PL136685B1 - Bath for electrodeposition of copper films of high microhardness - Google Patents
Bath for electrodeposition of copper films of high microhardness Download PDFInfo
- Publication number
- PL136685B1 PL136685B1 PL23797382A PL23797382A PL136685B1 PL 136685 B1 PL136685 B1 PL 136685B1 PL 23797382 A PL23797382 A PL 23797382A PL 23797382 A PL23797382 A PL 23797382A PL 136685 B1 PL136685 B1 PL 136685B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- bath
- amount
- copper
- coatings
- thiourea
- Prior art date
Links
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 19
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims description 19
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims description 19
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 title 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 24
- UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N thiourea Chemical compound NC(N)=S UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N Urea Natural products NC(N)=O XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 10
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 7
- DGOBMKYRQHEFGQ-UHFFFAOYSA-L acid green 5 Chemical compound [Na+].[Na+].C=1C=C(C(=C2C=CC(C=C2)=[N+](CC)CC=2C=C(C=CC=2)S([O-])(=O)=O)C=2C=CC(=CC=2)S([O-])(=O)=O)C=CC=1N(CC)CC1=CC=CC(S([O-])(=O)=O)=C1 DGOBMKYRQHEFGQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 5
- 229910000366 copper(II) sulfate Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 4
- IGFHQQFPSIBGKE-UHFFFAOYSA-N Nonylphenol Natural products CCCCCCCCCC1=CC=C(O)C=C1 IGFHQQFPSIBGKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 5
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 4
- SNQQPOLDUKLAAF-UHFFFAOYSA-N nonylphenol Chemical compound CCCCCCCCCC1=CC=CC=C1O SNQQPOLDUKLAAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 4
- -1 sulfoalkyl sulfide compounds Chemical class 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 239000007859 condensation product Substances 0.000 description 3
- 229920000847 nonoxynol Polymers 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 2
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 2
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 235000011149 sulphuric acid Nutrition 0.000 description 2
- IEORSVTYLWZQJQ-UHFFFAOYSA-N 2-(2-nonylphenoxy)ethanol Chemical compound CCCCCCCCCC1=CC=CC=C1OCCO IEORSVTYLWZQJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N Ethylene oxide Chemical compound C1CO1 IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100292452 Haemophilus aegyptius haeIIM gene Proteins 0.000 description 1
- GMEHFXXZSWDEDB-UHFFFAOYSA-N N-ethylthiourea Chemical compound CCNC(N)=S GMEHFXXZSWDEDB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 description 1
- 150000003975 aryl alkyl amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000000751 azo group Chemical group [*]N=N[*] 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 101150034425 dcmA gene Proteins 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003411 electrode reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 150000002605 large molecules Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000963 oxybis(methylene) group Chemical group [H]C([H])(*)OC([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910021653 sulphate ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 239000001003 triarylmethane dye Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest kapiel do elektrolitycznego osadzania miedzianych powlok o wysokiej mikro¬ twardosci charakteryzujacych sie drobnoziarnistoscia, malymi naprezeniami wlasnymi i niska chropowatoscia, stosowana zwlaszcza do osadzania miedzianych powlok drukowych, tzw. koszulek: Ballarda, na cylindrach wkleslodrukowych przeznaczonych do sporzadzania form drukowych, metoda chemicznego trawienia lub elek¬ tronicznego grawerowania.Miedziane powloki drukowe musza sie charakteryzowac wysoka i nie zmieniajaca sie w czasie mikrotwardos- cia, drobnoziarnistoscia, malymi naprezeniami wlasnymi i niska