JPH09304472A - Connecting device - Google Patents

Connecting device

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JPH09304472A
JPH09304472A JP8140874A JP14087496A JPH09304472A JP H09304472 A JPH09304472 A JP H09304472A JP 8140874 A JP8140874 A JP 8140874A JP 14087496 A JP14087496 A JP 14087496A JP H09304472 A JPH09304472 A JP H09304472A
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JP
Japan
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conductive sheet
wire
contact
sheet
wires
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8140874A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiminori Ichikawa
公則 市川
Hiroyuki Kobayashi
弘幸 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP8140874A priority Critical patent/JPH09304472A/en
Publication of JPH09304472A publication Critical patent/JPH09304472A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/325Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching, i.e. without alloying process; mechanical auxiliary parts therefor

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance the durability of a conductive sheet. SOLUTION: A plurality of contact conductors 22 are formed on an upper face of a wiring board 21. A conductive sheet 16 is laid on the wiring board 21 to be in touch with each contact conductor 22. The conductive sheet 16 is kept in a state that many conductive wires 18 penetrating an insulating elastic sheet material 17 in a thicknesswise direction are insulated from each other. Each wire 18 is bent like a bow with both ends thereof set on the same line connecting upper and lower faces of the conductive sheet 16. When a BGA.IC1 is pressed into touch with the conductive sheet 16, a bump electrode 3 is electrically connected to the contact conductor 22 via the wire 18. Since the wire does not buckle, but is bent further and elastically deformed when the bump electrode is pressed, the wire, eventually, conductive sheet is improved in durability. Accordingly, the exchange frequency of the conductive sheet is lowered.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電気的接続技術、
特に、半導体装置や電気部品、電子機器等を良品不良品
選別検査装置のテスタ等に電気的に接続させる技術に関
し、例えば、半導体集積回路装置(以下、ICとい
う。)の製造工程に使用されるICハンドラにおいて、
ICを電気的特性試験を実施するテスタに接続するのに
利用して有効なものに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an electrical connection technique,
In particular, it relates to a technique for electrically connecting a semiconductor device, an electric component, an electronic device, etc. to a tester or the like of a non-defective / defective product selection / inspection device, and is used, for example, in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as IC) In the IC handler,
The present invention relates to a device effectively used for connecting an IC to a tester for conducting an electrical characteristic test.

【0002】[0002]

【従来の技術】表面実装形パッケージを備えているIC
についての良品不良品選別検査を実行する場合、ポゴピ
ン方式の接続装置や板スプリング方式の接続装置が使用
されている。しかしながら、ポゴピン方式の接続装置に
おいては、コンタクトピンや板スプリングの長さが長く
なるため、インダクタンス成分が大きくなり、また、隣
接するピン筒における対向面の面積が比較的大きいた
め、ピン間容量が大きくなるという問題点がある。ま
た、板スプリング方式の接続装置においては、略U字形
状部分の対向部の面積が比較的大きくなるので、略U字
形状に形成されている部分の寄生容量が大きくなるとい
う問題点がある。
2. Description of the Related Art ICs with surface mount packages
When a non-defective / defective product selection inspection is performed, a pogo pin connection device or a leaf spring connection device is used. However, in the pogo-pin type connection device, the contact pin and the leaf spring are long, so that the inductance component is large, and the area of the facing surface of the adjacent pin cylinder is relatively large, so that the inter-pin capacitance is large. There is a problem that it becomes large. Further, in the leaf spring type connection device, since the area of the facing portion of the substantially U-shaped portion becomes relatively large, there is a problem that the parasitic capacitance of the portion formed in the substantially U-shaped portion becomes large.

