PL74640B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL74640B2
PL74640B2 PL15074071A PL15074071A PL74640B2 PL 74640 B2 PL74640 B2 PL 74640B2 PL 15074071 A PL15074071 A PL 15074071A PL 15074071 A PL15074071 A PL 15074071A PL 74640 B2 PL74640 B2 PL 74640B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
logical
inputs
negated
products
outputs
Prior art date
Application number
PL15074071A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15074071A priority Critical patent/PL74640B2/pl
Publication of PL74640B2 publication Critical patent/PL74640B2/pl

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 31.01.1975 74640 vV° KI. 21e,31/28 MKP GOlr 31/28 "czytelnia! 1 *Zta«-i*<« lte**LJ K Twórcy wynalazku: Grzegorz Ziembicki, Bernard Horwat Uprawniony z patentu tymczasowego: Przemyslowy Instytut Automaty¬ ki i Pomiarów Oddzial we Wro¬ clawiu, Wroclaw (Polska) Urzadzenie do badania ukladów logicznych Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do bada¬ nia ukladów logiczny'Ch przeznaczione ido pomiarów stanu pracy typowych ukladów logicznych, zbudo¬ wanych w oparciu o technike TTL/DTL, a w szcze¬ gólnosci do pomiarów poziomów napiec „1" logiciz- nej i „0", stwierdzenia przerw na wyjsciu lub wej¬ sciu badanego ukladu, pomiarów kieruniku wzrostu i opadania zbocza impulsów, okreslenia wspólczyn- niika wypelnienia, pomiarów fazy impulsów w za¬ kresie zgodnosci lub przeciwstawniosci faz dwóch przebiegów, pomiarów prawidlowosci zliczania im¬ pulsów w przypadku ukladów liczacych, pomiarów polaryzacji impulsów oraz zaleznosici czasowych miedzy pojedynczymi impulsiatni,.Znanie i stosowanie laboratoryjne stanowiska po¬ miarowe do badania ukladów logicznych sa utwo¬ rzone ze .specjalistycznych przyrzadów pomiaro¬ wych, jak na przyklad oscyloskopu idwustruimienio- wego, woltomierza cyfrowego, generatora i innych.Testowanie ukladów logicznych przy pomocy takich zestawów jesit pracochlonne i wymaga wysoko kwa¬ lifikowanej obslugi. Zlozonosc stosowanych zesta¬ wów potniarowych wyklucza ich przydatnosc dio pó- nniarów serwisowych, zas znaczna pracochlonnosc uimeirnozliiwia zasjtosowanie do pomiarów duzych ilosci elementów logicznych przy masowej produk¬ cji urzadzen budofwanych z tych elementów. Znane jesrt; równiez urzadzenie ^tworzone z ukladu zada¬ jacego i ukladu wyswietlania, które umozliwia spraiw^zaoirie wylacznie poziomów zero-jedynkowych 10 15 20 25 30 2 ukladów logicznych, nie pozwala na pomiar innych stanów statycznych oraz na pomiar jakiegokolwiek stanu dynamicznego.Celem wynalazku jest umozMiwiLenae pamdarójW stanów statycznych i dynamicznych ukladów lo¬ gicznych w wanunkjach laboratoryjnych, paodutacyj- mych oraz przy wszelkich naprawach serwisowych aparatury i urzadzen zbudowanych z ukladów lo¬ gicznych.Zadaniem wynalazku jest skonstruowanie urza¬ dzenia realizujacego postawiony cel.Cel ten zostal osiagniety przez, skonstnuowjanie urzadzenia do badania ukladów logicznych zrealizo¬ wanych w oparciu o technike TTL/DTL, zaopatrzo¬ nego w znany uklad wyswietlania i sonde pomia¬ rowa, które ma uklad porównania przeznaczony do pomiarów statycznych oraz uklad pamietajacy przeznaczony do pomiarów stanów ctynanmcznyich, przy czym wyjscia obydwu ukladów sa polacaoaie przez uklad sumy logicznej za wspólnym aoanym ¦ukladem wyswietlania.Urzadzenie wedlug wynalazku umozliwia dotoo- nywarnie w sposób latwy i prosty pomiarów pocao- mów napiec „1" i „0", .stwierdzanie przerw na wej¬ sciu lub wyjsciu badanego ukladu, pomiar kaerun- ków wzrostu i opadania zbocza impulsów, ofonesle- nie wspólczynnika wypelniania, pomiar fazy impul¬ sów, prawidlowosci zliczania w odniesJantiu do lo¬ gicznych ukladów liczacych, pomiar polaryzacji im¬ pulsów oraz zaleznosci czasowych miedzy