A RU2002132829A RU2002132829A RU 2002132829 A RU2002132829 A RU 2002132829A RU 2002132829/28 A RU2002132829/28 A RU 2002132829/28A RU 2002132829 A RU2002132829 A RU 2002132829A RU 2002132829 A RU2002132829 A RU 2002132829A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- submodule
- main
- main terminal
- power semiconductor
- insulating layer
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 15
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
Claims (14)
1. Силовой полупроводниковый модуль, содержащий два электрических главных вывода, расположенных на противолежащих, преимущественно параллельных главных поверхностях модуля, причем первый из обоих главных выводов выполнен в виде верхней закрывающей электропроводящей платы (11), электроизолирующий корпус (5), соединенный с верхней закрывающей платой и расположенный между обоими главными выводами, по меньшей мере, два субмодуля (21, 22), причем субмодули содержат два электрических главных вывода (3, 4), расположенных каждый на одной из двух противолежащих, преимущественно параллельных главных поверхностей субмоделей, содержат, по меньшей мере, по одному чипу с двумя главными электродами, электрически соединенными с главными выводами (3, 4) субмодуля, расположены возле друг друга, нагружены усилием прижатия и одной из обеих главных поверхностей прижаты к верхней закрывающей электропроводящей плате (11), отличающийся тем, что, по меньшей мере, два субмодуля (21, 22) соединены электрически последовательно.
2. Силовой полупроводниковый модуль по п.1, отличающийся тем, что последовательно соединенные субмодули (21, 22) электрически соединены между собой каждый через главный вывод (3, 4) и соединительный элемент (71, 72, 8), между соединенными между собой главными выводами (3, 4) субмодулей (21, 22) и соответствующей главной поверхностью модуля расположен электроизоляционный слой (61, 62).
3. Силовой полупроводниковый модуль по п.2, отличающийся тем, что первый главный вывод (3, 4), по меньшей мере, первого субмодуля (21) электрически соединен с верхней электропроводящей закрывающей платой (11), между вторым главным выводом (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и главной поверхностью модуля, противолежащей верхней закрывающей электропроводящей плате (11), расположен первый электроизоляционный слой (61), между первым главным выводом (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) и верхней закрывающей электропроводящей платой (11) расположен второй электроизоляционный слой (62), второй главный вывод (4), по меньшей мере, второго субмодуля (22) электрически соединен со вторым главным выводом модуля, второй главный вывод (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) электрически подключен к первому главному выводу (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) через соединение (71, 72, 8).
4. Силовой полупроводниковый модуль по п.3, отличающийся тем, что соединение состоит из первого электропроводящего слоя (71) межсоединений, расположенного между вторым главным выводом (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и первым изоляционным слоем (61), второго электропроводящего слоя (72) межсоединений, расположенного между первым главным выводом (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) и вторым изоляционным слоем (62), соединительного элемента (8), электрически соединяющего первый слой (71) межсоединений со вторым слоем (72) межсоединений.
5. Силовой полупроводниковый модуль по п.2, отличающийся тем, что между первым главным выводом (3, 4), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и главной поверхностью модуля, противолежащей верхней закрывающей электропроводящей панели (11), расположен первый электроизоляционный слой (61), первый главный вывод (3, 4), по меньшей мере, первого субмодуля (21) электрически подключен к верхней закрывающей электропроводящей плате (11) через первое соединение (71,8), между вторым главным выводом (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и верхней закрывающей электропроводящей платой (11), а также между первым главным выводом (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) и верхней закрывающей платой (11) расположен второй электроизоляционный слой (62), второй главный вывод (4), по меньшей мере, второго субмодуля (22) электрически соединен со вторым главным выводом модуля, второй главный вывод (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) электрически подключен к первому главному выводу (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) через соединение (72).
6. Силовой полупроводниковый модуль по п.5, отличающийся тем, что первое соединение состоит из первого электропроводящего слоя (71) межсоединений, расположенного между первым главным выводом (3, 4), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и первым изоляционным слоем (61), соединительного элемента (8), электрически соединяющего первый слой (71) межсоединений с верхней закрывающей электропроводящей платой 11), второе соединение состоит из второго электропроводящего слоя (72) межсоединений, расположенного между вторым главным выводом (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и вторым изоляционным слоем (62), а также между первым главным выводом (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) и вторым изоляционным слоем (62).
