PL25110B1 - Sposób wyrobu elektrody fotoelektrycznej. - Google Patents
Sposób wyrobu elektrody fotoelektrycznej. Download PDFInfo
- Publication number
- PL25110B1 PL25110B1 PL25110A PL2511035A PL25110B1 PL 25110 B1 PL25110 B1 PL 25110B1 PL 25110 A PL25110 A PL 25110A PL 2511035 A PL2511035 A PL 2511035A PL 25110 B1 PL25110 B1 PL 25110B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- metal
- oxide
- photoelectric
- silver
- particles
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 40
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 40
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 24
- NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N silver oxide Chemical compound [O-2].[Ag+].[Ag+] NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 16
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 13
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 12
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 229910001923 silver oxide Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 4
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims description 3
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 claims description 2
- 239000003353 gold alloy Substances 0.000 claims 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 claims 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 claims 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 23
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 15
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 14
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 13
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 13
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N caesium oxide Chemical compound [O-2].[Cs+].[Cs+] KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001942 caesium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AANMVENRNJYEMK-UHFFFAOYSA-N 4-propan-2-ylcyclohex-2-en-1-one Chemical compound CC(C)C1CCC(=O)C=C1 AANMVENRNJYEMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 210000002421 cell wall Anatomy 0.000 description 1
- -1 cesium compound Chemical class 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000003303 reheating Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Description
Wynalazek dotyczy sposobu wyrobu elektrody fotoelektrycznej, Przy wyrobie elektrod w znany sposób metal fotoelektryczny jest umieszczany na warstwie tlenku, otrzymanej np. przez utle¬ nienie powierzchni metalowej. Znany jest sposób, wedlug którego na utlenionej po¬ wierzchni warstwy srebra osadzany jest metal fotoelektryczny, np. cez, po czym elektroda zostaje poddana obróbce ciepl¬ nej.Po osadzeniu cezu tworzy sie wskutek ogrzania na powierzchni srebra warstwa mieszaniny tlenku cezu i srebra, pokryta cienka warstwa cezu. W warstwie miesza¬ niny znajduja sie dwa atomy srebra na jed¬ na czasteczke tlenku cezu. Jezeli lampa wyladowcza z elektroda fotoelektryczna zostaje rozzarzona przy obecnosci nadmia¬ ru cezu w szczelnie zamknietej bance, to cez przenika w warstwe mieszaniny. Po¬ wstaje wówczas mieszanina, skladajaca sie z czasteczek tlenku metalu fotoelektrycz- nego, czasteczek tego metalu oraz czaste¬ czek metalu nosnego.Dla zwiekszenia czulosci tego rodzaju elek¬ trod fotoelektrycznyeh po wytworzeniu elektrody w wyzej opisany sposób osadza¬ ne byly na elektrodzie przez odparowanie srebro, zloto lub inny metal, wskutek cze¬ go elektroda ta byla powlekana cienka war¬ stwa tego metalu. Dzieki ponownemu ogrza¬ niu metal ten przenikal do warstwy mie¬ szaniny elektrody fotoelektrycznej, przeni-kaly Wiec do tej elektrody jeszcze dodat- koyfo czasteczki ohcegQ metalu, Spowyzszjjjr s£x)Wd zwiekszania czulosci jest niedogodny, poniewaz elektroda foto¬ elektryczna, po osadzeniu na utlenionej po¬ wierzchni nosnika metalu- fotoelektryczne- go i ewentualnie po przeniknieciu nadmiaru cezu do warstwy mieszaniny, musi byc je* szcze raz nagrzewana- Okolicznosc ta C2y- ni wytwarzanie skomplikowanym, a ponad¬ to powstaje niebezpieczenstwo zatracenia przez elektrode wlasciwosci fotoelektrycz- nych, zwlaszcza dla tego, ze dla otrzyma¬ nia nalezytego przenikniecia