RU2002128663A - Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления - Google Patents
Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществленияInfo
- Publication number
- RU2002128663A RU2002128663A RU2002128663/28A RU2002128663A RU2002128663A RU 2002128663 A RU2002128663 A RU 2002128663A RU 2002128663/28 A RU2002128663/28 A RU 2002128663/28A RU 2002128663 A RU2002128663 A RU 2002128663A RU 2002128663 A RU2002128663 A RU 2002128663A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ionization
- electrodes
- atoms
- molecules
- energy
- Prior art date
Links
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 title 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims 22
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 22
- 125000004429 atoms Chemical group 0.000 claims 21
- 210000002381 Plasma Anatomy 0.000 claims 12
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims 2
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 2
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims 2
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium(0) Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- 230000001264 neutralization Effects 0.000 claims 2
- 230000001678 irradiating Effects 0.000 claims 1
Claims (40)
1. Способ анализа примесей в основном газе, заключающийся в том, что ионизируют атомы или молекулы примесей при столкновениях с частицами определенной энергии в ионизационной камере и измеряют ток на один из, по крайней мере, двух электродов, находящихся в указанной камере, в зависимости от приложенного между электродами напряжения, отличающийся тем, что давление основного газа и пространственную конфигурацию ионизационной камеры выбирают так, чтобы расстояние от любой точки внутри ионизационной камеры до ближайшей стенки или одного из указанных электродов было меньше средней длины перемещения электронов до момента потери заданной доли кинетической энергии, обеспечивают эквипотенциальность той области пространства ионизационной камеры, где происходят ионизирующие столкновения, по зависимости тока от приложенного между электродами напряжения определяют количество электронов с характеристическими значениями энергии, возникающих при ионизации указанных атомов или молекул, судят о составе примесей по параметрам этих электронов.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве основного газа используют инертный газ.
3. Способ по п.2, отличающийся тем, что в качестве основного газа используют гелий.
4. Способ по пп.1-3, отличающийся тем, что используют основной газ при давлении от 10 до 105 Па и выше.
5. Способ по пп.1-4, отличающийся тем, что приложенное напряжение между указанными электродами изменяют в диапазоне от 0 до порога ионизации основного газа, а количество электронов с характеристическими значениями энергии определяют по второй производной зависимости тока от приложенного напряжения.
6. Способ по пп.1-5, отличающийся тем, что для создания эквипотенциальности указанной области пространства ионизационной камеры используют импульсный источник энергии для образования в ионизационной камере плазмы послесвечения, атомы или молекулы примесей ионизируют в плазме послесвечения при столкновениях с метастабильными атомами или молекулами основного газа, образующимися при воздействии указанного импульсного источника энергии, указанный ток измеряют с задержкой после воздействия указанного импульсного источника энергии, при этом обеспечивают такую концентрацию и температуру заряженных частиц в указанной плазме послесвечения в момент измерения, что Дебаевский радиус много меньше характерных размеров ионизационной камеры.
7. Способ по п.6, отличающийся тем, что в качестве указанного импульсного источника энергии используют импульсный газовый разряд между указанными электродами.
8. Способ по п.6, отличающийся тем, что в качестве указанного импульсного источника энергии используют импульсное лазерное излучение, создающее плазму между указанными электродами.
9. Способ по пп.6-8, отличающийся тем, что ионизируют атомы или молекулы примесей при облучении плазмы послесвечения фотонами заданной энергии от внешнего источника.
10. Способ по п.9, отличающийся тем, что ионизируют атомы или молекулы примесей при облучении фотонами, резонансными для атомов или молекул основного газа.
11. Способ по пп.1-10, отличающийся тем, что используют указанные электроды плоской формы, расположенные параллельно друг другу и одновременно выполняющие роль стенок ионизационной камеры.