7. Силовой полупроводниковый модуль по п.6, отличающийся тем, что во втором слое (72) межсоединений и во втором изоляционном слое (61) выполнено отверстие, соединительный элемент (8) для соединения первого слоя (71) межсоединений с верхней закрывающей электропроводящей платой (11) пропущен через отверстие.
8. Силовой полупроводниковый модуль по п.6 или 7, отличающийся тем, что второй слой (72) межсоединений в зоне между первым главным выводом (3), по меньшей мере, второго субмодуля (22) и вторым изоляционным слоем (62) выполнен с большей толщиной, в частности, превышающей сумму толщин первого изоляционного слоя (61) и первого слоя (71) межсоединений, чем на участке между вторым главным выводом (4, 3), по меньшей мере, первого субмодуля (21) и вторым изоляционным слоем (62).
9. Силовой полупроводниковый модуль по любому из пп.3-8, отличающийся тем, что первый изоляционный слой (62) является частью изолирующей несущей платы (6), в зоне главной поверхности модуля, противоположной верхней закрывающей электропроводящей плате (11), выполнено, по меньшей мере, одно отверстие (51) в корпусе (5), изолирующая несущая плата (6) установлена в этом отверстии (51).
10. Силовой полупроводниковый модуль по п.9, отличающийся тем, что изолирующая несущая плата (6) расположена с возможностью перемещения, перпендикулярного к верхней закрывающей электропроводящей плате (11).
11. Силовой полупроводниковый модуль по п.10, отличающийся тем, что в зоне отверстия (51) предусмотрены средства для ограничения диапазона перемещений изолирующей несущей платы (6), в частности, упоры, расположенные на корпусе (5) и/или на первом изоляционном слое (62).
12. Силовой полупроводниковый модуль по любому из пп.1-11, отличающийся тем, что главные выводы (3, 4) и/или дополнительные выводы (G21, G22) субмодулей выведены из корпуса модуля для контактирования с соединительными проводами.
13. Силовой полупроводниковый модуль по п.12, отличающийся тем, что верхняя закрывающая электропроводящая плата (11), соединительные провода, расположенные между субмодулем и верхней закрывающей платой изоляционные слои (62) и расположенные между субмодулем и верхней закрывающей платой (11) слои (72) межсоединений выполнены в виде предварительно собранного верхнего закрывающего устройства (10).
14. Силовой полупроводниковый модуль по п.13, отличающийся тем, что верхняя закрывающая электропроводящая плата (11), соединительные провода и расположенные между субмодулем и верхней закрывающей платой слои (72) межсоединений выполнены залитыми в электроизоляционном материале.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP01811188.0A EP1318547B1 (de) | 2001-12-06 | 2001-12-06 | Leistungshalbleiter-Modul |
EP01811188.0 | 2001-12-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2002132829A true RU2002132829A (ru) | 2004-06-10 |
RU2309482C2 RU2309482C2 (ru) | 2007-10-27 |
Family
ID=8184292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2002132829/28A RU2309482C2 (ru) | 2001-12-06 | 2002-12-05 | Силовой полупроводниковый модуль |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6738258B2 (ru) |
EP (1) | EP1318547B1 (ru) |
JP (1) | JP4669650B2 (ru) |
CN (1) | CN100392856C (ru) |
RU (1) | RU2309482C2 (ru) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2855912B1 (fr) * | 2003-06-04 | 2006-04-14 | Alstom | Cellule de commutation de puissance, et procede de fabrication de la cellule |
