NL8403949A - Werkwijze voor het inspekteren van de eigenschappen van een magnetische kop. - Google Patents

Werkwijze voor het inspekteren van de eigenschappen van een magnetische kop. Download PDF

Info

Publication number
NL8403949A
NL8403949A NL8403949A NL8403949A NL8403949A NL 8403949 A NL8403949 A NL 8403949A NL 8403949 A NL8403949 A NL 8403949A NL 8403949 A NL8403949 A NL 8403949A NL 8403949 A NL8403949 A NL 8403949A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
magnetic
magnetic head
properties
light beam
change
Prior art date
Application number
NL8403949A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Publication of NL8403949A publication Critical patent/NL8403949A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/455Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/032Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
    • G01R33/0325Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect using the Kerr effect
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B11/00Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
    • G11B11/10Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
    • G11B11/105Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B33/00Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
    • G11B33/10Indicating arrangements; Warning arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Description

~ 7*
* N.O. 32.935* X
Werkwijze voor het inspekteren van de eigenschappen van een magnetische kop.
5 De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het inspekte ren van de eigenschappen van een magnetische kop en betreft in het bijzonder een werkwijze voor het inspekteren van de dynamische magnetische eigenschappen van verschillende zeer kleine gebieden, een magnetische dunfilmkop en een magnetische weerstandskop.
10
Beschrijving van de stand van de techniek
Bij magnetische koppen, zoals magnetische dunfilmkoppen die een kleine induktantie vertonen, is het niet altijd mogelijk de dynamische 15 magnetische eigenschappen van de magnetische koppen te meten. Verder is het niet mogelijk de magnetische eigenschappen te meten van magnetische koppen in plaatjesvorm voordat het assembleren van de magnetische koppen voltooid is. Als de meting zou kunnen worden uitgevoerd zou het mogelijk zijn defekte delen in het stadium van de plaatjes te elimineren en 20 alleen acceptabele delen te gebruiken voor het assembleren van de magnetische koppen, waardoor de opbrengst bij de produktie van, magnetische koppen aanzienlijk zou verbeteren.
Alhoewel het verder mogelijk is de eigenschappen van de totale, voltooide magnetische kop te meten, is het tot nu toe onmogelijk geble-25 ken om de eigenschappen van verschillende zeer kleine gebieden van een magnetische kop onafhankelijk te meten. Derhalve worden de eigenschappen van elk gebied van een magnetische kop door gebruik van een computer theoretisch aangenomen. Als de eigenschappen van elk gebied van een magnetische kop direkt gemeten zouden kunnen worden zou dit in de praktijk 30 van bijzonder voordeel zijn.
Samenvatting van de uitvinding
Het voornaamste doel van de onderhavige uitvinding is het verschaf-35 fen van een inspektiemethode voor een magnetische kop, die de meting mogelijk maakt van de dynamische eigenschappen van verschillende zeer kleine gebieden van een magnetische' kop.
Een ander doel van de onderhavige uitvinding is het verschaffen van een inspektiemethode voor een magnetische kop, die een meting mogelijk 40 maakt van dynamische gebieden van een magnetische dunfilmkop of derge— 8403949 2 i 1 -- lijke in plaatjestoestand.
Het specifieke doel van de onderhavige uitvinding is het verschaf- -fen van een inspektiemethode voor een magnetische kop, die de opbrengst bij de produktie van magnetische koppen verbetert.
5 De onderhavige uitvinding verschaft een inspektiemethode voor een magnétische kop, die bestaat uit de volgende stappen: I) Het laten vallen van een lichtbundel op een licht reflekterend deel van een magnetische kop voorzien van een laag magnetisch materiaal met het licht reflekterende deel op het oppervlak, 10 II) het foto-elektrisch detekteren van een verandering in de eigen schappen van de door het licht reflekterende deel gereflekteerde bundel, veroorzaakt door het Kerr-effekt overeenkomstig een verandering in de inwendige magnetisatie van de laag magnetisch materiaal, en III) het meten van de magnetische eigenschappen van de genoemde mag-15 netische kop op basis van de detektie-uitgang.
In het bijzonder wordt een wisselstroom aan een spoel toegevoerd van bijvoorbeeld een magnetische dunfilmkop, wat tot gevolg heeft dat de inwendige magnetische toestand van de laag magnetisch materiaal omslaat in de langsrichting van het magnetische poolstuk. Een laserbundel wordt 20 gericht naar het oppervlak van de laag magnetisch materiaal en de laserbundel die door het oppervlak wordt gereflekteerd wordt foto-elektrisch gedetekteerd. Als het transversale Kerr-effekt wordt gebruikt wordt een verandering in het reflektievermogen gedetekteerd. Als het longitudinale Kerr-effekt wordt gebruikt wordt een hoekrotatie van het vlak van de 25 polarisatie gedetekteerd door toepassing van een polatisator en een ana-lysator, waardoor de verandering wordt gedetekteerd in de interne magne-tisatietoestand van de laag magnetisch materiaal.
Als de magnetische kop wordt afgetast door de laserbundel, die is gekondenseerd tot een diameter van bijvoorbeeld bij benadering 10 mi-30 kron, kunnen onafhankelijk de magnétische eigenschappen van verschillende gebieden van de magnetische kop worden gemeten. Dat wil zeggen dat het mogelijk wordt de dynamische magnetische eigenschappen (hysteresis-kurve) te verkrijgen van elk gebied van de laag magnetisch materiaal, die tevoorschijn komen als een wisselstroom wordt toegevoerd. Ook als 35 dezelfde meting wordt uitgevoerd bij veranderende frequentie van de wisselstroom kan de frequentieresponsie van de magnetische eigenschappen van het magnetische poolstuk worden vastgesteld.
