DE1548480A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung einstellbarer Teile eines Gebildes - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung einstellbarer Teile eines GebildesInfo
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Description
NATIOETAL RESEAEOH DEVELOPMENT CORPORATION
London S. W. 1 / Großbritannien
Victoria Street, Kingsgate House
Victoria Street, Kingsgate House
Verfahren
Die Priorität der Patentanmeldung No. 25 270/65" vom
15. Juni 1965 wird in Anspruch genommen.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Feststellen der Lagebeziehungen, wie z, B. der
fluchtenden Anordnung, einstellbarer Teile eines Gebildes, z. B. einer Maschine auf optischem Wege.
Die bisher gebräuchliche optische Methode hat darin bestanden, ein Teleskop so anzuordnen, daß seine Achse eine
Bezug3ach.se festlegt und dann die auszurichtenden Teile
so einzustellen, daß eine Einstellmarke bzw. Einstellmarken auf jedem Teil vom Beobachter als auf einer Linie
liegend gesehen wurden.
Da das Teleskop auf Einstellmarkierungen in verschiedenen
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Abständen vom Betrachter fokussiert worden mu-j, ist es
nicht leicht, die Achse unverändert zu halten, Ein sog.
jxichtfernrohr mit einer Fokussierungsbewegung besonderer
Ei'ichanischer Genauigkeit kann verwendet werden, welches
die Achse über den ganzen Einstellböreich in ihrer Ausgangsstellung
hält. Wahlweise kann auch das Teleskop ein feststehendes
optisches Doppelbildsystem als !Riehtsjntem aufweisen,
d. i. ein optisches System, das ein durch es hindurch geleitetes Lichtbündel in zwei annähernd gleiche
Bündel aufteilt, die symmetrisch zueinander sind mit einer Aufspaltung, welche eine !Punktion der Abweichung des eintretenden
Bündels von einer durch das optische oyatem
unabhängig bestimmten Sichtung ist. Dieses System kann
eine Symmetrieebene oder -achse bestimmen, nfenn das Bündel
im ersteren Fall entlang einer Achse in einer besonderen Ebene und im letzteren Fall entlang einer besonderen
Achse, geleitet wird, sind die zv/ei Bündel genau überlagert und es tritt nur ein einziges austretendes
Bündel in Erscheinung. Derartige optische Systeme sind allgemein bekannt und bestehen aus Prismen oder aus Prismen
und Spiegeln. Da in einem Richtfernrohr das optische System feststeht, bestimmt es eine feststehende Achse oder Ebene
und jede Abweichung der Teleskop-Achse von dieser Ebene oder Achse des optischen Systems wird durch ein Doppelbild kenntlich gemacht und eine Korrektur kann durch Verstellen der Ausrichtung des Fernrohrs bis zur genauen Überlagerung der zwei Bilder erzielt werden, eine Aufgabe,
die, weil die zwei Bilder schwach'^itrastarm sind, müh-
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BAD ORIGINAL
sam ist und von der subjektiven Beurteilung des Beobachters
abhängt.
Da sich zumindest einige der iDinstellmarkierungen in beträchtlichem
Abstand befinden, erfordert das Verfahren im allgemeinen eine zweite Bedienungsperson zusätzlich
zum Beobachter,, um jeden Teil gesondert auszurichten, und ein Kommunikationssjstem ζ v/i sehen dem Beobachter und der
Bedienungsperson ,und i-s dauert lang, um die Genauigkeit
zu erreichen, die das System bieten kann, wegen "der
Schwierigkeiten der Koinmukikation zusätzlich zu denen
der Ausrichtung das T-.loskopes. Jüiii Mikrometer-Augenstück
stellt eine Hilfe dar, vermehrt jedoch die Belastung
des Beobachters.
iliii'-:-flucht end ο Ausrichtung ist auch mittels eines sog.