【0003】そこで、ポゴピンや板バネに代えて、導電
性シートを使用した接続装置が提案されている。すなわ
ち、この接続装置は、一主面に複数個のコンタクト導体
が形成された配線基板に導電性シートが各コンタクト導
体に接触されて着脱自在に敷設されている。導電性シー
トは絶縁性を有する弾性材料が使用されてシート形状に
形成された弾性シート材に導電性を有するワイヤが多数
本厚さ方向に貫通されて互いに絶縁された状態に保持さ
れて構成されている。そして、被接続物が導電性シート
に搭載されて被接続物の各アウタリードが導電性シート
の各ワイヤを介して各コンタクト導体に電気的に接続さ
れる。
Therefore, a connecting device using a conductive sheet in place of the pogo pin or the leaf spring has been proposed. That is, in this connection device, a conductive sheet is laid removably on a wiring board having a plurality of contact conductors formed on one main surface so that the conductive sheets are in contact with the contact conductors. The conductive sheet is formed by using an elastic material having an insulating property, and a plurality of conductive wires are pierced in a thickness direction in an elastic sheet material formed in a sheet shape and are held in a state of being insulated from each other. ing. Then, the connection target is mounted on the conductive sheet, and each outer lead of the connection target is electrically connected to each contact conductor via each wire of the conductive sheet.

【0004】なお、導電性シートを使用した接続装置を
述べている例として、特開平6−180344号公報が
ある。
As an example of describing a connecting device using a conductive sheet, there is JP-A-6-180344.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、導電性
シートを使用した接続装置においては、被接続物が導電
性シートに押接された際にワイヤが座屈変形するため、
導電性シートの耐久性が低く、導電性シートを頻繁に交
換する必要があるという問題点がある。
However, in the connecting device using the conductive sheet, the wire buckles when the object to be connected is pressed against the conductive sheet.
There is a problem that the durability of the conductive sheet is low and it is necessary to frequently replace the conductive sheet.

【0006】本発明の目的は、導電性シートの耐久性を
向上させることができる接続装置を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a connecting device which can improve the durability of a conductive sheet.

【0007】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
[0007] The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
The outline of a typical invention among the inventions disclosed in the present application is as follows.

【0009】すなわち、被接続物の各アウタリードを配
線基板の各コンタクト導体に電気的に接続するための導
電性シートのワイヤを屈曲させたことを特徴とする。
That is, the wire of the conductive sheet for electrically connecting each outer lead of the object to be connected to each contact conductor of the wiring board is bent.

【0010】前記した導電性シートに被接続物が押接さ
れると、ワイヤは被接続物のアウタリードによって押さ
れて屈曲を深めるように弾性変形する。つまり、導電性
シートのワイヤは座屈変形せずにきわめて効果的に弾性
変形するため、ワイヤの耐久性が向上する。したがっ
て、導電性シート全体としての耐久性が向上するため、
導電性シートは頻繁に交換しなくて済むことになる。
When the article to be connected is pressed against the above-mentioned conductive sheet, the wire is elastically deformed so as to be deeply bent by being pushed by the outer leads of the article to be connected. That is, since the wire of the conductive sheet is elastically deformed extremely effectively without being buckled, the durability of the wire is improved. Therefore, since the durability of the conductive sheet as a whole is improved,
The conductive sheet does not need to be replaced frequently.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施形態である
接続装置の被接続物の実装状態を示す正面断面図であ
る。図2(a)は被接続物実装前の接続の一部省略平面
図であり、図2(b)は被接続物の底面図である。図3
(a)、(b)、(c)は導電性シートの製造方法の一
実施形態を示す各拡大部分断面図である。
1 is a front sectional view showing a mounted state of an object to be connected of a connecting device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2A is a partially omitted plan view of the connection before mounting the connection target, and FIG. 2B is a bottom view of the connection target. FIG.
(A), (b), (c) is each expanded partial sectional view which shows one Embodiment of the manufacturing method of a conductive sheet.

【0012】本実施形態において、本発明に係る接続装
置は、ボール・グリッド・アレーパッケージを備えてい
るIC(以下、BGA・ICという。)をICハンドラ
のテスタに電気的に接続するための接続装置として構成
されている。被接続物としてのBGA・IC1のパッケ
ージは略正方形の平盤形状に形成されたベース2を備え
ており、このベース2の一主面(BGA・ICのプリン
ト配線基板への実装面。以下、下面という。)にはアウ
タリードとしてのバンプ電極3が多数個、マトリックス
状に配列されて突設されている。バンプ電極3は半田材
料が使用されて略半球形状に形成されており、プリント
配線基板(図示せず)のランドに半田ペーストによって
粘着された状態でリフロー半田付け処理されることによ
り半田付けされるようになっている。
In the present embodiment, the connection device according to the present invention is a connection for electrically connecting an IC (hereinafter referred to as BGA IC) equipped with a ball grid array package to a tester of an IC handler. It is configured as a device. The package of BGA / IC1 as the connected object is provided with a base 2 formed in a substantially square flat plate shape, and one main surface of this base 2 (mounting surface of BGA / IC on a printed wiring board. A large number of bump electrodes 3 serving as outer leads are arranged in a matrix and projectingly provided on the lower surface). The bump electrode 3 is formed in a substantially hemispherical shape using a solder material, and is soldered by being subjected to a reflow soldering process while being adhered to a land of a printed wiring board (not shown) with a solder paste. It is like this.

