PL87133B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL87133B1 PL87133B1 PL1969137174A PL13717469A PL87133B1 PL 87133 B1 PL87133 B1 PL 87133B1 PL 1969137174 A PL1969137174 A PL 1969137174A PL 13717469 A PL13717469 A PL 13717469A PL 87133 B1 PL87133 B1 PL 87133B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- light
- mirror
- glass
- prism
- light source
- Prior art date
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 31
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 7
- 230000037361 pathway Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 210000001061 forehead Anatomy 0.000 description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do wykrywania wad w arkuszach szkla.Znane sa urzadzenia do wykrywania wad w arkuszach szkla wykorzystujace przerywana wiazke promieni swietlnych. Jednakze, urzadzenia te nie sa zdolne do wykrywania róznorodnych wad szkla.Celem wynalazku jest opracowanie konstrukcji urzadzenia do wykrywania wad w arkuszach szkla, w którym wykorzystuje sie promienie swiatla o wysokiej kolimacji lub promienie swiatla o scisle regulowanej równoleglosci promieni, pozwalajacego na przeszukiwanie stosunkowo duzych powierzchni ruchomej tasmy. Cel wynalazku zostal osiagniety przez to, ze urzadzenie zawiera wklesle lustro, usytuowane przylegle do drogi przebiegu tak, ze odbija wiazke swiatla poprzez droge przebiegu oraz obrotowy pryzmat osadzony w stosunku do zródla swiatla tak, ze odbija wiazke swietlna od zródla swiatla do lustra powodujac, ze wiazka przeszukuje obszar przebiegu szkla.Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedst* wia schemat urzadzenia wedlug wynalazku w widoku z góry, przy czym arkusz szklany porusza sie pionowo, fig. 2 — schemat urzadzenia z fig. 1 w widoku z boku, fig. 3 — urzadzenie wedlug wynalazku, w którym arkusz szklany porusza sie poziomo, w przekroju, fig. 4 — urzadzenie z fig. 3 w przekroju wzdluznym.Poruszajaca sie w góre tasma szklana G jest usytuowana na odpowiednim podparciu pozwalajacym na przeslanie wiazek swiatla. Zródlo 10 swiatla wytwarzajace wiazke swietlna o wysokiej kolimacji, to znaczy o promieniach równoleglych, jest usytuowane przylegle (w sasiedztwie) drogi przebiegu poruszajacej sie szklanej tasmy. Czuly na swiatlo fotodetektor 11 jest umieszczony po drugiej stronie poruszajacej sie szlanej tasmy.Wiazka swiatla przeszukuje ruchoma tasme za pomoca wielopowierzchniowego pryzmatu 12 usytuowanego pomiedzy zródlem 10 swiatla i poruszajaca sie tasma G. Wiazka 13 o równoleglych promieniach swietlnych jest skierowana ze zródla swiatla 10 na pryzmat 12. Obrotowy pryzmat 12 odbija swiatlo w kierunku wkleslego lustra 14 usytuowanego pomiedzy zródlem 10 swiatla oraz pryzmatem 12, nie kolidujac jednakze z droga przebiegu swiatla ze zródla 10 do pryzmatu 12.Wiazka swiatla jest skierowana na pryzmat 12. Mechanizm silnikowy powoduje obrót pryzmatu 12 wokól jego osi. Wiazka 13 swiatla odbija sie od powierzchni pryzmatu 12 na powierzchnie wkleslego lustra 14.Poniewaz pryzmat obraca sie, wiazka swiatla omiata w poprzek powierzchnie konturowego lustra z jednej jego2 87 133 krawedzi na druga, nastepnie odbija sie od powierzchni lustra 14 i przebiega prosto do fotodetektora 11.W wyniku omiatania wiazka 13 swiatla w poprzek powierzchni lustra 14, wiazka ta omiata w poprzek odcinek szklanej tasmy przedstawiony na rysunku jako odcinek 15.Urzadzenie do wykrywalna wad w arkuszach szkla jest stosowane jako wejsciowe zródlo danych dla komputerów i maszyn liczacych znanych w technice.W urzadzeniu przedstawionym na fig. 3 i 4 arkusz szklany porusza sie poziomo Urzadzenie sklada sie z trzech glównych podzespolów, zródla swiatla 10, fotodetektora 11 i posredniego ukladu pryzmatów 12.Wiazka swiatla 13 jest kierowana ze zródla swiatla