PL45329B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano dula 10 stycznia 1962 r.POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45329 KI. 42 b, 12/05 Mgr inz. Antoni Sidorowicz Warszawa, Polska Interferometr do sprawdzania powierzchni mierniczych mikrometrów Patent trwa od dnia 10 maja 1961 r.Interferometr do sprawdzania powierzchni mierniczych mikrometrów sluzy do sprawdza¬ nia plaskosci i równoleglosci powierzchni mier¬ niczych mikrometrów.W stosunku do znanych metod sprawdzania równoleglosci za pomoca urzadzenia autokli- macyjnego oraz równoleglosci i plaskosci po¬ wierzchni mierniczych mikrometrów za pomoca plasko-równoleglych sprawdzianów interferen¬ cyjnych, interferometr, bedacy przedmiotem wynalazku, ma te wyzszosc, iz w sposób nfte wymagajacy dotykania powierzchni mierniczych do sprawdzianu pozwala na jednoczesny pomiar plaskosci i równoleglosci powierzchni mierni¬ czych mikrometrów, przy czym obrazy prazków od kowadelka i wrzeciona siebie w polu widzenia interferometru.Istota wynalazku polega na zastosowaniu specjalnego pryzmatycznego sprawdzianu in¬ terferencyjnego, pozwalajacego na jednoczesna obserwacje obrazów prazków interferencyjnych od przeciwleglych powierzchni mierniczych oraz polaczenia tego sprawdzianu z takim ukladem optycznym, który umozliwia obserwacje praz¬ ków przy róznicy dróg optycznych rzedu kilku milimetrów. Na rysunku fig. 1 przedstawia schemat optyczny interferometru wedlug wy¬ nalazku wraz ze schematem mocowania i ma¬ nipulacji sprawdzanym mikrometrem.Uklad optyczny interferometru sklada sie z pryzmatycznego sprawdzianu interferencyjne¬ go 1, obiektywu 2, pryzmatu swiatlodzielacego 3, diafragmy 4 z otworkiem, muszli ocznej z otworkiem 5 i zamiennego z muszla okula¬ ru 6.Otworek diafragmy 4, znajdujacy sie w ognis¬ ku przedmiotowym obiektywu 2, jest oswietlo¬ ny zródlem swiatla monochromatycznego 7.Promienie swiatla monochromatycznego, po wyjsciu z otworka diafragmy 4 i odbiciu od powierzchni swiatlodzielacej pryzmatu 3, pa¬ daja na obiektyw 2 i wychodza z niego w po¬ staci peku promieni równoleglych i dalej, po odbiciu od powierzchni 0 interferencyjnegosprawdzianu 1 padaja na powierzchnie robocze R sprawdzianu i powierzchnie miernicze M mikrometru.Po odbiciu promieni od powierzchni R i M nastepuje interferencja na powierzchniach R.Obrazy interferencyjne od obu przeciwleglych powierzchni mierniczych M obserwuje sie przez obiektyw 2 (który pelni w tym przypadku role lupy), umieszczajac oko za otworkiem muszli 5, który to otworek jest umieszczony w ognisku obiektywu 2, a wiec do oka trafiaja tylko pro¬ mienie równolegle, idace od prazków interfe¬ rencyjnych.Mikrometr zamocowany jest na wsporniku 8 za pomoca trzpienia 9 i sruby zaciskowej 10.Dla przystosowania interferometru do spraw¬ dzania mikrometrów o rozmaitych zakresach mierniczych trzpien 9 i suport 11 sa regulowa¬ ne na wysokosc.Wspornik 8, przyciagany sprezyna srubowa 15 do podstawy 16, spoczywa na trzpieniu 13 i dwóch srubach regulacyjnych 14. Dla wstep¬ nego równoleglego ustawienia powierzchni mierniczych M do powierzchni roboczych R na miejsce muszli 5 zostaje wlaczony okular 6.W tym zestawieniu uklad pracuje jako luneta autokolimacyjna.Manipulujac srubami 14 sprowadza sie do pokrycia obrazy otworku diafragmy 4 odbite od powierzchni RiM kowadelka, a nastepnie po zamianie okularu przez muszle 5 obserwuje sie prazki.Dokonujac retuszu srubami 14 doprowadza sie dokladnie do równoleglosci powierzchnie R i M kowadelka. Obrazy prazków w polu widzenia przyrzadu beda jak na przyklad na fig. 2, gdzie a obraz prazków kowadelka, b obraz prazków wrzeciona. Liczba prazków na fig. 2 — a mno- X zona przez — uzytego swiatla daje odchylke kowadelka od plaskosci, zas liczba prazków wrzeciona mnozona przez — daje odchylke od równoleglosci. *Do sprawdzenia równoleg¬ losci powierzchni mierniczych w dowolnym katowym polozeniu wrzeciona wystarczy wrze¬ ciono obrócic o zadany kat i sprawdzic róznice w liczbie prazków dla tych dwóch polozen wrzeciona.Dla sprawdzenia plaskosci powierzchni mier¬ niczej wrzeciona, manipulujac srubami 14 do¬ prowadza sie do dokladnej równoleglosci po¬ wierzchnie R i M wrzeciona.Obraz prazków bedzie jak na przyklad na fig. 3, gdzie a — prazki kowadelka, b — prazki wrzeciona.Sprawdzian interferencyjny pryzmatyczny 1 jest wymienny zaleznie od zakresu sprawdza¬ nych mikromierzy. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Interferometr do sprawdzania powierzchni mierniczych mikrometrów, znamienny tym, ze posiada pryzmatyczny sprawdzian interferen¬ cyjny (1), pozwalajacy na jednoczesna obserwa¬ cje w polu widzenia obrazów prazków inter¬ ferencyjnych, utworzonych przez przeciwlegle powierzchnie miernicze mikrometru. Mgr inz. Antoni SidorowiczDo opisu patentowego nr 45329 ' ® ® ® ® ® %J %l PL