PL119404B1 - Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem - Google Patents

Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem Download PDF

Info

Publication number
PL119404B1
PL119404B1 PL20173077A PL20173077A PL119404B1 PL 119404 B1 PL119404 B1 PL 119404B1 PL 20173077 A PL20173077 A PL 20173077A PL 20173077 A PL20173077 A PL 20173077A PL 119404 B1 PL119404 B1 PL 119404B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
transistor
junction
integrated
area
gate
Prior art date
Application number
PL20173077A
Other languages
English (en)
Other versions
PL201730A1 (pl
Inventor
Vjaceslav J Kremlev
Rustem Z Erzanov
Aleksandr P Markov
Valerij V Lebedev
Original Assignee
Rustem Z Erzanov
Kremlev V J
Valerij V Lebedev
Aleksandr P Markov
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rustem Z Erzanov, Kremlev V J, Valerij V Lebedev, Aleksandr P Markov filed Critical Rustem Z Erzanov
Priority to PL20173077A priority Critical patent/PL119404B1/pl
Publication of PL201730A1 publication Critical patent/PL201730A1/pl
Publication of PL119404B1 publication Critical patent/PL119404B1/pl

Links

Landscapes

  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest injekcyjny uklad logiczny z generatorem pradu w postaci planarne¬ go tranzystora n-p-n i elementem przelaczaljacym w postaci tranzystora polowego normalnie odcie¬ tego ze zlaczem sterujacymi p-n z kanalem piono¬ wym i bramka polaczona z obszarem kolektoro¬ wym tranzystora n-p-n. Zgodnie z wynalazkiem tranzystor polowy jest wykonany w postaci struk¬ tury z drenem metalicznym czesciowo zachodza¬ cym na obszar bramki i tworzacym z tym obsza- 119 404119 404 3 rem zlacze prostujace, a obszarem kanalu piono¬ wego zlacze reaktancyjne.Istota wynalazku jest blizej wyjasniona w przy¬ kladach realizacji wynalazku w oparciu o zalaczo¬ ny rysunek, na którym fig. 1 przedstawia sche¬ mat elektryczny injetacyjnego ukladu logicznego wytworzonego w technologii ukladów scalonych, wedlug wynalazku; figi 2 — strukture pólprze¬ wodnikowa scalonego injekcyjnego ukladu logicz¬ nego z generatorem pradu w postaci tranzystora planarnego p-n-p w widoku izometrycznym; fig. 3 — atni&ture. pólprzewodnikowa scalonego injek¬ cyjnego ukladu logicznego z generatorem pradu w"postaci napromieniowywanego tranzystora pla- narnego nnp-n w Wido-ku izometrycznym, a fig. 4 przedstawia pólprzewodnikowa strukture scalone¬ go? infekcyjnego ukladu logicznego z generatorem pradu w postaci napromieniowywanego zlacza pla¬ narnego p-n w przekroju wzdluznym.Jako priyklady realizacji wynalazku ponizej sa opisane rózne uklady scalone, zawierajace tranzy¬ story polowe z drenami, wykonanymi w postaci pólprzewodnikowych obszarów dyfuzyjnych. Jed¬ nakze zamiaat obszarów dyfuzyjnych moga byc stosowane lokalne obszary epitaksjalne lub poli¬ krystaliczne o tym samym typie przewodnictwa, co zmniejsza zmiany rozdzialu domieszek i pozwa¬ la tworzyc uklady scalone z wykorzystaniem tyl¬ ko jednej operacji dyfuzji.Przedstawiony na fig. 1 scalony injekcyjny uklad 'logiczny przedstawia soba inwerter logiczny o