CN1320651C (zh) * | 2004-11-03 | 2007-06-06 | 北京中星微电子有限公司 | 一种具有多个内部功能块的芯片及其供电降噪的方法 |
US7190581B1 (en) | 2005-01-11 | 2007-03-13 | Midwest Research Institute | Low thermal resistance power module assembly |
DE102006008632B4 (de) * | 2006-02-21 | 2007-11-15 | Infineon Technologies Ag | Leistungshalbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung |
US8089150B2 (en) * | 2006-11-14 | 2012-01-03 | Rinehart Lawrence E | Structurally robust power switching assembly |
JP2008166485A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | モジュール |
US8289714B2 (en) * | 2008-01-04 | 2012-10-16 | APlus Mobile Inc. | Ruggedized computer and aspects thereof |
DE102008012570B4 (de) * | 2008-03-04 | 2014-02-13 | Infineon Technologies Ag | Leistungshalbleitermodul-System, Leistungshalbleitermodulanordnung und Verfahren zur Herstellung einer Leistungshalbleitermodulanordnung |
US8339823B2 (en) | 2008-03-20 | 2012-12-25 | Abb Technology Ag | Voltage source converter |
US7817422B2 (en) * | 2008-08-18 | 2010-10-19 | General Electric Company | Heat sink and cooling and packaging stack for press-packages |
US8120915B2 (en) * | 2008-08-18 | 2012-02-21 | General Electric Company | Integral heat sink with spiral manifolds |
US20100038774A1 (en) * | 2008-08-18 | 2010-02-18 | General Electric Company | Advanced and integrated cooling for press-packages |
US8331071B2 (en) * | 2009-06-12 | 2012-12-11 | Northern Power Systems Utility Scale, Inc. | Interconnection switching system and method for connecting a distributed energy resource to an electrical power system |
US8218320B2 (en) | 2010-06-29 | 2012-07-10 | General Electric Company | Heat sinks with C-shaped manifolds and millichannel cooling |
DE102011075515B4 (de) * | 2011-05-09 | 2015-01-08 | Infineon Technologies Bipolar Gmbh & Co. Kg | Verbessertes Leistungshalbleiterbauelementmodul |
US9095054B1 (en) * | 2012-10-12 | 2015-07-28 | Arkansas Power Electronics International, Inc. | High temperature equalized electrical parasitic power packaging method for many paralleled semiconductor power devices |
CN104465632A (zh) * | 2014-07-21 | 2015-03-25 | 孙巍巍 | 一种新型tvs晶片封装方法 |
US9504186B2 (en) * | 2014-11-14 | 2016-11-22 | Caterpillar Inc. | Heatpipe imbedded coldplate enhancing IGBT heat spreading |
JP6301857B2 (ja) | 2015-02-24 | 2018-03-28 | 株式会社東芝 | 半導体モジュール |
EP3131377A1 (de) * | 2015-08-14 | 2017-02-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Phasenmodul für einen stromrichter |
WO2018185974A1 (ja) * | 2017-04-06 | 2018-10-11 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法、ならびに電力変換装置 |
JP6765336B2 (ja) * | 2017-04-06 | 2020-10-07 | 三菱電機株式会社 | 電力用半導体装置およびその製造方法、ならびに電力変換装置 |
CN107317464B (zh) * | 2017-08-25 | 2020-04-28 | 青岛中加特变频电机有限公司 | 功率模块及变频器 |
JP7142183B2 (ja) * | 2019-07-09 | 2022-09-26 | ヒタチ・エナジー・スウィツァーランド・アクチェンゲゼルシャフト | 集積サージアレスタを有するパワー半導体モジュール |
CN115662975A (zh) * | 2022-10-27 | 2023-01-31 | 北京智慧能源研究院 | 一种功率芯片封装结构 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3183407A (en) * | 1963-10-04 | 1965-05-11 | Sony Corp | Combined electrical element |
DE7512573U (de) * | 1975-04-19 | 1975-09-04 | Semikron Gesellschaft Fuer Gleichri | Halbleitergleichrichteranordnung |
US4853762A (en) * | 1986-03-27 | 1989-08-01 | International Rectifier Corporation | Semi-conductor modules |
US4965710A (en) * | 1989-11-16 | 1990-10-23 | International Rectifier Corporation | Insulated gate bipolar transistor power module |