【0013】このBGA・IC1用の接続装置10は樹
脂等の絶縁材料が用いられて四角形の平盤形状に形成さ
れた本体11を備えている。本体11は中央部に同心的
に形成されている正方形の透孔12を有しており、透孔
12の周囲の上面は段付状に形成されて凹所13が同心
的に形成されている。凹所13の4つの辺におけるそれ
ぞれの上面には後記する導電性シートを固定するための
固定板14が複数枚、各辺における中央部に配置されて
おり、固定板14はねじ部材15によって着脱自在に固
定されるようになっている。
The connecting device 10 for the BGA / IC 1 is provided with a main body 11 made of an insulating material such as resin and formed in a rectangular flat plate shape. The main body 11 has a square through hole 12 formed concentrically in the central portion, and the upper surface around the through hole 12 is formed in a stepped shape, and a recess 13 is formed concentrically. . A plurality of fixing plates 14 for fixing a conductive sheet, which will be described later, are arranged on the upper surfaces of the four sides of the recess 13 at the center of each side. It is designed to be fixed freely.

【0014】本体11の透孔12内には透孔12と同じ
大きさの正方形で一定厚さのシート形状に形成された導
電性シート16が着脱自在に挿入されて、後記する配線
基板の上に敷設されている。導電性シート16はシリコ
ーンゴム等の絶縁性を有する弾性材料が使用されてシー
ト形状に形成された弾性シート材17と、銅やアルミニ
ウム等の適度な弾性を有する導電材料が使用されて極細
線形状に形成されたワイヤ18とを備えており、弾性シ
ート材17に多数本のワイヤ18が厚さ方向に貫通され
て均一に分布された状態で保持されて構成されている。
導電性シート16において、ワイヤ18は隣接するもの
同士が互いに電気的に絶縁された状態で、極僅かな位置
移動可能に弾性シート材17に保持されているととも
に、各ワイヤ18は両端方向すなわち導電性シート16
の厚さ方向(表裏面の方向)に導通するようになってい
る。したがって、BGA・IC1のバンプ電極3が導電
性シート16に接触されると、バンプ電極3は接触した
導電性シート16部分における多数本のワイヤ18と電
気的に接続した状態になる。
A conductive sheet 16 having a square shape and the same thickness as the through hole 12 and formed into a sheet having a constant thickness is detachably inserted into the through hole 12 of the main body 11 and is placed on a wiring board to be described later. Is laid in. The conductive sheet 16 is made of an elastic material having an insulating property such as silicone rubber and formed into a sheet shape. An elastic sheet material 17 and a conductive material having an appropriate elasticity such as copper or aluminum are used to form an ultrafine wire. And a plurality of wires 18 are pierced through the elastic sheet material 17 in the thickness direction and held in a uniformly distributed state.
In the conductive sheet 16, the wires 18 are held by the elastic sheet material 17 such that the adjacent wires are electrically insulated from each other so that the wires 18 can move a very small amount, and each wire 18 is in the both end directions, that is, conductive. Sex sheet 16
It is designed to conduct in the thickness direction (front and back direction). Therefore, when the bump electrode 3 of the BGA IC1 is brought into contact with the conductive sheet 16, the bump electrode 3 is electrically connected to the large number of wires 18 in the contacted conductive sheet 16 portion.