dwóch niezaleznych wyjsciach. Elementem klu¬ czujacym ukladu Jest para ^tranzystorów 1, 2, z których pierwszy 1 jest (tranzystorem przelacza¬ jacym n^p-n a drugim 2— tranzytor polowy z ka¬ nalem typu n, majacy bramke w postaci zlacza p-n, dwoma kanalami normalnie odcietymi, które¬ go to tranzystora naipiecie odciecia wynosi 0-*-+©£ V. Elektroda weljsciowa 3 ukladu jest polaczona z baza tranzystora '1, bramka tranzy¬ stora 2 i dodatnim Biegunem generatora 4 pradu tasilajacego. Elekjtrody wyjsciowe 5 sa polaczone z kolektorami tranzystora X i drenami tranzystora polowego 2. Emiter tranzystora 1, zródlo tranzysto¬ ra 2 i /biegun ujemny generatora 4 pradu zasila¬ jacego sa uziemione.Uklad przedstawiony na fig. 1 /pracuje w spo¬ sób nastepujacy. Oznaczmy zerem logicznym stan zamkniecia elektrod 3 i 5 na „ziemie" (potencjal zerowy lub slabo dodatni, rzedu 0 -5- +0,2 V), „je¬ dynka" logiczna staw (taki, gdy nie ma zamkniecia elektrod 3 lub 5 na „ziemie" {duzy dodatni poten¬ cjal, równy spadkowi napiecia na zlaczu p-n, spo¬ laryzowanym w kierunku przewodzenia, to znaczy rzedu +0,3 +0,8 V) dla krzemowych ukladów sca¬ lonych. Gdy sygnal odpowiadajacy zeru logiczne¬ mu doprowadza sie do elektrody wejsciowej 3 ukladu, tranzystor przelaczajacy 1 znajduje sie w stanie odciecia. W stanie odciecia znajduije sie równiez tranzystor polowy 2, poniewaz warstwy ladunku objetosciowego zlacz p-n bramka^kanaly zachodza na przekroje jego kanalów. Na wyjscio¬ wych elektrodach 5 ukladu wytwarza sie wówczas jednakowy sygnal logiczny.Przy doprowadzeniu do elektrody wejsciowej 3 4 sygnalu, odpowiadajacego jedynce logicznej, prad zasilania z generatora 4 wplywa do bazy tranzy¬ stora przelaczajacego 1 i do bramki tranzystora polowego 2, polaryzujac ich zlacza baza—emiter 5 i bramka—zródlo w kierunku przewodzenia. Przy tym potencjal bramki tranzystora 2 odpowiada^ po¬ ziomowi jedynki logicznej (+0,3-t-+0^,7 A), warst¬ wy ladunku objetosciowego zlacza p-n bram- ka^kanaly sa zwezone i nie zachodza na caly 10 przekrój kanalów. Tranzystor polowy 2 przewodzi.Przewodzi równiez tranzystor przelaczajacy 1. Na elektrodach wyjsciowych 5 ukladu wytwarza sie wówczas sygnal, odpowiadajacy zeru logicznemu.Zaleta takiego ukladu jest jego zdolnosc do pra- 15 cy przy malym pradzie generatora 4 (pradzie za¬ silajacym) i malej mocy pobieranej, jak równiez zwiekszona obciazalnosc, wynikajaca z wykorzy¬ stania w elemencie przelaczajacym ukladu tran¬ zystora polowego 2, odznaczajacego sie tym wla- 20 snie, ze jest ten tranzystor zdolny do pracy przy malych pradach zasilajacych, przy których wlas¬ ciwosci wzmacniajace tranzystora bipolarnego sa male lub nie ma ich wcale, oraz tym, ze zapew¬ niona jest równolegla praca tranzystorów przela- 25 czajacego 1 i polowego 2, przy duzych pradach zasilajacych i przy duzej pobieranej mocy.Druga zaleta takiego ukladu scalonego jest jego duza szybkosc dzialania i mala wartosc pracy przelaczania, co jest spowodowane wykorzystaniem 30 w elemencie kluczujacym ukladu tranzystora po¬ lowego pracujacego z wykorzystaniem nosników