Bij de inspektiemethode volgens de onderhavige uitvinding kunnen de eigenschappen van de verschillende gebieden van de magnetische kop wor-40 den geïnspekteerd door een lichtbundel op de magnetische kop te laten 8403949 1 Λ _ * 3 vallen, zelfs als de magnetische kop de vorm heeft van een plaatje. Derhalve is het mogelijk de inspektie uit te voeren voordat de magnetische -kop uit de plaatjes wordt gefabriceerd en foutieve delen weg te laten.
Als gevolg hiervan wordt het mogelijk de opbrengst bij de produktie van 5 de magnetische kop te verbeteren.
Korte beschrijving van de tekeningen
Fig. 1 toont een schematisch aanzicht van een uitvoeringsvorm van 10 de inrichting voor het uitvoeren van de inspektiemethode volgens de onderhavige uitvinding, en fig. 2 en 3 tonen in perspektief de posities van de magnetische kop en de lichtbundel als de magnetische eigenschappen van een magnetische dunfilmkop worden geïnspekteerd door toepassing van het transversale 15 Kerreffekt en het longitudinale Kerr-effekt,
Beschrijving van de voorkeursuitvoeringsvormen
De onderhavige uitvinding zal thans nader worden toegelicht aan de 20 hand van de bijgaande tekeningen.
Fig. 1 toont schematisch een uitvoeringsvorm van de inrichting voor het inspekteren van de dynamische magnetische eigenschappen van een magnetische kop en het meten van de hysteresiskurve door de inspektiemethode volgens de onderhavige uitvinding.
25 Een laserbundel IA uitgezonden door een laserbundelbron 1 wordt lineair gepolariseerd door een polarisator 2 voor het vormen van een gepolariseerde laserbundel 1B. De gepolariseerde laserbundel 1B wordt ge-kondenseerd door een kondensorlens 3, zodat de bundeldiameter op een plaatje 10 van de magnetische kop 10 mikron of minder bedraagt en een 30 voorafbepaald zeer klein gebied van een voorafbepaald magnetisch pool-stuk van het plaatje 10 treft. Het plaatje 10 bestaat uit een plaatje van bijvoorbeeld een magnetische dunfilmkop. Zoals in de fig. 2 en 3 is weergegeven zijn kontaktnaalden 5a en 5b van een paar sondes 5A en 5B voor het toevoeren van een aandrijfstroom elektrisch verbonden met de 35 uitgangseinden van een spoel van elk magnetisch kopelement.
De kontaktnaalden 5a en 5b van de sondes 5A en 5B zijn aangesloten op een hoogfrequentie testsignaalgeneratorschakeling 6 en ontvangen daaruit een wisselstroomsignaal of een signaal in de vorm van een rechthoekige kromme met hoge frequentie (bijvoorbeeld 1MHz). Als het testsig-40 naai wordt toegevoerd treedt er een verandering op in de positiviteit en 8403949 3 * .....
4 de negativiteit van de inwendige magnetisatie in het gebied van het plaatje 10 dat moet worden geïnspekteerd. De verandering treedt op door -het Kerr-effekt als de rotatie van het vlak van polarisatie van een laserbundel 1C gereflekteerd door het geinspekteerde gebied van het 5 plaatje 10 (in geval van longitudinaal Kerr-effekt) of als een verandering in de intensiteit van de gereflekteerde laserbundel 1C (in geval van een transversale Kerr-effekt). De gereflekteerde laserbundel 1C wordt door een fotodetektor 20 ontvangen, bijvoorbeeld een fotovermenig-vuldiger via een kollimatielens 7, een rechthoekgolfplaat 8 en een ana-10 lysator 9. De rechthoekgolfplaat 8 elimineert elliptische polarisatie die door de reflektie wordt veroorzaakt, waardoor met zekerheid de lineair gepolariseerde laserbundel wordt verkregen. De analysator 9 zendt de laserbundel uit met de intensiteit overeenkomstig de hoek van het vlak van polarisatie van de gepolariseerde bundel en zorgt ervoor dat de 15 laserbundel de fotodetektor 10 treft (in geval van toepassing van het longitudinale Kerr-effekt). In geval van toepassing van het transversale Kerr-effekt kunnen de polarisator 2, de rechthoekgolfplaat 8 en de analysator 9 indien nodig achterwege blijven.
De uitgang van de fotodetektor 20 wordt gezonden naar een uitgangs-20 klem voor de Y-as van een oscilloscoop 21. De uitgangsstroom van de hoogfrequente testsignaalgeneratorschakeling 6 wordt als een spanning af genomen via een standaardweerstand 6A en toegevoerd aan een ingangs-klem voor de X-as van de oscilloscoop 21. Op deze wijze wordt een dynamische magnetische eigenschapkurve (hysteresiskurve) 22 van het geïn-25 spekteerde gebied van het plaatje 10 op de oscilloscoop 21 weergegeven.
Zoals hierboven is beschreven kunnen de magnetische eigenschappen van een willekeurig zeer klein gebied van een willekeurig magnetisch poolstuk van het plaatje 10 worden geinspekteerd.
Fig. 2 toont de posities van de magnetische dunfilmkop, de laser-30 bundel 1B en de gereflekteerde laserbundel 1C indien een parallelle mag-netisatiekurve wordt gemeten door toepassing van het transversale Kerr-effekt of een orthogonale magnetisatiekurve wordt gemeten door toepassing van het longitudinale Kerr-effekt. Fig. 3 toont de posities van de magnetische dunfilmkop, de laserbundel 1B en de gereflekteerde laserbun-35 del 1C als een parallelle magnetisatiekurve wordt gemeten door toepassing van het longitudinale Kerr-effekt of als een orthogonale magnetisatiekurve wordt gemeten door toepassing van het transversale Kerr-effekt. Met ’’parallelle magnetisatiekurve" wordt een M-H-kurve bedoeld van een magnetisatievektorkomponent die parallel loopt met het toegevoerde mag-40 netische aandrijfveld. Met "orthogonale magnetisatiekurve" wordt een 8403949 * Μ** ' 5 M-H-kurve bedoeld van een magnetisatievektorkomponent die loodrecht staat op het toegevoerde magnetische aandrijfveld.
8403949