【0015】本実施形態において、各ワイヤ18は弓形
状に彎曲されているとともに、両端が導電性シート16
の両端面で同一直線上にそれぞれ位置するように配置さ
れている。ワイヤ18群がこのように配置されている導
電性シート16は、例えば、図3に示されているように
して製造することができる。すなわち、図3(a)に示
されているように、所定の弓形状に彎曲成形された各ワ
イヤ18の下端部が下型31の上面に形成された保持穴
32にそれぞれ挿入されて垂直に立脚保持される。続い
て、図3(b)に示されているように、下型31の上に
上型33が被せられ、各ワイヤ18の上端部が上型33
の上面に形成された保持穴34にそれぞれ挿入されて垂
直に固定される。次いで、図3(c)に示されているよ
うに、下型31と上型33との間にシリコンゴム等の弾
性シート材17の弾性材料が溶融状態で充填されて固化
される。このようにして成形された成形品が下型31と
上型33との間から離型された後に適当に形を整えられ
ることにより、導電性シート16が製造された状態にな
る。
In the present embodiment, each wire 18 is curved in an arc shape, and both ends thereof are made of the conductive sheet 16.
Are arranged so as to be located on the same straight line on both end faces. The conductive sheet 16 in which the wires 18 are arranged in this manner can be manufactured, for example, as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 3A, the lower end portions of the respective wires 18 curved and formed in a predetermined bow shape are respectively inserted into the holding holes 32 formed in the upper surface of the lower die 31 to vertically extend. The stance is maintained. Subsequently, as shown in FIG. 3B, the upper mold 33 is put on the lower mold 31, and the upper ends of the respective wires 18 are covered with the upper mold 33.
Are inserted into the holding holes 34 formed on the upper surface of each of the above and fixed vertically. Next, as shown in FIG. 3C, the elastic material of the elastic sheet material 17 such as silicon rubber is filled in a space between the lower mold 31 and the upper mold 33 and solidified. The molded product molded in this manner is released from between the lower mold 31 and the upper mold 33 and then appropriately shaped, whereby the conductive sheet 16 is manufactured.

【0016】本体11の下面には本体11と同じ大きさ
の四角形の平板形状に形成された配線基板21が配設さ
れており、配線基板21の上面における透孔12に対向
する領域には多数個のコンタクト導体22が、互いに電
気的に絶縁状態に保つようにそれぞれ形成されている。
コンタクト導体22の数はBGA・IC1のバンプ電極
3の数に対応されており、各コンタクト導体22はバン
プ電極3群の配列に対応するマトリックス状に配列され
ている。そして、透孔12に挿入された導電性シート1
6は配線基板21の上に敷設された状態になっており、
この状態で、コンタクト導体22に下端が接触したワイ
ヤ18群はコンタクト導体22に電気的に接続した状態
になっている。
On the lower surface of the main body 11, a wiring board 21 formed in a rectangular flat plate shape having the same size as that of the main body 11 is arranged, and a large number of areas are provided on the upper surface of the wiring board 21 facing the through holes 12. The individual contact conductors 22 are formed so as to be electrically insulated from each other.
The number of contact conductors 22 corresponds to the number of bump electrodes 3 of the BGA IC1, and each contact conductor 22 is arranged in a matrix corresponding to the arrangement of the bump electrode 3 group. Then, the conductive sheet 1 inserted into the through hole 12
6 is laid on the wiring board 21,
In this state, the wire 18 group whose lower end is in contact with the contact conductor 22 is electrically connected to the contact conductor 22.

【0017】配線基板21の各コンタクト導体22の位
置にはスルーホール導体23が配線基板21を上下方向
に貫通するようにそれぞれ形成されており、各スルーホ
ール23は配線基板21の下面に形成された多数本の電
気配線24のそれぞれに電気的接続されている。なお、
図示しないが、各電気配線24の他端はテスタ(図示せ
ず)に導通をとるためのコンタクト端子(図示せず)に
それぞれ電気的に接続されている。
Through hole conductors 23 are formed at the positions of the contact conductors 22 of the wiring board 21 so as to penetrate the wiring board 21 in the vertical direction, and the through holes 23 are formed on the lower surface of the wiring board 21. It is electrically connected to each of the plurality of electric wirings 24. In addition,
Although not shown, the other end of each electric wiring 24 is electrically connected to a contact terminal (not shown) for conducting a tester (not shown).