12. Способ по пп.1-11, отличающийся тем, что в ионизационной камере устанавливают N изолированных катодов, на каждый из которых подают индивидуальное значение напряжения относительно одного или нескольких анодов, измеряют ток на каждый из указанных N катодов, по совокупности измеренных значений тока находят количество электронов с характеристическими значениями энергии, возникающих при ионизации указанных атомов или молекул примесей.
13. Способ по пп.1-5, отличающийся тем, что размещают проводящую сетку между указанными электродами и электрически соединяют ее с анодом для создания эквипотенциального пространства между ними, ионизируют атомы или молекулы примесей при облучении пространства между сеткой и анодом нейтральными частицами заданной энергии от внешнего источника.
14. Способ по п.13, отличающийся тем, что используют указанные электроды и сетку плоской формы и располагают их параллельно друг другу, при этом указанные электроды одновременно используют в качестве стенок ионизационной камеры.
15. Способ по пп.13 и 14, отличающийся тем, что ионизируют атомы или молекулы примесей при облучении фотонами, резонансными для атомов основного газа.
16. Способ по пп.13-15, отличающийся тем, что контролируют заряд, попавший на катод, при превышении заданного значения этого заряда выключают указанный внешний источник и прикладывают электрическое поле до момента удаления заряженных частиц из пространства между электродами, а затем снова включают внешний источник и измерение тока.
17. Способ по пп.13-16, отличающийся тем, что в ионизационной камере устанавливают N изолированных катодов, на каждый из которых подают индивидуальное значение напряжения относительно одного или нескольких анодов и соответствующих одной или нескольких сеток, измеряют индивидуально ток на каждый из указанных N катодов, по совокупности измеренных значений тока находят количество электронов с характеристическими значениями энергии, возникающих при ионизации указанных атомов или молекул примесей.
18. Способ по пп.1-17, отличающийся тем, что в качестве примеси анализируют состав материала мишени, распыляемой воздействием дополнительного источника энергии, при этом обеспечивают поступление примеси в ионизационную камеру в смеси с основным газом.
19. Способ по п.18, отличающийся тем, что используют указанную мишень в качестве катода, распыляемого предварительным плазменным разрядом, зажигаемым с помощью указанного дополнительного источника энергии.
20. Способ по пп.1-19, отличающийся тем, что молекулы примесей предварительно подвергают диссоциации на атомы в дополнительном плазменном разряде и производят анализ атомарного состава примесей.
21. Ионизационный детектор состава примесей в основном газе, включающий наполненную указанными газами ионизационную камеру с, по крайней мере, двумя электродами, источник энергии, создающий частицы с заданной энергией для ионизации атомов или молекул примеси, измерительную систему, подключенную к одному из электродов для регистрации тока в зависимости от напряжения, приложенного между электродами, отличающийся тем, что давление основного газа и пространственная конфигурация ионизационной камеры выбраны так, чтобы расстояние от любой точки внутри ионизационной камеры до ближайшей стенки или одного из указанных электродов было меньше средней длины перемещения электронов до момента потери заданной доли кинетической энергии, обеспечена эквипотенциальность всей области ионизационной камеры, где происходит ионизация примесей, а измерительная система выполнена с возможностью определения количества электронов с характеристическими значениями энергии, возникающих при ионизации указанных примесей.
22. Ионизационный детектор по п.21, отличающийся тем, что в качестве основного газа используется инертный газ.
23. Ионизационный детектор по п.22, отличающийся тем, что в качестве основного газа используется гелий.
24. Ионизационный детектор по пп.21-23, отличающийся тем, что давление основного газа составляет от 10 до 105 Па и выше.
25. Ионизационный детектор по пп.21-24, отличающийся тем, приложенное напряжение между указанными электродами изменяется в диапазоне от 0 до порога ионизации основного газа, а указанная измерительная система выполнена с возможностью определения второй производной зависимости тока от приложенного напряжения для определения количества электронов с характеристическими значениями энергии.
26. Ионизационный детектор по пп.21-25, отличающийся тем, что в качестве указанного источника энергии установлен импульсный генератор плазмы послесвечения в ионизационной камере, измерительная система выполнена с возможностью измерения указанного тока с задержкой после воздействия указанного импульсного генератора плазмы, при этом генератор плазмы создает концентрацию метастабильных атомов основного газа, достаточную для регистрации электронов с характеристическими значениями энергии, образующихся при ионизации примесей указанными метастабильными атомами, а также такую концентрацию и температуру заряженных частиц в указанной плазме послесвечения, что к моменту измерения тока Дебаевский радиус все еще много меньше характерных размеров ионизационной камеры.
27. Ионизационный детектор по п.26, отличающийся тем, что указанный источник энергии обеспечивает зажигание импульсного газового разряда между указанными электродами.
28. Ионизационный детектор по п.26, отличающийся тем, что в качестве указанного источника энергии установлен импульсный лазер, создающий плазму между указанными электродами.
29. Ионизационный детектор по пп.26-28, отличающийся тем, что для ионизации атомов или молекул примесей в плазме послесвечения установлен дополнительный внешний источник фотонов заданной энергии.
30. Ионизационный детектор по п.29, отличающийся тем, что в качестве указанного дополнительного внешнего источника установлен источник фотонов, резонансных для атомов или молекул основного газа.
31. Ионизационный детектор по пп.21-30, отличающийся тем, что указанные электроды выполнены плоской формы, расположены параллельно друг другу и выполняют роль стенок ионизационной камеры.
32. Ионизационный детектор по пп.21-31, отличающийся тем, что в ионизационной камере установлено N изолированных катодов, на каждый из которых подано индивидуальное значение напряжения относительно еще одного или нескольких общих анодов, указанная измерительная система выполнена с возможностью индивидуального измерения тока на каждый из указанных N катодов в зависимости от поданного напряжения.
33. Ионизационный детектор по пп.21-25, отличающийся тем, что между указанными электродами размещена проводящая сетка, электрически соединенная с анодом для создания эквипотенциального пространства между ними, а также установлен внешний источник нейтральных частиц заданной энергии так, чтобы атомы или молекулы примесей ионизовались при облучении пространства между сеткой и анодом
34. Ионизационный детектор по п.33, отличающийся тем, что указанные электроды и сетка выполнены плоской формы и расположены параллельно друг другу, а указанные электроды дополнительно выполняют роль стенок ионизационной камеры.
35. Ионизационный детектор по пп.33 и 34, отличающийся тем, что указанный внешний источник излучает фотоны, резонансные для атомов или молекул основного газа.
36. Ионизационный детектор по пп.33-35, отличающийся тем, что указанная измерительная система выполнена с возможностью контроля тока на катод, а при превышении заданного значения этого тока в детекторе измерительная система обеспечивает выключение указанного внешнего источника, приложение электрического поля до момента удаления заряженных частиц из пространства между электродами, а затем новое включение указанного внешнего источника и измерение тока.
37. Ионизационный детектор по пп.33-36, отличающийся тем, что в ионизационной камере установлено N изолированных катодов, на каждый из которых подано индивидуальное значение напряжения относительно одного или нескольких анодов и соответствующих одной или нескольких сеток, указанная измерительная система выполнена с возможностью индивидуального измерения тока на каждый из указанных N катодов.
38. Ионизационный детектор пп.21-37, отличающийся тем, что установлен дополнительный источник энергии, обеспечивающий поступление в ионизационную камеру в качестве примеси к основному газу распыленного материала мишени для анализа ее состава.
39. Ионизационный детектор по п.38, отличающийся тем, что указанная мишень установлена в качестве катода, распыляемого предварительным плазменным разрядом, зажигаемым с помощью указанного дополнительного источника энергии.
40. Ионизационный детектор по пп.21-39, отличающийся тем, что установлен дополнительный источник плазменного разряда, в котором молекулы образца предварительно подвергаются диссоциации на атомы для анализа в ионизационной камере элементного состава образца.