Claims (5)

1. Inspektiemethode voor een magnetische kop, bestaande uit de volgende stappen:
5 I) het laten vallen van een lichtbundel op een licht reflekterend deel van een magnetische kop voorzien van een laag magnetisch materiaal met het licht reflekterende deel op het oppervlak, II) het foto-elektrisch detekteren van een verandering in de eigenschappen van de genoemde gereflekteerde lichtbundel door het licht 10 reflekterende deel, veroorzaakt door het Kerr-effekt overeenkomstig een verandering van de interne magnetisatie van de genoemde laag magnetisch materiaal, en III) het meten van de magnetische eigenschappen van de genoemde magnetische kop op basis van de gedetekteerde uitgang. 15
2. Werkwijze volgens conclusie 1, waarbij een laserbundel als genoemde lichtbundel wordt gebruikt en de interne magnetisatie van elk klein gebied van de magnetische kop wordt gemeten door het aftasten van het kleine gebied door de laserbundel. 20 ·
3. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, waarin de genoemde magnetische kop een magnetische dunfilmkop is en de genoemde interne magnetisatie de interne magnetisatie is die wordt opgewekt als een stroom door een spoel van de genoemde magnetische dunfilmkop wordt gevoerd. 25
4. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, waarin de genoemde verandering van de eigenschappen van de gereflekteerde lichtbundel een verandering is van de intensiteit van de genoemde gereflekteerde lichtbundel.
5. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, waarin de genoemde verande ring van de eigenschappen van de genoemde gereflekteerde lichtbundel een rotatie is van het vlak van polarisatie van de genoemde gereflekteerde lichtbundel. ***** 84 0 3 S 49
NL8403949A 1983-12-29 1984-12-27 Werkwijze voor het inspekteren van de eigenschappen van een magnetische kop. NL8403949A (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25200583 1983-12-29
JP58252005A JPS60143420A (ja) 1983-12-29 1983-12-29 磁気ヘツドの検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8403949A true NL8403949A (nl) 1985-07-16

Family

ID=17231238

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8403949A NL8403949A (nl) 1983-12-29 1984-12-27 Werkwijze voor het inspekteren van de eigenschappen van een magnetische kop.

