PL36029B1 - - Google Patents

Description

Sposób wedlug wynalazku moze znalezc zasto¬ sowanie do badania gladkosci i pomiaru nierów¬ nosci powierzchni krzywoliniowych wszelkich ksztaltów, zarówno wkleslych jak i wypuklych.Zasadniczym przeznaczeniem sposobu jest bada¬ nie powierzchni walcowych wkleslych, wglebien krzywoliniowych i otworów.W aparatach optycznych, dotychczas stosowa¬ nych do tych celów, a opartych na metodzie cie¬ nia, wykorzystuje sie plytke szklana, tzn. przed¬ miot sztywny z szeregiem rys w postaci naciec prostoliniowych na jej spodniej powierzchni. Na plytke skierowana jest wiazka promieni swietl¬ nych równoleglych, wskutek czego rysy rzucaja na powierzchnie badana cien, którego ksztalt jest w pewnym stopniu zgodny z nierównosciami tej powierzchni i moze byc uwazany za miare jej nierównosci. Warunkiem dokladnosci pomiaru ta metoda jest dokladne przyleganie plyitki do po¬ wierzchni badanej. Warunek ten jest calkowicie spelniony w przypadku badan powierzchni plas¬ kich. Natomiast w przypadku badan powierzchni wypuklych walcowych (walków) warunek ten zo¬ staje spelniony jedynie w odniesieniu do tej po¬ wierzchni walka, która przylega do plytki, a wiec do tworzacej stycznej. W metodzie pomiaru we¬ dlug wynalazku mozna dokonac dokladne po¬ miary nie tylko powierzchni plaskich, lecz wszel¬ kich powierzchni krzywoliniowych, wypuklych i przede wszystkim wkleslych, których dotych¬ czasowym sposobem, polegajacym na zastosowa¬ niu plytki szklanej, nie mozna bylo badac. Tlu¬ maczy sie to tym, ze do pomiaru stosuje sie plytke elastyczna (gietka) z przezroczystej masy.Plytka ta posiada na spodniej powierzchni szereg rys w postaci naciec prostoliniowych. Poniewaz plytka pomiarowa jest plytka gietka, przeto dzie¬ ki niej mozna uzyskac takie same dogodne wa¬ runki pomiaru, jakie w dotychczasowym sposobie uzyskiwano w odniesieniu do powierzchni plas¬ kich przy uzyciu plytki szklanej, gdyz plytke gietka zawsze mozna doprowadzic do zupelnego styku z kazda powierzchnia krzywoliniowa, za¬ równo wypukla jak i wklesla.Rysunek przedstawia sposób zastosowania mi¬ kroskopu wedlug wynalazku.Fig. 1 przedstawia schemat optyczny aparatu do badania gladkosci i pomiaru nierównosci po¬ wierzchni krzywoliniowych, skladajacego sie ze zródla swiatla 1, soczewki zbierajacej £, filtru 3, zwierciadla 4; czesci te tworza mikroskop oswie¬ tleniowy. Soczewka zbierajaca 7 i okular 8 two¬ rza mikroskop obserwacyjny. Na powierzchni badanej 6 znajduje sie przylegajaca do niej gie¬ tka przezroczysta plytka 5 z szeregiem prostoli¬ niowych naciec.Wiazka promieni swietlnych, padajac ze zródla swiatla 1 na rysy plytki, powoduje rzucanie przez te rysy szeregu cieni, które beda miara nierów¬ nosci powierzchni badanej.(Fig. 2 przedstawia badanie powierzchni wypu¬ klej (na przyklad walka). Plytka gietka doklad¬ nie przylega do wypuklej powierzchni badanej.W plaszczyznie stycznej X—X istnieja takie same warunki badania z metrologicznego punktu wi¬ dzenia, jak w analogicznej plaszczyznie X—X na fig. 1.Fig. 3 przedstawia przyklad.badania powierz¬ chni krzywoliniowych wkleslych (na przyklad otworu). W plaszczyznie stycznej X—X istnieja takie same warunki pomiaru, jak w analogicz¬ nych plaszczyznach na fig. 1 i 2.Fig. 4 przedstawia prostoliniowe rysy w polu widzenia mikroskopu obserwacyjnego i pólkoliste cienie od tych rys, charakteryzujace nierównosci powierzchni badanej.Z uwagi na ceche charakterystyczna zastoso¬ wanej plytki pomiarowej metoda niniejsza moze byc nazwana „metoda gietkiej plyty". PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób badania gladkosci i pomiaru nierówno¬ sci powierzchni krzywoliniowych przy uzyciu mikroskopu oswietleniowego i obserwacyjnego oraz z zastosowaniem przezroczystej plytki, za¬ opatrzonej na swej spodniej powierzchni w sze¬ reg naciec prostoliniowych, znamienny tym, ze plytka (5) jest wykonana z gietkiej masy, tak iz mozliwe jest dokladne jej przyleganie do wszelkich powierzchni krzywoliniowych. Stefan GóreckiDo opisu patentowego nr 36029 „Prasa" Stalinogród, 666^ — 6.11.53 — R-4-45604 — BI bezdrz. 100 g. - 150. PL