PL228549B1 - Sposób i układ testowania naczyń do gotowania na płycie indukcyjnej - Google Patents

Description

(21) Numer zgłoszenia: 415041

Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 01.12.2015 (51) Int.CI.

H05B 6/06 (2006.01) H05B 1/02 (2006.01) F24C 15/10 (2006.01) F24C 7/08 (2006.01) (54) Sposób i układ testowania naczyń do gotowania na płycie indukcyjnej

	(73) Uprawniony z patentu:
(43) Zgłoszenie ogłoszono:	AMICA SPÓŁKA AKCYJNA, Wronki, PL
05.06.2017 BUP 12/17	(72) Twórca(y) wynalazku:
	MIKOŁAJ STASZEK, Wronki, PL
(45) O udzieleniu patentu ogłoszono:
30.04.2018 WUP 04/18	(74) Pełnomocnik:
	rzecz, pat. Paweł Górnicki

σ>

'St m

co

CM

CM

Q_

PL 228 549 B1

Opis wynalazku

Przedmiotem wynalazku jest sposób i układ testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej, przeznaczone do sprawdzania przez użytkownika przydatności naczynia do gotowania lub podgrzewania na płycie indukcyjnej. Wykorzystanie maksymalnej mocy pola grzejnego płyty indukcyjnej jest możliwe jedynie w przypadku użycia naczynia o średnicy dopasowanej do rozmiaru pola grzejnego i wykonanego z odpowiednich materiałów ferromagnetycznych. Układ do testowania naczynia do gotowania na płycie indukcyjnej, zamontowany w płycie indukcyjnej, umożliwia użytkownikowi samodzielne sprawdzenie czy użyte naczynie pozwala maksymalnie wykorzystać potencjalną moc kuchni indukcyjnej.

W niemieckim opisie patentowym DE102013223857 znajdujemy opis sposobu określania właściwości naczynia umieszczonego na płycie grzejnej ceramicznej, polegający na pomiarze czasu zagotowania wody i porównaniu go z ustalonym czasem wzorcowym. Z kolei opis wynalazku, zgłoszonego w procedurze PCT, WO2015074770 ujawnia sposób ułatwiający prawidłowe pozycjonowanie naczynia na płycie indukcyjnej, polegający na pomiarze parametrów elektrycznych w obwodzie cewki indukcyjnej i porównywaniu mocy osiąganej przez kuchnię indukcyjną przy poszczególnych położeniach naczynia.

Duży wybór naczyń, dedykowanych do gotowania na kuchniach indukcyjnych, wykonanych różnymi metodami i z różnych materiałów sprawia, że trudno wybrać odpowiedni dla posiadanej kuchni indukcyjnej. Stosowanie nieodpowiednich naczyń zmniejsza komfort użytkowania kuchni indukcyjnej z powodu wydłużenie czasu gotowania i zwiększa zużycie energii.

Celem wynalazku było opracowanie sposobu testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej, możliwego do wykonania przez użytkownika kuchni indukcyjnej oraz układu do realizacji tego sposobu, wykorzystującego elementy standardowo montowane w kuchni indukcyjnej. Rozwiązanie według wynalazku ma umożliwić użytkownikowi dobór naczyń, które pozwolą w pełni wykorzystać moc posiadanej kuchni indukcyjnej.

Sposób testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej według wynalazku polega na tym, że testowane naczynie napełnia się wodą, ustawia na odpowiednim polu grzejnym, po czym uruchamia pole grzejne z maksymalną nastawą mocy i mierzy wartości parametrów elektrycznych w obwodzie wejściowym modułu zasilającego cewkę indukcyjną pola grzejnego, korzystnie napięcie i/lub natężenie prądu, a następnie porównuje wyniki z parametrami wzorcowymi, optymalnymi dla określonej mocy pola grzejnego.