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2002128663/28A RU2217739C1 (ru) | 2002-10-18 | 2002-10-18 | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления |
CNB2003801065022A CN100464184C (zh) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | 气体分析方法及实现该方法的电离检测器 |
JP2004545113A JP4408810B2 (ja) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | ガス分析方法とイオン化検出器 |
AT03808922T ATE537441T1 (de) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | Gasanalyseverfahren und ionisationsdetektor zur ausführung des verfahrens |
EP03808922A EP1557667B1 (de) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | Gasanalyseverfahren und ionisationsdetektor zur ausführung des verfahrens |
US10/531,536 US7309992B2 (en) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | Gas analysis method and ionisation detector for carrying out said method |
AU2003277767A AU2003277767A1 (en) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | Gas analysis method and ionisation detector for carrying out said method |
PCT/RU2003/000454 WO2004036206A1 (fr) | 2002-10-18 | 2003-10-15 | Procede d'analyse de gaz et detecteur a ionisation prevu a cet effet |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2002128663/28A RU2217739C1 (ru) | 2002-10-18 | 2002-10-18 | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2217739C1 RU2217739C1 (ru) | 2003-11-27 |
RU2002128663A true RU2002128663A (ru) | 2004-04-20 |
Family
ID=32028258
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2002128663/28A RU2217739C1 (ru) | 2002-10-18 | 2002-10-18 | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7309992B2 (ru) |
EP (1) | EP1557667B1 (ru) |
JP (1) | JP4408810B2 (ru) |
CN (1) | CN100464184C (ru) |
AT (1) | ATE537441T1 (ru) |
AU (1) | AU2003277767A1 (ru) |
RU (1) | RU2217739C1 (ru) |
WO (1) | WO2004036206A1 (ru) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2217739C1 (ru) | 2002-10-18 | 2003-11-27 | Кудрявцев Анатолий Анатольевич | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления |
US7586684B2 (en) * | 2005-01-21 | 2009-09-08 | New York University | Solute characterization by optoelectronkinetic potentiometry in an inclined array of optical traps |
DE102005010716A1 (de) * | 2005-03-09 | 2006-09-14 | Inficon Gmbh | Kaltkathoden-Drucksensor |
US7351981B2 (en) * | 2006-02-08 | 2008-04-01 | Constellation Technology Corporation | Method and apparatus for measuring purity of noble gases |
JP4825028B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2011-11-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | イオン化装置 |
JP4958258B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2012-06-20 | 株式会社リガク | ガス分析装置 |
DE102009006016A1 (de) * | 2009-01-23 | 2010-07-29 | Plasma Treat Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von ionisierbaren Gasen, insbesondere organischen Molekülen, vorzugsweise Kohlenwasserstoffen |
JP2011117854A (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Osaka Univ | 放電イオン化電流検出器 |
KR101274389B1 (ko) * | 2011-03-31 | 2013-06-14 | 연세대학교 산학협력단 | 차량 배기 가스 입자 측정 센서 |
US9513257B2 (en) * | 2012-03-15 | 2016-12-06 | Shimadzu Corporation | Discharge ionization current detector and method for aging treatment of the same |
US9341596B1 (en) * | 2014-12-22 | 2016-05-17 | International Business Machines Corporation | Annular gas ionization delta E-E detector |
WO2016141470A1 (en) * | 2015-03-06 | 2016-09-15 | Mécanique Analytique Inc. | Discharge-based photo ionisation detector for use with a gas chromatography system |
CN104792676B (zh) * | 2015-04-27 | 2018-07-03 | 无锡信大气象传感网科技有限公司 | 采用电离法测量空气纳米级颗粒浓度的方法 |
US10132707B2 (en) * | 2015-07-09 | 2018-11-20 | Mks Instruments, Inc. | Devices and methods for feedthrough leakage current detection and decontamination in ionization gauges |
EP3657157A1 (en) * | 2015-07-15 | 2020-05-27 | Mécanique Analytique Inc. | Emission-based detector for capillary gas chromatography |
US9921184B2 (en) * | 2016-05-20 | 2018-03-20 | Terrapower, Llc | Sodium-cesium ionization detector |
CN105954350A (zh) * | 2016-06-03 | 2016-09-21 | 河北工程大学 | 常压下气相离子分子碰撞截面测量仪及碰撞截面测量方法 |
RU2653061C2 (ru) * | 2016-08-17 | 2018-05-07 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ) | Устройство для определения состава газовых смесей |
RU170710U1 (ru) * | 2016-08-18 | 2017-05-04 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ) | Камера ионизационного микроплазменного детектора для определения состава газовых смесей |
CN111027214B (zh) * | 2019-12-10 | 2023-04-11 | 北京大学深圳研究生院 | 一种持续辉光放电仿真模型的构建方法、仿真方法 |
CN112834490B (zh) * | 2021-01-07 | 2022-12-20 | 上海雷密传感技术有限公司 | 光离子检测装置 |
CN113345527B (zh) * | 2021-05-28 | 2022-08-12 | 广东电网有限责任公司 | 一种基于电子群参数获取分子吸附截面的方法 |
CN114088690B (zh) * | 2021-11-09 | 2023-07-21 | 哈尔滨工业大学 | 一种开放环境下气体杂质的分析检测装置及方法 |
CN114216808A (zh) * | 2021-11-18 | 2022-03-22 | 中国人民解放军军事科学院国防工程研究院工程防护研究所 | 一种气体杂质检测装置及检测方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5522741B2 (ru) * | 1975-01-16 | 1980-06-18 | ||
CN1049228A (zh) * | 1988-06-02 | 1991-02-13 | 亚尼弗娃电子研究所 | 混合气体分析用表面电离式检测器 |
US5532599A (en) * | 1991-02-28 | 1996-07-02 | Stearns; Stanley D. | High voltage spark excitation and ionization system including disc detector |
US5153519A (en) * | 1991-02-28 | 1992-10-06 | Wentworth Wayne E | High voltage spark excitation and ionization detector system |
US5192865A (en) * | 1992-01-14 | 1993-03-09 | Cetac Technologies Inc. | Atmospheric pressure afterglow ionization system and method of use, for mass spectrometer sample analysis systems |
US5320577A (en) * | 1993-03-22 | 1994-06-14 | Figaro Engineering Inc. | Air conditioner control device |
US5393979A (en) * | 1993-05-12 | 1995-02-28 | Rae Systems, Inc. | Photo-ionization detector for detecting volatile organic gases |
US5578271A (en) * | 1995-03-01 | 1996-11-26 | O.I. Corporation | Tandem photoionization detector and halogen specific detector |
RU2109278C1 (ru) * | 1995-05-24 | 1998-04-20 | Нижегородский государственный технический университет | Способ анализа газов и устройство для его реализации |
DE19627620C1 (de) * | 1996-07-09 | 1997-11-13 | Bruker Saxonia Analytik Gmbh | Elektroneneinfangdetektor |
US5767683A (en) * | 1996-07-26 | 1998-06-16 | Stearns; Stanley D. | System for detecting compounds in a gaseous sample using photoionization, electron capture detection, and a constant current feedback control circuit which responds to compound concentration |
US5859362A (en) * | 1996-10-22 | 1999-01-12 | Revenue Canada | Trace vapor detection |
RU2120626C1 (ru) * | 1997-06-03 | 1998-10-20 | Конструкторско-технологический институт геофизического и экологического приборостроения СО РАН | Способ анализа микропримесей вещества в газовых смесях |
US5920072A (en) * | 1997-09-30 | 1999-07-06 | Hewlett-Packard Co. | Ionization detector |
US6037179A (en) * | 1998-04-30 | 2000-03-14 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for suppression of analyte diffusion in an ionization detector |
US6107805A (en) * | 1998-04-30 | 2000-08-22 | Agilent Technologies, Inc. | Extended detection zone in an ionization detector |
US6163031A (en) * | 1998-04-30 | 2000-12-19 | Agilent Technologies, Inc. | Ionization detector system having linearized output signal |
US6225633B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-05-01 | Rae Systems, Inc. | Photo-ionization detector for volatile gas measurement and a method for self-cleaning the same |
