SU894619A2

SU894619A2 - Устройство дл измерени динамических параметров микросхем

Info

Publication number: SU894619A2
Application number: SU792709435A
Authority: SU
Inventors: Валентина Ивановна Глебова; Григорий Иванович Лобанов; Олег Фаудович Павленков
Original assignee: Пензенский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Технологического Института Приборостроения
Priority date: 1979-01-05
Filing date: 1979-01-05
Publication date: 1981-12-30

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ даНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ

I

Изобретение относитс к электрЭ измерительной технике и может быть использовано дл измерени динамических параметров микросхем, логических элементов, полупроводниковых элементов и т.п.

По основному авт. св. № 432431 известно .устройство дл измерени динамических параметров ьоисросхем, содержащее цепь последовательно соединенных микросхем, переключатели , дискриминатор напр жени , регуашруемый источник опорного напр жени и элемент совпадени L1. Недостаток известного устройства заключаетс в его ограниченных функциональных возможност х, так как оно не позвол ет измер ть выходное со-противление контролируемой микросхемы .

Цель изобретени - расширение функциональных возможностей.

Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство, содержащее

элемент совпадени , к выходу которого подключена цепь последовательно соединенньос микросхем, выход которой соединен с контролируемой микросхемой и через первый переключатель - с одним из входов элемента совпадени , другой вход которого соединен с выходом второго переключател , вход которого соединен с выходом дискриминатора, один вход которо- .

10 го соединен с выходом контролируемой микросхемы, а другой вход - с выходом регулируемого источника опорного напр жени , введены последовательно соединенные эталонный конден15 сатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой микросхемы , перва обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной , а втора его обкладка соединена

20 с вьцсодом ключа.

Claims

На чертеже приведена структурна схема предлагаемого устройства. Устройство содержит цепь 1 последовательно соединенных микросхем, переключатели 2 и 3, ключ 4, дискриминатор 5 напр жени , регулируемый источник 6 опорного напр жени , эталонный конденсатор 7 и элемент 8 сов падени . Устройство работает следуюпщм образом . На вход контролируемой teiKpocxeмы 9 поступает импульс напр жени с выхода цепи J последовательно соединенных микросхем. С выхода контролируемой микросхемы 9 сигнал поступа ет на один из входов дискриминатора 5 напр жени , на другой вход которого поступает опорное напр жение с вы хода регулируемого источника 6 опорного напр жени . При достижении уров н выходного сигнала контролируемой микросхемы 9 уровн заданного опорного напр жени дискриминатор 5 напр жени переключаетс . Таким образо дискриминатор 5 напр жени с регулируемым источником 6 опорного напр же НИН предназначен дл измерени времени задержки контролируемой микросхеьбл 9, При подаче на вход дискриминатора 5 напр жени опорного нгшр жени получают значени t U и tj U , а при подаче опорного напр жени Ua tj Ua и t U , где и t врем задержки контролируемой микросхеьш 9 при пере1слючении из состо ни соответственно. Разность этих времен дает врем переключени контролируемой микросхемы 9 t, и t из состо I и из Г ни О в состо ние О соответственно i.OA II4.,.ОЛ t {Ua--t° U, ., t1 причем t и tt определ етс из соотношений tn TiUa - f TaU.-TaU.-TaUa-T Uz , -„ -.,--- ... где Т U и Т Ua - периоды повторени импульсов, вырабатываемых устройством 9 при подаче на вход дискриминатора 5 напр жени опорного напр жени U и Ua соответственно, причем Т соответствует замыканию переключателей 2 и 3, Та - замыканию переключател 3. измерени выходного сопротивлени контролируемой микросхемы 9 состоит из двух тактов, В первом такте производитс измерение времени задержки контролируемой микросхемы 9, а BTdpoM такте к выходу контролируемой микросхемы 9 с помощью ключа 4 подключаетс эталонный конденсатор 7 и далее вновь производитс измерение времени задержки испытуемой микросхемы 9. По результатам измерени времени задержки контролируемой микросхемы 9 в первом (tcj,) и вторым (tcJ тактах осуществл етс вычисление величины выходного сопротивлени контролируемой микросхемы 9 как функции Т () где Сд - о кость эталонного конденсатора 7-; Сп - паразитна емкость, подключаема к выходу конт тролируемой микросхемы 9 в первом такте.. Использование предлагаемого устройства позвол ет получить более полную информацию о динамических параметрах контролируемой микросхемы. Формула изобретени Устройство дл измерени динамических параметров микросхем по авт. св. № 432431, отличающеес тем, что, с целью расширени функциональных возможностей, в него введены последовательно соединенные эталонный ковденсатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой ьшкросхемы, перва обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а втора его обкладка соединена с выходом ключа. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1« Авторское свидетельство СССР 432431, кл, G 01 R 31/28, 1972.

8

И

.zi.z:.j

t-J