JPH0288961A - 金属線等の探傷方法 - Google Patents
金属線等の探傷方法Info
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- JPH0288961A JPH0288961A JP24056688A JP24056688A JPH0288961A JP H0288961 A JPH0288961 A JP H0288961A JP 24056688 A JP24056688 A JP 24056688A JP 24056688 A JP24056688 A JP 24056688A JP H0288961 A JPH0288961 A JP H0288961A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、金属線等の探傷方法に関するものである。
ここにいう金属線等の代表例としてはワイヤロープ等の
金属撚線があるが、磁性体又は非磁性体の単線又は板状
体等を広く含む、また、検出の対象は切り傷取外に擦り
傷や素線切れなどの損傷や異物の混入などを広く含む。
金属撚線があるが、磁性体又は非磁性体の単線又は板状
体等を広く含む、また、検出の対象は切り傷取外に擦り
傷や素線切れなどの損傷や異物の混入などを広く含む。
金属線等の探傷方法として、従来からワイヤロープにお
けるものが知られている（例えば、実開昭５６−１４９
９５１号参照）。この場合の探傷方法は、ワイヤロープ
の走行路の上流側に永久磁石又は電磁石よりなる励磁装
置、下流側に磁気センサをそれぞれ設置し、励Ｍ１装置
を貫通する際にワイヤロープを磁化せしめ、傷等の損傷
部位で発生する漏洩磁束を磁気センサで検出するように
したものである。
けるものが知られている（例えば、実開昭５６−１４９
９５１号参照）。この場合の探傷方法は、ワイヤロープ
の走行路の上流側に永久磁石又は電磁石よりなる励磁装
置、下流側に磁気センサをそれぞれ設置し、励Ｍ１装置
を貫通する際にワイヤロープを磁化せしめ、傷等の損傷
部位で発生する漏洩磁束を磁気センサで検出するように
したものである。
上述の従来の方法は、損傷部位からの漏洩磁束が磁気セ
ンサにより検出するに十分な程度に被検査物全体を励磁
する必要があるため、永久磁石或は電磁石と電源装置等
から成る大規模な励磁装置が必要であり、コスト高にな
るという問題があった。
ンサにより検出するに十分な程度に被検査物全体を励磁
する必要があるため、永久磁石或は電磁石と電源装置等
から成る大規模な励磁装置が必要であり、コスト高にな
るという問題があった。
また、従来の方法は、被検査物を一旦磁化し、その漏洩
磁束を検出するものであるから、被検査物は磁性体に限
定され、適用範囲が狭いという欠点もあった。
磁束を検出するものであるから、被検査物は磁性体に限
定され、適用範囲が狭いという欠点もあった。
そこで、この発明は磁性体、非磁性体にかかわらず、筒
車かつ低コストな手段により、損傷部位を検出し得る金
属線等の探傷方法を提供することを目的とする。
車かつ低コストな手段により、損傷部位を検出し得る金
属線等の探傷方法を提供することを目的とする。
上述の問題点を解決するために、この発明は金属線等の
被検査物と磁気センサを相対的に移動させながら異常部
位における磁界の変化を捉えるようにした金属線等の探
傷方法において、磁気センサに励磁器を付属せしめ、そ
の励磁器により形成される磁界中に磁気センサ及び被検
査物を位置せしめる手段を採用した。
被検査物と磁気センサを相対的に移動させながら異常部
位における磁界の変化を捉えるようにした金属線等の探
傷方法において、磁気センサに励磁器を付属せしめ、そ
の励磁器により形成される磁界中に磁気センサ及び被検
査物を位置せしめる手段を採用した。
励磁器の磁界中を被検査物が相対的に移動すると、被検
査物が正常である場合は、磁気センサの出力信号は一定
レベルにある。被検査物に異常部位があると、励磁器の
磁界に乱れが生じる。磁気センサはその磁界の乱れに感
応し、探傷信号を出力するので、その信号を捉えること
により、異常部位を検出する。
査物が正常である場合は、磁気センサの出力信号は一定
レベルにある。被検査物に異常部位があると、励磁器の
磁界に乱れが生じる。磁気センサはその磁界の乱れに感
応し、探傷信号を出力するので、その信号を捉えること
により、異常部位を検出する。
〔実施例〕
第１図及び第２図に示す実施例は、励磁器として永久磁
石１を用い、磁気センサとして磁気抵抗素子２を用い、
これらを樹脂モールド３′により一体化して探傷器３を
構成する。探傷器３の一つの面は被検査物４に対向する
探傷面５になっている。磁気抵抗素子２は、永久磁石１
と探傷面５との間に存在し、かつ永久磁石１の一方の磁
極面に接近している。
石１を用い、磁気センサとして磁気抵抗素子２を用い、
これらを樹脂モールド３′により一体化して探傷器３を
構成する。探傷器３の一つの面は被検査物４に対向する
探傷面５になっている。磁気抵抗素子２は、永久磁石１
と探傷面５との間に存在し、かつ永久磁石１の一方の磁
極面に接近している。
磁気抵抗素子２は、第２図に示すように、２つの磁気抵
抗効果膜６．６と、２つの抵抗７．７によりブリッジを
構成し、ブリッジの対向一対のノードが入力端子８．８
