Claims (15)
칩 홀더 베이스와; 상기 칩 홀더 베이스의 상부면에 안착되어 있는 리드 프레임과; 상기 칩 홀더 베이스의 상부면 중앙부에 안착되어 있으며, 복수개의 본딩 패드들을 갖는 칩과; 상기 리드 프레임의 내부 리드들에 상기 칩의 본딩 패드들을 전기적으로 연결하기 위한 금속 세선과; 상기 리드 프레임의 외부 리드를 위에 이격·형성되어 있으며, 상기 리드 프레임의 외부 리드들에 전기적 연결을 위한 접속 핀과, 외부의 테스트 장치에 접속되는 텝과, 그 접속 핀에 텝을 전기적 연결하기 위한 회로패턴들을 가지는 테스트 보드와; 상기 테스트 보드와 상기 칩의 상부면 위에 이격·형성되어 있으며, 상기 칩 홀더 베이스와 한 쌍을 이루고 있고, 상기 테스트 보드와 칩을 가압·고정하기 위한 칩 홀더 캡과; 상기 한 쌍을 이루는 칩 홀더 베이스와 칩 홀더 캡을 고정하는 홀더 클램프를 포함하고, 상기 칩 홀더 베이스 상부면 상의 상기 칩과 상기 리드 프레임의 내부 리드들 사이에 서포트 링 패드가 안착·형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.A chip holder base; A lead frame seated on an upper surface of the chip holder base; A chip mounted on a central portion of an upper surface of the chip holder base, the chip having a plurality of bonding pads; A metal thin wire for electrically connecting the bonding pads of the chip to internal leads of the lead frame; A connection pin for electrically connecting the external lead of the lead frame to the external leads of the lead frame, a tab connected to an external test device, and a connection terminal for electrically connecting the tap to the connection pin. A test board having circuit patterns; A chip holder cap spaced apart from an upper surface of the test board and the chip and having a pair with the chip holder base to press and fix the test board and the chip; And a holder clamp for fixing the pair of chip holder bases and the chip holder cap, wherein a support ring pad is seated and formed between the chip on the upper surface of the chip holder base and the inner leads of the lead frame Wherein the support ring pad is formed on the lead frame.
제1항에 있어서, 상기 칩의 본딩 패드들에 금속 세선으로 전기적 연결되는 상기 리드 프레임의 내부 리드들과, 상기 테스트 보드의 접속 핀에 전기적 연결되는 상기 리드 프레임의 외부 리드들이 도전재로 도금되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.2. The semiconductor device of claim 1, wherein the internal leads of the lead frame electrically connected to the bonding pads of the chip by metal thin wires and the external leads of the lead frame electrically connected to the connection pins of the test board are plated with a conductive material Wherein the support ring pad is formed on the lead frame.
제1항에 있어서, 상기 리드 프레임의 리드들과 상기 서포트 링 패드가 절연 테이프에 의해 부착·고정되고 전기적으로 분리되는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 1, wherein the leads of the lead frame and the supporting ring pad are attached and fixed by an insulating tape and are electrically separated from each other.
제1항에 있어서, 상기 칩이 안착되는 상기 칩 홀더 베이스의 상부면이 평탄하게 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 1, wherein an upper surface of the chip holder base on which the chip is mounted is formed flat.
제1항에 있어서, 상기 칩 홀더 캡이 절연제의 가압부를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 1, wherein the chip holder cap includes a pressing portion of an insulating material.
제1항에 있어서, 상기 테스트 보드의 접속 핀이 포고 핀으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 1, wherein the connecting pin of the test board is formed of a pogo pin.
제1항에 있어서, 상기 테스트 보드의 접속 핀이 도전 범프로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 1, wherein the connecting pins of the test board are formed of conductive bumps.
