NL185306C - Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van metalen films met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van metalen films met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel.

Info

Publication number
NL185306C
NL185306C NL7705443A NL7705443A NL185306C NL 185306 C NL185306 C NL 185306C NL 7705443 A NL7705443 A NL 7705443A NL 7705443 A NL7705443 A NL 7705443A NL 185306 C NL185306 C NL 185306C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
measuring
thickness
metal films
ray fluorescent
fluorescent system
Prior art date
Application number
NL7705443A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Other versions
NL185306B (nl
NL7705443A (nl
Original Assignee
Western Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Western Electric Co filed Critical Western Electric Co
Publication of NL7705443A publication Critical patent/NL7705443A/xx
Publication of NL185306B publication Critical patent/NL185306B/xx
Application granted granted Critical
Publication of NL185306C publication Critical patent/NL185306C/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076—X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
NL7705443A 1976-05-18 1977-05-17 Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van metalen films met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel. NL185306C (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US68746276A 1976-05-18 1976-05-18

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL7705443A NL7705443A (nl) 1977-11-22
NL185306B NL185306B (nl) 1989-10-02
NL185306C true NL185306C (nl) 1990-03-01

Family

ID=24760542

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7705443A NL185306C (nl) 1976-05-18 1977-05-17 Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van metalen films met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel.

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS52140355A (Direct)
CA (1) CA1086870A (Direct)
DE (1) DE2721589A1 (Direct)
FR (1) FR2393266A1 (Direct)
GB (1) GB1561313A (Direct)
NL (1) NL185306C (Direct)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI59489C (fi) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
JPS5758300U (Direct) * 1980-09-22 1982-04-06
DE3129049A1 (de) * 1981-07-23 1983-02-24 Hoesch Werke Ag, 4600 Dortmund Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien bestimmung der dicke der eisen-zinn-zwischenschicht an elektrolytisch verzinntem blech
JPS60140105A (ja) * 1983-12-27 1985-07-25 Shimadzu Corp 多層膜分析装置
JPS60142205A (ja) * 1983-12-29 1985-07-27 Shimadzu Corp 多層膜分析装置
DD278866A1 (de) * 1987-11-20 1990-05-16 Akad Wissenschaften Ddr Verfahren zur phosphorgehaltsbestimmung in stromlos abgeschiedenen metallueberzuegen
JP3706989B2 (ja) * 1999-04-07 2005-10-19 富士通株式会社 蛍光ｘ線を用いた膜厚測定方法
JP4966160B2 (ja) * 2007-10-26 2012-07-04 シャープ株式会社 膜厚測定方法
JP5494322B2 (ja) * 2009-12-28 2014-05-14 株式会社デンソー Ｃｎｔワイヤの製造方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5146631B2 (Direct) * 1971-12-29 1976-12-10
JPS4919222A (Direct) * 1972-06-15 1974-02-20

Also Published As

Publication number Publication date
FR2393266A1 (fr) 1978-12-29
FR2393266B1 (Direct) 1982-03-19
NL185306B (nl) 1989-10-02
GB1561313A (en) 1980-02-20
JPS52140355A (en) 1977-11-22
CA1086870A (en) 1980-09-30
JPS5735768B2 (Direct) 1982-07-30
NL7705443A (nl) 1977-11-22
DE2721589A1 (de) 1977-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7712022A (nl) Werkwijze en inrichting voor het aantonen van microbe-ziekteverwekkers.
NL7709039A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen.
NL184384C (nl) Inrichting en werkwijze voor het waarnemen en meten van een object binnen een ontoegankelijke behuizing.
NL7602921A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de polarisatiepotentiaal van in een electrolyt en in een stroomveld aangebrachte metalen construc- ties.
NL183961C (nl) Werkwijze voor het dichtheidsonafhankelijk meten van de relatieve vochtigheid en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze.
NL181148B (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de dichtheid van een geologische formatie met gammastralen.
NL7415343A (nl) Werkwijze en inrichting voor het ultrasonoor meten van de dikte van een voorwerp.
NL7512706A (nl) Elektro-optische werkwijze en inrichting voor het bepalen van een afmeting van een voorwerp.
NL171222B (nl) Apparaat voor het meten van lokale absorptieverschillen.
NL173319B (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de mate van doving in vloeistofscintillatie-telsystemen.
NL7901815A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren of meten van een afmeting van een langwerpig voorwerp.
NL7602652A (nl) Werkwijze en inrichting voor electronische bewa- king van de toestand van een voorwerp.
NL185306C (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de dikte van metalen films met behulp van een roentgenstralenfluorescentiestelsel.
NL185632B (nl) Inrichting voor het meten van de dikte van een vetlaag en/of van een spierlaag van een karkas.
NL165294C (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concen- tratie van een gas.
NL188071C (nl) Werkwijze en inrichting voor het herijken van een axiaalstroom-meter.
NL188377C (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van foutstromen.
NL7800471A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten en regelen van de massa-eigenschappen van slurrie.
NL187323C (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van vluchtige metaalhydriden.
NL7605971A (nl) Werkwijze en inrichting voor het continu meten van de gloeitoestand van draden of strippen.
NL7614359A (nl) Werkwijze voor het bepalen van zwangerschap alsmede onderzoeksuitrusting voor het uit- voeren van de werkwijze.
NL7706329A (nl) Werkwijze voor het meten van de corrosiestroom en daartoe geschikte inrichting.
NL7714166A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van een fluidum.
NL7502625A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van laagdikten en/of afscheidingssnelheden bij stroomloze en galvanische afscheidingsprocessen.
NL187871C (nl) Roentgenfluorescentiestraling-filmdiktemeter, en werkwijze voor het meten van een filmdikte.

Legal Events

Date Code Title Description
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
V4 Lapsed because of reaching the maxim lifetime of a patent

Free format text: 970517