kolimacyjnego na pryzmat 12. Pryzmat posiada szesnascie powierzchni, przy czym odleglosc w poprzek kazdej plaszczyzny wynosi 10 cm ± 7 mm. Powierzchnie odbijajace pryzmatu sa wypukle. Dokladnosc katowa powierzchni czolowych wynosi ± 6 minut luku. Dokladnosc powierzchniowa czól wynosi 1/2 fali zielonego swiatla rteci. Kazde czolo jest aluminizowane, a nastepnie pokryte tlenkiem krzemu. Wiazka swiatla odbita zostaje od powierzchni czolowej pryzmatu w kierunku powierzchni wkleslej lustra 14, Srednica lustra wynosi 60 cm ±15 mm. Promien krzywizny wynosi 120 cip 112 mm. Lustro jest sporzadzone ze szkla optycznego z dokladnoscia powierzchniowa jednej fali zielonego swiatla rteci, powyzej kazdej powierzchni o srednicy 10 cm. Powierzchnia jest równiez aluminizowana i pokryta jednotlenkiem kazemu. Zródlo swiatla 10 jest usytuowane w kazdym dogodnym polozeniu w stosunku do przesuwajacego sie szkla, a w tym przypadku jest usytuowane ponad przenosnikiem, to znaczy ponad niepodtrzymywana powierzchnia szkla. Urzadzenie wykrywajace jest usytuowane pod szklem lub pod podtrzy¬ mywana powierzchnia szkla. Pryzmat i lustro sa umieszczone w taki sposób, ze wiazka swiatla moze wedrowac nieprzerwana sciezka od zródla swiatla do powierzchni pryzmatu i nastepnie zostac zawrócona do przeszukuja¬ cego lustra wybierajacego, tak jak to przedstawiono na fig. 1. Zródlo swiatla oraz lustro moga równiez byc umieszczone na tej samej stronie co fotodetektor i poprzez uklad pryzmatów wiazka swiatla zostaje skierowana w nieprzerwanej linii ze zródla swiatla do pryzmatu, do. lustra i nastepnie zawrócona z powierzchni lustra poprzez szklo do zródla wykrywania. Pryzmat jest przesuniety od linii przebiegu swiatla z lustra do detektora.Wiekszosc elementów urzadzenia, to jest zródlo swiatla 10 i fotodetektor 11, znajduja sie w nieruchomej pozycji w stosunku do linii przebiegu szkla. Pryzmat 12 na skutek odbicia swiatla na wkleslym lustrze, powoduje, ze wiazka swiatla przeszukuje powierzchnie lustra i ze sciezka przebiegu swiatla poprzez szklo pozwala na znaczny obszar przeszukania (fig. 1). Pryzmat jest kierowany za pomoca synchronicznego silnika- kondensatorowego, posiadajacego szybkosc obrotowa równa 3600 obr/minute. Szczególnie odpowiednim zródlem swiatla kolimacyjnego jest laser, który jest skierowany na szesnastoboczne lustro usytuowane na plaszczyznie obiektywu lustra skupiajacego. Wiazka wychodzaca z lasera przeszukuje w poprzek powierzchnie lustra skupiajacego i lustro podaje wiazke do ogniska w jednym punkcie na osi optycznej. Jest rzecza oczywista, ze fotodetektor lub fotopowielacz jest usytuowany w punkcie skupienia wiazki swiatla lub na powierzchni obrazu danego przez lustro. Urzadzenie fotowykrywajace odbiera zmiany w intensywnosci wiazki swiatla odebranej na detektorze. Przez usytuowanie przenosnika szkla w ukladzie stosunkowo blisko lustra przeszukuja¬ cego mozna objac znaczny obszar wykrywania.W innym rozwiazaniu wynalazku zródlo swiatla jest skierowane poprzez serie pryzmatów w celu uzyskania efektywnej dlugosci ogniskowej wynoszacej" kilka stóp, gdyz jak dotychczas aktualna odleglosc od soczewki do ukladu detektorowego stanowi tylko znikoma ilosc stóp. Nie ma wlasciwych korzysci przy stosowaniu tej postaci wynalazku, chyba ze odleglosci pomiedzy urzadzeniem a otaczajacymi przedmiotami sa ograniczone.Urzadzeniem wykrywajacym moze byc kazde urzadzenie sposród urzadzen swiatloczulych, takich jak fotokomórka swiatloczula, która reaguje na zmieniajace sie nasilenie wiazki swiatla. Jako urzadzenie wykrywaja¬ ce moze byc stosowane urzadzenie wejsciowe dla kazdej ilosci kolejnych operacji, takich jak okreslenie za pomoca maszyny matematycznej polozenia szkla w najbardziej skutecznych metodach dzialania arkusza z uwagi na bledy w szkle. Jedna z najbardziej korzystnych cech zastosowania wiazki szkla kolimacyjnego jest to, ze wiazka swiatla w stosunkowo krótkim odstepie przebiegu szkla, omiata obszar bledu stosunkowo duza ilosc* razy. Wiazka swiatla kolimacyjnego obejmuje stosunkowo bardzo mala powierzchnie w porównaniu z powierz¬ chnia zwyklego bledu wystepujacego w szklanych arkuszach. Szybkosc przeszukiwania jest dostatecznie duza aby bylo mozna wykryc tysiace wad w stosunkowo krótkim czasie. Kazde zmniejszenie nasilenia wiazki swiatla powoduje spadek w potencjale elektrycznym i wyzwala obieg impulsu w sprzezeniu z detektorem. Wyzwolone impulsy sa nastepnie uzyte jako wejsciowy sygnal dla kazdej ilosci urzadzen, która sie przewiduje w kolejnym procesie obróbki szkla.Dla maksymalnego okreslenia charakterystyki bledów konieczne jest posiadanie zródla swiatla o wysokim stopniu kolimacji. Jednym z najbardziej skutecznych zródel jest laser. Laser wytwarza impuls swietlny, który jest pozornie równolegly w rozprzestrzenianiu sie i moze byc przeniesiony na stosunkowo duza odleglosc z niewie- lim lub nawet bez zadnego odchylenia od polozenia równoleglego. Jednakze, zródlo swiatla wedlug niniejszego87133 3 wynalazku nie koniecznie ogranicza sie do laseru ale moze byc równiez zródlem punktowym wytwarzajacym przez uklad soczewek równolegla wiazke.Urzadzeniem wybierajacym jest wielopowierzchniowy pryzmat 12 osadzony obrotowo na walku silnika.Obrotowy pryzmat jest szesnastoboczny. Jednakze, inne konfiguracje geometryczne moga byc stosowane w zaleznosci od dlugosci zadanego zasiegu omiatania.Lustro jest osadzone w kazdym dogodnym miejscu w stosunku do przenosnika szkla oraz urzadzenia wykrywajacego w taki sposób, ze wiazka swiatla przeszukuje wlasciwy obszar szklanej tasmy. PL
Claims (3)
- Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do wykrywania wad w arkuszach szkla, skladajace sie z kolimatora na jednej stronie drogi przebiegu oraz z urzadzenia wykrywajacego natezenie swiatla usytuowanego po przeciwnej stronie drogi przebiegu dla skupienia wiazki swiatla po przerwaniu przez nia drogi przebiegu arkusza szkla, znamiennne tym, ze zawiera wklesle lustro (14) usytuowane przylegle do drogi przebiegu tak, ze odbija wiazke swiatla poprzez droge przebiegu oraz obrotowy pryzmat (12) osadzony w stosunku do zródla swiatla, tak, ze odbija wiazke swietlna od zródla (10 swiatla do lustra (14) powodujac , ze wiazka przeszukuje obszar przebiegu szkla.
- 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1,znamienne tym, ze zródlo swiatla stanowi laser.
- 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1 albo 2, znamienne tym, ze pryzmat (12) oraz lustro (14) maja po¬ wierzchnie pokryte jednotlenkiem krzemu.87133 ffTf r-- T? ^ r— -» i o oi ll-" ' 1 'C^~* *^c «f. 3 =X^ **. 4 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 10 zl PL
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US77972968A | 1968-11-29 | 1968-11-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL87133B1 true PL87133B1 (pl) | 1976-06-30 |
Family
ID=25117352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL1969137174A PL87133B1 (pl) | 1968-11-29 | 1969-11-28 |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3609380A (pl) |
JP (1) | JPS537826B1 (pl) |
BE (1) | BE742369A (pl) |
BR (1) | BR6914564D0 (pl) |
CA (1) | CA921300A (pl) |
CS (1) | CS178809B2 (pl) |
DE (1) | DE1959815C3 (pl) |
ES (2) | ES372098A1 (pl) |
FR (1) | FR2046047A5 (pl) |
GB (1) | GB1274297A (pl) |
NL (1) | NL6917148A (pl) |
PL (1) | PL87133B1 (pl) |
ZA (1) | ZA696525B (pl) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4984458A (pl) * | 1972-12-18 | 1974-08-14 | ||
US3871773A (en) * | 1973-04-24 | 1975-03-18 | Ppg Industries Inc | Method of and apparatus for detecting defects and the position thereof in transparent articles |