US5031069A (en) * | 1989-12-28 | 1991-07-09 | Sundstrand Corporation | Integration of ceramic capacitor |
DE4418426B4 (de) * | 1993-09-08 | 2007-08-02 | Mitsubishi Denki K.K. | Halbleiterleistungsmodul und Verfahren zur Herstellung des Halbleiterleistungsmoduls |
JP3201187B2 (ja) * | 1994-12-08 | 2001-08-20 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
DE19530264A1 (de) * | 1995-08-17 | 1997-02-20 | Abb Management Ag | Leistungshalbleitermodul |
JP3168901B2 (ja) * | 1996-02-22 | 2001-05-21 | 株式会社日立製作所 | パワー半導体モジュール |
JP3448159B2 (ja) * | 1996-06-20 | 2003-09-16 | 株式会社東芝 | 電力用半導体装置 |
WO1998012748A1 (fr) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Hitachi, Ltd. | Module a semiconducteur de jonction |
DE19726534A1 (de) * | 1997-06-23 | 1998-12-24 | Asea Brown Boveri | Leistungshalbleitermodul mit geschlossenen Submodulen |
US6147869A (en) * | 1997-11-24 | 2000-11-14 | International Rectifier Corp. | Adaptable planar module |
GB9725960D0 (en) * | 1997-12-08 | 1998-02-04 | Westinghouse Brake & Signal | Encapsulating semiconductor chips |
JP2000049280A (ja) * | 1998-07-31 | 2000-02-18 | Toshiba Corp | 半導体装置とその製造方法 |
JP4192396B2 (ja) * | 2000-04-19 | 2008-12-10 | 株式会社デンソー | 半導体スイッチングモジュ−ル及びそれを用いた半導体装置 |
-
2001
- 2001-12-06 EP EP01811188.0A patent/EP1318547B1/de not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-11-25 US US10/302,824 patent/US6738258B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-12-05 JP JP2002353268A patent/JP4669650B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-05 RU RU2002132829/28A patent/RU2309482C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2002-12-06 CN CNB021540438A patent/CN100392856C/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2002132829A (ru) | Силовой полупроводниковый модуль | |
US11018117B2 (en) | Half-bridge module with coaxial arrangement of the DC terminals | |
US6885096B2 (en) | Semiconductor device having at least three power terminals superposed on each other | |
US7301235B2 (en) | Semiconductor device module with flip chip devices on a common lead frame | |
CN100466235C (zh) | 包括两个设置在公用夹具中的半导体管芯的半导体封装 | |
US8054641B2 (en) | Electronic unit | |
KR101238542B1 (ko) | 전력 반도체 모듈 및 이에 대한 제조 방법 | |
US7535076B2 (en) | Power semiconductor device | |
RU2309482C2 (ru) | Силовой полупроводниковый модуль | |
KR20070119503A (ko) | 전기 절연된 접속 소자를 구비한 전력 반도체 모듈 | |
US20230116118A1 (en) | Free Configurable Power Semiconductor Module | |
RU2002132828A (ru) | Силовой полупроводниковый субмодуль и силовой полупроводниковый модуль | |
RU98111744A (ru) | Силовой полупроводниковый модуль с замкнутыми подмодулями | |
KR970703617A (ko) | 전도선을 가진 리드프레임 리드를 포함한 고밀도 집적회로 조립체(a high density integrated circuit assembly combining leadframe leads with conductive traces) | |
KR100635681B1 (ko) | 매트릭스 컨버터 | |
JP7240526B2 (ja) | 電子スイッチングユニット | |
KR101695499B1 (ko) | 하이브리드 축압기를 구비하는 압력 접속식 전력 반도체 모듈 | |
US6664629B2 (en) | Semiconductor device | |
RU2335822C1 (ru) | Многокристальный модуль | |
RU2302686C2 (ru) | Силовой полупроводниковый модуль | |
US6989590B2 (en) | Power semiconductor device with a control circuit board that includes filled through holes | |
CN111863786A (zh) | 具有功率半导体开关的功率半导体模块 | |
US20230369186A1 (en) | Power module package | |
WO2024043008A1 (ja) | 半導体装置 | |
US8749051B2 (en) | Semiconductor device |