pojedyn- 7464074640 3 czymi impulsiami. Urzadzenie wedlug wynalazku nadaje sie do stosowania w ipomiaraich laboratoryj¬ nych, przy produkcji aparatury zbudowanej z ukla¬ dów logicznych oraz we wszystkich naprawach ser¬ wisowych tej .aparatury, eliminuje koniecznosc stio- aowaniia calych zestawów specjialiisitycznej aparatu- ry pomianowej oraz zatrudnienia do pomiarów ka¬ dry wysokokwalifikowanych specjalistów.Wynalazek zostanie blizej objasniony w przykla¬ dzie wykonania przedstawionymi na zalaczonymi ry¬ sunku, na którym pokazano schemat elektryczny urzadzenila.(Urzadzenie wedlug wynalazklu ma somide pomiaro¬ wa 1 polaczona przez styki 2 przelacznika rodzaju pracy 3 z ukladem porównania 4, a przez styki 5 przelacznika rodzaju pracy 3 z ukladem pamietaja¬ cym 6. Styjgi 2 przelaczndka 3 sa polaczone z jednym wejsciem zanegowanego iiloczyniu logicznego 7, któ¬ rego drugie wejscie jest polaczone z, jednym z wejsc drugiego zanegowanego iloczynu logicznego 8 oraz z wyjsciem trzeciego zanegowanego iloczynu logicz¬ nego 9. Trzy zanegowane iloczyny [logiczne 7, 8 i 9 tworza wejsciowy uklad brakujacy 10.Wejscia trzeciego zanegowanego iloczynu logicz¬ nego 9 sa zwarte i polaczone przez pjraelaczinik 11 z punktem uziemienia ukladu. Przelacznik 11 .sluzy do sprawdzania poziomu „0" logicznego.Drjugie wejscie (drugiego zanegowanego iloczynu liczbowego 8 jest polaczone z gniazdkiem wejscio¬ wym 12, przez które wprowadza sie impulsoiwe prze¬ biegi porównawcze. Wyjscia wejsciowego ukladu bramkujacego 10 sa polaczone z idiwotma wejsiciami logicznymi ukladu 13, realizujacego funkcje X = AE+AB gdzie A i B oznacza dwa niezalezne od siebie idjwustanoiwe sygnaly wprowadzone ma [wejscie ukladu, a A i B oznacza zanegowane wartosci A i B. Wyjscie logicznego ukladu 13 jesjt polaczone bez^ posrednio z jednym z wejsc zanegowanego iloczynu logicznego 14 oraz przez dodatkowy zanegowany iloczyn; logiczny 15, z jednym z wejsc dirugiego za- negowanegio iloczyniU logicznego 16. Drugie wejscia obydwu zanegowanych iloczynów logicznych 14 i 16 sa zwainte i polaczone ze .stykami 17 przelacznika rodzaju pracy 3. Wyjscia zanegowanych iloczynów logiicznyich 14 i 16 isa polaczone z, pierwszymi wejs¬ ciami zanegowanych iloczynów logicznych 18 ii 19, tworzacych uklad sumy logicznej 20. Wyjscia zane¬ gowanych iloczynów logicznych 18 i 19, tworzacych uklad siumy logicznej 20, sa polaczione z dwoma wejsciami ukladu [wyswietlania 21, utworzonego z dwóch wzmacniaczy 22 i 23, sterujacych dwoma swietlnymi, wskaznikami 24 i 25. Uklad pamietaja¬ cy 6 ma kitórych wejscia sa polaczione ze stykami 5 przelacz¬ nika rodzaju pracy 3, zas wyjscia sa saczone z wej¬ sciami synchronicznymi dwóch bistabilnych prze¬ rzutmików 28 i 29 typu J^K. Wejscia strobujace tych przerziutników sa polaczone poprizez opóznia¬ jacy "Uklad 30 z wylacznikiem 31, którego idrugi ko¬ niec jest polaczony z masa ukladu.Wyjscia przerzutmików 28 i 29 sa polaczone z dru¬ gimi wejsciami zanegowanych iloczynów logicznych 18 i 19, tworzacych uklad sumy logiczinej 20. Prze- rizutmiki 28 i 29 spelniaja role komórek pamieci. Ka- 4 so,wanie zawartosci tjyich przerziutników nastepuje poprzez podanie z wylacznika 31 poziomu logiczne¬ go „0" ma asynchroniczne wejscia przerziutników.Lmpuls kasowania bedacy jeidnoczesnie impulsem 5 wpisu nowej zawartosci do przerzutnaków 28 i 29 wyprzedza impuls wpisu o czas opóznienia, okreslo¬ ny parameitriami opózniajacego ukladu 30. Wejsicia strobujace przerzutmików sa jednoczesnie równole¬ gle polaczone z wyjsciem 32, iiimiozliwiajacyim syn- 10 chroniczne strobowanie w przypadku pracy dwóch urzadzen.Przy pomiianach stanów statycznych przy zwar¬ tych stykach 2 przelacznika rodzaju pracy 3 prze¬ prowadzic mozna nastepujace pomiary: Pomiar lo¬ gicznego ipoziomu napiec „1" i „0" przeprowadza sie przykladajac sonde 1 do badanego punktu przy wcisnietym wylaczniku lii, obserwujac wskazania swietlnych wskazników 24 i 25. Swiecenie sie pierw¬ szego wskaznika 24 oznacza pioziom logiczny „0", swiecenie sie drugiego wskaznika 26 oznacza por ziom logiczny „1" lub przerwe w obwodzie. Pomiar cyklu stanów pracy ipolega na iprzylozeniu siomdy 1 do badanego punktu i obserwacji wskazników 24 i 25. Jezeli pierwszy wiskazmik 24 swieci sie jasniej niz dnugi wskaznik 25 wspólczynnik wypelnienia jes,t mmiejiszy od 0,5, jezeli obydwa wskazniki swie¬ ca sie jednakowo!, wspólczynnik wypelnjienia wynoisii 0,5, jezeli zas drugi wskaznik 25 swieci sie jasniej wspólczynnik wypelnienia jest wiekszy od 0,5. Przy pomiarze porównania fazy impulsów somde 1 przy¬ klada sie do badanego punktu, a do wejscia 12 przy¬ lacza sie impulsowy przebieg odniesienia. Jezeli swieci sie pierwszy wskaznik 24 oznacza to prze- ciwfazowosc obydwu przebiegów, jezeli swieci sie drugi wskaznik i25, swiadczy ,to o wspólfazowosici obydwu przebiegów. Sprawdzajac zliczenie impul¬ sów nalezy ison.de 1 przylozyc do badanego punktu na wyjsciu sprawdzanego ukladu logicznego, zas je¬ go wejlscie polaczyc z wejsciem 12 urzadzenia. Je- 40 zeli pierwszy wskaznik 24 lub drugi wskaznik 26 swieca jasno oznacza to brak 'dzielenia icze^totliiwosci, przy spadku swieicemia ido polowy podzial czestotli¬ wosci przebiega prawidlowo. Przy pomiariach stanów dynamicznych przelacznik rodzaju pnacy 3 jest wla- 45 czony w pozycji zwartych styków 5 i 17 i rozwar¬ tym .styku 2.Polaryzacje impulsu bada slie przykladajac sonde pomiarowa 1 do interesujacego mas punktu badiame- 50 go ukladu logicznego oraz, maciskajac i zwalniajac przyciskowy wylacznik 31. Jezeli swieci sie pierw¬ szy wskaznik 24 badany impuls jest spolaryzowany ujemnie, jesli zas swieci sie idrugi wskaznik 25 ba¬ dany impuls jest spolaryzowany dodatnio. Spraw- 55 dzamie zaleznosci 'czasowych impulsów odbywa sie przy uzyciu dwóch urzadzen wedlug wynalazku.Somde 1 jednego 'urzadzenia przyjklada isie do punk¬ tu, w którym wystepuje impuls a, sonde 1 drugiego urzadjzenija przyklada sie ido punktu, w którym wy- 60 stepuje impuls b. Wyjscia 32 obydwu urzadzen la¬ czy sie, a nastepnie przyciska i zwalnia przyciskowy wylacznik 31 jednego z urzadzen. Nastepuje zaswie¬ cenie sie wskaznika tego urzadzeniia, k,tóre odbiera impuls jako pierwsze. 65 Jezeli obydwa impulsy a i b imaja polaryzacje do-5 74640 6 datmlia i impuls a bedzie wyprzedzal w faziie impuls b, zaswieca sie drugi wskaznik 25 tego urzadzenia, którego sonda 1 jeslt polaczona ze zródlem impul¬ sów a. Jezeli obydwa impulsy a i b imaja polaryzacje ujemina i impuls a bedzie wyprzedzal w fazfle im¬ puls b, zapali sie [wskaznik pierwszy tego urzadze¬ nia, którego sonda 1 jes.t polaczona ze zródlem im¬ pulsów a. Jezeli obydwa impulsy aa b maja pola¬ ryzacje dodatnia i impuls b ,bedzie wyprzedzal w fiazdie impuls a, zaswieci .sie drugi wskaznik 25 tego urzadzenia, którego sonda 1 bedzie polaczona ze zródlem impulsów b. Jezeli obydwa impulsy a i b maja polaryzacje ujemina i impuls b bedzie wyprze¬ dzal w fazie impuls a, wówczas zaswieci sie pierw¬ szy wskaznik 24 tego urzadzenia, którego sonda 1 jest polaczona ze zródlem impulsów b. PL PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do badania ukladów logicznych zao¬ patrzone w znany uklad wyswietlania oraz somde pomiarowa, znamienne tym, ze ma uklad porówna¬ nia i(4) przeznaczony do- pomiarów sitanów sjtatycz,- nych oraz luklad pamietajacy (6) przeznaczony do pomiarów stanów dynamicznych, przy czym wyjscia obydwu ukladów (4, 6) sa polaczone przez uklad su¬ my logicznej (20) ze wspólnym ukladem wysiwierfla- nia (£1).
