SU112953A1 - Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов - Google Patents

Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов

Info

Publication number
SU112953A1
SU112953A1 SU455877A SU455877A SU112953A1 SU 112953 A1 SU112953 A1 SU 112953A1 SU 455877 A SU455877 A SU 455877A SU 455877 A SU455877 A SU 455877A SU 112953 A1 SU112953 A1 SU 112953A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
angle
cutting edge
microscope
sharpening
quality
Prior art date
Application number
SU455877A
Other languages
English (en)
Inventor
А.М. Перцев
Original Assignee
А.М. Перцев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by А.М. Перцев filed Critical А.М. Перцев
Priority to SU455877A priority Critical patent/SU112953A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU112953A1 publication Critical patent/SU112953A1/ru

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Известны микроскопы, служащие дл  определени  качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов, основанные на еветовом сечении режущей кромки и выполненны.е с ирименением щелевых щторок, светофильтров, гониометра и отсчетной щкалы на окул торе дл  измерени  угла заострени . Недостатками этих микроскопов  вл ютс  отсутствие достаточно резкого изображени  в поле зрени  режущей кромки и невозможность непосредственного измерени  угла заточки ее по углу между пзoбpaжeни  rи щелей, что затрудн ет вынолнение операций исследовани  режущей кромки инструментов иа этих приборах.
Особенность описываемого ниже микроскопа заключаетс  в том, что, с целью получени  резкого изображени  режущей кромки и измерени  угла заточки по углу между изображени ми щелей, применены двусторонние боковые осветители, проектирующие изображени  щелей на гра-. ни режущей кромки.
На фиг. 1 изображена принципиальна  схема микроскопа; па фиг. 2-общий вид щелевой щторкн и проектпрусмые на грань режущей кромки изображени  щелей; на фиг. 3-изображени  щелей на гран х режущей кромки, видимые в поле зрени  микроскопа.
Микроскоп имеет тубус / с окул ром 2, снабженным гониометром и отсчетной Щ;калой дл  изм ерени  углов. Предметны столик ,5 микроскопа снабжен приепособлэнием дл  укреиленн  режущего инструмента и выполнен новоротным. Но бокам столика 3 расположены двусторонние осветители и 5. Нучки света, излучаемые осветител ми проход т через линзы 6, направл ющие щторки 7, светофильтры 8 и ще чевые шторки 9, рассекающие световой пучок на вертикальные световые полоски 10, изображение которых проектируетс  на гран х режущей кромки // инструмента , установленного на предметном столике 3.
Дл  нроверки качества режущей кромки рабоча  плоскость столика должна быть установлена в плоскости, перпендикул рной к оптической
оси микроскопа, а положе гие осветителей - под углом в 0 к горизонтальной плоскости, причем световые полосы должны совпадать с режущей кромкой и освещать ее. При этом в поле зрени  микроскопа по.чучаетс  резкое изображение режущей кромки з вид  ркой светлой линии, прерывающейс  или измен ющей ширину и очертани  при наличии тех Или иных дефектов на ее новерхности.
Дл  измерени  угла заточки режуодей кром.ки предметный сто.чик устанавливают под углом 45° к оптичеекой оси микроекона. Осветители устанавливают горизонтально, щелевые шторки - под угло.м 22 30, на тубусе микроскопа укрепл ют гониометр. Вместо гониометра может быть применен О|Кул тор с угломерной сеткой. При такой установке микроекопа в поле зрени  видны изображепи  щелей иа гран х режущей кромки инструмента (фиг. 3), угол между которыми, измер емый при помощи гопиометра, будет соответствовать истинному углу заточки режущей кромки.
Предмет и з о б р е т е н и  
Микроскоп дл  онределепи  качества и угла заточки режуидей кромки различных инструментов, оенова И1Ь Й на световом есчении режушей кромки, с применением щелевых шторок, светофильтров, гониометра и отсчетпой па окул г е, о т;; л ч а ю ш и к е   тем, что, с по,::;/чени  резкого изображепи  рсжунт.ей кромки и измерени  угла заточки по углу между изображени ми щелей, п|)имепепы двустс/poHiii-ie боковые осветители, проектирующие изображени  и,елей на гранн режущей кромки.
Фиг. 3
SU455877A 1953-03-16 1953-03-16 Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов SU112953A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU455877A SU112953A1 (ru) 1953-03-16 1953-03-16 Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU455877A SU112953A1 (ru) 1953-03-16 1953-03-16 Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU112953A1 true SU112953A1 (ru) 1957-11-30

Family

ID=48385462

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU455877A SU112953A1 (ru) 1953-03-16 1953-03-16 Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU112953A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2253054A (en) Device for measuring flatness of glass
US2406451A (en) Optical means for inspection
US2255631A (en) Microscope
Drummond The infra-red absorption spectra of quartz and fused Silica from 1 to 7· 5 μ II-Experimental results
DE1548480A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung einstellbarer Teile eines Gebildes
US2466015A (en) Apparatus for locating reflecting surfaces and for measuring the curvatures thereof
SU112953A1 (ru) Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов
US2064368A (en) Projection apparatus
US1876176A (en) Location finder for microscopes
US1934582A (en) Projection apparatus
US2380235A (en) Means and method for orienting irregular quartz crystals
US2349989A (en) Optical testing or measuring apparatus
GB395649A (en) Improvements in methods and apparatus for microscopically examining the profiles of surfaces
US2313143A (en) Apparatus fob examining quartz
US3124638A (en) Apparatus for the orientation of crystals
SU408200A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ДЕФЕКТОСКОПИИ ПРОЗРАЧНЫХ
US2419617A (en) Optical device for testing crystal sections
US2218489A (en) Piezoelectric crystal
US3023663A (en) Die wear microscope
US2439836A (en) Method of and apparatus for locating the direction of natural axes of quartz crystalsections
US2180015A (en) Diagnostic instrument
US2566058A (en) Transparent bifocal protractor
US2989889A (en) Rangefinders and like optical instruments
Douglass An optical periodograph
US3307449A (en) Optical measuring device