′に接続され、他の対向−対のノードが出力端子９，９
’に接続される。入力端子８．８′は電源に接続され、
出力端子９．９′は増幅器１０に接続される。増幅器１
０には探傷信号の出力端子１）．１）′が設けられる。
抗効果膜６．６と、２つの抵抗７．７によりブリッジを
構成し、ブリッジの対向一対のノードが入力端子８．８
′に接続され、他の対向−対のノードが出力端子９，９
’に接続される。入力端子８．８′は電源に接続され、
出力端子９．９′は増幅器１０に接続される。増幅器１
０には探傷信号の出力端子１）．１）′が設けられる。
磁気抵抗素子２のブリッジは、被検査物４が正常な場合
は平衡状態になるよう各ブランチの抵抗値が定められる
。
は平衡状態になるよう各ブランチの抵抗値が定められる
。
なお、上記の探傷器３は、第３図のように被検査物４の
まわりに数個配置することが望ましい。
まわりに数個配置することが望ましい。
上記の探傷器３を用いて探傷する場合、探傷面５を被検
査物４（図の場合は鋼撚線）に所要の間隔（例えば、７
１程度）をおいて配置し、被検査物４を上記の間隔を保
ちながら一定速度で移動させる。このとき、磁気抵抗素
子２及び被検査物４は、永久磁石１の磁界１２の中にあ
る。被検査物４が正常であれば、磁界１２の変化はなく
、磁気抵抗効果膜６．６の抵抗値は一定である。そのた
めブリッジが平衡状態となり、増幅器１０の出力端子１
）．１）′に探傷信号は出力されない。
査物４（図の場合は鋼撚線）に所要の間隔（例えば、７
１程度）をおいて配置し、被検査物４を上記の間隔を保
ちながら一定速度で移動させる。このとき、磁気抵抗素
子２及び被検査物４は、永久磁石１の磁界１２の中にあ
る。被検査物４が正常であれば、磁界１２の変化はなく
、磁気抵抗効果膜６．６の抵抗値は一定である。そのた
めブリッジが平衡状態となり、増幅器１０の出力端子１
）．１）′に探傷信号は出力されない。
一方、被検査物４に損傷個所や異物の混入等による異常
個所１３が存在すると、磁界１２に乱れが生じ、磁気抵
抗効果膜６．６の抵抗値が変化する。そのため、ブリッ
ジの平衡が破れ、増幅器１０の出力端子１）．１）′に
探傷信号が出力される。
個所１３が存在すると、磁界１２に乱れが生じ、磁気抵
抗効果膜６．６の抵抗値が変化する。そのため、ブリッ
ジの平衡が破れ、増幅器１０の出力端子１）．１）′に
探傷信号が出力される。
第４図は、実験に使用した被検査物の人工傷１３ａ〜１
３ｅの深さを示す６人工傷１３ａの深さは３．３ ａｍ
、同１３ｂは１．５ｍｍ、同１３Ｃは０．５１麿である
。第５図は、この場合の探傷信号の実側波形であり、ａ
、ｂ、ｃはそれぞれ上記の人工傷１３ａ〜１３Ｃに対応
する。第５図のｄは、正常状態の出力レベルである。
３ｅの深さを示す６人工傷１３ａの深さは３．３ ａｍ
、同１３ｂは１．５ｍｍ、同１３Ｃは０．５１麿である
。第５図は、この場合の探傷信号の実側波形であり、ａ
、ｂ、ｃはそれぞれ上記の人工傷１３ａ〜１３Ｃに対応
する。第５図のｄは、正常状態の出力レベルである。
第６図は他６実施例であり、この場合の探傷器３は、鉄
芯１４のまわりに励磁コイル１５と検出コイル１６を巻
き、励磁コイル１５の端子１７．１７′に直流電源を接
続し、検出コイル１６の端子１８．１８′に増幅器１０
を接続し、その増幅器１０に出力端子１）．１）′を設
け、探傷信号を出力するようになっている。
芯１４のまわりに励磁コイル１５と検出コイル１６を巻
き、励磁コイル１５の端子１７．１７′に直流電源を接
続し、検出コイル１６の端子１８．１８′に増幅器１０
を接続し、その増幅器１０に出力端子１）．１）′を設
け、探傷信号を出力するようになっている。
上記構成の探傷器３を被検査物４に接近させた状態で、
被検査物４を一定速度で移動させる。励磁コイル１５を
励磁すると、被検査物４が正常であれば、増幅器１０の
端子１）．１）’に一定レベルの出力が得られるが、被
検査物４に異常個所１３が存在すると磁界に乱れが生じ
ず、端子１）．１）′に探傷信号が現われる。
被検査物４を一定速度で移動させる。励磁コイル１５を
励磁すると、被検査物４が正常であれば、増幅器１０の
端子１）．１）’に一定レベルの出力が得られるが、被
検査物４に異常個所１３が存在すると磁界に乱れが生じ
ず、端子１）．１）′に探傷信号が現われる。
以上のように、この発明は磁気センサに励磁器を付属せ
しめ、励磁器により形成される磁界中に磁気センサ及び
被検査物を位置せしめて探傷するようにしたので、被検
査物を磁化する必要がない。
しめ、励磁器により形成される磁界中に磁気センサ及び
被検査物を位置せしめて探傷するようにしたので、被検
査物を磁化する必要がない。
そのため、従来法のごとき励磁装置は不要となり、簡単
な励磁器と磁気センサだけでよいので、装置の軽量化及
び低コストを図ることができる。
な励磁器と磁気センサだけでよいので、装置の軽量化及
び低コストを図ることができる。
また、被検査物はそれ自体を磁化する必要がないので、
磁性体、被磁性体を問わず被検査物とすることができる
。
磁性体、被磁性体を問わず被検査物とすることができる
。
なお、ワイヤロープ等の金属撚線が被検査物である場合
は、探傷器と金属撚線を相対的に線の長さ方向に移動さ
せると、撚線表面の撚りの凹凸により磁界が変化する。
