NL7810608A - Werkwijze en inrichting voor het niet destructief testen van electrische geleiderelementen. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het niet destructief testen van electrische geleiderelementen.

Info

Publication number
NL7810608A
NL7810608A NL7810608A NL7810608A NL7810608A NL 7810608 A NL7810608 A NL 7810608A NL 7810608 A NL7810608 A NL 7810608A NL 7810608 A NL7810608 A NL 7810608A NL 7810608 A NL7810608 A NL 7810608A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
electrical conductor
destructive testing
conductor elements
destructive
elements
Prior art date
Application number
NL7810608A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Western Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US05/949,578 external-priority patent/US4213087A/en
Application filed by Western Electric Co filed Critical Western Electric Co
Publication of NL7810608A publication Critical patent/NL7810608A/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2853—Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
NL7810608A 1977-10-31 1978-10-24 Werkwijze en inrichting voor het niet destructief testen van electrische geleiderelementen. NL7810608A (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US84721377A 1977-10-31 1977-10-31
US05/949,578 US4213087A (en) 1978-10-10 1978-10-10 Method and device for testing electrical conductor elements

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7810608A true NL7810608A (nl) 1979-05-02

Family

ID=27126694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7810608A NL7810608A (nl) 1977-10-31 1978-10-24 Werkwijze en inrichting voor het niet destructief testen van electrische geleiderelementen.

Country Status (12)

Country Link
JP (1) JPS5488777A (de)
CA (1) CA1120545A (de)
CH (1) CH635686A5 (de)
DE (1) DE2847074A1 (de)
DK (1) DK483278A (de)
FR (1) FR2407483A1 (de)
GB (1) GB2007850B (de)
HK (1) HK25584A (de)
IT (1) IT1099851B (de)
NL (1) NL7810608A (de)
SE (1) SE433782B (de)
SG (1) SG56382G (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4547724A (en) * 1983-02-07 1985-10-15 Tektronix, Inc. Method and apparatus for detection of non-linear electrical devices
JPH0630444B2 (ja) * 1985-05-02 1994-04-20 株式会社日立製作所 Ａ／ｄ変換器試験方式

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3500188A (en) * 1966-06-02 1970-03-10 Amp Inc Method and means for measuring constriction resistance based on nonlinearity
GB1221704A (en) * 1968-09-16 1971-02-10 Dale Electronics Method for testing the resistance characteristics of self-heated electric resistors
US3692987A (en) * 1970-07-06 1972-09-19 Western Electric Co Methods and apparatus for allocating the measured noise and resistance of a thin-film resistor between the resistor proper and the contact pads therefor
US3746973A (en) * 1972-05-05 1973-07-17 Ibm Testing of metallization networks on insulative substrates supporting semiconductor chips
US3803483A (en) * 1972-05-05 1974-04-09 Ibm Semiconductor structure for testing of metallization networks on insulative substrates supporting semiconductor chips
US3974443A (en) * 1975-01-02 1976-08-10 International Business Machines Corporation Conductive line width and resistivity measuring system

Also Published As

Publication number Publication date
SE433782B (sv) 1984-06-12
HK25584A (en) 1984-03-30
SE7811012L (sv) 1979-05-01
FR2407483A1 (fr) 1979-05-25
CH635686A5 (de) 1983-04-15
FR2407483B1 (de) 1983-09-16
DE2847074A1 (de) 1979-05-03
GB2007850A (en) 1979-05-23
CA1120545A (en) 1982-03-23
IT1099851B (it) 1985-09-28
DK483278A (da) 1979-05-01
GB2007850B (en) 1982-05-12
IT7829239A0 (it) 1978-10-30
JPS5488777A (en) 1979-07-14
SG56382G (en) 1983-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BE881457A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van bewegende en elektrisch afhankelijke domeinen
NL7809330A (nl) Inrichting voor het opnemen en verwerken van electri- sche signalen.
NL7609128A (nl) Werkwijze en inrichting voor het niet-contacte- rend meten van de electrische geleidbaarheid van een lamelvormig voorwerp.
NL7710921A (nl) Werkwijze en inrichting voor het opwekken en overdragen van seismische signalen.
NL7807846A (nl) Inrichting en werkwijze voor stroommeting.
NL7702647A (nl) Analyse-inrichting en werkwijze voor het analy- seren.
NL7703298A (nl) Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen.
NL7610894A (nl) Werkwijze en inrichting voor het uitvoeren van ofthalmische metingen.
NL7804090A (nl) Werkwijze voor het pekelen van vlees en daartoe ge- schikte inrichting.
NL7710565A (nl) Werkwijze en inrichting voor het nemen en ver- krijgen van proefmateriaal, in het bijzonder voor wetenschappelijk of diagnostisch onder- zoek.
NL7510275A (nl) Werkwijze en inrichting voor het testen van her- metisch opgesloten tongenkontakten.
BE872809A (nl) Werkwijze en inrichting voor het pellen van garnalen
NL7809596A (nl) Werkwijze voor het verankeren van elementen en inrich- ting ter uitvoering van deze werkwijze.
NL7606299A (nl) Inrichting voor het maken van standaard en reproduceerbare huidinkervingen.
NL7711457A (nl) Werkwijze en inrichting voor het omwikkelen van een voorwerp.
NL7706267A (nl) Werkwijze en inrichting voor het testen van transmissielijnen.
NL7801558A (nl) Werkwijze voor het testen van een elektronisch netwerk.
NL7810657A (nl) Werkwijze en inrichting voor het controleren van elektrische leidingen op kortsluiting.
NL7803375A (nl) Werkwijze en inrichting voor het controleren van elektrische leidingen op kortsluiting.
NL7803396A (nl) Werkwijze en inrichting voor het overdragen van beelden.
NL7614359A (nl) Werkwijze voor het bepalen van zwangerschap alsmede onderzoeksuitrusting voor het uit- voeren van de werkwijze.
NL7605971A (nl) Werkwijze en inrichting voor het continu meten van de gloeitoestand van draden of strippen.
BE859622A (nl) Werkwijze en inrichting voor het testen van lenzen
NL7810608A (nl) Werkwijze en inrichting voor het niet destructief testen van electrische geleiderelementen.
NL7812223A (nl) Werkwijze en inrichting voor het testen van de functie en voor het instellen en ijken van een testinrichting voor het zonder beschadigingen elektrisch of magnetisch testen van metalen uitgangsprodukten of voorprodukten.

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BV The patent application has lapsed