Axicons bewirkt '„-orden, d.i. eine Vorrichtung, die eine'
dünne- Lichtliiiie ergibt, die, wenn dafür Sorge getragen
wird, daß Brechungaeffekte vermieden v/erden, eine gerade
Bezug si ini';:; ergibt; jedoch hat dieses Verfahren
stille spezifischen Schwierigke'iten, insbesondere die, daß
die Linie eher eine Linie maximaler Intensität ist als
ein; isolierte Lichtlinie.
ivür die vorliegende Erfindung, welche mit der Verwendung
ein ο π ■ -iPernrohra vt-rbunden ist, sind die Eigenschaften
-jin·..,!· einfach wirkend en Las or quölle für kohärente Strah-
RAD OBlGl
009817/005D B/^ —-4 -
lung mit Vorteil zu nutzen, um die Arbeitsvorgänge zu vereinfachen und zu beschleunigen, ohne den G-enauigskeitsverlust,
der bei optischen Verfahren auftreten kann. Es erfolgt" dies durch Umkehrung des üblichen Lichtweges,
indem die Laserquelle anstelle des Auges des Beobachters eingesetzt wird und das Laserbündel durch einoptisches
System der vorstehend erwähnten Art geleitet wird, wodurch eine feste Ebene oder Linie unabhängig von der Einstellung
der Laserquelle festgelegt wird. Solch eine Kombination hat den Vorteil, dais die Laserquelle je nach Bedarf entfernt
oder ersetzt v/erden kann und daß infolge des sehr kohärenten Lichtes einer Laserquelle ein genaues Zusammenfallen
der Achse des Laserbündels mit der durch das optische System definierten Achse, wie nachstehend
erläutert werden wird, sehr leicht beobachtet werden -.kann,
wobei die Helligkeit eines Laserbündels auch die Beobachtung beim Ausrichten beweglicher Teile mittels des
Verfahrens bzw. der Vorrichtung nach der Erfindung leicht macht.
Vorrichtungen wie eine Matt- oder Bildscheibe oder eine Einstellmarkierung können verwendet werden,um die Überschneidung der durch das optische System bestimmten
Ebene oder Line mit einer Querebene in ausgewählter Stellung im Abstand vom optischen System festzustellen. Da eine
Laserquelle ein eng zusammengedrängtes Bündel erzeugen
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BAD ORiG!NAL_
kann, wird für manche Fälle nichts weiter benötigt. Jedoch
kann durch Einführen einer Kollimatorvorrichtung die Größe des Lichtflecks herabgesetzt werden und der
Kollimator kann so einstellbar sein, daß eine maximale Konzentration nacheinander in verschiedenen Abständen
erzielbar ist.
Die Erfindung wird im einzelnen erläutert werden unter Bezugnahme auf die beigefügten, weitgehend schematischen
Zeichnungen.
Fig. 1 zeigt die wesentlichen Teile einer Richtvorrichtung gemäß der Erfindung und
Mg. 2 zeigt eine Pokussiereinrichtung mit wesentlichen
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Teilen einer liichtvorrichtung gemäß der Erfindung.
In Fig. 1 ist die punktförmige Lichtquelle einer einfach
wirkenden'Laservorrichtung mit 11 bezeichnet. Daα
Licht wird durch einen Kollimator 12 mit Pokussierungseinstellung
gesammelt und das zusammengefaßte Bündel tritt in ein optisches System mit einer das Bündel
spaltenden Platte 13 ein, welche das Bündel in zwei annähernd gleiche Bündel aufteilt und in--eine*1- um 45° zur
Richtung der Brennpunktachse des eintretenden Bündels
geneigt angeordnet ist,und mit zwei Prismen 14 und 15»
von der Querschnittsform eines gleichschenkligen Dr eiecks (Dachprismen), die im von der Platte 13 erstmals
durchgelassenen bzw. erstmals reflektierten Bündel mit ihrer Hypotenusenfläche senkrecht zur Bündelachse angeordnet
sind. Die Oberkante 14a des Prismas 14 liegt in der Zeichenebene und die Oberkante 15a des Prismas 15
verläuft senkrecht zur Zeichnungsebene, so daß die zwei
Kanten zueinander und zu der erforderlichen Achse der zwei Bündel senkrecht stehen. Bin solches System hat die
Eigenschaft, daß,obwohl das eintretende Bündel bei der Platte 13 in zwei Bündel gespalten wird, die zwei austretenden
Bündel, wenn die Sammelachse 12 a mit einer besonderen Achse, welche die Achse des Systems genannt werden kann,
zusammenfällt, genau überlagert sind, wobei ihre Achsen mit der Systemachse 12b zusammenfallen. Wenn die Sammeln
chse nicht mit der Syatemachse zusammenfällt, werden die
-Ί -
zwei Bündel symmetrisch zur Achse 12b austreten, wobei
die leigung der zwei Bündel zur Achse eine Funktion der Ungenauigkeit der Ausrichtung der Sammelachse ist.
Dementsprechend ist die lagerung der Laservorrichtung
und des Kollimators so angeordnet, daß die KoHimatorachse
gegenüber den Teilen 13» H, 15 ausgerichtet v/erden
kann.
Wenn ein ebener ileilektor anstelle eines der keilförmigen
Prismen verwendet wird, wird das System anstelle einer Achse eine Ebene festlegen, gegenüber v/elcher die
zwei austretenden Bündel symmetrisch sein werden. Wenn z. B. der ebene Reflektor anstelle des Prismas 14 verwendet wird, verläuft die festgelegte Ebene senkrecht
zur Zeichenebene.
Boi dem gezeichten einfachen System ist es wünschenswert,
daß die zwei "Daclf^xfeismen genaue Brechungswinkel haben,
weil sonst jedes der zwei Bündel gespalten wird, so daß
es vier Bündel gibt, wenn die Sammelachse ungenau ist und zwei, wenn sie genau ausgerichtet ist. Jedochwürde
die praktische Auswirkung solcher kleinen Abweichungen, wie sie in der Praxis auftreten wurden, nicht zu voll *=
ständig getrennten Bündeln führen, sondern nur zu unvollständig überlagerten Bündel und.einem endgültigen Bündel
von nicht kreisförmigem Querschnitt nach Einstellung der
Sammelachse.
Für die hier, in Betracht kommende Arbeit ist es wünscheiis-
009817/ßOSO
wert, daß das Prismensystem aus zusammengekitteten Bestandteilen
Ein besonders geeignetes System dieser Art, daus aus einer ziemlich großen Anzahl von Bestandteilen bes
tehen würde, jedoch den Vorteil haben würde, daß es größere Ungenauigkeiten der Oberkantenwinkel der
Prismen gestatten würde, ist in der Anmeldung Hr. 11 650/66 geoffenbart.
Bei jedem dieser Systeme kann, wenn die v/egunterschiede
innerhalb des Systems derart sind, daß eine auslöschende Interferenz im ausgehenden Bündel auftritt, diesem Effekt
durch effektive Drehung der Polarisationsebene des in das System eintretenden Lichts, zweckmäßigerweise durch
Einschaltung von Halbwellenblättchen, begegnet v/erden.
Ein3 Bildscheibe 17 ist unter einem gewünschten Abstand
angeordnet, zweckmä3ige.i-veise am abgelegenen Ende docj
AbStandes, über welchen sich die Arbeit zu erstrecken
hat, und die Fokussierbewegung des Kolimators 12 wird
verwendet, um das Laserbündel durch das System 13, 14, 15 zu konzentrieren, so daß der kl einstmögliche Lichtfleck
oder das kl einstmögliche Paar von Lichtflecken auf der
Mattscheibe gebildet wird.