は、探傷器と金属撚線を相対的に線の長さ方向に移動さ
せると、撚線表面の撚りの凹凸により磁界が変化する。
この変化を磁気抵抗素子により捕捉することにより、撚
線の撚りピッチを測定することができる。
線の撚りピッチを測定することができる。
第１図は実施例の縦断正面図、第２図は同上の回路図、
第３図は同上の使用状態の側面図、第４図は被検査物の
実験例の側面図、第５図は実験例の探傷信号の波形図、 図である。 １・・・・・・永久磁石、 ３・・・・・・探傷器、 ５・・・・・・探傷面、 １３・・・・・・異常個所、 １５・・・・・・励磁コイル、 第６図は他の実施例の正面 ２・・・・・・磁気抵抗素子、 ４・・・・・・被検査物、 １２・・・・・・磁界、 １４・・・・・・鉄芯、 １６・・・・・・検出コイル。
第３図は同上の使用状態の側面図、第４図は被検査物の
実験例の側面図、第５図は実験例の探傷信号の波形図、 図である。 １・・・・・・永久磁石、 ３・・・・・・探傷器、 ５・・・・・・探傷面、 １３・・・・・・異常個所、 １５・・・・・・励磁コイル、 第６図は他の実施例の正面 ２・・・・・・磁気抵抗素子、 ４・・・・・・被検査物、 １２・・・・・・磁界、 １４・・・・・・鉄芯、 １６・・・・・・検出コイル。
Claims (1)
- （１）金属線等の被検査物と磁気センサを相対的に移動
させながら異常部位における磁界の変化を捉えるように
した金属線等の探傷方法において、磁気センサに励磁器
を付属せしめ、その励磁器により形成される磁界中に磁
気センサ及び被検査物を位置せしめることを特徴とする
金属線等の探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24056688A JPH0288961A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 金属線等の探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24056688A JPH0288961A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 金属線等の探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0288961A true JPH0288961A (ja) | 1990-03-29 |
Family
ID=17061428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24056688A Pending JPH0288961A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 金属線等の探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0288961A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005257642A (ja) * | 2004-03-15 | 2005-09-22 | Samutaku Kk | 磁気検出回路およびエンコーダ |
| JP2013096950A (ja) * | 2011-11-04 | 2013-05-20 | Hitachi Ltd | ワイヤロープの検査装置 |
| US10649385B2 (en) | 2017-02-02 | 2020-05-12 | Kyocera Document Solutions Inc. | Image forming device including sheet conveying portion |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5716346A (en) * | 1980-07-02 | 1982-01-27 | Toshiba Corp | Probe |
-
1988
- 1988-09-26 JP JP24056688A patent/JPH0288961A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5716346A (en) * | 1980-07-02 | 1982-01-27 | Toshiba Corp | Probe |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005257642A (ja) * | 2004-03-15 | 2005-09-22 | Samutaku Kk | 磁気検出回路およびエンコーダ |
| JP2013096950A (ja) * | 2011-11-04 | 2013-05-20 | Hitachi Ltd | ワイヤロープの検査装置 |
| US10649385B2 (en) | 2017-02-02 | 2020-05-12 | Kyocera Document Solutions Inc. | Image forming device including sheet conveying portion |
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