【0018】次に作用を説明する。テスタによって電気
的特性試験を受ける被測定物としてのBGA・IC1
は、コレット25によりその上面を真空吸着されて保持
された状態で、接続装置10の凹所13内に下降され、
透孔12内に敷設された導電性シート16の上に押し付
けられる。BGA・IC1が導電性シート16に押し付
けられると、導電性シート16に植え込まれたワイヤ1
8群は、BGA・IC1の下面に突設されて対向する各
バンプ電極3にそれぞれ複数本宛接触した状態になる。
すなわち、各バンプ電極3には複数本のワイヤ18がそ
れぞれ電気的に接続した状態になり、しかも、各バンプ
電極3、3同士の間において接触したワイヤ18群同士
は互いに電気的に絶縁した状態になっている。
Next, the operation will be described. BGA / IC1 as a device under test that undergoes an electrical characteristic test by a tester
Is lowered into the recess 13 of the connecting device 10 with the upper surface thereof being vacuum-sucked and held by the collet 25,
It is pressed onto the conductive sheet 16 laid in the through hole 12. When the BGA / IC1 is pressed against the conductive sheet 16, the wire 1 implanted in the conductive sheet 16
The eighth group is in a state of being in contact with a plurality of bump electrodes 3 protruding from the lower surface of the BGA IC1 and facing each other.
That is, a plurality of wires 18 are electrically connected to each bump electrode 3, and a group of wires 18 contacting between the bump electrodes 3 are electrically insulated from each other. It has become.

【0019】BGA・IC1の各バンプ電極3がワイヤ
18群にそれぞれ接触された後に、コレット25により
少し下降されると、導電性シート16の弾性シート材1
7が極僅かに圧縮変形されるとともに、各バンプ電極3
に接触したワイヤ18群がそれぞれ極僅かに押し潰され
る。この際、各ワイヤ18は適度の弾性を有する導電材
料が使用されて弓形状に形成されているため、彎曲を深
めるように弾性変形することになり、この弾性変形に伴
う弾発力の蓄積によって各ワイヤ18はバンプ電極3お
よびコンタクト導体22に押接した状態になる。すなわ
ち、BGA・IC1の導電性シート16に対する押接に
際して、ワイヤ18は座屈変形せずに弾性変形すること
により、バンプ電極3とコンタクト導体22とを電気的
に接続した状態になる。
When the bump electrodes 3 of the BGA / IC 1 are brought into contact with the wires 18 and then moved down a little by the collet 25, the elastic sheet material 1 of the conductive sheet 16 is formed.
7 is slightly compressed and deformed, and each bump electrode 3
The groups of wires 18 contacting with are squeezed very slightly. At this time, since each wire 18 is formed in a bow shape by using a conductive material having an appropriate elasticity, it is elastically deformed so as to deepen the curvature, and the elastic force is accumulated due to the elastic deformation. Each wire 18 is pressed against the bump electrode 3 and the contact conductor 22. That is, when the BGA / IC 1 is pressed against the conductive sheet 16, the wire 18 is elastically deformed without buckling, so that the bump electrode 3 and the contact conductor 22 are electrically connected.

【0020】このようにして、BGA・IC1の各バン
プ電極3は、それぞれが接触している複数本のワイヤ1
8群と、各ワイヤ18群に対向して配設された各コンタ
クト導体22と、各コンタクト導体22に接続された各
スルーホール導体23と、各電気配線24とを通じて接
続装置10の各コンタクト端子(図示せず)に電気的に
接続されることになる。BGA・IC1の各バンプ電極
3が接続装置10の各コンタクト端子に電気的に接続さ
れると、各コンタクト端子に接続されたリード線(図示
せず)を通じて接続されているテスタとBGA・IC1
との間でテスト信号が交わされ、BGA・IC1につい
て所望の電気的特性試験が実行される。
In this way, each bump electrode 3 of the BGA IC1 has a plurality of wires 1 which are in contact with each other.
Each contact terminal of the connection device 10 through eight groups, each contact conductor 22 arranged to face each wire group 18, each through-hole conductor 23 connected to each contact conductor 22, and each electric wiring 24. (Not shown). When each bump electrode 3 of the BGA IC1 is electrically connected to each contact terminal of the connection device 10, the tester and the BGA IC1 connected to each contact terminal through a lead wire (not shown) are connected to the tester.
A test signal is exchanged between the BGA and IC1 to perform a desired electrical characteristic test on the BGA IC1.

