SU112953A1 - Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов - Google Patents
Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментовInfo
- Publication number
- SU112953A1 SU112953A1 SU455877A SU455877A SU112953A1 SU 112953 A1 SU112953 A1 SU 112953A1 SU 455877 A SU455877 A SU 455877A SU 455877 A SU455877 A SU 455877A SU 112953 A1 SU112953 A1 SU 112953A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- angle
- cutting edge
- microscope
- sharpening
- quality
- Prior art date
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Известны микроскопы, служащие дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов, основанные на еветовом сечении режущей кромки и выполненны.е с ирименением щелевых щторок, светофильтров, гониометра и отсчетной щкалы на окул торе дл измерени угла заострени . Недостатками этих микроскопов вл ютс отсутствие достаточно резкого изображени в поле зрени режущей кромки и невозможность непосредственного измерени угла заточки ее по углу между пзoбpaжeни rи щелей, что затрудн ет вынолнение операций исследовани режущей кромки инструментов иа этих приборах.
Особенность описываемого ниже микроскопа заключаетс в том, что, с целью получени резкого изображени режущей кромки и измерени угла заточки по углу между изображени ми щелей, применены двусторонние боковые осветители, проектирующие изображени щелей на гра-. ни режущей кромки.
На фиг. 1 изображена принципиальна схема микроскопа; па фиг. 2-общий вид щелевой щторкн и проектпрусмые на грань режущей кромки изображени щелей; на фиг. 3-изображени щелей на гран х режущей кромки, видимые в поле зрени микроскопа.
Микроскоп имеет тубус / с окул ром 2, снабженным гониометром и отсчетной Щ;калой дл изм ерени углов. Предметны столик ,5 микроскопа снабжен приепособлэнием дл укреиленн режущего инструмента и выполнен новоротным. Но бокам столика 3 расположены двусторонние осветители и 5. Нучки света, излучаемые осветител ми проход т через линзы 6, направл ющие щторки 7, светофильтры 8 и ще чевые шторки 9, рассекающие световой пучок на вертикальные световые полоски 10, изображение которых проектируетс на гран х режущей кромки // инструмента , установленного на предметном столике 3.
Дл нроверки качества режущей кромки рабоча плоскость столика должна быть установлена в плоскости, перпендикул рной к оптической
оси микроскопа, а положе гие осветителей - под углом в 0 к горизонтальной плоскости, причем световые полосы должны совпадать с режущей кромкой и освещать ее. При этом в поле зрени микроскопа по.чучаетс резкое изображение режущей кромки з вид ркой светлой линии, прерывающейс или измен ющей ширину и очертани при наличии тех Или иных дефектов на ее новерхности.
Дл измерени угла заточки режуодей кром.ки предметный сто.чик устанавливают под углом 45° к оптичеекой оси микроекона. Осветители устанавливают горизонтально, щелевые шторки - под угло.м 22 30, на тубусе микроскопа укрепл ют гониометр. Вместо гониометра может быть применен О|Кул тор с угломерной сеткой. При такой установке микроекопа в поле зрени видны изображепи щелей иа гран х режущей кромки инструмента (фиг. 3), угол между которыми, измер емый при помощи гопиометра, будет соответствовать истинному углу заточки режущей кромки.
Предмет и з о б р е т е н и
Микроскоп дл онределепи качества и угла заточки режуидей кромки различных инструментов, оенова И1Ь Й на световом есчении режушей кромки, с применением щелевых шторок, светофильтров, гониометра и отсчетпой па окул г е, о т;; л ч а ю ш и к е тем, что, с по,::;/чени резкого изображепи рсжунт.ей кромки и измерени угла заточки по углу между изображени ми щелей, п|)имепепы двустс/poHiii-ie боковые осветители, проектирующие изображени и,елей на гранн режущей кромки.
Фиг. 3
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU455877A SU112953A1 (ru) | 1953-03-16 | 1953-03-16 | Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU455877A SU112953A1 (ru) | 1953-03-16 | 1953-03-16 | Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU112953A1 true SU112953A1 (ru) | 1957-11-30 |
Family
ID=48385462
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU455877A SU112953A1 (ru) | 1953-03-16 | 1953-03-16 | Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU112953A1 (ru) |
-
1953
- 1953-03-16 SU SU455877A patent/SU112953A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2253054A (en) | Device for measuring flatness of glass | |
US2406451A (en) | Optical means for inspection | |
US2255631A (en) | Microscope | |
Drummond | The infra-red absorption spectra of quartz and fused Silica from 1 to 7· 5 μ II-Experimental results | |
DE1548480A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung einstellbarer Teile eines Gebildes | |
US2466015A (en) | Apparatus for locating reflecting surfaces and for measuring the curvatures thereof | |
SU112953A1 (ru) | Микроскоп дл определени качества и угла заточки режущей кромки различных инструментов | |
US2064368A (en) | Projection apparatus | |
US1876176A (en) | Location finder for microscopes | |
US1934582A (en) | Projection apparatus | |
US2380235A (en) | Means and method for orienting irregular quartz crystals | |
US2349989A (en) | Optical testing or measuring apparatus | |
GB395649A (en) | Improvements in methods and apparatus for microscopically examining the profiles of surfaces | |
US2313143A (en) | Apparatus fob examining quartz | |
US3124638A (en) | Apparatus for the orientation of crystals | |
SU408200A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ДЕФЕКТОСКОПИИ ПРОЗРАЧНЫХ | |
US2419617A (en) | Optical device for testing crystal sections | |
US2218489A (en) | Piezoelectric crystal | |
US3023663A (en) | Die wear microscope | |
US2439836A (en) | Method of and apparatus for locating the direction of natural axes of quartz crystalsections | |
US2180015A (en) | Diagnostic instrument | |
US2566058A (en) | Transparent bifocal protractor | |
US2989889A (en) | Rangefinders and like optical instruments | |
Douglass | An optical periodograph | |
US3307449A (en) | Optical measuring device |