wiekszosciowych ladunku i zmniejszeniem na sku¬ tek tego wlasciwosci bezwladnosciowych elemen¬ tu kluczujacego, uwarunkowanych efektami gro- 35 madzeruia i znikania nadmiernego ladunku nosni¬ ków mniejszosciowych.Jeszcze jedna zaleta tego ukladu scalonego jest mozliwosc wykorzystania w tym ukladzie tranzy¬ stora przelaczajacego 1, odznaczajacego sie ma- 40 ly-m, w tym równiez mniejszym od jednosci, wspólczynnikiem wzmocnienia pradowego.Przedstawiony na fig. 1 schemat elektryczny moze byc laitwo zrealizowany w technologii pla¬ narnej ukladów scalonych. Przy tym celowym jest 45 wytwarzac strukture pólprzewodnikowa zgodnie z jej przedstawieniem na fig. 2, 3, 4.Na figurze 2 przedstawiona jest. struktura pól¬ przewodnikowa scalonego injekcyjnego logicznego — inwertora logicznego — o jednym wyjsciu w i z generatorem pradu w postaci planarnego tran¬ zystora p-n^p.Struktura pólprzewodnikowa ukladu scalonego rozmieszczona jest na podlozu krzemowym 6 o przewodnictwie 55 narne 7, 8 o [przewodnictwie typu p, obszary pla¬ narne 9, 10 o przewodnictwie typu n+, kanal pio¬ nowy 11 o przewodnictwie typu n, znajdujacy sie wewnatrz obszaru 8, i laczacy obszar 9 i podloze 6, oraz elektrody metalowe 3, 5, 12, 13 tworzace w styki rezystancyjne z obszarami 8, 9, 7, 10 odpo^ wiedniio. Funkcje obszarów emiterowego, bazy i kolektorowego poziomo usytuowanego tranzysto¬ ra planarnego p-n-p (generatora pradu) spelnia¬ ja odpowiednio obszar 7, podloze 6 i obszar 8. 55 Kanal 11 o przewodnictwie typu n stanowi kanal5 119 404 6 tranzystora polowego z ibramka w postaci zlacza p-n miedzy obszarem 8 i kanalem 11. Funkcje ob¬ szarów bramki, drenu tranzystora polowego spel¬ niaja podloze 6 i obszar 9 odpowiednio. Funkcje obszarów emiterowego, bazy i kolektorowego prze¬ laczajacego tranzystora bipolarnego n-p-n spel¬ niaja odpowiednio podloze 6 i obszary 8, S. Elek¬ troda 3 jest elektroda wejsciowa ukladu, elektro¬ da 5 — jego elektroda wyjsciowa. Podloze 6 jest uziemione poprzez obszar 10 i elektrode 13. Elek¬ troda 12 jest dolaczona do bieguna dodatniego zródla zasilajacego, nie pokazanego na rysunku.Dzialanie uklaclu scalonego, zrealizowanego we¬ dlug opisanego wyzej przykladu wykonania jest analogiczne dzialaniu ukladu, zrealizowanemu zgodnie ze schematem, przedstawionym na fig. 1.Zaleta ukladu scalonego, przedstawionego na fig. 2, jest jego duza szybkosc dzialania i obcia¬ zalnosc spowodowana mala opornoscia krótkiego Tcanalu pionowego 11 tranzystora polowego, znaj¬ dujacego sie w stanie przewodzenia, jak równiez opisana konstrukcja kanalu tranzystora polowego, jego praca w warunkach opisywanych wyjsciowy¬ mi charakterystykami pradowo-napieciowymi, od¬ znaczajacymi sie brakiem odcinków, swiadczacych o ograniczeniu pradu drenu.Przy wytwarzaniu ukladu scalonego zgodnego z fig. 2 zostala osiagnieta maksymalna szybkosc dzialania rzedu 6—25 nanosekund przy wspólczyn¬ niku rozgalezienia na wyjsciach równym 1—3 i po¬ bieranej] przez kazdy inwertor logiczny mocy rów¬ nej 3—1 nkfW i wartosci pracy przelaczania in¬ westorów rzedu 0,02 pJ.Druga zaleta ukladu scalonego, zrealizowanego zgodnie z fig. 2 jest wysoki stopien scalania, pro¬ stota budowy i technologii wytwarzania jego struktury pólprzewodnikowej, uwarunkowane wy¬ korzystaniem tranzystora polowego z kanalem pionowym, polaczeniem jego obszarów pólprze¬ wodnikowych z obszarami bipolarnych tranzysto¬ rów n-p-n i p-n-p oraz wytworzeniem ukladu na podlozu bez warstw epitaksjalnych, z wykorzy¬ staniem dwóch operacji dyfuzji.Na figurze 3 przedstawiona jest struktura pól¬ przewodnikowa scalonego injekcyjnego ukladu lo¬ gicznego z generatorem pradu w postaci planar¬ nego poziomego tranzystora, n-p-n.Podloze 61, obszary pólprzewodnikowe 7^, 81 i kanal II1 danej struktury sa podobne do podlo¬ za 6, obszarów 7, 8 i do kanalu lii odjpowiednio struktury, zrealizowanej zgodnie z fig. 2 i spel¬ niaja takie same funkcje. Róznica polega tylko na tym, ze wymienione obszary sa obszarami o od¬ miennym ty|pie przewodnictwa, niz analogiczne obszary struktury z fig. 2, to znaczy podloze 61 i kanal li1 sa obszarami o przewodnictwie typu p-, obszary 71 i 81 — obszarami o przewodnictwie typu n+ i n odpowiednio. Tranzystor polowy wy¬ konany jest w postaci struktury z pionowym ka¬ nalem li1, bramka w postaci zlacza p-n miedzy obszarem 81 i kanalem ii1 oraz drenem metalo¬ wym, którego funkcje spelnia elektroda wyjscio¬ wa 5 ukladu. Dren metalowy (elektroda 5) tworzy styk rezystancyjny z kanalem li1 i zlacze prostu¬ jace (zlacze Schottky'ego) z. obszarami bramki tranzystora polowego,, na która czesciowo zacho¬ dzi, przy czym funkcje obszaru bramki spelnia obszar 81.Bipolarny tranzystor przelaczajacy p-n metal jest wykonany z obszarami emiterowymi i bazy w postaci podloza 61 i obszaru ft1 odpowiednio i kolektorem metalowym w postaci elektrody wyj¬ sciowej 5 ukladu. Obszar 14* o przewodnictwie typu n+ zapewnia styk rezystancyjny elektrody wejsciowej 3 ukladu z obszarem 81 o przewód-, nictwie typu n. Podloze 61 jest uziemione poprzez elektrode 13. Elektroda 12 jest dolaczona do bie¬ guna ujemnego zródla zasilania nie pokazanego na rysunku.Dzialanie ukladu scalonego, przedstawionego na fig. 3 jest analogiczne dzialaniu ukladów, przed¬ stawionych na fig. 1 i fig. 2 (potencjaly poziomów logicznych — ujemne). Róznica polega Jednakze na tym, ze w stanie wejsciowym, odpowiadaja¬ cym jedynce logicznej na elektrodzie wejsciowej 3, nie wystepuja nadmierne potencjaly obszarów 81 i 14 oraz nie ma intensywnego wstrzykiwania (injekcji) nosników mniejszosciowych ladunku przez zlacze p-n miedzy obszarami 81 i 14 oraz podlozem 61 na skutek bocznikowania tego zlacza p-n zlaczem prostujacym (zlaczem Schottky'ego) miedzy obszarem 81 i elektroda 5 przez przewo¬ dzacy kanal 11 tranzystora polowego.Zaleta tego przykladu realizacji ukladu scalone¬ go jest jego bardzo duza szybkosc dzialania, wy¬ nikajaca ze zmniejszenia — spowodowanego wy¬ mienionymi szczególami konstrukcyjnymi i zasada dzialania — pojemnosci wejsciowej (skladowej tej pojemnosci), spowodowanej dyfuzja, i rozpietosc poziomów logicznych ukladu.Druga zasada ukladu scalonego, zrealizowanego