Wenn zvßi verschiedene Lichtflecke auftreten, zeigt dies,
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daß die Sammelachse 12a und die Achse oder iibene des
optischen Systems nicht zusammenfallen, jedoch sind diese immer symmetrisch zur Achse oder Jilbene des optischen
Systems. Durch Verstellung der Sammelachse gegenüber dem optischen System kann bewirkt werden, daß die Lichtilecke
sich einander annähern und, soweit beobachbar,
zusammenfallen. Ein exaktes Zusammenfallen kann durch
Zwischenschalten irgend einer einfachen Mattscheibe 18, wie z. B. eines Stückes Papier, in den austretenden
Lichtstrahlen in der Nähe des optischen Systems erzielt werden und durch weiteres Verstellen im Sinne einer Beseitigung
jeder Schwankung in dann zu beobachtenden Streifenmuster, das durch die Interferenz der Laserwell enfront mit ihrer eigenen zurückgeworfenen oder umgekehrten
tfellenfronf erzeugt wird.
Das fokussierte Bild auf der Mattscheibe 17 ist nur ein einziger 51IeCk, der in der durch das optische System
bestimmten Linie und Ebene liegt und wenn die Scheibe 17
mit irgend einem Index versehen ist, um sie zu einer Einstellmarkierung zu machen, kann der Fleck in die gewünschte
Stellung auf dieser Markierungsscheibe gebracht werden durdh Verstellung der Laservorrichtung, des Kollimators
und des optischen Systems als Ganzem,ivodurch eine
Auariohtachse in bekannter Stellung erzeugt wird.
Eine Bezug3markioxiuri^S3heibe, die auf diese Weise an dem
00 00 17/00 β θ" " 1Ü ■"
entfernten Ende des Arbeitsfeldes erzeugt wird, gestattet
es, das ganze System von Zeit zu Zeit zu überprüfen und
jede Abweichung in der Lagerung des optischen Systems
zu korrigieren.
Wenn nun ein Teil fluchtend mit der Achse des Systems ausgerichtet werden soll, kann eine Mattscheibe 16 mit
einer Einstellmarkierung auf dem Teil befestigt werden und der Kollimator wird dann fokussiert und verstellt
im Sinne der Erzeugung des kleinstmöglichen Lichtpunktes
auf der Mattscheibe. Der Teil kann dann so verstellt werden, daß die Einstellmarkierung mit dem Punkt zusammenfällt,
V/enn die Mattscheibe nicht an dem Teil befestigt ist, wird die Mattscheibe entfernt und der Teil
mit der Einstellmarkierung dann auf den Punkt ausgerichtet.
Die Ausrichtung der entfernteren Mattscheibe, das fokussieren
und das Zusaiamenfallenlassen der Kollimatorachse mit der Achse des optischen Systems und' die Verstellung de3 in
fluchtende Anordnung zu bringenden Teiles wird dann für jedes auszurichtende Teil'wiederholt.
Bei· der vorliegenden Erfindung wird jede Einstellmarkierung
zur Deckung mit dem Lichtpunkt gebracht durch die Bedienungsperson für die Einstellmarkierung ohne Notwendigkeit
der Verbindung mit einem in einigem Abstand aufgestellten Beobachter. In manchen MIlen kann die Verstellung der
Eins bellmarkierung durch visuelle Beobachtung bewirkt wer-
009817/0050 χ μ -
den, jedoch wenn größere Genauigkeit erforderlich ist, können lichtelektrische Yerfahren verwendet werden, z.
B. eine Einstellmarkierung in der Form einer kleinen
Öffnung 21 (fig. 2) in einem undurchsichtigen Schirm
mit einer dahinter angeordneten lichtelektrischen Zelle 23>
die in Quadranten a, "b, c, d unterteilt ist und in Ver—
ötärkerstromkreise 24a, 24b, 24c und 24d mit Meßinstrumenten
25a, 25b, 25c und 25d,die die Beobachtung der Ausgangsleistung
jedes Quadranten und damit die Auswertung der Achsanordnung des Bündels ermöglichen, so daß die
iilin st ellmarkierung oder das Bündel zu bewegen sind, "bis
die Ausgangsleistungen der Quadranten gleich sind, wenn die Bündelachse zentral ist. Palis gewünscht, können die
.Stromkreise zu Brückenschaltungen verbunden werden, \ienn
die Anzahl von Me 13 in st rum ent en verringert werden kann.