SE514475C2 (sv) * | 1999-04-14 | 2001-02-26 | Xcounter Ab | Strålningsdetektor, en anordning för användning vid radiografi med plant strålknippe och ett förfarande för detektering av joniserande strålning |
RU2217739C1 (ru) | 2002-10-18 | 2003-11-27 | Кудрявцев Анатолий Анатольевич | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления |
-
2002
- 2002-10-18 RU RU2002128663/28A patent/RU2217739C1/ru not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-10-15 EP EP03808922A patent/EP1557667B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-10-15 CN CNB2003801065022A patent/CN100464184C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-10-15 WO PCT/RU2003/000454 patent/WO2004036206A1/ru active Application Filing
- 2003-10-15 US US10/531,536 patent/US7309992B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-10-15 AU AU2003277767A patent/AU2003277767A1/en not_active Abandoned
- 2003-10-15 AT AT03808922T patent/ATE537441T1/de active
- 2003-10-15 JP JP2004545113A patent/JP4408810B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2217739C1 (ru) | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления | |
RU2002128663A (ru) | Способ анализа газов и ионизационный детектор для его осуществления | |
Yurgelenas et al. | A computational model of a barrier discharge in air at atmospheric pressure: the role of residual surface charges in microdischarge formation | |
Shao et al. | Nanosecond repetitively pulsed discharge of point–plane gaps in air at atmospheric pressure | |
RU2005140948A (ru) | Масс-спектрометр и соответствующие ионизатор и способы | |
Weijie et al. | Theoretical model and experimental investigation optically triggered hollow-cathode discharge formation | |
Sasaki et al. | Characteristics of interelectrode flashover in air with the existence of a weakly ionized plasma channel induced by a KrF laser (248 nm) | |
Alberta et al. | Space and time dependence of the electric field and plasma induced emission in transient and steady-state hollow cathode discharges | |
Zemskov et al. | Dependence of the Average Charge State of Copper Ions on the Discharge Current in the Low-current Vacuum Arc Plasma | |
Anpilov et al. | Atmospheric electric discharge into water | |
Dudnikov | Forty-five years with cesiated surface plasma sources | |
Panchenko et al. | Barrier-discharge-excited coaxial excilamps with the enhanced pulse energy | |
Kapustin et al. | New physical methods of organic compound identification using a surface ionization drift spectrometer | |
Krasik et al. | High-current electron sources based on gaseous discharges | |
Afanas’ ev et al. | Influence of charged particles on the fullerene formation process | |
Lins et al. | Metal vapor densities and excitation temperatures in a pseudospark switch | |
JP2002189018A (ja) | 化学物質検出装置 | |
Alexeyevich et al. | Optical radiation in breakdown of the acceleration gap of a forevacuum pressure, wide-aperture, plasma-cathode, pulsed electron source | |
Živanović | Investigation of the effect of additional electrons originating from the ultraviolet radiation on the nitrogen memory effect | |
RU820511C (ru) | Способ получени электронного пучка | |
Burdovitsin et al. | Generation of a Millisecond Range Low-Energy Electron Beam by a Forevacuum Plasma Electron Source Based on Cathodic Arc | |
RU2588263C1 (ru) | Источник ионов для нейтронной трубки | |
Gavrilov et al. | Characteristics of an ion source with a plasma cathode and a multipole magnetic system for confining fast electrons | |
JP3664976B2 (ja) | 化学物質検出装置 | |
SU1233714A1 (ru) | Источник ионов дуоплазматрона |