DE2444644A1 (de) * | 1974-09-18 | 1976-04-08 | Dihaco Diamanten Handels Co | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung und groessenbestimmung von einschluessen in edelsteinen |
DE2550815C3 (de) * | 1975-11-12 | 1979-05-31 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Optisches Abtastsystem |
US4097151A (en) * | 1976-03-16 | 1978-06-27 | Ppg Industries, Inc. | Method of and apparatus for locating B type and point type defects in a glass ribbon |
DE3338802A1 (de) * | 1983-10-26 | 1985-05-09 | Feldmühle AG, 4000 Düsseldorf | Vorrichtung und verfahren zum pruefen von materialbahnen |
US4665392A (en) * | 1984-11-13 | 1987-05-12 | Ppg Industries, Inc. | Method of and apparatus for detecting presence of a mark on a transparent substrate |
-
1968
- 1968-11-29 US US779729A patent/US3609380A/en not_active Expired - Lifetime
-
1969
- 1969-09-15 ZA ZA696525A patent/ZA696525B/xx unknown
- 1969-09-30 CA CA063802A patent/CA921300A/en not_active Expired
- 1969-10-02 ES ES372098A patent/ES372098A1/es not_active Expired
- 1969-10-02 ES ES372099A patent/ES372099A1/es not_active Expired
- 1969-10-14 JP JP8162469A patent/JPS537826B1/ja active Pending
- 1969-10-23 FR FR6936366A patent/FR2046047A5/fr not_active Expired
- 1969-11-14 NL NL6917148A patent/NL6917148A/xx unknown
- 1969-11-27 BR BR214564/69A patent/BR6914564D0/pt unknown
- 1969-11-28 CS CS6900007873A patent/CS178809B2/cs unknown
- 1969-11-28 GB GB58193/69A patent/GB1274297A/en not_active Expired
- 1969-11-28 DE DE1959815A patent/DE1959815C3/de not_active Expired
- 1969-11-28 BE BE742369D patent/BE742369A/xx unknown
- 1969-11-28 PL PL1969137174A patent/PL87133B1/pl unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES372099A1 (es) | 1971-09-01 |
BR6914564D0 (pt) | 1973-01-25 |
DE1959815C3 (de) | 1980-02-07 |
GB1274297A (en) | 1972-05-17 |
NL6917148A (pl) | 1970-06-02 |
BE742369A (pl) | 1970-05-28 |
ZA696525B (en) | 1971-04-28 |
CS178809B2 (en) | 1977-10-31 |
FR2046047A5 (pl) | 1971-03-05 |
US3609380A (en) | 1971-09-28 |
ES372098A1 (es) | 1971-09-01 |
JPS537826B1 (pl) | 1978-03-22 |
DE1959815A1 (de) | 1970-09-03 |
CA921300A (en) | 1973-02-20 |
DE1959815B2 (de) | 1978-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5849819B2 (ja) | ソウサシキケンサソウチ | |
GB1413666A (en) | Scanning system for scanning an object with energy | |
KR860003494A (ko) | 휴대용 레이저 주사장치 | |
US4408826A (en) | Apparatus for scanning a laser beam including means for focusing a scale scanning beam and a read/write scanning beam on the same facet of a polygon scanning mirror | |
JP5732956B2 (ja) | 距離測定装置 | |
EP0248479A1 (en) | Arrangement for optically measuring a distance between a surface and a reference plane | |
PL87133B1 (pl) | ||
US4231661A (en) | Radial scanner | |
US4390277A (en) | Flat sheet scatterometer | |
CN101788340A (zh) | 波长扫描装置 | |
JP2618377B2 (ja) | 無接触測定用のf−シータ補正されたテレセントリツク系対物鏡を有する装置 | |
CN110579284B (zh) | 一种干涉式激光波长测量装置及其使用方法 | |
US4521113A (en) | Optical measuring device | |
US3487224A (en) | Scanner which utilizes a pair of time-shared apertures | |
US3497298A (en) | Optical scanning method for copying machines | |
JP2865337B2 (ja) | 光学測定装置 | |
US3843264A (en) | Process and apparatus for determining the presence,in a given area of the edge of a sheet or of a ribbon of transparent material | |
CN111184502A (zh) | 一种用于产生快速扫描光学相位延迟线的方法及装置 | |
SU411356A1 (pl) | ||
JPH0566114A (ja) | 透明物体の厚み測定装置 | |
JPS5820412B2 (ja) | 光学読取装置 | |
RU2073203C1 (ru) | Устройство для определения характеристик шероховатой отражающей поверхности | |
CN114136442B (zh) | 基于连续旋转的干涉仪及其工作方法 | |
RU2025656C1 (ru) | Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в фиксированной точке | |
US3072794A (en) | Rotating wheel scanner |