Układ testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej według wynalazku składa się z układu pomiarowego, włączonego w obwód wejściowy modułu zasilającego cewkę indukcyjną pola grzejnego, mikrokontrolera oraz wyświetlacza i charakteryzuje się tym, że obwód wejściowy modułu zasilającego cewkę indukcyjną pola grzejnego jest połączony z siecią zasilającą poprzez układ pomiarowy, przy czym układ pomiarowy jest połączony z wyświetlaczem poprzez mikrokontroler, połączony jednocześnie z modułem zasilającym cewkę indukcyjną pola grzejnego.

Przedmiot wynalazku jest bliżej objaśniony w przykładzie wykonania na rysunku, przedstawiającym schemat blokowy układu testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej. Układ pomiarowy 1, służący do pomiaru natężenia prądu lub natężenia prądu i napięcia, włączony w obwód wejściowy modułu zasilającego cewkę indukcyjną 5 pola grzejnego, jest podłączony do sieci zasilającej 4 i połączony z modułem zasilającym cewkę indukcyjną 5 pola grzejnego oraz mikrokontrolerem 2, przy czym mikrokontroler 2 jest połączony z modułem zasilającym cewkę indukcyjną 5 oraz wyświetlaczem 3. Po napełnieniu testowanego naczynia wodą i umieszczeniu go na polu grzejnym, użytkownik aktywuje funkcję testu naczynia. Mikrokontroler 2 przekazuje do układu zasilania pola indukcyjnego 5 sygnał uruchamiający pole grzejne 6 z maksymalną nastawą mocy, odczytuje wartości napięcia i natężenia prądu, zmierzone w układzie pomiarowym 1. Mikrokontroler 2 oblicza moc pobieraną przez układ, oraz stosunek pobieranej mocy do mocy nominalnej. Następnie wysyła sygnał do układu zasilania pola indukcyjnego 5, przerywający zasilanie pola grzejnego 6 oraz drugi sygnał do wyświetlacza 3, który komunikuje wynik testu w sposób zrozumiały dla użytkownika kuchni indukcyjnej.

W odmianie układu do testowania garnka indukcyjnego, układ pomiarowy 1 mierzy wyłącznie natężenie prądu, a mikrokontroler 2 porównuje wynik z wartością zadaną, optymalną dla danego pola grzejnego.

PL 228 549 B1

Claims (4)

Zastrzeżenia patentowe

1. Sposób testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej, polegający na pomiarze parametrów w układzie elektrycznym kuchni indukcyjnej, znamienny tym, że testowany garnek napełnia się wodą, ustawia na odpowiednim polu grzejnym, po czym uruchamia pole grzejne z maksymalną nastawą mocy i mierzy wartości parametrów elektrycznych w obwodzie wejściowym modułu zasilającego cewkę indukcyjną pola grzejnego, a następnie porównuje wyniki z parametrami wzorcowymi, optymalnymi dla określonej mocy pola grzejnego.

2. Sposób testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej według zastrz. 1, znamienny tym, że mierzonymi parametrami są natężenie prądu płynącego w obwodzie wejściowym modułu zasilającego cewkę indukcyjną pola grzejnego i napięcie zasilające, a moc obliczona na podstawie pomiarów jest porównywana z nominalną mocą pola grzejnego.

3. Sposób testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej według zastrz. 1, znamienny tym, że mierzonym parametrem jest natężenie prądu płynącego w obwodzie wejściowym modułu zasilającego cewkę indukcyjną pola grzejnego, które jest porównywane z zadanym natężeniem wzorcowym dla danej mocy pola grzejnego.

4. Układ testowania naczyń do gotowania na kuchni indukcyjnej, składający się z układu pomiarowego, mikrokontrolera oraz wyświetlacza, znamienny tym, że obwód wejściowy modułu zasilającego cewkę indukcyjną (5) pola grzejnego (6) jest połączony z siecią zasilającą (4) poprzez układ pomiarowy (1), przy czym układ pomiarowy (1) jest połączony z wyświetlaczem (3) poprzez mikrokontroler (2), połączony z modułem zasilającym cewkę indukcyjną (5).