chropowatoscia. Przy uzyciu znanych kwasnych kapieli siarczanowych, nalezy w procesie elektrolitycznego osadzania powlok miedzianych, w celu polepszenia ich wlasciwosci fizyko-mechanicznych stosowac mechaniczne utwardzanie za pomoca urzadzen agatowych. Mi- krotwardosc powlok miedzianych przy zastosowaniu tej metody jest stosunkowo niska, nie przekracza wartosci j/HV0?1 = 1400 MPa.Powloki miedziane o wysokiej mikrotwardosci - a*HVq j = 1800 - 1900 MPa otrzymuje sie równiez elektro¬ litycznie w kwasnej kapieli siarczanowej zawierajacej dodatki utwardzajace i wyblyszczajace m.in. tiomocznik lub jego pochodne. Tiomocznik silnie adsorbuje sie na katodzie w postaci kompleksu z jonami miedzi jednowartos- ciowej, powodujac tym podwyzszenie potencjalu polaryzacji katodowej, co sprzyja powstawaniu osadów drobno- krystalicznych, gladkich, o zwiekszonej mikrotwardosci. Powloki te wykazuja jednak duze naprezenia wlasne, sa kruche i zle przylegaja do podloza.W znanych kapielach do osadzania powlok miedzianych stosuje sie tiomocznik lub jego pochodne z dodatka¬ mi dopelniajacymi zawierajacymi w swojej budowie azo-grupy np. n-benzylosulfoazonaftyloamine lub czerwien Kongo, które zapobiegaja nadmiernemu osadzaniu sie na katodzie duzych ilosci tiomocznika lub jego pochod¬ nych, co wplywa na zmniejszenie naprezen wlasnych miedzianych powlok oraz poprawia ich elastycznosc i przyczepnosc do podloza.W polskim opisie patentowym nr 94 267 przytoczono przyklady kwasnych kapieli siarczanowych zawieraja¬ cych jako dodatki glówne: rozpuszczalne w kapieli aryloaminy, aryloalkiloaminy,alkiloaryloaminy, cykloalkilo- aminy zawierajace grupy sulfonowe w pierscieniu cykloalkilowym oraz zwiazki typu siarczków sulfoalkilowych zawierajace ugrupowanie - S-Alk-S03M gdzie M oznacza jeden gramorównowaznik kationu, a — Alk - dwu-l 2 136685 X wartosciowy rodnik weglowodorowy o 1-8 atomach wegla. Jako srodki niwelujace znane, sa kapiele zawierajac tiomocznik lub jego pochodne albo tez inne srodki niwelujace typu polieterów i produktów kondensacji formal¬ dehydu z kwasaminaftalenosulfonowymi. { Jako polietery uzywane sa zwiazki o wysokim ciezarze czasteczkowym np. produkt kondensacji nonylofino- lu z 100 molami tlenku etylenu, a ich stezenie jest w kapielach wysokie i waha sie wgranicich 5 • 10"3 - 1 g/dm3. W zaleznosci od kombinacji uzytych dodatków znane kapiele daja powloki bardziej kb mniej polyskujace, o wiekszej lub mniejszej gladkosci i mikrotwardosci rzedu do 1600 MPa. Kapiele te wykazuja trwalosc w podwyzszonych temperaturach i przy wysokich gestosciach pradu katodowego 0,1 - 50,0 A/dcmA Jednakze, z punktu widzenia ekonomicznego i technologicznego zasadnicza niedogodnoscia tych znanycU kapieli jest koniecznosc stosowania kilku dodatków o zlozonej budowie chemicznej. Zlozone zwiazki sa doscV kosztowne, a uzyte w jednej kapieli powoduja nagromadzenie sie wielu produktów ich rozpadu na skutek reakcji \ elektrodowych, w wyniku czego kapiel jest nimi zanieczyszczona, co stwarza koniecznosc czestej jej regeneracji ^ lub wymiany. W warunkach przemyslowych jest to szczególnie niekorzystne i moze byc nieoplacalne.Celem wynalazku bylo opracowanie kapieli do elektrolitycznego osadzania miedzianych powlok drukowych, ; przeznaczonych zarówno do chemicznego trawienia jak i elektronicznego grawerowania, o skladzie pozwalajacym na otrzymywanie miedzianych powlok, których wlasciwosci takie jak wysoka mikrotwardosc, niska chropowa¬ tosc i wysoka plastycznosc nie zmieniaja sie w sposób widoczny w szerokim zakresie zmian gestosci pradu, temperatury i stezenia poszczególnych skladników, przy zapewnieniu stabilnosci kapieli w czasie procesu elektro¬ lizy oraz latwej jej eksploatacji.Stwierdzono, ze cel ten uzyskuje sie, jezeli kapiel do elektrolitycznego osadzania miedzianych powlok stanowiaca wodny roztwór siarczanu miedziowego, kwasu siarkowego z dodatkiem tiomocznika, niejonowego zwiazku powierzchniowo-czynnego, typu polieteru oraz barwnika, zawiera: siarczan miedziowy CuS04 • 5H20 w ilosci 180-240 g/dm3, kwas siarkowy stezony