SU676953A1 - Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков - Google Patents

Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков

Info

Publication number
SU676953A1
SU676953A1 SU772469363A SU2469363A SU676953A1 SU 676953 A1 SU676953 A1 SU 676953A1 SU 772469363 A SU772469363 A SU 772469363A SU 2469363 A SU2469363 A SU 2469363A SU 676953 A1 SU676953 A1 SU 676953A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
pulse
input
dynamic parameters
arrangement
Prior art date
Application number
SU772469363A
Other languages
English (en)
Inventor
Олег Петрович Архипов
Владимир Григорьевич Ермаков
Виктор Алексеевич Масенков
Аркадий Алексеевич Мельников
Original Assignee
Пензенский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Технологического Института Приборостроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пензенский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Технологического Института Приборостроения filed Critical Пензенский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Технологического Института Приборостроения
Priority to SU772469363A priority Critical patent/SU676953A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU676953A1 publication Critical patent/SU676953A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к области измерительной техники и может быть использовано дл  измерени  динамических параметров электронных блоков, например, при контроле интегральньгх схем различной степени интеграции по динамическим параметрам .
Известно устройство на основе кольцевого генератора, содержавшего элемент совпадени , к выходу которого подключена лини  задержки (цепь последовательно соединенных микросхем), причем выход линии задержки соединен с индикатором через формирователь тестового импульса с объектом контрол  и через ключ-с одним из входов элемента совпадени . К другому входу элемента совпадени  подключен выход второго ключа, вход которого соединен с выходом дискриминатора напр жени . К одному из входов дискриминатора напр жени  подключен выход объекта контрол , а к другому - регулируемый источник опорного напр жени  1.
Недостатками известного устройства  вл ютс  отсутствие возможности измерени  параметров микросхем с внутренней пам тью, так как во втором такте работы устройства будет нарушатьс  условие самовозбуждени  кольцевого генератора; большое врем  измерени  из-за наличи 
двух тактов работы при проведении одного измерени .
Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей и повышение
быстродействи  устройства.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  измерени  динамических параметров электронных блоков, содержащее элемент совпадени , с выходом которого соединен один из входов линии задержки , выход которой через формирователь тестового импульса соединен с входом объекта контрол , первый дискриминатор напр жени , с одним входом которого соединен регулируемый источник опорных напр жений , а с другим входом-выход объекта контрол , индикатор, введены второй дискриминатор напр жени , генератор импульсов опорной длительности, триггер и
счетчик импульсов с регулируемым коэффициентом делени , причем первый вход второго дискриминатора напр жени  соединен с выходом регулируемого источника опорных напр жений, а второй вход второго дискриминатора напр жени  соединен с входом объекта контрол . Первый вход элемента совпадени  соединен с выходом второго дискриминатора напр жени , второй вход элемента совпадени  - с
выходом триггера, первый вход которого
соединен с выходом первого дискриминатора напр жени , а второй вход - с входом индикатора и выходом счетчика имнульсов с регулируемым коэффициентом делени , вход которого соединен с вторым выходом линии задержки.
На чертеже показана структурна  схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит элемент 1 совпадени  линии 2 задержки, индикатор 3, формирователь 4 тестового импульса, объект 5 контрол , дискриминаторы 6 и 7 напр жени , регулируемый источник 8 опорных напр жений, генератор 9 импульсов опорной длительности, триггер 10, счетчик 11 импульсов с регулируемым коэффициентом делени . Дискриминаторы 6 и 7 напр жени  предназначены дл  фиксации уровней отсчета динамических параметров объекта контрол .
Устройство работает следующим образом .
Исходный импульс известной длительности , поступивший с генератора 9 импульсов опорной длительности в рециркул ционный контур, образованный элементом 1 совпадени , линией 2 задержки с формирователем 4 тестового импульса, вторым дискриминатором 7 напр жени , периодически сужаетс  на величину задержки объекта 5 контрол .
Коэффициент делени  счетчика 11 импульсов с регулируемым коэффициентом делени  устанавливаетс  равным коэффициенту делени  объекта 5 контрол , л-й импульс с промежуточного выхода линии задержки (п - коэффициент делени  объекта контрол  или число импульсов, поступивших на вход объекта контрол  до первого по влени  на его выходе требуемого отклика) через счетчик И импульсов переключает триггер 10, который выдает запрещающий потенциал на вход элемента 1 совпадени , и изменени  потенциала на выходе элемента совпадени  от поступлени  на ее второй вход импульса с выхода дискриминатора 7 напр жени  не происходит .
Изменение потенциала на выходе объекта контрол  под действием п-го импульса вызывает переброс триггера 10 в исходное состо ние, разрешив тем самым прохождение импульса с выхода дискриминатора 7 напр жени  через элемент 1 совпадени  на вход линии 2 задержки. Импульс на выходе элемента 1 совпадени  по сравнению с импульсом на выходе дискриминатора 7 будет короче на величину задержки объекта 5 контрол .
Таким образом, при каждом по влении импульса с выхода объекта контрол  импульс на выходе элемента совпадени  сужаетс  на величину задержки объекта контрол .
Сужение импульса опорной длительности происходит до момента равенства длительности циркулирующего импульса величине задержки объекта контрол . В момент равенства происходит срыв колебаний в рециркул ционном контуре. Действительное значение задержки объекта контрол  можно определ ть как отношение длительности опорного импульса к числу импульсов, зафиксированному индикатором 3.
Поскольку измерение производитс  в один такт, то по сравнению с прототипом оказываетс  выигрыш в быстродействии. Кроме того, предлагаемое устройство позвол ет измер ть динамические параметры микросхем с внутренней пам тью.
Использование устройства дает возможность повысить быстродействие аппаратуры контрол  электронных блоков, а также расширить ее функциональные возможности.

Claims (1)

1. Авторское свидетельство СССР № 432431, кл. 2G 01R 31/28, 1974.
SU772469363A 1977-04-04 1977-04-04 Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков SU676953A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772469363A SU676953A1 (ru) 1977-04-04 1977-04-04 Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772469363A SU676953A1 (ru) 1977-04-04 1977-04-04 Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU676953A1 true SU676953A1 (ru) 1979-07-30

Family

ID=20702218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772469363A SU676953A1 (ru) 1977-04-04 1977-04-04 Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU676953A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU676953A1 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков
US4375082A (en) High speed rectangle function generator
SU836590A1 (ru) Устройство дл измерени динамическихпАРАМЕТРОВ ВзРыВА
SU714418A1 (ru) Устройство дл определени логарифма отношени двух напр жений
SU647642A1 (ru) Цифровой измеритель интервалов времени
SU417772A1 (ru)
SU410340A1 (ru)
SU410771A1 (ru)
SU725048A1 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров микросхем
SU951203A1 (ru) Измеритель динамических параметров электронных устройств
SU894619A2 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров микросхем
SU822338A1 (ru) Селектор импульсной последовательности
SU534882A1 (ru) Детектор частотно-манипулированного сигнала
SU358967A1 (ru)
SU734872A1 (ru) Селектор импульсов
SU532830A1 (ru) Устройство контрол интегральных схем
SU404109A1 (ru) Сигнализатор скорости вращения вала
SU481992A1 (ru) Генератор инфранизкочастотного шума
SU1078364A1 (ru) Устройство дл измерени динамических параметров электронных блоков
SU640266A1 (ru) Устройство дл контрол прохождени импульсов
SU842419A1 (ru) Устройство дл измерени пикового зна-чЕНи ВибРАциОННОгО СигНАлА
SU502342A1 (ru) Быстродействующий частотомер
SU868778A2 (ru) Устройство дл проведени матричных испытаний микроэлектронных схем
SU506827A2 (ru) Устройство дискретного измерени временных интервалов
SU1018102A1 (ru) Устройство дл дискретного измерени временных интервалов