PL45124B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL45124B1
PL45124B1 PL45124A PL4512460A PL45124B1 PL 45124 B1 PL45124 B1 PL 45124B1 PL 45124 A PL45124 A PL 45124A PL 4512460 A PL4512460 A PL 4512460A PL 45124 B1 PL45124 B1 PL 45124B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
selenium
photocell
indium
sensitivity
addition
Prior art date
Application number
PL45124A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL45124B1 publication Critical patent/PL45124B1/pl

Links

Description

Wiadomo, ze czulosc widmowa selenowych ogniw fotoelektrycznych dopasowuje sie do krzy¬ wej czulosci oka ludzkiego lub emulsji fotogra¬ ficznej, przez nakladanie obcych powlok na warstwe selenu, np. w postaci warstw posred¬ nich albo przez stosowanie elektrod pokrywa¬ jacych wykonanych z róznych metali lub pól¬ przewodników. Istnieja jednak takze zakresy za¬ stosowania selenowych fotokomórek warstwowo- zaporowych, w których pracuja one w innym zakresie widmowym na przyklad w poblizu pro¬ mieni podczerwonych. Ma to miejsce np. w przy¬ rzadach do okreslenia zawartosci tlenu we krwi.W przyrzadzie tym jest np. niezbedne, aby za¬ stosowane w nim ogniwo fotoelektryczne wyka¬ zywalo wysoka czulosc jeszcze w zakresie fal o dlugosci okolo 800 mu.Jest wprawdzie znane, ze przez wprowadzenie dodatku Te, Tl, Cd albo Ag mozna spowodowac *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wy¬ nalazku jest dr Alfred Krohs. przesuniecie maksimum widma selenowych foto¬ komórek warstwowo-zaporowych do zakresu wiekszych dlugosci fal. Jednak przy zastosowa¬ niu tych srodków granica czulosci nie znajduje sie juz przy 800 m^ tak, ze czulosc tego rodzaju fotoelementów przy dlugosci fal 800 mu nie wystarcza dla celów technicznych wymienione¬ go rodzaju.Wynalazek dotyczy selenowej fotokomórki warstwowo zaporowej ze zwiekszona czuloscia na promienie podczerwone, w której drugie wa¬ skie maksimum czulosci lezy w zakresie fal o dlugosci od 770 do 800 mu.Wedlug wynalazku tego rodzaju widmowy roz¬ dzial czulosci osiaga sie dzieki temu, ze stosuje sie posrednia warstwe z indu, która jest oddzie¬ lona od podstawowego metalu selenowego foto¬ komórki inna metalowa czescia skladowa, wy¬ konana np. ze srebra.Warstwa posrednia z indu moze byc równiez naniesiona przez odparowanie lub katodowe roz¬ pylenie w atmosferze gazu. Wskazane jest rów*niez posrednia warstwe poddac obróbce cieplnej w prózjni, powietrzu lub w atmosferze gazowej, przy czym miedzy zastosowana temperatura a panujacymi warunkami cisnienia istnieje sci¬ sla relacja. Obróbke przeprowadzic mozna w za¬ kresie cisnien od cisnienia atmosferycznego do okolo 10-4 Torr, przy czym potrzebne odpowied¬ nio do zastosowanego cisnienia temperatury leza w granicach od 280 do 130°C.Przy stosowaniu warstwy posredniej z indu jest celowym poddanie jej obróbce cieplnej w prózni, powietrzu albo w atmosferze gazowej przy okreslonym cisnieniu. Krzywa czulosci wid¬ mowej, selenowej fotokomórki warstwowo-zapo- rowej wedlug wynalazku wykazuje w zakresie fal o dlugosci od 770 do QjH) jjfijm drugie waskie maksimum, które w przeliczeniu na maksimum tej samej energii w ogniwie fotoelektrycznym w zakresie widzialnym posiada okolo 30% wy¬ sokosci zwyklego maksimum, przy czym czulosc ogniwa w zakresie widzialnym w obszarze mak¬ simum odpowiada normalnemu ogniwu fotoelek- trycznemu. Przez umieszczenie wars?,w.v metalo¬ wej miedzy zasadniczym metalem selenu i war¬ stwa posrednia — ind, która moze skladac sie rtp. ze srebra, .mozna wplywac w okreslonych granicach na wysokosc jak równiez ria poloze¬ nie czulosci widmowej. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Selenowa fotokomórka warstwowo-zaporowa o zwiekszonej czulosci na promienie podczer¬ wone przez dodatek domieszek do selenu lub dodanie warstw posrednich, znamienna tym, ze zawiera warstwe posrednia z indu, która jest oddzielona od podstawowego metalu se¬ lenowego fotokomórki za pomoca metalowej czesci skladowej np. ze srebra.
2. Sposób wytwarzania selenowej fotokomórki warstwowo-zaporowej wedlug zastrz. 1, zna¬ mienny tym, ze posrednia warstwe z indu poddaje sie obróbce cieplnej w prózni, w po- . .wietrzu lub atmosferze gazu ^przy okreslo¬ nych warunkach cisnienia, najlepiej pod cis¬ nieniem od atmosferycznego do 10-4 Torr i w zakresie temperatur od 218 do 130°C. VEB Carl Zeiss, Jena Zastepca: dr Andrzej Au rzecznik patentowy. 1790. RSW „Prasa", Kielce. PL
PL45124A 1960-04-09 PL45124B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL45124B1 true PL45124B1 (pl) 1961-10-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Ng et al. Retinomorphic color perception based on opponent process enabled by perovskite bipolar photodetectors
JPS5355986A (en) Manufacture of semiconductor device
Torres et al. Electrical properties and JV modeling of perovskite (CH3NH3PbI3) solar cells after external thermal exposure
Mooney et al. Spray pyrolysis of CuInSe2
PL45124B1 (pl)
US9496433B2 (en) Photoelectric conversion device and method for manufacturing photoelectric conversion device
Khrypunov et al. Flexible solar cells based on cadmium sulfide and telluride
JPS5748247A (en) Semiconductor integrated circuit device
PL45527B1 (pl)
JPS5227389A (en) Semiconductor device containing multi-layer wiring
JPS5737852A (en) Semiconductor integrated circuit and programming method for said circuit
NO830781L (no) Solcelle
JPS5780637A (en) Target for image pickup tube
JPS5258491A (en) Semiconductor device
JPS5214381A (en) Mis-type semiconductor device
JPS53109487A (en) Manufacture for semiconductor device
Sparvoli et al. Circuit Emulating Neural Response Based on Ga2O3 Photomemristor
SU44288A1 (ru) Фотоэлемент вентильного типа
JPS5441666A (en) Semiconductor integrated circuit element
JPS52101979A (en) Semiconductor device
JPS5250167A (en) Semiconductor device
JPS5565451A (en) Semiconductor integrated circuit
UA54946A (uk) Спосіб виготовлення детектора ультрафіолетового випромінювання
SU595643A2 (ru) Преобразователь давлени
JPS5272171A (en) Production of semiconductor device