In der Tat kann durch Verbindung eines Quadrantenpaares
einer licht elektrischen Silikonzelle in G-eg en se haltung
ein Verstärkerkreis überflüssig und nur ein Galvanometer erforderlich gemacht werden und "bei Verwendung von
Schaltern kann ein einzelnes Galvanometer nacheinander für jedes Quadrantenpaar verwendet werden. Stromkreise
oder Verbindungen der erforderlichen Art sind an sich bekannt und keine ausfurhliche Beschreibung ist erforderlich.
Als Laserquelle ist eine Gaslaservorrichtung ,die' im Einphasenleistungsverfahren
arbeitet, "bei einer Leistung von 200 /UW sehr geeignet für die vorliegenden Zwecke. Die
sog. TJiMooq. Arbeitsweise ist leicht herstellbar und
Bündel zeigt einen einzigen Fleck mit Kreissymmetrie, wenn
009817/OOEO _
es von einer Mattscheibe geschnitten wird, bei einer
Intensitätänderung in radialer !Richtung nach der GaußJ-schen
Beziehung, und mit einer lichtelektrischen Zelle mit vier Quadranten und einem Galvanometer kann die Achse maximaler
Intensität zuverlässig herausgefunden werden mit einer Genauigkeit von 10 Mikron auf einen Abstand von 14 Metern.
Bei visueller Beobachtung kann die Einstellung durch ein Team erfolgen, wenn dieses wünschenswerter ist als
eine einzelne Bedienungsperson. Auch wenn das laserbündel
durch eine Sammellinse fokussiert wird, kann es auf einen Lichtfleck geringen Durchmessern gebracht werden,
der darüber hinaus hell genug iut, um in vollem Tageslicht beobachtet zu werden; selbst bei einer Laserquelle
geringer Leistung muß die unmittelbare Beobachtung üblicherweise vermieden v/erden und die Anordnung
muß auf lichtelektrischem Wege oder durch diffuse iieflektion erfolgen. Z. B. kann bei Verwendung eines Kollimators
von 5 cm Durchmesser über einen Abstand von 60 Metern der helle Fleck einen so kleinen Durchmesser wie
0,75 mm haben.
Da die vorliegende Erfindung auf der liniearen Fortpflanzung der die liichtachse "bestimmenden Strahlung beruht,
unterliegt sie Fehlern infolge Inhomogenität (Veränderungen und Schenkungen im Brechungsindex und insbesondere Gradienten
im Brechungsindex) des Mediums, durch welches sich
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die Strahlung fortpflanzt. Selbst wenn das Bündel durch Luft läuft, werden jedoch die Fehler üblicherweioe
sehr klein sein, da es unwahrscheinlich ist, daß Änderungen im Brechungsindex so verteilt sind, daß sie
wahrnehmbare Verschiebungen des Bündels hervorrufen. Palis erforderlich, kann jedoch das Bündel zwischen
den verschiedenen Einstellmarkierungen durch evakuierte iLohre mit paraleilen Endfenstern laufen.
Aus dem Torstehenden ergibt sich, daß die Kollimatorvorrichtung 12 das Licht nicht nur zu einem Bündel
paralleler Strahlen sammelt, sondern eine weiiJ&ehende Sammelwirkung hat, durch welche die Strahlen des
Bündels in einem einzigen Punkt minimaler Größe konzentriert werden.