칩 홀더 베이스와; 상기 칩 홀더 베이스의 상부면에 안착되어 있는 리드 프레임과; 상기 칩 홀더 베이스의 상부면 중앙부에 안착되어 있으며, 복수개의 본딩 패드들을 갖는 칩과; 상기 리드 프레임의 내부 리드들에 상기 칩의 본딩 패드들을 전기적으로 연결하기 위한 금속 세선과; 상기 리드 프레임의 외부 리드들 위에 이격·형성되어 있으며, 상기 리드 프레임의 외부 리드들에 전기적 연결을 위한 접속 핀과, 외부의 테스트 장치에 접속되는 탭과, 그 접속 핀에 탭을 전기적 연결하기 위한 회로패턴들을 가지는 테스트 보드와; 상기 테스트 보드와 상기 칩의 상부면 위에 이격·형성되어 있으며, 상기 칩 홀더 베이스와 한 쌍을 이루고 있고, 상기 테스트 보드와 칩을 가압·고정하기 위한 칩 홀더 캡과; 상기 한 쌍을 이루는 칩 홀더 베이스와 칩 홀더 캡을 고정하는 홀더 클램프를 포함하고, 상기 칩 홀더 베이스 상부면 상의 상기 칩과 상기 리드 프레임의 내부 리드들 사이에 적어도 두 개 이상으로 분할된 서포트 링 패드가 안착·형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.A chip holder base; A lead frame seated on an upper surface of the chip holder base; A chip mounted on a central portion of an upper surface of the chip holder base, the chip having a plurality of bonding pads; A metal thin wire for electrically connecting the bonding pads of the chip to internal leads of the lead frame; A connecting pin spaced apart from the outer leads of the lead frame for electrical connection to the outer leads of the lead frame, a tab connected to an external test device, A test board having circuit patterns; A chip holder cap spaced apart from an upper surface of the test board and the chip and having a pair with the chip holder base to press and fix the test board and the chip; And a holder clamp for fixing the pair of chip holder bases and the chip holder cap, wherein at least two or more support ring pads are provided between the chip on the chip holder base upper surface and the inner leads of the lead frame, Wherein the support ring pads are formed on the support ring.
제8항에 있어서, 상기 분할된 서포트 링 패드는 상기 칩의 특정한 본딩 패드들에 전기적 연결되는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 8, wherein the divided support ring pads are electrically connected to specific bonding pads of the chip.
제8항에 있어서, 상기 칩의 본딩 패드들에 금속 세선으로 전기적 연결되는 상기 리드 프레임의 내부 리드들과, 상기 테스트 보드의 접속 핀에 전기적 연결되는 상기 리드 프레임의 외부 리드들이 도전재로 도금되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.9. The semiconductor device of claim 8, wherein the internal leads of the lead frame electrically connected to the bonding pads of the chip by metal thin wires and the external leads of the lead frame electrically connected to the connection pins of the test board are plated with a conductive material Wherein the support ring pad is formed on the lead frame.
제8항에 있어서, 상기 리드 프레임의 리드들과 상기 서포트 링 패드가 절연 테이프에 의해 부착·고정되고 전기적으로 분리되는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.9. The apparatus of claim 8, wherein the leads of the lead frame and the supporting ring pad are attached and fixed by an insulating tape and are electrically separated from each other.
제8항에 있어서, 상기 칩이 안착되는 상기 칩 홀더 베이스의 상부면이 평탄하게 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 8, wherein an upper surface of the chip holder base on which the chip is mounted is formed flat.
제8항에 있어서, 상기 칩 홀더 캡이 절연재의 가압부를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 8, wherein the chip holder cap includes a pressing portion of an insulating material.
제8항에 있어서, 상기 테스트 보드의 접속 핀이 포고 핀으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 8, wherein the connection pin of the test board is formed of a pogo pin.
제8항에 있어서, 상기 테스트 보드의 접속 핀이 도전 범프로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 서포트 링 패드가 형성된 리드 프레임을 이용한 노운 굳 다이 제조 장치.The apparatus of claim 8, wherein the connecting pins of the test board are formed of conductive bumps.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: It is disclosed by the contents of the first application.