KR980003630A - 검사될 긴 물체내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 장치 - Google Patents

검사될 긴 물체내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR980003630A
KR980003630A KR1019970026795A KR19970026795A KR980003630A KR 980003630 A KR980003630 A KR 980003630A KR 1019970026795 A KR1019970026795 A KR 1019970026795A KR 19970026795 A KR19970026795 A KR 19970026795A KR 980003630 A KR980003630 A KR 980003630A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
magnetic sensor
inspected
magnetic
magnetic field
detection apparatus
Prior art date
Application number
KR1019970026795A
Other languages
English (en)
Inventor
다추오키 나가이시
히로카주 구가이
히데오 이토자키
Original Assignee
구라우찌 노리다까
스미토모 덴키 고교 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 구라우찌 노리다까, 스미토모 덴키 고교 가부시키가이샤 filed Critical 구라우찌 노리다까
Publication of KR980003630A publication Critical patent/KR980003630A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/035—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using superconductive devices
    • G01R33/0354—SQUIDS
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

본 발명은 미량의 자성 물질을 검출하는 장치에 관한 것이다. 더욱 상세하게는, 본 발명의 검출 장치는 철사 또는 막대 형상을 갖는 검사대상 물체를 파괴하지 않고 미세 입자의 존재를 고감도로 계속적으로 검출할 수 있다.
이 검출 장치는 자기장 발생 수단과 자기 센서를 포함한다. 자기장 발생 수단은 검사대상 물체의 이동 방향에 직각인 자기장을 발생한다. 자기 센서는 자기장에 평행인 자기장의 변화를 검사하기 위한 SQUID를 포함한다.

Description

검사될 긴 물체내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 검출 장치의 기본 골격을 도시한 개략도.

Claims (9)

  1. 전체 길이 방향으로 이동하는 긴 물체인 검사대상 물체를 검사하고, 검사대상 물체 내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 검출 장치에 있어서, 이 장치는 검사대상 물체의 이동 방향과 직각인 자기장을 발생하는 자기장 발생 수단 및 상기 자기장에 평행인 자기장의 변화를 검사하기 위한 SQUID를 포함하는 자기 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 자기장 발생 수단과 상기 자기 센서는 검사대상 물체의 경로를 따라 연속해서 위치된 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 자기 센서와, 그 자기 센서에 의해 검사될 물체가 통과하는 주변의 일부는 검사대역을 한정하는 자성 차폐 용기에 의해 둘러싸여 있는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 자기 센서는 검사대상 물체 가까이에 위치한 제1자기 센서와, 제1자기 센서보다 더 멀리 위치한 제2자기 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  5. 제4항에 있어서, 제1자기 센서의 출력과 제2자기 센서의 출력의 차이를 자기 센서의 출력으로서 다루는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 SQUID는 산화물 초진도체 박막으로 형성되는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 자기 센서는 자속 변환기를 갖는 SQUID를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 자기장 발생 수단은 검사대상 물체가 통과하는 주변에 위치한 영구 자석을 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
  9. 제1항에 있어서, 상기 자기 센서는 검사대상 물체의 이동 속도에 따라 특성을 갖는 대역필터를 통해 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 검출 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970026795A 1996-06-21 1997-06-21 검사될 긴 물체내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 장치 KR980003630A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8181171A JPH1010091A (ja) 1996-06-21 1996-06-21 磁性体微粉の検出装置
JP96-181171 1996-06-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR980003630A true KR980003630A (ko) 1998-03-30

Family

ID=16096134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970026795A KR980003630A (ko) 1996-06-21 1997-06-21 검사될 긴 물체내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 장치

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6157190A (ko)
EP (1) EP0814342B1 (ko)
JP (1) JPH1010091A (ko)
KR (1) KR980003630A (ko)
CA (1) CA2208383C (ko)
DE (1) DE69738282T2 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100451754B1 (ko) * 2003-02-12 2004-10-08 엘지전자 주식회사 탭핑 모드를 이용한 자기장 분포 측정 장치

