NL190940B - Inrichting voor het meten van karakteristieken van elektronische ketenelementen. - Google Patents

Inrichting voor het meten van karakteristieken van elektronische ketenelementen.

Info

Publication number
NL190940B
NL190940B NL8502440A NL8502440A NL190940B NL 190940 B NL190940 B NL 190940B NL 8502440 A NL8502440 A NL 8502440A NL 8502440 A NL8502440 A NL 8502440A NL 190940 B NL190940 B NL 190940B
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
measuring characteristics
chain elements
electronic chain
electronic
elements
Prior art date
Application number
NL8502440A
Other languages
English (en)
Other versions
NL190940C (nl
NL8502440A (nl
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Publication of NL8502440A publication Critical patent/NL8502440A/nl
Publication of NL190940B publication Critical patent/NL190940B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL190940C publication Critical patent/NL190940C/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G01R31/2603—Apparatus or methods therefor for curve tracing of semiconductor characteristics, e.g. on oscilloscope

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
NL8502440A 1984-12-05 1985-09-05 Inrichting voor het meten van karakteristieken van elektronische ketenelementen. NL190940C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25719684A JPS61134682A (ja) 1984-12-05 1984-12-05 素子特性測定装置
JP25719684 1984-12-05

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8502440A NL8502440A (nl) 1986-07-01
NL190940B true NL190940B (nl) 1994-06-01
NL190940C NL190940C (nl) 1994-11-01

Family

ID=17303010

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8502440A NL190940C (nl) 1984-12-05 1985-09-05 Inrichting voor het meten van karakteristieken van elektronische ketenelementen.

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS61134682A (nl)
CA (1) CA1228176A (nl)
DE (1) DE3542121A1 (nl)
GB (1) GB2168162B (nl)
NL (1) NL190940C (nl)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0721526B2 (ja) * 1987-08-18 1995-03-08 ソニ−・テクトロニクス株式会社 素子測定装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2980853A (en) * 1958-04-28 1961-04-18 Ryan Aeronautical Co Component output characteristic tracer
US3573618A (en) * 1968-05-27 1971-04-06 William G Dilley Solid-state characteristic curve tracer attachment for oscilloscopes
US4456880A (en) * 1982-02-04 1984-06-26 Warner Thomas H I-V Curve tracer employing parametric sampling

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61134682A (ja) 1986-06-21
CA1228176A (en) 1987-10-13
GB2168162A (en) 1986-06-11
NL190940C (nl) 1994-11-01
GB8522687D0 (en) 1985-10-16
DE3542121C2 (nl) 1991-09-05
JPH0137701B2 (nl) 1989-08-09
GB2168162B (en) 1988-12-07
DE3542121A1 (de) 1986-06-05
NL8502440A (nl) 1986-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL193015B (nl) Inrichting voor het meten van stofwisselingsgrootheden.
NL190671C (nl) Inrichting voor het meten van een oppervlaktetemperatuur.
NL181755C (nl) Inrichting voor het meten van het uitbreiden van een scheur.
DE3582752D1 (de) Testeinrichtung fuer integrierte schaltungen.
NL7804681A (nl) Toestel voor het meten van de dempingen en het bepalen van fouten in stralingsgeleiders.
NL186405C (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
SE421031B (sv) Anordning for koppling av elektronisk utverderingsanordning
BE888146A (nl) Inrichting voor het calibreren van meters
NL7706354A (nl) Inrichting voor het opzamelen en leveren van elektronische ketenelementen met evenwijdige geleiders.
NL7807189A (nl) Inrichting voor het meten en toevoeren van draad.
BE888147A (nl) Inrichting voor het calibreren van meters
NL185304C (nl) Inrichting voor het meten van een kracht.
DE3875311T2 (de) Elektronisches waegeinstrument.
NL186873C (nl) Inrichting voor het meten en verwerken van bedrijfswaarden van een koppeling.
DE3212890A1 (de) Elektronisches seillast-messgeraet
NL187135C (nl) Inrichting voor het meten en weergeven van golfvormen.
BE890332A (nl) Elektronische thermometer
NL190940C (nl) Inrichting voor het meten van karakteristieken van elektronische ketenelementen.
BE893972A (fr) Werkwijze en inrichting voor het contactvrij meten van een draaimoment
AT387461B (de) Elektronische messeinrichtung
NL7806536A (nl) Inrichting voor het meten van elektrische signalen.
NL176101C (nl) Inrichting voor het meten van trillingen.
DK116885D0 (da) Indretning til karakterisering af elektroniske noegle-/laasesystemer
KR880021448U (ko) 윗몸일으키기 전자 자동 측정장치
ATA296181A (de) Elektronische gluecksspielvorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 19960401