NL7904500A - Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling.

Info

Publication number
NL7904500A
NL7904500A NL7904500A NL7904500A NL7904500A NL 7904500 A NL7904500 A NL 7904500A NL 7904500 A NL7904500 A NL 7904500A NL 7904500 A NL7904500 A NL 7904500A NL 7904500 A NL7904500 A NL 7904500A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
rays
measuring
content
given element
given
Prior art date
Application number
NL7904500A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Baecklund Nils Johannes
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Baecklund Nils Johannes filed Critical Baecklund Nils Johannes
Publication of NL7904500A publication Critical patent/NL7904500A/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • H05G1/12—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube with dc or rectified single-phase ac or double-phase
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076—X-ray fluorescence
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/02—Details
    • H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
    • H01J35/112—Non-rotating anodes
    • H01J35/116—Transmissive anodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00—X-ray tubes
    • H01J35/02—Details
    • H01J35/16—Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • H01J35/18—Windows
    • H01J35/186—Windows used as targets or X-ray converters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
NL7904500A 1978-06-21 1979-06-08 Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling. NL7904500A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE7807078A SE415804B (sv) 1978-06-21 1978-06-21 Sett att medelst rontgenstralning meta halten eller mengden av ett forutbestemt grundemne i ett prov, samt anordning for utforande av settet

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7904500A true NL7904500A (nl) 1979-12-28

Family

ID=20335268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7904500A NL7904500A (nl) 1978-06-21 1979-06-08 Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling.

Country Status (11)

Country Link
US (1) US4344181A (de)
JP (2) JPS552991A (de)
AU (1) AU522334B2 (de)
CA (1) CA1139021A (de)
DE (1) DE2924244C2 (de)
FI (1) FI72814C (de)
FR (1) FR2429425A1 (de)
GB (1) GB2025040B (de)
NL (1) NL7904500A (de)
SE (1) SE415804B (de)
ZA (1) ZA793095B (de)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE428974B (sv) * 1979-02-07 1983-08-01 Nils Johannes Baecklund Sett att medelst rontgenstralning meta halten av ett forutbestemt emne i ett prov
US4484341A (en) * 1981-10-02 1984-11-20 Radiation Dynamics, Inc. Method and apparatus for selectively radiating materials with electrons and X-rays
US4731804A (en) * 1984-12-31 1988-03-15 North American Philips Corporation Window configuration of an X-ray tube
FR2600422B1 (fr) * 1986-05-29 1989-10-13 Instruments Sa Appareil et procede d'analyses chimiques locales a la surface de materiaux solides par spectroscopie de photo-electrons x
GB8621983D0 (en) * 1986-09-12 1986-10-22 K X Technology Ltd Ore analysis
US5369679A (en) * 1990-09-05 1994-11-29 Photoelectron Corporation Low power x-ray source with implantable probe for treatment of brain tumors
US5153900A (en) * 1990-09-05 1992-10-06 Photoelectron Corporation Miniaturized low power x-ray source
US5452720A (en) * 1990-09-05 1995-09-26 Photoelectron Corporation Method for treating brain tumors
US5428658A (en) * 1994-01-21 1995-06-27 Photoelectron Corporation X-ray source with flexible probe
US5115457A (en) * 1990-10-01 1992-05-19 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method of determining titanium dioxide content in paint
US6377846B1 (en) 1997-02-21 2002-04-23 Medtronic Ave, Inc. Device for delivering localized x-ray radiation and method of manufacture
WO1997007740A1 (en) 1995-08-24 1997-03-06 Interventional Innovations Corporation X-ray catheter
DE69823406T2 (de) * 1997-02-21 2005-01-13 Medtronic AVE, Inc., Santa Rosa Röntgenvorrichtung versehen mit einer Dehnungsstruktur zur lokalen Bestrahlung des Inneren eines Körpers
FI102697B (fi) * 1997-06-26 1999-01-29 Metorex Internat Oy Polarisoitua herätesäteilyä hyödyntävä röntgenfluoresenssimittausjärje stely ja röntgenputki
US5854822A (en) * 1997-07-25 1998-12-29 Xrt Corp. Miniature x-ray device having cold cathode
US6108402A (en) * 1998-01-16 2000-08-22 Medtronic Ave, Inc. Diamond vacuum housing for miniature x-ray device
US6069938A (en) * 1998-03-06 2000-05-30 Chornenky; Victor Ivan Method and x-ray device using pulse high voltage source
US6195411B1 (en) 1999-05-13 2001-02-27 Photoelectron Corporation Miniature x-ray source with flexible probe
JP2003142294A (ja) * 2001-10-31 2003-05-16 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 高電圧発生回路およびｘ線発生装置
EP2111239B1 (de) 2006-12-15 2013-03-06 Lifebond Ltd. Hämostatische gelatin-transglutaminase-verbände und dichtungsstoffe
US20100008989A1 (en) 2008-06-12 2010-01-14 Ishay Attar Process for manufacture of gelatin solutions and products thereof
EP2303341A2 (de) * 2008-06-18 2011-04-06 Lifebond Ltd Verfahren zur enzymatischen vernetzung eines proteins
EP2303344A2 (de) * 2008-06-18 2011-04-06 Lifebond Ltd Verfahren und vorrichtungen zur verwendung mit dichtungsmitteln
CN102124058B (zh) * 2008-06-18 2014-05-28 生命连结有限公司 改进的交联组合物
EP2515957B1 (de) 2009-12-22 2015-07-29 Lifebond Ltd Modifizierung von enzymatischen vernetzern zur steuerung der eigenschaften vernetzter matrizen
DK2600910T3 (en) 2010-08-05 2016-04-04 Lifebond Ltd Wound dressings and adhesives COMPREHENSIVE DRYING FORMATIONS
US11998654B2 (en) 2018-07-12 2024-06-04 Bard Shannon Limited Securing implants and medical devices

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL92853C (de) * 1952-02-20
US2999937A (en) * 1958-10-20 1961-09-12 Philips Corp X-ray apparatus
DE1773759A1 (de) * 1968-07-03 1972-03-16 Vnii Raswedotschnoj Geofisiki Vorrichtung fuer Roentgenspektralanalyse
JPS5435078B1 (de) * 1970-07-30 1979-10-31
US4048496A (en) * 1972-05-08 1977-09-13 Albert Richard D Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
US3925660A (en) * 1972-05-08 1975-12-09 Richard D Albert Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
JPS5139580B2 (de) * 1973-02-08 1976-10-28
JPS5232593B2 (de) * 1973-09-06 1977-08-23
JPS5346062Y2 (de) * 1973-11-06 1978-11-04
JPS5139580U (de) * 1974-09-18 1976-03-24
US3963922A (en) * 1975-06-09 1976-06-15 Nuclear Semiconductor X-ray fluorescence device
GB1537099A (en) * 1976-06-15 1978-12-29 United Scient Corp X-ray fluorescence device

Also Published As

Publication number Publication date
ZA793095B (en) 1980-08-27
US4344181A (en) 1982-08-10
AU522334B2 (en) 1982-05-27
FR2429425A1 (fr) 1980-01-18
FI72814C (fi) 1987-07-10
SE415804B (sv) 1980-10-27
SE7807078L (sv) 1979-12-22
FI72814B (fi) 1987-03-31
JPS6419160U (de) 1989-01-31
GB2025040A (en) 1980-01-16
FI791817A (fi) 1979-12-22
DE2924244A1 (de) 1980-01-03
JPS552991A (en) 1980-01-10
DE2924244C2 (de) 1987-05-07
FR2429425B1 (de) 1985-04-26
CA1139021A (en) 1983-01-04
GB2025040B (en) 1982-11-17
AU4823679A (en) 1980-01-03
JPH0334681Y2 (de) 1991-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7904500A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling.
NL7903900A (nl) Werkwijze en inrichting voor het bepalen van de eigenschappen van een stromingsmeter.
NL183961C (nl) Werkwijze voor het dichtheidsonafhankelijk meten van de relatieve vochtigheid en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze.
NL7408519A (nl) Werkwijze voor het meten van de concentratie van substraten en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.
NL176809C (nl) Inrichting voor het meten van het vochtgehalte van stortmateriaal.
NL7709039A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen.
NL176606C (nl) Werkwijze en cuvet voor het meten van de stollingstijd van een bloedmonster.
NL181755C (nl) Inrichting voor het meten van het uitbreiden van een scheur.
NL189267C (nl) Verstrooiingscel voor het meten van het oliegehalte van een watermonster.
NL7713357A (nl) Inrichting en werkwijze voor het meten van de enthalpie bij fluida.
NL171222C (nl) Apparaat voor het meten van lokale absorptieverschillen.
NL7808312A (nl) Inrichting voor het inspecteren van de vulinhoud van afzonderlijke capsules.
NL7700438A (nl) Werkwijze voor het gereedmaken van meetvloei- stoffen.
NL186405C (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
NL7701496A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de waarde van een verontreiniging door ionen.
NL182101C (nl) Toestel voor het meten van de hoeveelheid van een door een leiding stromende stof.
NL7903362A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van de wijzigingssnelheid van een signaal.
NL7800471A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten en regelen van de massa-eigenschappen van slurrie.
NL7902327A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een oppervlaktespanning.
NL187323C (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van vluchtige metaalhydriden.
NL7714166A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van een fluidum.
NL185306C (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van metalen films met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel.
NL7702480A (nl) Inrichting voor het meten van de hardheid van een rubbermonster.
NL7806028A (nl) Inrichting voor het meten van de dikte van een laagje door middel van terugverstrooiing.
NL186876C (nl) Inrichting voor het kwantitatief afmeten van korrelvormig materiaal.

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BV The patent application has lapsed