KR970022336A - 가공편의 가공을 위하여 비임 또는 젯트(jet)를 감시하고 위치조절하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

가공편의 가공을 위하여 비임 또는 젯트(jet)를 감시하고 위치조절하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

가공편을 작동하기 위하여 비임 또는 젯트(3)를 감시하고 위치조절하기 위한 방법에서, 비임 또는 젯트의 앞에서 제1센서(7)(예를들면 비임의 경우에는 계목탐지시스템)가 그리고/또는 미리 설정된 값이 비임 또는 젯트(3)에 의하여 뒤따라지는 통로를 결정한다. 비임 또는 젯트(3)의 뒤에서 제2센서(9)는 비임 또는 젯트의 작용을 감시한다. 미리 설정된 값 혹은 비임 또는 젯트(3)의 필요하여진 위치에 관련하여 제1센서(7)에 의하여 얻어진 측정치는 비임 또는 젯트와 가공편 사이에서 속도에 의존하는 상대적인 변위를 고려하면서 비임 또는 젯트(3)의 실제위치에 관련하여 제2센서(9)에 의하여 얻어진 측정치와 비교된다. 실제위치가 필요하여진 위치로부터 벗어난다면 비임 또는 젯트(3)는 기본위치에 대하여 교정된다.

Description

가공편의 가공을 위하여 비임 또는 젯트(jet)를 감시하고 위치조절하기 위한 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 가공편을 가공하기 의하여 비임을 감시하고 위치조절하기 위한 장치의 부분적으로 블럭도로 표시된 평면도이며,
제2도는 개략적으로 표시된 비임의 위치측정부를 가지는 제1도에 따르는 장치의 평면도임.

Claims (3)

  1. 비임 또는 젯트(3)의 앞에서 제1센서(7)(예를들면 비임의 경우에는 계목탐지시스템)가 그리고/또는 미리 설정된 값이 상기 비임 또는 젯트(3)에 의하여 뒤따라지는 통로를 결정하고 비임 또는 젯트(3)의 뒤에서 제2센서(9)가 상기 비임 또는 젯트의 작용을 감지하는 굿에서 가공편을 작동하기 위하여 비임 또는 젯트(3)를 감시하고 그리고 위치조절하기 위한 방법에 있어서, 비임 또는 젯트(3)의 필요하여진 위치에 관하여 제1센서(7)에 의하여 얻어진 미리 설정된 값 또는 측정치는 비임 또는 젯트와 가공편 사이의 속도에 의존하는 상대적인 변위를 고려하면서 비임 또는 젯트의 실제위치에 관련하는 제2센서(9)에 의하여 얻어진 측정치와 비교되며 그리고 실제위치가 필요하여진 위치로부터 벗어난다면 비임 또는 젯트(3)가 기본위치에 대하여 교정되는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 비임 또는 젯트(3)의 필요하여진 위치는 광구간 기술에 의하여 또는 광구간 및 회색레벨 영상분석기술의 결합에 의하여 탐지되며 그리고 비임 또는 젯트(3)의 실제위치는 회색레벨 영상분석기술 또는 광구간 및 회색레벨 영상분석기술의 결합에 의하여 탐지되며 그리고 상기의 탐지된 위치들은 서로 비교되어지는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 비임 또는 젯트의 앞에서 제1센서(7)(예를들면 비임의 경우에는 계목탐지시스템)가 그리고/또는 미리 설정된 값이 비임 또는 젯트(3)에 의하여 뒤따라지는 통로를 결정하고 그리고 비임 또는 젯트(3)의 뒤에서 제2센서(9)가 상기 비임 또는 젯트(3)를 감시하는 곳에서 가공편을 작동하기 위하여 비임 또는 젯트(3)를 감시하고 그리고 위치조절하기 위한 장치에 있어서, 제1 및 제2센서(7,9)는 2개의 센서(7,9)에 의하여 얻어진 측정치를 비교하기 위하여 제어유니트(8)에 연결되고, 이 제어유니트(8)는 비임 또는 젯트와(3)와 가공편 사이의 상대적인 변위를 위하여 변위장치(6)에 연결되어지는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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