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19746000C2 (de) * 1997-10-20 2002-05-16 Forschungszentrum Juelich Gmbh Verfahren zur Ermittlung von Defekten in Werkstücken sowie Magnetfeldmeßgerät zur Durchführung dieses Verfahrens
US6538569B1 (en) * 1998-10-30 2003-03-25 The Goodyear Tire & Rubber Company Container with sensor
JP4171139B2 (ja) * 1999-07-21 2008-10-22 住友電気工業株式会社 磁性体標識による免疫検査方法とその装置
JP2004177131A (ja) * 2002-11-22 2004-06-24 National Institute For Materials Science 非接触型荷物検知装置
JP4684695B2 (ja) * 2004-03-23 2011-05-18 住友軽金属工業株式会社 非磁性金属管の表面欠陥検出装置
WO2008025102A1 (en) * 2006-09-01 2008-03-06 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Method and apparatus for signal recovery
JP5041400B2 (ja) * 2006-11-24 2012-10-03 国立大学法人大阪大学 異物の検出方法及び異物の検出装置
JP2011237181A (ja) * 2010-05-06 2011-11-24 Toyohashi Univ Of Technology 高性能磁気シールドと超高感度磁気センサを備えた微細金属検出装置
EP2439560B1 (en) 2010-10-07 2013-05-29 Mettler-Toledo Safeline Limited Method for monitoring the operation of a metal detection system and metal detection system
BR112013008207B1 (pt) 2010-10-07 2021-06-01 Mettler-Toledo Safeline Limited Método para operar um sistema de detecção de metal e um sistema de detecção de metal
EP2439559B1 (en) 2010-10-07 2013-05-29 Mettler-Toledo Safeline Limited Method for operating of a metal detection system and metal detection system
US8717012B2 (en) * 2011-04-28 2014-05-06 The United States of America as respresented by the United States National Aeronautics and Space Administration Eddy current probe for surface and sub-surface inspection
US9018935B2 (en) 2011-09-19 2015-04-28 Mettler-Toledo Safeline Limited Method for operating a metal detection apparatus and apparatus
JP6993171B2 (ja) * 2017-10-27 2022-01-13 協立電機株式会社 異物検出装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3854085A (en) * 1973-06-07 1974-12-10 Magnetics Analysis Corp Multi-probe flux leakage testing apparatus producing bipolar signals from the largest simultaneously occurring signals of each polarity
DE2431505C2 (de) * 1974-07-01 1975-11-27 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen, kontaktlosen Prüfung eines langgestreckten, wenigstens teilweise aus Supraleitermaterial bestehenden Leiters
US3975934A (en) * 1975-03-20 1976-08-24 David Babai Key-operated door locking device
US4734643A (en) * 1985-08-05 1988-03-29 Electrocom Automation, Inc. Method and apparatus for detecting the presence of magnetic ink within a package by magnetizing and selectively remagnitizing the ferro-magnetic materials in the package
US5729135A (en) * 1993-07-12 1998-03-17 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Non-destructive testing equipment employing SQUID-type magnetic sensor in magnetic shield container
DE69423023T2 (de) * 1993-07-12 2000-10-19 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Zerstörungsfreie Testvorrichtung mit magnetischem Sensor vom SQUID-Typ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100451754B1 (ko) * 2003-02-12 2004-10-08 엘지전자 주식회사 탭핑 모드를 이용한 자기장 분포 측정 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CA2208383C (en) 2002-02-19
EP0814342A2 (en) 1997-12-29
EP0814342B1 (en) 2007-11-14
CA2208383A1 (en) 1997-12-21
DE69738282D1 (de) 2007-12-27
US6157190A (en) 2000-12-05
EP0814342A3 (en) 1998-08-05
JPH1010091A (ja) 1998-01-16
DE69738282T2 (de) 2008-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR980003630A (ko) 검사될 긴 물체내에 함유된 미량의 자성 물질을 검출하는 장치
US5336998A (en) Sensor for detecting faults in a magnetized ferrous object using hall effect elements
ATE179252T1 (de) Untersuchungsverfahren mittels induktion transienter ströme mit beweglichen sensoren
US3881151A (en) Eddy current flaw detector comprising passing the test piece through an invarient magnetic field gradient and positioning sensor in the gradient
GB1567166A (en) Apparatus and method for the non-destructive testing of ferromagnetic material
SE7706471L (sv) Forfarande och anordning for magnetisk provning av material
RU2133032C1 (ru) Способ магнитной дефектоскопии и устройство для осуществления этого способа
JPS57128842A (en) Method and device for discrimination of dissimilar material in eddy current flaw detection
SU947738A1 (ru) Способ неразрушающего контрол изделий из ферромагнитных материалов
JPS5633541A (en) Detecting device for flaw of magnetic material
SU1100556A1 (ru) Способ неразрушающего контрол магнитных материалов
JPS54158960A (en) Position detector
JPH09507294A (ja) 金属製品を磁気的に試験する方法および装置
SU1620929A1 (ru) Устройство дл контрол прот женных металлических изделий
JPS56142453A (en) Magnetic single crystal defect inspecting method
SU682813A2 (ru) Феррозондовый дефектоскоп
SU1002946A1 (ru) Способ электромагнитного контрол механических свойств ферромагнитных объектов в процессе их движени
JPH0288961A (ja) 金属線等の探傷方法
SU670879A1 (ru) Устройство дл магнитошумового контрол ферромагнитных материалов
SU1101725A1 (ru) Устройство дл контрол движущихс ферромагнитных изделий
SU667923A1 (ru) Способ магнитошумового контрол ферромагнитных изделий
SU122930A1 (ru) Способ проверки правильности показаний магнитных дефектоскопов
JP2022123902A (ja) 超伝導磁気センサを用いた検査装置及び検査方法。
SU1118906A1 (ru) Способ электромагнитного контрол механических свойств движущихс ферромагнитных изделий
JPS53106087A (en) Method and apparatus of eddy current ultrasonic flaw detection

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application