zgodnie z przykladem wykonania, przedstawionym na fig. 3 jest prostota budowy i technologii jego wytwarzania — bez warstw epitaksjalnych z za¬ stosowaniem jednej tylko operacji dyfuzji.Na figurze 4 przedstawiony jest jeszcze jeden przyklad realizacji struktury pólprzewodnikowej scalonego injekcyjnego ukladu logicznego.Struktura pólprzewodnikowa w tym przykladzie realizacji wynalazku jest podobna do struktury ukladu, przedstawionego na fig. 2 z ta tylko róz¬ nica, ze do zasilania ukladu, przedstawionego na fig. 4, wykorzystywana jest energia promieniowa¬ nia 15 (swietlnego, radioaktywnego lub jakiego¬ kolwiek innego) przeksztalcana w energie elek¬ tryczna przez generator pradu, zrealizowany W po- . staci planarnego napromieniowywanego zlacza p-n 16. Zlacze 16 p-n jest polaczone ze zlaczem p-n bramka—zródlo tranzystora polowego z kanalem pionowym (ze zlaczem p-n miedzy obszarem 8 o przewodnictwie typu p i podlozem i o prze¬ wodnictwie typu n).Promieniowanie 15 generuje w przylegajacej do zlacza p-n 16 objetosci pólprzewodnika swobodne nosniki ladunku. Pole elektryczne zlacza p-n 16 zapewnia rozdzial generowanych przez promienio¬ wanie swobodnych nosników ladunku, przy czym dziury przenikaja do obszaru 8 o przewodnictwie typu p i w ten sposób zapewniaja wplywanie do tego obszaru pradu zasilajacego uklad. u 15 20 29 M 35 40 45 50 55 607 119 404 8 Zaleta ukladu scalonego, przedstawionego na fig. 4 jest to, ze jako zródlo zasilajace ten uklad moze byc wykorzystywany zródlo o bardzo malej energii oraz to, ze ilstnieje mozliwosc zwiekszenia obciazalnosci ukladu w warunkach 'slabego pro¬ mieniowania, co jest uwarunkowane zdolnoscia do pracy i dobrymi wlasciwosciami wzmacniajacymi tranzystora polowego w warunkach malych pra¬ dów zasilajacych. m Poprzez dobór wymiarów konstrukcyjnych ele¬ mentów skladowych struktur pólprzewodnikowych, zrealizowanych zgodnie z przykladami wykonania, przedstawionymi na fig. 2, 3, 4 oraz dobranie tech¬ nologii ich wytwarzania mozna zmieniac w sze¬ rokich granicach rozdzial pradu obciazenia ukladu scalonego w stanie zera logicznego na wyjsciach miedzy przelaczajacym (bijpolarnym 1 i polowym 2 tranzystorami (miare ich udzialu w pracy ukla¬ du) od przeplywania wiejkszej czesci pradu obciaze¬ nia przez tranzystor polowy 2 i znacznie mniej¬ szej czesci tego pradu przez tranzystor 1, na przy¬ klad, ha skutek zwiekszenia grubosci obszaru 8 w ukladzie zrealizowanym zgodnie z przykladem wykonania, przedstawionym na fiig. 2 i fig. 4 (ob- 10 15 szaru 81 w przykladzie realizacji zgodnie z fig. 3 i zmniejszenia wymiarów obszaru 9 w ukladzier zrealizowanym zgodnie z przykladem wykonania, przedstawionym na fig. 2 i fig. 4 (elektrody 5 w przykladzie zealizacji zgodnie z fig. 3), do prze¬ plywania wiekszej czesci pradu obciazenia przez7. tranzystor 1 i znacznie mniejszej czesci tego pra¬ du przez tranzystor polowy 2 przy odwrotnej" zmianie wymiarów obszarów 8, 81, 9 i elek¬ trody 5.Zastrzezenie patentowe Injekcyjny uklad logiczny z generatorem pradu w lpostaci planarnego tranzystora nnp-n i elemen¬ tem przelaczajacym w postaci tranzystora polowe¬ go normalnie odcietego ze zlaczem sterujacym p-m z kanalem pionowym i bramka polaczona z ob¬ szarem kolektorowym tranzystora n-p-n, znamien¬ ny tym, ze tranzystor polowy (2) jest wykonany- w postaci struktury z drenem metalicznym (5) cze¬ sciowo zachodzacym na obszar bramki (81) i two¬ rzacym z tym obszarem zlacze prostujace, a z ob¬ szarem kanalu pionowego Ul1) zlacze rezystan- cyjne.FIE.1 FIG. 2 F/S. 3 F/G. 4 Wi/ \z 13 r^^SjCJ^-p PZGraf. Koszalin A-1467 90 A-4 Cena 100 zl PL

Claims (4)

1. Zastrzezenie patentowe Injekcyjny uklad logiczny z generatorem pradu w lpostaci planarnego tranzystora nnp-n i elemen¬ tem przelaczajacym w postaci tranzystora polowe¬ go normalnie odcietego ze zlaczem sterujacym p-m z kanalem pionowym i bramka polaczona z ob¬ szarem kolektorowym tranzystora n-p-n, znamien¬ ny tym, ze tranzystor polowy (2) jest wykonany- w postaci struktury z drenem metalicznym (5) cze¬ sciowo zachodzacym na obszar bramki (81) i two¬ rzacym z tym obszarem zlacze prostujace, a z ob¬ szarem kanalu pionowego Ul1) zlacze rezystan- cyjne. FIE.1 FIG.
2. F/S.
3. F/G.
4. Wi/ \z 13 r^^SjCJ^-p PZGraf. Koszalin A-1467 90 A-4 Cena 100 zl PL
PL20173077A 1977-10-25 1977-10-25 Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem PL119404B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20173077A PL119404B1 (en) 1977-10-25 1977-10-25 Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20173077A PL119404B1 (en) 1977-10-25 1977-10-25 Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL201730A1 PL201730A1 (pl) 1979-07-02
PL119404B1 true PL119404B1 (en) 1981-12-31

Family

ID=19985229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20173077A PL119404B1 (en) 1977-10-25 1977-10-25 Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL119404B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL201730A1 (pl) 1979-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3955210A (en) Elimination of SCR structure
CN112234095A (zh) 含有增强元胞设计的功率mosfet器件
SE455552B (sv) Halvledaranordning innefattande en overspenningsskyddskrets
US5258625A (en) Interband single-electron tunnel transistor and integrated circuit
JPS6226193B2 (pl)
JP3284120B2 (ja) 静電誘導トランジスタ
JPS608628B2 (ja) 半導体集積回路装置
CN109742139B (zh) 一种基于ligbt的单栅控制电压电流采样器件
JPS5895877A (ja) 半導体光電変換装置
EP0193842B1 (en) Integrated semiconductor circuit with two epitaxial layers of different conductivity types
PL119404B1 (en) Iil integrated circuitlogii integral'nykh skhem
US4661831A (en) Integrated RS flip-flop circuit
US10418502B2 (en) Method and structure for multi-cell devices without physical isolation
US4243895A (en) Integrated injection circuit
JP2784458B2 (ja) サージ防護素子
SU602055A1 (ru) Интегральный логический элемент
JP2604628B2 (ja) 双方向性スイツチング装置
JPS6019668B2 (ja) 半導体集積回路
US3717775A (en) Coupling of bistable elements by conductivity modulation
JPS6023503B2 (ja) 半導体装置
CA1081862A (en) Bistable logic element
JPS5933988B2 (ja) 静電誘導形サイリスタ
GB1565918A (en) Integrated injection circiut devices
JPH0945892A (ja) サージ防護素子
JPH03278471A (ja) 光スイッチ