KR970051236A - 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치에 관해 게시한다. 종래에는 고속의 반도체 메모리 장치의 사이클타임을 측정하기 위하여 고속의 측정장치를 사용함으로써 생산비가 많이 소요되었으나 본 발명의 측정장치는 저속의 측정장치이면서도 고속의 반도체 메모리 장치의 사이클타임을 측정할 수 있어서 생산비가 절감될 수 있을 뿐만 아니라 사용하기에도 간단한 잇점이 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 의한 고속의 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치를 설명하기 위한 블럭도.
Claims (3)
- 입력레지스터, 제1클럭입력버퍼 및 출력레지스터를 갖는 반도체 메모리 장치의 사이클타임을 측정하는 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치에 있어서, 상기 사이클타임 측정장치는 외부클럭신호에 연결된 제2클럭입력버퍼; 및 제1입력이 상기 제1클럭입력버퍼와 접속되고, 제2입력이 상기 제2클럭입력버퍼와 접속되며, 인에이블단자가 상기 제1입력과 제2입력을 선택하는 외부신호와 접속되고, 출력은 상기 출력레지스터에 접속된 멀티플렉서를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 멀티플렉서는 2입력 멀티플렉서인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 1클럭입력버퍼와 제2클럭입력버퍼는 동일한 기능의 입력버퍼인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950056991A KR970051236A (ko) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950056991A KR970051236A (ko) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970051236A true KR970051236A (ko) | 1997-07-29 |
Family
ID=66617208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950056991A KR970051236A (ko) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 반도체 메모리 장치의 사이클타임 측정장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970051236A (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100422354B1 (ko) * | 2001-08-24 | 2004-03-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 테스트 회로 |
-
1995
- 1995-12-26 KR KR1019950056991A patent/KR970051236A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100422354B1 (ko) * | 2001-08-24 | 2004-03-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 테스트 회로 |
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