【0021】所望の試験が終了すると、BGA・IC1
はコレット25により上昇されて接続装置10から離脱
され、次工程へ移送される。以降、前記作動が繰り返さ
れることにより、BGA・IC1につき接続装置10を
介してテスタによって電気的特性試験が順次実行され
る。
When the desired test is completed, BGA / IC1
Is lifted by the collet 25, separated from the connecting device 10, and transferred to the next step. After that, by repeating the above operation, the electrical characteristic test is sequentially executed by the tester for the BGA / IC 1 via the connection device 10.

【0022】以上説明した前記実施形態によれば次の効
果が得られる。 (1) 被接続物であるBGA・IC1の各バンプ電極
3を配線基板21の各コンタクト導体22に電気的に接
続するための導電性シート16のワイヤ18を弓形状に
彎曲形成することにより、導電性シート16にBGA・
IC1が押接された際に、ワイヤ18はバンプ電極3に
よって押されて座屈変形せずに屈曲を深めるように弾性
変形するだけの状態になるため、ワイヤ18の耐久性を
向上させることができる。
According to the above-described embodiment, the following effects can be obtained. (1) By forming the wire 18 of the conductive sheet 16 for electrically connecting each bump electrode 3 of the BGA / IC 1 which is an object to be connected to each contact conductor 22 of the wiring board 21 in a bow shape, BGA on the conductive sheet 16
When the IC 1 is pressed, the wire 18 is pressed by the bump electrode 3 and is elastically deformed so as to deepen the bending without being buckled, so that the durability of the wire 18 can be improved. it can.

【0023】(2) 前記(1)により、導電性シート
全体としての耐久性を向上させることができるため、導
電性シートの交換頻度を低下させることができ、導電性
シートの消費量を低減することができるばかりでなく、
接続装置の停止時間を短縮することができ、しいてはB
GA・ICの生産性を向上させることができる。
(2) According to the above (1), the durability of the conductive sheet as a whole can be improved, so that the frequency of replacement of the conductive sheet can be reduced and the consumption of the conductive sheet can be reduced. Not only can you
The down time of the connected device can be shortened, and eventually B
GA / IC productivity can be improved.

【0024】(3) 導電性シート16のワイヤ18が
長くなるのを最小限度に抑制することにより、BGA・
IC1のバンプ電極3と接続装置10との間の接続長が
長くなるのを抑制することができるため、インダクタン
ス成分の発生を低減することができ、その結果、特に高
周波における電気的特性測定時の測定精度が劣化される
のを抑制することができる。
(3) By suppressing the length of the wire 18 of the conductive sheet 16 to a minimum, the BGA
Since it is possible to prevent the connection length between the bump electrode 3 of the IC 1 and the connection device 10 from being lengthened, it is possible to reduce the generation of an inductance component, and as a result, especially when measuring the electrical characteristics at high frequencies. It is possible to suppress deterioration of measurement accuracy.

【0025】(4) ワイヤ18の太さは極細いため、
隣接するワイヤ18の対向面の面積が小さく抑制するこ
とができ、ピン間容量の発生を低減することができる。
その結果、特に高周波における電気的特性測定時の測定
精度が劣化されるのを抑制することができる。
(4) Since the wire 18 is extremely thin,
The area of the facing surface of the adjacent wires 18 can be suppressed to be small, and the occurrence of inter-pin capacitance can be reduced.
As a result, it is possible to suppress deterioration in measurement accuracy when measuring electrical characteristics, especially at high frequencies.

【0026】(5) バンプ電極3に接触される導電性
シート16は配線基板21の上に敷設するだけで済むた
め、導電性シート16は劣化した場合に簡単に交換する
ことができる。
(5) Since the conductive sheet 16 contacting the bump electrodes 3 only needs to be laid on the wiring board 21, the conductive sheet 16 can be easily replaced when it deteriorates.

【0027】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiment, the invention is not limited to the embodiment and can be variously modified without departing from the gist of the invention. Needless to say.