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4658148A (nl)
JP (1) JPS60143420A (nl)
NL (1) NL8403949A (nl)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4843316A (en) * 1986-06-27 1989-06-27 Hewlett-Packard Company Nondestructive M-H hysteresis testers for magnetic discs for computer disc drives
US4816761A (en) * 1987-06-22 1989-03-28 Josephs Richard M Apparatus for measuring the hysteresis loop of hard magnetic films on large magnetic recording disk
US4866264A (en) * 1988-10-31 1989-09-12 Northrop Corporation Method and apparatus for measuring non-reciprocal loss of thin magnetic films and magnetic mirrors
US4922200A (en) * 1989-08-25 1990-05-01 Ldj Electronics, Inc. Apparatus for measuring the hysteresis loop of magnetic film
US5162660A (en) * 1991-06-27 1992-11-10 Macmillan Bloedel Limited Paper roughness or glass sensor using polarized light reflection
US5493220A (en) * 1993-03-05 1996-02-20 Northeastern University Magneto-optic Kerr effect stress sensing system
US5631559A (en) * 1993-03-05 1997-05-20 Northeastern University Method and apparatus for performing magnetic field measurements using magneto-optic kerr effect sensors
US8170803B2 (en) * 2004-07-13 2012-05-01 Dexcom, Inc. Transcutaneous analyte sensor
CN100538839C (zh) * 2005-07-27 2009-09-09 中国科学院上海光学精密机械研究所 模块化光-磁混合存储介质动态测试系统
CN101393764B (zh) * 2008-09-18 2011-03-23 复旦大学 激光诱导磁记录动态测试方法及系统
WO2014036274A2 (en) 2012-08-31 2014-03-06 Oakley, Inc. Eyewear having multiple ventilation states
JP6773288B2 (ja) 2015-10-09 2020-10-21 オークリー インコーポレイテッド 受動的通気及び取り外し可能なレンズを有する頭部装着支持体
US9709817B2 (en) 2015-12-07 2017-07-18 Oakley, Inc. Eyewear retention devices and methods
US10359642B2 (en) 2016-04-22 2019-07-23 Oakley, Inc. Mounting mechanism for eyewear

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1772725A1 (de) * 1968-06-26 1971-06-03 Agfa Gevaert Ag Verfahren zur Feststellung von Pegelschwankungen in magnetisierbaren Schichten
FR2515811A1 (fr) * 1981-11-03 1983-05-06 Thomson Csf Dispositif interferometrique de mesure de champ magnetique et capteur de courant electrique comportant un tel dispositif
JPS58129372A (ja) * 1982-01-29 1983-08-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 磁界−光変換器

Also Published As

Publication number Publication date
US4658148A (en) 1987-04-14
JPS60143420A (ja) 1985-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8403949A (nl) Werkwijze voor het inspekteren van de eigenschappen van een magnetische kop.
US5663652A (en) Method for measuring current distribution in an integrated circuit by detecting magneto-optic polarization rotation in an adjacent magneto-optic film
US6934068B2 (en) Magnetic field and electrical current visualization system
US4891580A (en) Electro-optic measurements of voltage waveforms on electrical conductors
US20080238419A1 (en) Magnetic field measuring apparatus capable of measuring at high spatial resolution
US7271900B2 (en) Magneto-optical imaging method and device
WO2001061323A1 (fr) Instrument de mesure de la propriete physique d'un echantillon
JP2947288B2 (ja) 半導体集積回路用試験装置および該装置のプローブ位置制御方法
JP4003371B2 (ja) 回路基板の検査装置及び回路基板の検査方法
JP2002257718A (ja) 光ビーム走査磁区検出装置
JPH09211035A (ja) 電界測定装置
JP3194838B2 (ja) 磁場測定方法および磁場測定装置
JPH03167490A (ja) 実装プリント板試験装置
US8106653B2 (en) Optical-magnetic Kerr effect waveform testing
US6894514B2 (en) Circuit pattern detecting apparatus and circuit pattern inspecting method
JPH10239375A (ja) 回路基板検査方法
RU2021590C1 (ru) Способ измерения параметров внешнего воздействия на среду или объект и устройство для его осуществления
JP3018982B2 (ja) プリント基板の信号波形測定装置
JP2006126026A (ja) 回路基板の断線検査装置
JP2013156188A (ja) 磁界測定方法、磁界測定装置及び電子回路装置
JP2000338198A (ja) 電位測定装置
JP3305040B2 (ja) 集積回路の回路試験方法
JP2021050913A (ja) 磁化測定装置および磁化測定方法
JPH0212852A (ja) 集積回路診断装置
JP2001042011A (ja) 電気光学プローブ及びそれを用いた検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
BV The patent application has lapsed