H2S04 o gestosci d = 1,84 g/cm3 w ilosci 40-70 g/dm3, jony CL - sladowe ilosci lub wprowadzane w postaci HCL w ilosci 0,003-0,040 g/dm3, tiomocznik w ilosci 0,001-0,030 g/dm3, oksyetylenowany nonylofenol w ilosci 10"4 - 10-10-4 g/dm3 oraz zielen czysta kwasowa V (Colour lndex 44025) w ilosci 0,1 • 1 Jako oksyetyloenowany nonylofenol stosuje sie produkt kondensacji nonylofenolu z 8 molami glikolu etyle¬ nowego, zas zielen czysta kwasowa V jest barwnikiem dwuaminotrójarylometanowym, zawierajacym w czastecz¬ ce pierscien naftalenowy z dwiema grupami sulfonowymi. Proces elektrolizy z kapieli wedlug wynalazku prowa¬ dzi sie przy stalej temperaturze w zakresie 20-40°C stosujac gestosci pradu katodowego 12-26 A/dm2. Stosowa¬ nie kapieli wedlug wynalazku zapewnia otrzymywanie powlok miedzianych o wysokiej i nie zmieniajacej sie w czasie mikrotwardosci /HVq j = 1400 - 2000 MPa, której wartosc zalezy od przyjetych parametrów procesu galwanicznego i charakteryzujacych sie wysoka elastycznoscia oraz niska chropowatoscia.Kapiel wedlug wynalazku, przy przestrzeganiu prawidlowego dozowania dodatków dopelniajacych oraz stalej kontroli stezen podstawowych skladników, nie wymaga okresowej regeneracji ani wymiany. Wymagana jest tylko ciagla filtracja od zanieczyszczen mechanicznych oraz mieszanie w trakcie trwania procesu elektrolizy.Dodatkowa zaleta kapieli wedlug wynalazku jest mozliwosc prowadzenia elektrolizy w temperaturach wyzszych od temperatury pokojowej do 40°C, co umozliwia stosowanie kapieli w zakladach przemyslowych wyposazo¬ nych w urzadzenia galwaniczne o niedostatecznie rozwinietym systemie chlodzenia. Wiekszosc znanych dotych¬ czas dodatków wykazywala dzialanie wyblyszczajace i utwardzajace w elektrolitach o temperaturze do 32°C.Przyklad kapieli wedlug wynalazku przeznaczonej do miedziowania o dzialaniu utwardzajacym: CuS04 •5H20 -200 g/dm3 H2 SG4 stezony o gestosci d = 1,84 g/cm3 - 60 g/dm3 jonyCL" -0,005 g/dm3 . tiomocznik - 0,020 g/dm3 oksyetylenowany nonylofenol — 5,0 • 1(T4 g/dm3 zielen czysta kwasowaV - 2,5 • l(Ts g/dm3 temperaturakapieli — 35°C katodowa gestoscpradu — 22 A/dm2 mikrotwardosc otrzymanych powlok /xHWq j - 1900 MPa nie zmienia sie w ciagu co najmniej 3 miesiecy.Mikrotwardosc miedzianych powlok drukowych otrzymywanych w kapieli wedlug wynalazku, w zaleznosci od parametrów procesu galwanicznego osiaga wartosc w zakresie mHVq j = 1400 - 2000 MPa. Zapewnia to wysoka wytrzymalosc mechaniczna form drukowych w procesie drukowania niezaleznie od technologii ich sporzadzania. Wysoka i nie zmieniajaca sie w czasie mikrotwardosc drobnoziarnistych powlok miedzianych o wartosci //HVq j = 1700 - 1900 MPa jest warunkiem niezbednym w przypadku elektronicznego grawerowania form drukowych'136685 3 Dla porównania podaje sie przyklady znanych kapieli: I. Kapiel zawierajaca: 220 g/dm3 CuS04 • 5H20 60g/dm3 H2S04 0,06 g/dm3 Cl 0,2 g/dm3 dwubenzylo-2-hydroksyetyloaminy 0,015 g/dm3 soli dwusodowej siarczku bis-sulfopropylowego 0,0015 g/dm3 N-etylotiomocznika oraz 1,0 • 10~3 g/dm3 polieteru o wzorze C9H19 — QH4—0 /C2H4O/100H daje powloke w zakresie 1-2 A/dm2 o wysokim polysku, o twardosci 1490 MPa, natomiast elastycznosc tej powloki byla niewystarczajaca.II. Kapiel zawierajaca: 220 g/dm3 CuS04 • 5H20 60 g/dm3 H2S04 0,06 g/dm3 Cl 0,2 g/dm3 aminy dwubenzylo-2-hydroksyetylowej 0,015 g/dm3 soli dwusodowej siarczku bis-sulfopropylowego 0,004 g/dm3 N-tlenku 2-merkaptopirydyny Kapiel ta daje powloke przy tej samej gestosci pradu o nizszej mikrotwardosci, bo wynoszaca ok. 1400 MPa, przy czym jej trwalosc nie byla zadowalajaca i eliminowala jajako powloke na cylindry rotograwiurowe. Niska chropowatosc miedzianych powlok drukowych otrzymanych z kapieli wg wynalazku pozwala zmniejszyc praco¬ chlonnosc procesu polerowania cylindrów wkleslodrukowych. Kapiel wedlug wynalazku moze byc równiez stosowana do otrzymywania offsetowych plyt bimetalowych miedz-chrom.Zastrzezenie patentowe Kapiel do elektrolitycznego osadzania miedzianych powlok o wysokiej i nie zmieniajacej sie w czasie mikro¬ twardosci