【0028】例えば、弓形状のワイヤ18群が弾性シー
ト材17に植え込まれた導電性シート16の製造方法
は、前記実施形態の製造方法に限らない。また、ワイヤ
18の屈曲形状は弓形状に限らず、「く」字形状等であ
ってもよい。要するに、ワイヤ18は導電性シート16
上に被接続物が押接された際に座屈変形せずに効果的に
弾性変形する形状であればよい。
For example, the method of manufacturing the conductive sheet 16 in which the group of bow-shaped wires 18 is embedded in the elastic sheet material 17 is not limited to the manufacturing method of the above embodiment. In addition, the bent shape of the wire 18 is not limited to the bow shape, and may be a V shape or the like. In short, the wire 18 is the conductive sheet 16
Any shape may be used as long as it is elastically deformed without buckling deformation when the object to be connected is pressed onto it.

【0029】被接続物はBGA・ICに限らず、I形リ
ードを備えているQFI・ICやSOI・IC、J形リ
ードを備えているQFJ・ICやSOJ・IC、ノン・
リーデッド・パッケージICやLCC・IC、ガルウイ
ング形リードを備えているQFP・ICやSOP・IC
等であってもよく、特に、表面実装形のパッケージを備
えている電子部品や電子機器をテスタ等に電気的に接続
するための接続装置に適用して優れた効果が得られる。
The object to be connected is not limited to BGA / IC, but QFI / IC or SOI / IC having I-type leads, QFJ / IC, SOJ / IC or non-type having J-type leads.
Leaded package IC, LCC IC, QFP IC or SOP IC equipped with gull-wing type leads
Etc., and in particular, an excellent effect can be obtained when applied to a connecting device for electrically connecting an electronic component or an electronic device including a surface mount type package to a tester or the like.

【0030】前記実施形態ではBGA・IC1のバンプ
電極3が導電性シート16のワイヤ18に直接接触する
ように構成されているが、QFI・ICやSOI・IC
等のようにアウタリードの実装面の面積が小さくワイヤ
18に接触しないアウタリードが生ずる危惧がある場合
のパッケージについての接続装置においては、導電性シ
ート16の上にコンタクト板を敷設して、各アウタリー
ドがコンタクト板を介してワイヤ18群に確実に接触す
るように構成してもよい。
In the above-described embodiment, the bump electrode 3 of the BGA IC1 is constituted so as to directly contact the wire 18 of the conductive sheet 16, but the QFI IC or the SOI IC is used.
In a connecting device for a package in which the mounting area of the outer lead is small and there is a risk that the outer lead does not come into contact with the wire 18, a contact plate is laid on the conductive sheet 16 and each outer lead is You may comprise so that it may contact reliably the wire 18 group via a contact plate.

【0031】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるICハ
ンドラにおける測子装置に適用した場合について説明し
たが、それに限定されるものではなく、バーンイン試験
やエージング試験等において、アウタリードに機械的に
接触することにより、電子部品や電子機器について電気
的接続をとる接続装置全般に適用することができる。特
に、本発明は被接続物の交換が頻繁に行われ、しかも、
電気的接続が確実に必要な場合であって、高周波帯域の
信号が使用される電子部品や電子機器の接続に使用され
る接続装置に適用して優れた効果を発揮する。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the measuring device in the IC handler which is the background field of application has been described, but the invention is not limited thereto and the burn-in test is performed. In an aging test or the like, the present invention can be applied to all connecting devices for making electrical connection to electronic components and electronic devices by mechanically contacting the outer leads. Particularly, in the present invention, the connected object is frequently replaced, and moreover,
When electrical connection is definitely required, the present invention exerts an excellent effect when applied to a connecting device used for connecting electronic components or electronic devices in which a signal in a high frequency band is used.