obcego metalu do warstwy mieszaniny ogrzewanie odbywa sie z Teguly do temperatury wyzszej od temperatury, przy której metal fotoelek- tryczny przenika do1 warstwy mieszaniny.Sposób wytwarzania elektrody fotoelek- trycznej wedlug wynalazku niniejszego czy¬ ni zbednym powtórne nagrzewanie elek¬ trody.Wedlug wynalazku tlenek metalu, pod¬ legajacy redukcji, przed poddaniem go dzialaniu metalu fotoelektrycznego zostaje zmieszany z czasteczkami metalu obcego lub powleczony tymi czasteczkami. Zby¬ teczne jest zatem powtórne nagrzewanie wykonanej juz elektrody. Poza tym reduk¬ cja tlenku metalu nosnego przy obecnosci czasteczek metalu obcego odbywa sie la¬ twiej, anizeli redukcja czystego tlenku.Zwiekszenie zawartosci czasteczek metalu niefotoelektrycznego zwieksza czulosc elek¬ trody oraz przenikanie metalu fotoelek¬ trycznego do warstwy mieszaniny.Czasteczki metalu, wprowadzone dodat¬ kowo do tlenku metalu nosnego, ttioga byc czasteczkami tego metalu albo tez innego metalu.Mieszanina tlenku metalu nosnego i cza¬ steczek metalowych moze byc otrzymana np. przez czesciowe zredukowanie tlenku metalu nosnego przed redukcja metalem fotoelektrycznym, przy tym ilosc tlenku metalu powinna byc wieksza od ilosci po¬ trzebnej do redukcji za pomoca metalu fo- ioelektrycznego.Czesciowa redukcje tlenku metalu no¬ snego korzystnie jest wykonac za pomoca wodoru przy powolnym nagrzewaniu ko¬ mórki do temperatury 150°C. Produkt re¬ dukcji, woda, musi byc oczywiscie usunie¬ ta z lampy. Przez okreslenie ilosci zwiaza¬ nego wodoru mozna okreslic bezposrednio ilosc zredukowanego tlenku metalu. Ilosc wodoru moze byc tak dobrana, by elektro¬ da fotoelektryczna uzyskiwala swa naj¬ wieksza czulosc bez obawy spiekania sie elektrody. Wedlug wynalazku elektroda posiada najwieksza czulosc po zredukowa¬ niu 10 — 20% tlenku srebra. W kazdym razie nie nalezy redukowac wiecej jak 50% tlenku srebra, poniewaz przy dalszej re¬ dukcji zachodzi niebezpieczenstwo zmia¬ ny struktury tlenku.Czesciowa redukcje tlenku metalu moz¬ na wywolac takze za pomoca intensywne¬ go naswietlania. Wydzielajacy sie tlen jest w tym przypadku usuwany przez wypom¬ powanie lub tez np. za pomoca wapnia lub baru, umieszczonego w tym celu w odpo¬ wiednim miejscu. Za pomoca regulowania intensywnosci i czasu naswietlania mozna regulowac ilosc zredukowanego tlenku me¬ talu, a tym samym i ilosc uwolnionego me¬ talu. Naswietlanie moze byc wykonane np. za pomoca wysokopreznej lampy rteciowej.Reakcja przebiega szybciej, gdy scianka lampy rteciowej, jak równiez scianka lam¬ py wyladowczej, w której wytwarzana jest elektroda fotoelektryczna, sa wykonane z kwarcu, ze wzgledu na zwiekszenie dziala¬ nia promieni pozafiolkowych.Warstwe nosna mozna takze wykonac, poslugujac sie stopem metalu latwo utle¬ niajacego sie z metalem trudniej utleniaja¬ cym sie, np. stopem srebra i zlota. Stop ten moze byc rozpylany katodowo w atmosfe¬ rze zawierajacej tlen, przy czym ewentual- — 2 —nie anode stanowi warstwa metalowa, sta¬ nowiaca podloze elektrody fotoelektrycz- nej\ Urzadzenie moze byc przy tym wyko¬ nane w ten sposób, aleby mieszanina tlen¬ ku metalu latwo utleniajacego sie (np. cza¬ steczek tlenku srebra) i trudniej utleniaja¬ cego sie (np, czasteczek zlota) osiadala tylko na okreslonej powierzchni/ Za pomo¬ ca regulowania stosunku skladników stopu mozna regulowac takze i stosunek tych cza¬ steczek tlenku wzgledem zmieszanych z ni¬ mi czasteczek metalu.Aczkolwiek najlepsze wyniki zostaja o- siagniete, gdy czasteczki metalu sa zmie¬ szane z tlenkiem, to jednakze te czasteczki moga byc umieszczone takze i w postaci cienkiej warstwy na tlenku, co moze byc wykonane przez odparowanie i skroplenie metalu. Jezeli warstwa tlenku, powleczo¬ na czasteczkami metalu, zostaje poddana dzialaniu metalu fotoelektrycznego, to me¬ tal ten przenika poprzez wspomniana cien¬ ka warstwe metalu i redukuje tlenek meta¬ lu. Zachodzi przy tym takze zmieszanie tlenku materialu fotoelektrycznego z cza¬ steczkami tej warstwy metalowej. Metal fotoelektryczny przenika tym latwiej przez te warstwe, im silniejsze jest adsorbcyjne dzialanie glebiej lezacego