2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze uklad porównania (4) ma wejsciowy uklad bram- 5 kujacy utworzony z trzech zanegowanych iloczynów logicznych (7, 8, 9) polaczony z wejsciem zanegowa¬ nego ukladu logicznego (13), realizujacego funkcje X = AB+AB, którego wyjscie jest polaczone bezpo¬ srednio z jedrnym z wejsc pierwszego zanegowanego iloczynu logicznego (14) oraz przez dodatkowy zane¬ gowany iloczyn logiczny (15) z jednym z wejsc dru¬ giego zanegowanego iloczynu logicznego (16), przy czym drugie wejscia obydwu zanegowanych iloczy¬ nów logicznych (14,16) sa zwante i polaczone ze sty¬ kiem (17) przelacznika rodzaju pracy (3), zas wejs¬ cia tych iloczynów logicznych sa polacziome z pierw¬ szymi wejsciami zanegowanych iloczynów logicznych (18, 19) tworzacych uklad logicznej sumy (20).
3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze uklad, pamietajacy (6) ma djwa zanegowane iloczyny logifczne (26, 27), których wyjscia sa polaczone z wejsciami synchronicznymi dwóch bistabilnych przerzutników (28, 29) typu J—K, przy czym wejs¬ cia strobujace tych przerzutników sa polaczone z ukladem opózniajacym (30), zas wyjscia obydwu przerzutaiiików (28, 29) sa polaczone z dirugiimi wejs¬ ciami zanegowanych iloczynów logicznych (16, 19), tworzacych uklad sumy logicznej (20). 15 20KI. 21e,31/28 74640 MKP GOlr 31/28 11 9 12 81024 16201819 2221 Druk. Techn. Bytom z. 524 — 145 egz. Cena 10 zl PL PL
PL15074071A 1971-09-27 1971-09-27 PL74640B2 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15074071A PL74640B2 (pl) 1971-09-27 1971-09-27

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15074071A PL74640B2 (pl) 1971-09-27 1971-09-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL74640B2 true PL74640B2 (pl) 1974-12-31

Family

ID=19955756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15074071A PL74640B2 (pl) 1971-09-27 1971-09-27

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL74640B2 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL74640B2 (pl)
ATE26491T1 (de) Einrichtung zur pruefung von elektrische schaltkreise enthaltenden prueflingen.
US3590373A (en) Stray voltage and continuity test device
RU2377580C1 (ru) Устройство для измерения электрического сопротивления изоляции
RU1774284C (ru) Устройство дл контрол сопротивлени изол ции сети посто нного тока
SU1129532A1 (ru) Цифровой экстремальный мост переменного тока
SU694822A1 (ru) Устройство параметрического контрол интегральных схем
SU1081571A1 (ru) Устройство дл измерени рассто ни до места повреждени проводов и кабелей
RU2046356C1 (ru) Анализатор огибающей сигнала трехфазной сети
SU725048A1 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров микросхем
SU1644041A1 (ru) Способ определени неравномерности распределени токов в группе параллельных вентильных ветвей
RU2514096C2 (ru) Способ измерения электрического сопротивления изоляции между группой объединенных контактов и отдельным контактом и устройство его реализации
SU1211676A1 (ru) Устройство контрол характеристик электрических сигналов
SU777873A1 (ru) Устройство проверки матриц коммутации
SU723575A1 (ru) Устройство дл контрол дискретных блоков
SU808997A1 (ru) Устройство дл контрол разоб-щЕННыХ цЕпЕй элЕКТРичЕСКОгО MOH-ТАжА
SU661398A1 (ru) Устройство дл измерени сдвига фаз
SU785807A1 (ru) Пробник дл проверки логических устройств
US3523248A (en) Power factor measuring device responsive to the ratio of varhour pulses to watt-hour pulses
SU679998A2 (ru) Устройство дл определени числа деревьев графа
SU864202A1 (ru) Устройство дл измерени азимутальной неоднородности магнитного пол
SU894619A2 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров микросхем
SU1101762A1 (ru) Устройство дл предварительной проверки транзисторов
SU742811A1 (ru) Устройство дл измерени разности амплитуд двух дискретных электрических сигналов
SU615432A1 (ru) Устройство дл контрол параметров микросхемы