Ansprüche
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Claims (9)
1. Optischer Apparat aura ErmitteLn von Lage bzw. Stellungabeziehungen,
gekennzeichnet durch eine einfache Laserquelle für kohärente Strahlung, ein optisches Doppelbildsystem,
durch welches die Laserstrahlung geleitet wird und welches das Bündel in zwei annähernd gleiche Bündel
spaltet, die zueinander symmetrisch sind mit einer Trennung, welche eine Funktion der Abweichung des eintretenden
Bündels von einer unabhängig durch das optische System gegebenen Richtung ist, sowie durch Mittel zum Einstellen
der dichtung des in das optische System eintretenden Bündels.
2. Optischer Apparat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das optische System eine Symmetrieebene bestimmt.
3. Optischer Apparat nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch im Abstand von optischen System angeordnete Mittel zum
Feststellen der Lage des Schnittes der Symmetrieebene mit einer unter diesem Abstand verlaufenden Querebene.
4. Optischer Apparat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das optische System eine Symmeirieachse bestimmt.
5. Optischer Apparat nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch im Abstand vom optischen System angeordnete Mittel zum
Festatellen der Lage des Schnittes der Symmetrieachse mit einer unter diesem Abstand verlaufenden Querebene.
0Q98t7/Ö.0Sfl " 15 "
6. Optischer Apparat nach Anspruch 5>
dadurch gekennzeichnet, daß diese Mittel aus einem undurchsichtigen Schirm mit einer Öffnung bestehen, einer hinter dieser Öffnung
angeordneten, in vier Quadranten unterteilten lichtelektrischen Zelle und elektrischen Stromkreisen zum Messen der
relativen Ausgangswerte zumindest zweier der Quadranten der lichtelektrischen Zelle.
7. Optischer Apparat nach Anspruch 1, gekennzeichnet
diirch eine einstellbare Kollimatorvorrichtung zwischen dem
Lasergenerator und dem optischen Doppelbildsystem,
durch welche der Querschnitt des austretenden Bündels unter einem gewählten Abstand auf einen Mindestwert zu
bringen ist.
8. Optischer Apparat nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch
eine j^instellmarkierung im Abstand vom optischen System.
9. Verfahren sum Ausrichten einstellbarer Teile gegenüber
einer Bezugsachse, dadurch gekennzeichnet, daß das von einer einfach wirkenden Laserstrahlungsquelle herrührende
Lichtbündel gesammelt und das zusammengefaßte Bündel durch ein optisches Doppelbildsystem geleitet wird,
daß die liichtung des in das optische System eintretenden
Bündels zwecks Überlagerung der zwei austretenden Bündel eingestellt wird, daß das ganze System eingestellt
wird, um die überlagerten austretenden Bündel entlang der
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Bezugoaehse zu leiten und daß schließlich. jcdor einstellbare
Teil in Bezug auf die Achse eingestellt wird, bis der vom Bündel erzeugte lichtfleck auf eine
vorbestimmte Stelle eines Teiles fällt.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB25270/65A GB1178971A (en) | 1965-06-15 | 1965-06-15 | Alignment of Adjustable Parts of a Structure |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1548480A1 true DE1548480A1 (de) | 1970-04-23 |
Family
ID=10224987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19661548480 Pending DE1548480A1 (de) | 1965-06-15 | 1966-06-14 | Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung einstellbarer Teile eines Gebildes |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3528748A (de) |
DE (1) | DE1548480A1 (de) |
FR (1) | FR1516769A (de) |