tlenku metalu na metal fotoelektryczny.Na rysunku przedstawiona jest komórka fotoelektryczna wedlug wynalazku.Scianka komórki, po usunieciu z niej powietrza, zostaje na stronie wewnetrznej pokryta prawie calkowicie warstwa srebra 1 przez wyparowanie w prózni srebra, u- mieszczonego na drucie grzejnym 2. Za¬ slona 3 zapobiega osadzaniu sie odparowa¬ nego srebra w tej czesci komórki, w której znajduje sie slupek 4. Zasloniete zostaje równiez w znany sposób okienko 5. Po u- tworzeniu warstwy srebrnej 1 doprowa¬ dzony zostaje tlen, np. pod cisnieniem 0,1 — 0,2 mm. Miedzy drutem 2 jako ano¬ da i warstwa 1 jako katoda nastepuje wy¬ ladowanie elektryczne, wskutek czego war¬ stwa srebrna utlenia sie na powierzchni. To utlenianie nalezy kontynuowac dopóty, do¬ póki kazde 100 cm2 powierzchni srebra nie zwiaze sie z 12 mikrogramczasteczkami tle¬ nu w zwiazek Ag20. Ilosc zwiazanego tle¬ nu okresla sie za pomoca mierzenia spadku cisnienia tlenu. Po zakonczeniu utleniania nadmiar tlenu zostaje wypompowany, ko¬ mórka zas zostaje napelniona wodorem, który redWkuje czesc tlenku srebra na sre¬ bro. Redukcje te mozna przyspieszyc przez powolne ogrzanie do temperatury lSO^C.Ilosc wodoru jest taka, ze z kazdych 24 mi- krogramczasteczek Ag20 redukuja sie czte¬ ry mikrogramczasteczki. Powstajaca przy redukcji woda jest .calkowicie usuwana za pomoca pompowania, przy czym komórka zostaje podgrzana do temperatury okolo 150°C. Wskutek tej redukcji tworzy sie za-* tern mieszanina czasteczek srebra z cza¬ steczkami tlenku srebra.Nastepnie do komórki zostaje wprowa¬ dzony cez. Cez ten moze byc zwolniony w znany sposób ze zwiazku cezu, umieszczo¬ nego w komórce lub bocznym zbiorniku.Nastepnie komórka zostaje zamknieta, ewentualnie po napelnieniu jej gazem szla¬ chetnym np. argonem, ksenonem lub kryp¬ tonem pod cisnieniem kilku setnych czesci milimetra. Szczelnie zamknieta komórka zostaje podgrzana do temperatury okolo 175°C, co powoduje redukcje tlenku srebra przez cez, dzieki czemu powstaje warstwa 6, utworzona z mieszaniny czasteczek sre¬ bra i czasteczek tlenku cezu, wskutek cze¬ go do mieszaniny tej przenikaja takze wol¬ ne czasteczki cezu. Ponadto warstwa mie¬ szaniny adsorbuje cez. Nagrzewanie ko¬ mórki trwa az do osiagniecia duzej czulo¬ sci fotoelektrycznej. Nadmiar cezu zosta¬ je usuniety w znany sposób.Srednia czulosc fotokomórek wykona¬ nych w ten sposób wynosi 45 mikroamp/Ium (barwa temperatury 2600°K), podczas gdy — 3 —komórki wytworzone hez uprzedniej reduk¬ cji wodorem posiadaja sreclnia czulosc o- kolo 30 mikroamp/lum.Dzieki dodatkowym czasteczkom srebra w warstwie mieszaniny, wskutek czego tak¬ ze wieksza ilosc cezu moze przeniknac w te warstwe, maksimum spektralnej czulosci fotokomórki przesuwa sie w kierunku wiek¬ szych dlugosci fal. Maksimum to przekra¬ cza w niektórych przypadkach 8000 A, a nawet dochodzi ono czasami do 8500 A.Ponadto okazalo sie, ze dlugofalowa granica (granica czerwona) przesuwa sie ku wiekszym dlugosciom fal az do dlugosci 1,7 mikr.Jezeli nie jest pozadane stosowanie re¬ dukcji za pomoca wodoru, wówczas mozi^a wykonac komórke w sposób nastepujacy.Podczas tworzenia warstwy srebra 1 tylko czesc srebra zostaje wyparowana z drutu 2. Po napelnieniu banki tlenem war¬ stwa srebra zostaje utleniona za jfomoca elektrycznego wyladowania w ten sposób, ze kazde 100 cm2 powierzchni warstwy sre¬ bra zostaje zwiazane z 10 mikrogramcza- steczkami tlenu, tworzac Ag20. Po wypom¬ powaniu nadmiaru tlenu zostaje odparowa¬ na z drutu 2 nieznaczna ilosc srebra, która osiada na tlenku srebra. Odparowana zo¬ staje ilosc srebra, odpowiadajaca 8 — 10 mikrogramatomom srebra na 100 cm2 pp- wierzchni warstwy srebra. Sposób ten po¬ zwala takze mieszac tlenek srebra z inny¬ mi metalami, rip. zlotem, niklem, wolfra¬ mem. PL
Claims (5)
- Zastrzezenia patentowe. 1. Sposób wyrobu elektrody fotoelek- trycznej, wedlug którego tlenek metalu no¬ snego jest redukowany metalem fotoelek- trycznym, znamienny tym, ze podlegajacy redukcji tlenek metalu przed poddaniem go dzialaniu metalu fotoelektrycznegO' zo¬ staje zmieszany z czasteczkami metalu lub powleczony tymi czasteczkami.
- 2. Sposób wedlug zastrz, 1, znamien¬ ny tym, ze tlenek metalu nosnego przed zredukowaniem go metalem fotoelektrycz- nym zostaje czesciowo zredukowany w in¬ ny sposób, np. wodorem.
- 3. Sposób wedlug zastrz. 2, przy czym tlenkiem metalu nosnego jest tlenek srebra, znamienny tym, ze zostaje zredukowane mniej niz 50% tlenku srebra, najkorzyst¬ niej 10 — 20%.
- 4. Sposób wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze tlenek metalu nosnego zostaje cze¬ sciowo zredukowany przez intensywne na¬ swietlanie, wywiazujacy sie zas tlen zosta¬ je usuniety z komórki przez pompowanie lub tez dzieki umieszczeniu wapnia liib ba¬ ru w obrebie naczynia komórki.
- 5. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w atmosferze zawierajacej tlen roz¬ pylony zostaje katodowo stop metalu latwo utleniajacego sie z metalem trudniej utle¬ niajacym sie (np. stop srebra i zlota), przy czym mieszanina czasteczek tlenku latwo utleniajacego sie metalu z czasteczkami me¬ talu utleniajacego trudniej zostaje osadzo¬ na w okreslonych miejscach naczynia ko¬ mórki. N. V. Philips' G 1 o e i 1 a mpenf abriekcn. Zastepca: M. Skrzypkowski, rzecznik patentowy.Do opisu patentowego Nr 25110. tsm S' *<- \*J Druk L. Boguslawskiego i Ski, Warszawa. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL25110B1 true PL25110B1 (pl) | 1937-08-31 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7245547B2 (ja) | Rf集積電力調整コンデンサ | |
| US3067356A (en) | Fluorescent lamp | |
| DE2545046A1 (de) | Eloxierverfahren | |
| DE957249C (de) | Elektrolumineszenzlampe und Verfahren zur Herstellung der dritten Schicht dieser Lampe | |
| US3617357A (en) | Lamp envelope with a thin transparent buffer film on its inner surface | |
| US3541377A (en) | Fluorescent lamp having an envelope with a thin transparent buffer film bonded to its inner surface,and method of treating lamp envelopes to provide such a film | |
| EP2294604B1 (en) | Emissive electrode materials for electric lamps and methods of making | |
| CA3168516C (en) | Ultra high surface area integrated capacitor | |
| PL25110B1 (pl) | Sposób wyrobu elektrody fotoelektrycznej. | |
| WO2012119977A1 (de) | Amalgamkugeln mit einer legierungbeschichtung | |
| DE2550661A1 (de) | Metallhalogenidlampe | |
| DE704595C (de) | Verfahren zur Herstellung einer photoelektrischen Elektrode | |
| US1902478A (en) | Manufacture of hot cathodes for electric discharge devices | |
| DE2301465A1 (de) | Elektrische entladungslampe | |
| DE2120471B2 (de) | Hochdruckentladungslampe mit Alkalihalogenid-Zusätzen und Getter | |
| DE102009014425B4 (de) | Deuteriumlampe | |
| DE917860C (de) | Aktivierungsmaterial fuer Elektroden von elektrischen Entladungsgefaessen | |
| AT146124B (de) | Verfahren zur Herstellung einer photoelektrischen Elektrode. | |
| US2112124A (en) | Phototube | |
| US3974305A (en) | Treatment of Sr5 (PO4)3 Cl:Eu luminescent material to improve fluorescent lamp which uses material | |
| RU2374570C1 (ru) | Способ получения селективного покрытия | |
| AT152436B (de) | Verfahren zur Herstellung einer photoelektrischen Elektrode. | |
| US2016699A (en) | Method of producing electron bulbs with high emission cathodes | |
| JP2523399B2 (ja) | タンタル固体電解コンデンサ | |
| SU995150A1 (ru) | Способ изготовлени люминесцентной газоразр дной лампы |