【0032】[0032]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
The effects obtained by typical aspects of the invention disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0033】被接続物であるの各アウタリードを配線基
板の各コンタクト導体に電気的に接続するための導電性
シートのワイヤを屈曲させることにより、導電性シート
に被接続物が押接された際に、ワイヤはアウタリードに
よって押されて座屈変形せずに屈曲を深めるように弾性
変形するだけの状態にさせることができるため、ワイヤ
の耐久性を向上させることができる。その結果、導電性
シート全体としての耐久性を向上させることができるた
め、導電性シートの交換頻度を低下させることができ、
導電性シートの消費量を低減することができるばかりで
なく、接続装置の停止時間を短縮することができ、しい
てはICの生産性を向上させることができる。
By bending the wire of the conductive sheet for electrically connecting each outer lead of the connected object to each contact conductor of the wiring board, when the connected object is pressed against the conductive sheet. In addition, since the wire can be pressed by the outer lead and elastically deformed so as to deepen the bending without being buckled and deformed, the durability of the wire can be improved. As a result, it is possible to improve the durability of the conductive sheet as a whole, it is possible to reduce the frequency of replacement of the conductive sheet,
Not only can the consumption of the conductive sheet be reduced, but also the down time of the connecting device can be shortened, and the productivity of the IC can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態である接続装置の被接続物
の実装状態を示す正面断面図である。
FIG. 1 is a front cross-sectional view showing a mounted state of an object to be connected of a connection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】(a)は被接続物実装前の接続の一部省略平面
図であり、(b)は被接続物の底面図である。
FIG. 2A is a partially omitted plan view of the connection before mounting the connection target, and FIG. 2B is a bottom view of the connection target.

【図3】(a)、(b)、(c)は導電性シートの製造
方法の一実施形態を示す各拡大部分断面図である。
3 (a), (b), and (c) are enlarged partial cross-sectional views showing an embodiment of a method for manufacturing a conductive sheet.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…BGA・IC(被接続物)、2…ベース、3…バン
プ電極(アウタリード)、10…接続装置、11…本
体、12…透孔、13…凹所、14…固定板、15…ね
じ部材、16…導電性シート、17…弾性シート材、1
8…ワイヤ、21…配線基板、22…コンタクト導体、
23…スルーホール導体、24…電気配線、25…コレ
ット、31…下型、32…保持穴、33…上型、34…
保持穴。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... BGA / IC (object to be connected), 2 ... Base, 3 ... Bump electrode (outer lead), 10 ... Connection device, 11 ... Main body, 12 ... Through hole, 13 ... Recess, 14 ... Fixing plate, 15 ... Screw Member, 16 ... Conductive sheet, 17 ... Elastic sheet material, 1
8 ... Wire, 21 ... Wiring board, 22 ... Contact conductor,
23 ... Through-hole conductor, 24 ... Electric wiring, 25 ... Collet, 31 ... Lower mold, 32 ... Holding hole, 33 ... Upper mold, 34 ...
Holding hole.

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/66 H01L 21/66 D Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display location H01L 21/66 H01L 21/66 D

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一主面に複数個のコンタクト導体が形成
された配線基板に導電性シートが各コンタクト導体に接
触されて着脱自在に敷設されており、導電性シートは絶
縁性を有する弾性材料が使用されてシート形状に形成さ
れた弾性シート材に導電性を有するワイヤが多数本厚さ
方向に貫通されて互いに絶縁された状態に保持されて構
成されており、被接続物が導電性シートに押接されて被
接続物の各アウタリードが導電性シートの各ワイヤを介
して各コンタクト導体にそれぞれ電気的に接続されるこ
とを特徴とする接続装置において、 前記導電性シートのワイヤが屈曲されていることを特徴
とする接続装置。
1. A wiring board having a plurality of contact conductors formed on one main surface, a conductive sheet is laid detachably in contact with each contact conductor, and the conductive sheet is an elastic material having an insulating property. A plurality of conductive wires are pierced in the thickness direction and held in an insulated state from each other in an elastic sheet material formed into a sheet shape by using In the connection device, the outer leads of the object to be connected are electrically connected to the contact conductors via the wires of the conductive sheet, respectively, and the wires of the conductive sheet are bent. A connection device characterized by being.
【請求項2】 ワイヤはその両端が導電性シートの両端
面で同一直線上にそれぞれ位置するように屈曲されてい
ることを特徴とする請求項1に記載の接続装置。
2. The connection device according to claim 1, wherein the wire is bent so that both ends thereof are located on the same straight line on both end surfaces of the conductive sheet.
【請求項3】 被接続物はアウタリードがバンプ電極に
よって構成されていることを特徴とする請求項1に記載
の接続装置。
3. The connecting device according to claim 1, wherein an outer lead of the object to be connected is composed of a bump electrode.
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