stanowiaca wodny roztwór siarczanu miedziowego, kwasu siarkowego z dodatkiem tiomocznika, niejo¬ nowego zwiazku powierzchniowo-czynnego i barwnika oraz ewentualnie jonów chlorkowych, znamienna tym, ze zawiera siarczan miedziowy CuS04 • 5H20 w ilosci 180-240 g/dm3, kwas siarkowy w ilosci 40-70 g/dm3 i tiomocznik w ilosci 0,001-0,030 g/dm3 oraz jony Cl " w ilosci 0,003-0,040 g/dm3, oksyetyle- nowany nonylofenol w ilosci 1,0 • 10~4 - 10 • 10~4 g/dm3 i zielen czysta, kwasowa V (CJ 44025) w ilosci 0,1 • 1(T5 - 5 • 1(TS g/dm3 PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Kapiel do elektrolitycznego osadzania miedzianych powlok o wysokiej i nie zmieniajacej sie w czasie mikro¬ twardosci stanowiaca wodny roztwór siarczanu miedziowego, kwasu siarkowego z dodatkiem tiomocznika, niejo¬ nowego zwiazku powierzchniowo-czynnego i barwnika oraz ewentualnie jonów chlorkowych, znamienna tym, ze zawiera siarczan miedziowy CuS04 • 5H20 w ilosci 180-240 g/dm3, kwas siarkowy w ilosci 40-70 g/dm3 i tiomocznik w ilosci 0,001-0,030 g/dm3 oraz jony Cl " w ilosci 0,003-0,040 g/dm3, oksyetyle- nowany nonylofenol w ilosci 1,0 • 10~4 - 10 • 10~4 g/dm3 i zielen czysta, kwasowa V (CJ 44025) w ilosci 0,1 • 1(T5 - 5 • 1(TS g/dm3 PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL23797382A PL136685B1 (en) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | Bath for electrodeposition of copper films of high microhardness |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL23797382A PL136685B1 (en) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | Bath for electrodeposition of copper films of high microhardness |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL237973A1 PL237973A1 (en) | 1984-02-27 |
| PL136685B1 true PL136685B1 (en) | 1986-03-31 |
Family
ID=20013832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL23797382A PL136685B1 (en) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | Bath for electrodeposition of copper films of high microhardness |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL136685B1 (pl) |
-
1982
- 1982-08-20 PL PL23797382A patent/PL136685B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL237973A1 (en) | 1984-02-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2525942A (en) | Electrodepositing bath and process | |
| US3267010A (en) | Electrodeposition of copper from acidic baths | |
| DE69808415T2 (de) | Elektroplattierung von nickel-phosphor-legierungsbeschichtungen | |
| US4469564A (en) | Copper electroplating process | |
| US4110176A (en) | Electrodeposition of copper | |
| PL198149B1 (pl) | Sposób nakładania powłok cynkowo-niklowych z alkalicznej kąpieli galwanicznej | |
| JP5735415B2 (ja) | 銅−スズ合金の、シアン化物を使用しない堆積のためのピロリン酸塩含有浴 | |
| CN1926265B (zh) | 铁磷电镀浴及方法 | |
| JP2000511235A (ja) | 銅添加剤としてのアルコキシル化ジメルカプタン類 | |
| SE465375B (sv) | Foerfarande foer elektroutfaellning av en zink/nickel-legering samt vattenhaltig sur elektrolyt haerfoer | |
| US3326782A (en) | Bath and method for electroforming and electrodepositing nickel | |
| EP1287184B1 (en) | Satin-finished nickel or nickel alloy coating | |
| WO2020184289A1 (ja) | マイクロポーラスめっき液およびこのめっき液を用いた被めっき物へのマイクロポーラスめっき方法 | |
| US3288690A (en) | Electrodeposition of copper from acidic baths | |
| EP0365969B1 (en) | Method for continuously electro-tinplating metallic material | |
| EP0892087A2 (en) | Electroplating of low-stress nickel | |
| US7329334B2 (en) | Controlling the hardness of electrodeposited copper coatings by variation of current profile | |
| PL136685B1 (en) | Bath for electrodeposition of copper films of high microhardness | |
| JP7569788B2 (ja) | 電解液とクロム層の製造方法 | |
| SE438872B (sv) | Forfarande och medel for att elektrolytiskt utfella jern och atminstone en av metallerna nickel och kobolt | |
| US2525943A (en) | Copper plating bath and process | |
| EP2606163B1 (en) | METHOD FOR THE ADJUSTMENT OF NICKEL CONTENT AND pH OF A PLATING SOLUTION | |
| JPH1060683A (ja) | 電気めっき三元系亜鉛合金とその方法 | |
| CN109628967B (zh) | 一种用于结晶器铜板的镍钴合金镀液及其装置 | |
| US3767539A (en) | Acid galvanic copper bath |