GB (1) | GB1178971A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102023103844A1 (de) | 2023-02-16 | 2024-08-22 | Gutekunst GmbH | Werkzeug zur Bearbeitung eines Werkstücks, insbesondere Tiefbohrer, Werkzeugsystem und Verfahren |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3603688A (en) * | 1967-11-08 | 1971-09-07 | Perkin Elmer Corp | Alignment apparatus |
CH562078A5 (de) * | 1972-05-30 | 1975-05-30 | Omega Brandt & Freres Sa Louis | |
US3844660A (en) * | 1972-11-16 | 1974-10-29 | Zygo Corp | Method and apparatus for aligning an interferometer mirror |
CH561445A5 (de) * | 1972-12-18 | 1975-04-30 | Oerlikon Buehrle Ag | |
US3897637A (en) * | 1974-03-18 | 1975-08-05 | Robert Genho | Laser level and square |
US4170401A (en) * | 1977-08-15 | 1979-10-09 | The Perkin-Elmer Corporation | Passive error compensating device for optical alignment |
US4116073A (en) * | 1977-12-14 | 1978-09-26 | Mohler Sailor H | Balancing system |
US4333242A (en) * | 1979-05-07 | 1982-06-08 | Lasertron Company | Construction laser |
US4444495A (en) * | 1981-04-28 | 1984-04-24 | Bethlehem Steel Corp. | Method and apparatus for alignment of spray nozzles in continuous casting machines |
US4494881A (en) * | 1982-03-10 | 1985-01-22 | Everest Charles E | Intra-optical light beam sighting system for an infrared thermometer |
US4518855A (en) * | 1982-09-30 | 1985-05-21 | Spring-Mornne, Inc. | Method and apparatus for statically aligning shafts and monitoring shaft alignment |
DE3320163A1 (de) * | 1983-06-03 | 1984-12-13 | Prüftechnik Dieter Busch + Partner GmbH & Co, 8045 Ismaning | Vorrichtung zum feststellen von fluchtungsfehlern hintereinander angeordneter wellen |
US5253038A (en) * | 1986-03-03 | 1993-10-12 | U.S. Philips Corp. | Interferometric device for detecting a centering error |
US5872657A (en) * | 1996-05-31 | 1999-02-16 | Levelite Technology, Inc. | Construction laser accessory for generating aligned spots |
GB2335286B (en) * | 1998-03-12 | 2002-09-11 | Alvis Logistics Ltd | Mechanical coupling assembly |
GB2376533A (en) * | 2001-06-14 | 2002-12-18 | Instro Prec Ltd | Multi position alignment system |
US7460977B2 (en) * | 2007-02-19 | 2008-12-02 | Fixturlaser Ab | Method and apparatus for alignment of components |
CN107589514A (zh) * | 2017-10-17 | 2018-01-16 | 歌尔股份有限公司 | 光学模组组装方法及装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2583596A (en) * | 1948-01-06 | 1952-01-29 | Root Elihu | Optical system for path-length multiplication in interferometers |
US2571937A (en) * | 1948-08-27 | 1951-10-16 | Research Corp | Interferometer with right-angle reflector surfaces at end of each divided beam |
US2952779A (en) * | 1958-10-29 | 1960-09-13 | Robert M Talley | Missile gyro alignment system |
US3012468A (en) * | 1958-11-26 | 1961-12-12 | Fairchild Camera Instr Co | Apparatus for dynamic optical sensing of nonalignment of rotating bodies |
US3281712A (en) * | 1962-07-27 | 1966-10-25 | American Optical Corp | Mode-selective q-switching laser structure |
US3271676A (en) * | 1963-01-23 | 1966-09-06 | Optomechanisms Inc | Three detector cycle counting means |
US3358243A (en) * | 1963-03-25 | 1967-12-12 | Sperry Rand Corp | Laser having interferometer controlled oscillatory modes |
US3366792A (en) * | 1965-01-14 | 1968-01-30 | Bell Telephone Labor Inc | Laser intracavity phase modulator |
-
1965
- 1965-06-15 GB GB25270/65A patent/GB1178971A/en not_active Expired
-
1966
- 1966-06-14 DE DE19661548480 patent/DE1548480A1/de active Pending
- 1966-06-14 US US557563A patent/US3528748A/en not_active Expired - Lifetime
- 1966-06-15 FR FR47414A patent/FR1516769A/fr not_active Expired
Cited By (1)
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Also Published As
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FR1516769A (fr) | 1968-02-05 |
GB1178971A (en) | 1970-01-28 |
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