NL7801558A - Werkwijze voor het testen van een elektronisch netwerk. - Google Patents

Werkwijze voor het testen van een elektronisch netwerk.

Info

Publication number
NL7801558A
NL7801558A NL7801558A NL7801558A NL7801558A NL 7801558 A NL7801558 A NL 7801558A NL 7801558 A NL7801558 A NL 7801558A NL 7801558 A NL7801558 A NL 7801558A NL 7801558 A NL7801558 A NL 7801558A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
testing
electronic network
network
electronic
Prior art date
Application number
NL7801558A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Secretary Industry Brit
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Secretary Industry Brit filed Critical Secretary Industry Brit
Publication of NL7801558A publication Critical patent/NL7801558A/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302—Contactless testing
    • G01R31/305—Contactless testing using electron beams
    • G01R31/306—Contactless testing using electron beams of printed or hybrid circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
NL7801558A 1977-02-11 1978-02-10 Werkwijze voor het testen van een elektronisch netwerk. NL7801558A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB5835/77A GB1594597A (en) 1977-02-11 1977-02-11 Electron probe testing analysis and fault diagnosis in electronic circuits

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7801558A true NL7801558A (nl) 1978-08-15

Family

ID=9803533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7801558A NL7801558A (nl) 1977-02-11 1978-02-10 Werkwijze voor het testen van een elektronisch netwerk.

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS53121476A (nl)
DE (1) DE2805673A1 (nl)
FR (1) FR2380556A1 (nl)
GB (1) GB1594597A (nl)
NL (1) NL7801558A (nl)
SE (1) SE425869B (nl)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2902495A1 (de) * 1979-01-23 1980-07-31 Siemens Ag Einrichtung zur beruehrungslosen potentialmessung
DE3036713A1 (de) * 1980-09-29 1982-05-13 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur quantitativen potentialmessung an oberflaechenwellenfiltern
DE3110140A1 (de) * 1981-03-16 1982-09-23 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung und verfahren fuer eine rasche interne logikpruefung an integrierten schaltungen
DE3138926A1 (de) * 1981-09-30 1983-04-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Elektronenoptische anordnung fuer die hochaufloesende elektronenstrahl-messtechnik
DE3138990A1 (de) * 1981-09-30 1983-04-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Koaxiales gegenfeld-spektrometer hoher akzeptanz fuersekundaerelektronen und elektronenstrahl-messgeraet
DE3138901A1 (de) * 1981-09-30 1983-04-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verbessertes gegenfeld-spektrometer fuer die elektronenstrahl-messtechnik
DE3206309A1 (de) * 1982-02-22 1983-09-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Sekundaerelektronen-spektrometer und verfahren zu seinem betrieb
DE3232671A1 (de) * 1982-09-02 1984-03-08 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung und verfahren zur spannungsmessung an einem vergrabenen messobjekt
DE3235698A1 (de) * 1982-09-27 1984-03-29 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung und verfahren zur direkten messung von signalverlaeufen an mehreren messpunkten mit hoher zeitaufloesung
JPH0646550B2 (ja) * 1985-08-19 1994-06-15 株式会社東芝 電子ビ−ム定位置照射制御方法および電子ビ−ム定位置照射制御装置
EP0264481B1 (en) * 1986-10-23 1992-05-13 International Business Machines Corporation Testing method for integrated circuit packaging boards using a laser in vacuum
DE3719202A1 (de) * 1987-06-09 1988-12-29 Siemens Ag Verfahren zur automatischen pruefung von elektrischen baugruppen

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3549999A (en) * 1968-06-05 1970-12-22 Gen Electric Method and apparatus for testing circuits by measuring secondary emission electrons generated by electron beam bombardment of the pulsed circuit
GB1286454A (en) * 1968-08-24 1972-08-23 Cambridge Scientific Instr Ltd Surface potential analysis by electron beams
DE1946931A1 (de) * 1969-09-17 1971-03-18 Gen Electric Verfahren zum Pruefen von Schaltungen und Vorrichtung zur Ausfuehrung des Verfahrens
US3796947A (en) * 1973-02-27 1974-03-12 Bell Telephone Labor Inc Electron beam testing of film integrated circuits
JPS5093078A (nl) * 1973-12-17 1975-07-24
JPS51108569A (en) * 1975-03-19 1976-09-25 Hitachi Ltd Sosadenshikenbikyo mataha ruijisochi

Also Published As

Publication number Publication date
DE2805673A1 (de) 1978-08-17
JPS53121476A (en) 1978-10-23
JPH0330258B2 (nl) 1991-04-26
SE425869B (sv) 1982-11-15
FR2380556B1 (nl) 1985-02-08
FR2380556A1 (fr) 1978-09-08
SE7801530L (sv) 1978-08-12
GB1594597A (en) 1981-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7705464A (nl) Werkwijze voor het maken van een amorfe legering.
NL7804260A (nl) Werkwijze voor het controleren van de positionering van patienten.
NL7710897A (nl) Werkwijze en inrichting voor het oprichten van koepelvormige bouwconstructies.
NL7804090A (nl) Werkwijze voor het pekelen van vlees en daartoe ge- schikte inrichting.
NL7811225A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een middel ter be- werkstelliging van deklagen.
NL7708875A (nl) Werkwijze voor het identificeren van een geinte- greerde keten.
NL7801785A (nl) Werkwijze voor het maken van zakken.
NL7808613A (nl) Micro-bollen en werkwijze voor het vervaardigen van de- ze micro-bollen.
NL188800C (nl) Werkwijze voor het bereiden van adiponitril.
BE863924A (nl) Werkwijze voor het chloreren van etheenpolymeren
NL7806750A (nl) Werkwijze voor het ethyleren van monoalkylbenzenen.
NL7709080A (nl) Werkwijze voor het spoelen van voorwerpen.
NL7803107A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van gedrukte bedradingen.
NL7801558A (nl) Werkwijze voor het testen van een elektronisch netwerk.
NL7808706A (nl) Werkwijze voor het maken van een amorfe legering.
NL189708C (nl) Werkwijze voor het bereiden van canthaxanthine en werkwijze voor het bereiden van een daarvoor geschikt tussenprodukt.
NL7804425A (nl) Werkwijze voor het denitroseren van n-nitrosoverbindin- gen.
NL7803184A (nl) Werkwijze en inrichting voor het vervaardigen van vliezen.
NL7705977A (nl) Werkwijze en inrichting voor het vervaardigen van zakken.
NL7805119A (nl) Werkwijze voor het bereiden van alkenen.
NL7803780A (nl) Werkwijze voor het fractioneren van talg.
NL7807508A (nl) Werkwijze voor het merken van stroppen.
NL7809713A (nl) Werkwijze voor het bereiden van 7-azabenzimidazolen.
NL7706721A (nl) Werkwijze voor het elektrolytisch bekleden.
NL7810755A (nl) Werkwijze voor het bepalen van ferritine.

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BA A request for search or an international-type search has been filed
CNR Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection)

Free format text: LINTECH INSTRUMENTS LIMITED

BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
BT A notification was added to the application dossier and made available to the public
BX A request for additional search has been filed
BY An additional search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed